微波開關的故障檢測組件和故障檢測方法
2024-01-28 01:09:15 4
微波開關的故障檢測組件和故障檢測方法
【專利摘要】本發明公開了一種微波開關的故障檢測組件和故障檢測方法。其包括：限流單元用於接收電源輸出的電源電壓，根據電源電壓生成驅動信號、第一門限電壓和第二門限電壓，第一門限電壓高於第二門限電壓，驅動信號包括驅動電壓和驅動電流；驅動單元用於根據驅動電壓生成導通電壓和截止電壓，並按照預置的控制時序將截止電壓和導通電壓分別輸出至微波開關的第一二極體和第二二極體；檢測單元用於檢測驅動電流，將驅動電流轉換為檢測電壓，將檢測電壓分別與第一門限電壓和第二門限電壓進行比較，若高於第一門限電壓，生成擊穿報警信號，若低於第二門限電壓，生成故障報警信號。本發明能夠在微波開關被大功率射頻信號擊穿以及燒毀時及時進行相應的報警。
【專利說明】微波開關的故障檢測組件和故障檢測方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及微波通信【技術領域】，尤其是一種微波開關的故障檢測組件和故障檢測方法。
【背景技術】
[0002]PIN 二極體是20世紀50年代發展起來的一種新型二極體，PIN 二極體在P和N半導體層之間加入一薄層低摻雜的本徵(Intrinsic)半導體層，故稱PIN 二極體。PIN 二極體可以作為整流二極體使用，具有整流功率大、正向電阻低、整流效率高等特點。但是隨著被整流信號頻率提高，PIN 二極體的整流效應逐漸變差，到了微波頻段，PIN 二極體的響應變慢，其阻抗不易被射頻功率所控制，而是由直流偏置決定。當PIN二極體處於反向偏置時(即P半導體層加負電壓)時，呈現高阻狀態，即斷開；當PIN 二極體處於正向偏置(即P半導體層加正電壓)時，呈現低阻狀態，接近短路，即導通。因此，PIN 二極體可以用於射頻通道的微波開關。
[0003]微波開關具有正向偏置時能獲得接近短路、反向偏置時能獲得開路的特點，具有射頻功率損耗小、隔離度高、開關切換速度快、體積和重量小等特點，所以微波開關在微波控制電路設計中應用十分廣泛。但是，微波開關承受功率一般都不夠高，在大功率射頻工作狀態下，微波開關內的二極體(即PIN 二極體)易被擊穿，二極體被擊穿時，工作電流瞬時增加，如果微波開關內的二極體長時間處於擊穿狀態，會導致微波開關燒毀。
[0004]目前微波開關普遍採用增加體積和重量大、增加射頻通道功率損耗的隔離器或射頻功率耦合器的大功率保護設計，以圖在大功率射頻工作狀態下對微波開關進行保護。然而這樣的大功率保護設計不利於微波開關的小型化設計，況且即使採用了隔離器或射頻功率耦合器進行大功率保護設計，也仍然無法完全阻止微波開關被擊穿或燒毀，所以當微波開關被擊穿或燒毀時，無法得知相應故障信息。
【發明內容】
[0005]本發明所要解決的技術問題是:針對上述存在的問題，提供一種微波開關的故障檢測組件和故障檢測方法，能夠在微波開關被大功率射頻信號擊穿以及燒毀時及時進行相應的報警。
[0006]本發明採用的一種技術方案是提供一種微波開關的故障檢測組件，所述故障檢測組件耦接於電源和所述微波開關之間，所述微波開關包括第一二極體和第二二極體，所述故障檢測組件包括限流單元、檢測單元和驅動單元，其中，所述限流單元用於接收所述電源輸出的電源電壓，並根據所述電源電壓生成驅動信號、第一門限電壓和第二門限電壓，其中，所述第一門限電壓高於所述第二門限電壓，所述驅動信號包括驅動電壓和驅動電流；所述驅動單元用於接收所述驅動電壓，根據所述驅動電壓生成導通電壓和截止電壓，並按照預置的控制時序將所述截止電壓輸出至所述第一二極體、將所述導通電壓輸出至所述第二二極體，以使所述微波開關處於發射狀態或者將所述導通電壓輸出至所述第一二極體、將所述截止電壓輸出至所述第二二極體，以使所述微波開關處於接收狀態；所述檢測單元用於接收所述第一門限電壓和所述第二門限電壓，並檢測所述驅動電流，將所述驅動電流轉換為檢測電壓，將所述檢測電壓分別與所述第一門限電壓和所述第二門限電壓進行比較，在所述檢測電壓高於所述第一門限電壓時，生成擊穿報警信號，在所述檢測電壓低於所述第二門限電壓時，生成故障報警信號。
[0007]優選地，所述檢測單元還用於在所述檢測電壓低於所述第一門限電壓時以及所述檢測電壓高於所述第二門限電壓時，生成正常狀態信號。
[0008]優選地，所述檢測單元具體用於在所述檢測電壓低於預定百分比的所述第一門限電壓以及高於預定百分比的所述第二門限電壓時，生成所述正常狀態信號。
[0009]優選地，所述限流單元還用於對所述驅動信號進行限流，以濾除所述驅動電流中的尖峰電流和電湧。
[0010]優選地，所述驅動單元具體用於根據所述驅動電壓生成鏡像驅動電壓，並根據所述驅動電壓和所述鏡像驅動電壓生成所述導通電壓和所述截止電壓，其中，所述鏡像驅動電壓和所述驅動電壓幅值相同、極性相反。
[0011]本發明採用的另一種技術方案是提供一種微波開關的故障檢測方法，所述微波開關包括第一二極體和第二二極體，所述故障檢測方法包括:接收電源輸出的電源電壓，並根據所述電源電壓生成驅動信號、第一門限電壓和第二門限電壓，其中，所述第一門限電壓高於所述第二門限電壓，所述驅動信號包括驅動電壓和驅動電流；根據所述驅動電壓生成導通電壓和截止電壓，並按照預置的控制時序將所述截止電壓輸出至所述第一二極體、將所述導通電壓輸出至所述第二二極體，以使所述微波開關處於發射狀態或者將所述導通電壓輸出至所述第一二極體、將所述截止電壓輸出至所述第二二極體，以使所述微波開關處於接收狀態；檢測所述驅動電流，將所述驅動電流轉換為檢測電壓，將所述檢測電壓分別與所述第一門限電壓和所述第二門限電壓進行比較，在所述檢測電壓高於所述第一門限電壓時，生成擊穿報警信號，在所述檢測電壓低於所述第二門限電壓時，生成故障報警信號。
[0012]優選地，所述將所述檢測電壓分別與所述第一門限電壓和所述第二門限電壓進行比較的步驟還包括:在所述檢測電壓低於所述第一門限電壓時以及所述檢測電壓高於所述第二門限電壓時，生成正常狀態信號。
[0013]優選地，所述在所述檢測電壓低於所述第一門限電壓時以及所述檢測電壓高於所述第二門限電壓時，生成正常狀態信號的步驟具體包括:在所述檢測電壓低於預定百分比的所述第一門限電壓以及高於預定百分比的所述第二門限電壓時，生成所述正常狀態信號。
[0014]優選地，所述根據所述電源電壓生成驅動信號、第一門限電壓和第二門限電壓的步驟之後還包括:對所述驅動信號進行限流，以濾除所述驅動電流中的尖峰電流和電湧。
[0015]優選地，所述根據所述驅動電壓生成導通電壓和截止電壓的步驟具體包括:根據所述驅動電壓生成鏡像驅動電壓，並根據所述驅動電壓和所述鏡像驅動電壓生成所述導通電壓和所述截止電壓，其中，所述鏡像驅動電壓和所述驅動電壓幅值相同、極性相反。
[0016]綜上所述，由於採用了上述技術方案，本發明的有益效果是:利用微波開關內的二極體被大功率射頻信號擊穿工作電流瞬時增加，燒毀時工作電流減小的特點來檢測微波開關的故障，從而能夠在微波開關被大功率射頻信號擊穿以及燒毀時及時進行相應的報警，無需進行大功率保護設計，有利於微波開關的小型化設計，可以明顯減小使用微波開關的大功率功放器件的體積和重量，降低射頻通道的插入損耗，提高微波開關的可靠性和使用壽命。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0017]本發明將通過例子並參照附圖的方式說明，其中:
[0018]圖1是本發明實施例的微波開關的故障檢測組件的結構示意圖。
[0019]圖2是圖1所示的故障檢測組件在一種應用場景中的電路原理示意圖。
[0020]圖3是在圖2所示的應用場景中的微波開關的電路原理示意圖。
[0021]圖4是本發明實施例的微波開關的故障檢測方法的流程示意圖。
【具體實施方式】
[0022]本說明書中公開的所有特徵，或公開的所有方法或過程中的步驟，除了互相排斥的特徵和/或步驟以外，均可以以任何方式組合。
[0023]本說明書中公開的任一特徵，除非特別敘述，均可被其他等效或具有類似目的的替代特徵加以替換。即，除非特別敘述，每個特徵只是一系列等效或類似特徵中的一個例子而已。
[0024]如圖1所示，是本發明實施例的微波開關的故障檢測組件的結構示意圖。本實施例的故障檢測組件I耦接於電源2和微波開關3之間，微波開關3包括第一二極體和第二二極體。故障檢測組件I包括限流單元11、驅動單元12和檢測單元13。
[0025]限流單元11用於接收電源I輸出的電源電壓，並根據電源電壓生成驅動信號、第一門限電壓和第二門限電壓，其中，第一門限電壓高於第二門限電壓，驅動信號包括驅動電壓和驅動電流。限流單元11在生成驅動電流時，可以限制驅動電流的最大值。
[0026]驅動單元12用於接收驅動電壓，根據驅動電壓生成導通電壓和截止電壓，並按照預置的控制時序將截止電壓輸出至第一二極體、將導通電壓輸出至第二二極體，以使微波開關3處於發射狀態或者將導通電壓輸出至第一二極體、將截止電壓輸出至第二二極體，以使微波開關3處於接收狀態。其中，導通電壓和截止電壓可以是幅值相同、極性相反的電壓，例如導通電壓為正電壓、截止電壓為負電壓。控制時序用於控制微波開關3處於發射狀態或者接收狀態，例如，在控制時序為高電平時，驅動單元12將截止電壓輸出至第一二極體、將導通電壓輸出至第二二極體，第一二極體將截止，第二二極體將導通，通過設置第一二極體和第二二極體的連接方式，可以使微波開關3處於發射狀態；在控制時序為低電平時，驅動單元12將截止電壓輸出至第二二極體、將導通電壓輸出至第一二極體，第二二極體將截止，第一二極體將導通，通過設置第一二極體和第二二極體的連接方式，可以使微波開關3處於接收狀態。
[0027]檢測單元13用於接收第一門限電壓和第二門限電壓，並檢測驅動電流，將驅動電流轉換為檢測電壓，將檢測電壓分別與第一門限電壓和第二門限電壓進行比較，在檢測電壓高於第一門限電壓時，生成擊穿報警信號，在檢測電壓低於第二門限電壓時，生成故障報警信號。其中，如果第一二極體或第二二極體在截止電壓下被擊穿時，截止電壓就會拉低，如果第一二極體接地，那麼截止電壓就會接地，造成短路，導致電流瞬間增大，增大的電流將直接造成限流單元11和驅動單元12之間的電流(即驅動電流)瞬間增大，檢測單元13將驅動電流轉換為檢測電壓後，檢測電壓也會相應增大，此時，檢測電壓將會瞬間高於第一門限電壓，從而生成擊穿報警信號。如果第一二極體或第二二極體長時間處於擊穿狀態，就會導致第一二極體或第二二極體燒毀，此時截止電壓就會被拉高，造成開路，導致電流減小，減小的電流將直接造成限流單元11和驅動單元12之間的電流(即驅動電流)減小，檢測單元13將驅動電流轉換為檢測電壓後，檢測電壓也會相應減小，此時，檢測電壓將會低於第二門限電壓，從而生成故障報警信號。這裡，第一門限電壓和第二門限電壓之間的區間可以相對設置大一些，只要保證不產生虛警或者虛警概率非常小即可。
[0028]擊穿報警信號和故障報警信號可以發給後續的報警電路，就可以進行相應的報警。由於微波開關3通常是先被擊穿，然後燒毀，所以檢測單元13首先發出的報警信號通常為擊穿報警信號，這就使得微波開關3的第一二極體或第二二極體在被大功率射頻信號擊穿時能夠立即進行擊穿報警，如果在短時間(數毫秒量級)內關斷大功率射頻信號，就可以防止微波開關3燒毀，從而可以提高微波開關的可靠性和使用壽命。
[0029]故障檢測組件I可以集成於印刷電路板上，通過印刷電路板上的特定焊盤與外部的電源2、微波開關3連接，以及接收外部輸入的控制時序，從而可以有利於微波開關的小型化設計。
[0030]本實施例的微波開關的故障檢測組件利用了微波開關內的二極體被大功率射頻信號擊穿工作電流瞬時增加，燒毀時工作電流減小的特點來檢測微波開關的故障，從而能夠在微波開關被大功率射頻信號擊穿以及燒毀時及時進行相應的報警，無需進行大功率保護設計，有利於微波開關的小型化設計，可以明顯減小使用微波開關的大功率功放器件的體積和重量，降低射頻通道的插入損耗，提高微波開關的可靠性和使用壽命。
[0031]請繼續參見圖1，在本實施例中，檢測單元13還用於在檢測電壓低於第一門限電壓時以及檢測電壓高於第二門限電壓時，生成正常狀態信號。其中，如果第一二極體和第二二極體正常工作，那麼電流就會保持一個正常水平，此時，驅動電流也不會產生變化，檢測電壓也就不會產生變化，檢測電壓與第一門限電壓和第二門限電壓比較，既不會高於第一門限電壓也不會低於第二門限電壓，生成的正常狀態信號就表不第一二極體和第二二極體正常工作。
[0032]優選地，檢測單元13具體用於在檢測電壓低於預定百分比的第一門限電壓以及高於預定百分比的第二門限電壓時，生成正常狀態信號。其中，由於第一二極體和第二二極體正常工作時，電流可能在一個小範圍內波動，檢測電壓也會存在一個小範圍波動，檢測電壓如果低於預定百分比的第一門限電壓或者高於預定百分比的第二門限電壓，也生成正常狀態信號。在本實施例中，預定百分比設置為25%。也就是說，只要檢測電壓低於(1±25% ) X第一門限電壓以及高於(1±25% ) X第二門限電壓,均生成正常狀態信號。
[0033]限流單元11還用於對驅動信號進行限流，以濾除驅動電流中的尖峰電流和電湧。
[0034]驅動單元12具體用於根據驅動電壓生成鏡像驅動電壓，並根據驅動電壓和鏡像驅動電壓生成導通電壓和截止電壓，其中，鏡像驅動電壓和驅動電壓幅值相同、極性相反。
[0035]請參見圖2和圖3,圖2是圖1所不的故障檢測組件在一種應用場景中的電路原理示意圖。圖3是在圖2所示的應用場景中的微波開關的電路原理示意圖。圖3中的微波開關包括二極體31a、31b、31c、32a和32b，二極體31a、31b和31c，均屬於第一二極體，二極體32a和32b屬於第二二極體。微波開關的節點a用於輸入導通電壓或截止電壓，節點b用於輸入導通電壓或截止電壓。
[0036]限流單元11包括晶片Ul以及並聯的電阻Rl和二極體Dl。晶片Ul的Vi端輸入電源電壓，Vol端輸出驅動信號，驅動信號包括+5V的驅動電壓和驅動電流，驅動電流這裡可以設置為500mA，Vo2端輸出+3.3V的第一門限電壓，在Vo3端輸出+IV的第二門限電壓。電阻Rl對驅動信號進行限流，二極體Dl對驅動信號進行整流以及過濾尖峰電流和電湧。二極體Dl可以選用肖特基二極體，電阻Rl的精度不低於百分之一。
[0037]驅動單元12包括晶片U2和晶片U3。並聯的電阻Rl和二極體Dl連接晶片U2的Vi端和晶片U3的Vi2端，並輸入驅動電壓。晶片U2的Vo端輸出鏡像驅動電壓至晶片U3的Vil端。晶片U3的EN端輸入控制時序，Vol端和Vo2端在控制時序下分別輸出導通電壓或截止電壓，Vol端可以連接微波開關的節點a，Vo2端可以連接微波開關的節點b。晶片U3的響應時間可以設置為小於2us。
[0038]檢測單元13包括晶片U4、電壓比較器U5和電壓比較器U6。晶片U4的IN+端和V+端連接晶片Ul的Vol端，晶片U4的IN-端通過電阻R2連接並聯的電阻Rl和二極體Dl，V-端接地，Vo端輸出檢測電壓。並聯的電容C和可變電阻R3 —端連接Vo端，另一端接地。檢測電壓的表達式為(R3 + R2) XRl驅動電流，通過調整電阻R3可得到不同倍數的檢測電壓。電壓比較器U5的反相輸入端輸入第一門限電壓，電壓比較器U6的正相輸入端輸入第二門限電壓。晶片U4將檢測電壓輸入至電壓比較器U5的正相輸入端和電壓比較器U6的反相輸入端，並且檢測電壓可以經過可變電阻R5和可變電阻R12進行分壓。電壓比較器U5的輸出端經過電阻R7、可變電阻R8和電阻R9進行分壓，電壓比較器U6的輸出端經過電阻R13、可變電阻R14和電阻R15進行分壓，便於輸出的擊穿報警信號和故障報警信號與後續的報警電路匹配。
[0039]當第一二極體和第二二極體正常工作時，檢測電壓經過電阻R6分壓後輸入到電壓比較器U5，與第一門限電壓(+3.3V)進行比較後，檢測電壓低於(1±25%)的第一門限電壓，電壓比較器U5輸出低電平，即正常狀態信號；在微波開關被擊穿時，檢測電壓經過電阻R6分壓後輸入到電壓比較器U5，與第一門限電壓進行比較，檢測電壓會瞬間高於第一門限電壓，電壓比較器U5輸出高電平，即擊穿報警信號。
[0040]當第一二極體和第二二極體正常工作時，檢測電壓經過電阻R12分壓後輸入到電壓比較器U6，與第二門限電壓(+IV)進行比較後，檢測電壓高於(1±25% )的第二門限電壓，電壓比較器U6輸出高電平，即正常狀態信號；在微波開關燒毀時，檢測電壓經過電阻R12分壓後輸入到電壓比較器U6，與第一門限電壓進行比較，檢測電壓會低於第二門限電壓，電壓比較器U6輸出低電平，即故障報警信號。
[0041]請參見圖4，是本發明實施例的微波開關的故障檢測方法的流程示意圖。微波開關包括第一二極體和第二二極體。本實施例的故障檢測方法包括以下步驟:
[0042]S1:接收電源輸出的電源電壓，並根據電源電壓生成驅動信號、第一門限電壓和第二門限電壓，其中，第一門限電壓高於第二門限電壓，驅動信號包括驅動電壓和驅動電流。
[0043]其中，驅動電流在省城時可以被限制一個最大值。
[0044]S2:根據驅動電壓生成導通電壓和截止電壓，並按照預置的控制時序將截止電壓輸出至第一二極體、將導通電壓輸出至第二二極體，以使微波開關處於發射狀態或者將導通電壓輸出至第一二極體、將截止電壓輸出至第二二極體，以使微波開關處於接收狀態。
[0045]其中，導通電壓和截止電壓可以是幅值相同、極性相反的電壓，例如導通電壓為正電壓、截止電壓為負電壓。控制時序用於控制微波開關處於發射狀態或者接收狀態，例如，在控制時序為高電平時，將截止電壓輸出至第一二極體、將導通電壓輸出至第二二極體，第一二極體將截止，第二二極體將導通，通過設置第一二極體和第二二極體的連接方式，可以使微波開關處於發射狀態；在控制時序為低電平時，將截止電壓輸出至第二二極體、將導通電壓輸出至第一二極體，第二二極體將截止，第一二極體將導通，通過設置第一二極體和第二二極體的連接方式，可以使微波開關處於接收狀態。
[0046]S3:檢測驅動電流，將驅動電流轉換為檢測電壓，將檢測電壓分別與第一門限電壓和第二門限電壓進行比較，在檢測電壓高於第一門限電壓時，生成擊穿報警信號，在檢測電壓低於第二門限電壓時，生成故障報警信號。
[0047]其中，如果第一二極體或第二二極體在截止電壓下被擊穿時，截止電壓就會拉低，如果第一二極體接地，那麼截止電壓就會接地，造成短路，導致電流瞬間增大，增大的電流將直接造成驅動電流瞬間增大，將驅動電流轉換為檢測電壓後，檢測電壓也會相應增大，此時，檢測電壓將會瞬間高於第一門限電壓，從而生成擊穿報警信號。如果第一二極體或第二二極體長時間處於擊穿狀態，就會導致第一二極體或第二二極體燒毀，此時截止電壓就會被拉高，造成開路，導致電流減小，減小的電流將直接造成驅動電流減小，將驅動電流轉換為檢測電壓後，檢測電壓也會相應減小，此時，檢測電壓將會低於第二門限電壓，從而生成故障報警信號。這裡，第一門限電壓和第二門限電壓之間的區間可以相對設置大一些，只要保證不產生虛警或者虛警概率非常小即可。
[0048]擊穿報警信號和故障報警信號可以用於進行相應的報警。由於微波開關通常是先被擊穿，然後燒毀，所以首先發出的報警信號通常為擊穿報警信號，這就使得微波開關的第一二極體或第二二極體在被大功率射頻信號擊穿時能夠立即進行擊穿報警，如果在短時間(數毫秒量級)內關斷大功率射頻信號，就可以防止微波開關燒毀，從而可以提高微波開關的可靠性和使用壽命。
[0049]在本實施例中，將檢測電壓分別與第一門限電壓和第二門限電壓進行比較的步驟還包括:在檢測電壓低於第一門限電壓時以及檢測電壓高於第二門限電壓時，生成正常狀態信號。其中，如果第一二極體和第二二極體正常工作，那麼電流就會保持一個正常水平，此時，驅動電流也不會產生變化，檢測電壓也就不會產生變化，檢測電壓與第一門限電壓和第二門限電壓比較，既不會高於第一門限電壓也不會低於第二門限電壓，生成的正常狀態信號就表示第一二極體和第二二極體正常工作。
[0050]優選地，在檢測電壓低於第一門限電壓時以及檢測電壓高於第二門限電壓時，生成正常狀態信號的步驟具體包括:在檢測電壓低於預定百分比的第一門限電壓以及高於預定百分比的第二門限電壓時，生成正常狀態信號。其中，由於第一二極體和第二二極體正常工作時，電流可能在一個小範圍內波動，檢測電壓也會存在一個小範圍波動，檢測電壓如果低於預定百分比的第一門限電壓或者高於預定百分比的第二門限電壓，也生成正常狀態信號。在本實施例中，預定百分比設置為25%。也就是說，只要檢測電壓低於(1±25%)X第一門限電壓以及高於(1±25% ) X第二門限電壓，均生成正常狀態信號。
[0051]在本實施例中，根據電源電壓生成驅動信號、第一門限電壓和第二門限電壓的步驟之後還包括:對驅動信號進行限流，以濾除驅動電流中的尖峰電流和電湧。
[0052]在本實施例中，根據驅動電壓生成導通電壓和截止電壓的步驟具體包括:根據驅動電壓生成鏡像驅動電壓，並根據驅動電壓和鏡像驅動電壓生成導通電壓和截止電壓，其中，鏡像驅動電壓和驅動電壓幅值相同、極性相反。
[0053]本實施例的微波開關的故障檢測方法利用了微波開關內的二極體被大功率射頻信號擊穿工作電流瞬時增加，燒毀時工作電流減小的特點來檢測微波開關的故障，從而能夠在微波開關被大功率射頻信號擊穿以及燒毀時及時進行相應的報警，無需進行大功率保護設計，有利於微波開關的小型化設計，可以明顯減小使用微波開關的大功率功放器件的體積和重量，降低射頻通道的插入損耗，提高微波開關的可靠性和使用壽命。
[0054]本發明並不局限於前述的【具體實施方式】。本發明擴展到任何在本說明書中披露的新特徵或任何新的組合，以及披露的任一新的方法或過程的步驟或任何新的組合。
【權利要求】
1.一種微波開關的故障檢測組件，其特徵在於，所述故障檢測組件耦接於電源和所述微波開關之間，所述微波開關包括第一二極體和第二二極體，所述故障檢測組件包括限流單元、檢測單元和驅動單元，其中， 所述限流單元用於接收所述電源輸出的電源電壓，並根據所述電源電壓生成驅動信號、第一門限電壓和第二門限電壓，其中，所述第一門限電壓高於所述第二門限電壓，所述驅動信號包括驅動電壓和驅動電流； 所述驅動單元用於接收所述驅動電壓，根據所述驅動電壓生成導通電壓和截止電壓，並按照預置的控制時序將所述截止電壓輸出至所述第一二極體、將所述導通電壓輸出至所述第二二極體，以使所述微波開關處於發射狀態或者將所述導通電壓輸出至所述第一二極體、將所述截止電壓輸出至所述第二二極體，以使所述微波開關處於接收狀態； 所述檢測單元用於接收所述第一門限電壓和所述第二門限電壓，並檢測所述驅動電流，將所述驅動電流轉換為檢測電壓，將所述檢測電壓分別與所述第一門限電壓和所述第二門限電壓進行比較，在所述檢測電壓高於所述第一門限電壓時，生成擊穿報警信號，在所述檢測電壓低於所述第二門限電壓時，生成故障報警信號。
2.根據權利要求1所述的故障檢測組件，其特徵在於，所述檢測單元還用於在所述檢測電壓低於所述第一門限電壓時以及所述檢測電壓高於所述第二門限電壓時，生成正常狀態信號。
3.根據權利要求2所述的故障檢測組件，其特徵在於，所述檢測單元具體用於在所述檢測電壓低於預定百分比的所述第一門限電壓以及高於預定百分比的所述第二門限電壓時，生成所述正常狀態信號。
4.根據權利要求1所述的故障檢測組件，其特徵在於，所述限流單元還用於對所述驅動信號進行限流，以濾除所述驅動電流中的尖峰電流和電湧。
5.根據權利要求1所述的故障檢測組件，其特徵在於，所述驅動單元具體用於根據所述驅動電壓生成鏡像驅動電壓，並根據所述驅動電壓和所述鏡像驅動電壓生成所述導通電壓和所述截止電壓，其中，所述鏡像驅動電壓和所述驅動電壓幅值相同、極性相反。
6.一種微波開關的故障檢測方法，所述微波開關包括第一二極體和第二二極體，其特徵在於，所述故障檢測方法包括: 接收電源輸出的電源電壓，並根據所述電源電壓生成驅動信號、第一門限電壓和第二門限電壓，其中，所述第一門限電壓高於所述第二門限電壓，所述驅動信號包括驅動電壓和驅動電流； 根據所述驅動電壓生成導通電壓和截止電壓，並按照預置的控制時序將所述截止電壓輸出至所述第一二極體、將所述導通電壓輸出至所述第二二極體，以使所述微波開關處於發射狀態或者將所述導通電壓輸出至所述第一二極體、將所述截止電壓輸出至所述第二二極體，以使所述微波開關處於接收狀態； 檢測所述驅動電流，將所述驅動電流轉換為檢測電壓，將所述檢測電壓分別與所述第一門限電壓和所述第二門限電壓進行比較，在所述檢測電壓高於所述第一門限電壓時，生成擊穿報警信號，在所述檢測電壓低於所述第二門限電壓時，生成故障報警信號。
7.根據權利要求6所述的故障檢測方法，其特徵在於，所述將所述檢測電壓分別與所述第一門限電壓和所述第二門限電壓進行比較的步驟還包括: 在所述檢測電壓低於所述第一門限電壓時以及所述檢測電壓高於所述第二門限電壓時，生成正常狀態信號。
8.根據權利要求7所述的故障檢測方法，其特徵在於，所述在所述檢測電壓低於所述第一門限電壓時以及所述檢測電壓高於所述第二門限電壓時，生成正常狀態信號的步驟具體包括: 在所述檢測電壓低於預定百分比的所述第一門限電壓以及高於預定百分比的所述第二門限電壓時，生成所述正常狀態信號。
9.根據權利要求6所述的故障檢測方法，其特徵在於，所述根據所述電源電壓生成驅動信號、第一門限電壓和第二門限電壓的步驟之後還包括: 對所述驅動信號進行限流，以濾除所述驅動電流中的尖峰電流和電湧。
10.根據權利要求6所述的故障檢測方法，其特徵在於，所述根據所述驅動電壓生成導通電壓和截止電壓的步驟具體包括: 根據所述驅動電壓生成鏡像驅動電壓，並根據所述驅動電壓和所述鏡像驅動電壓生成所述導通電壓和所述截止電壓，其中，所述鏡像驅動電壓和所述驅動電壓幅值相同、極性相反。
【文檔編號】G01R31/327GK104181461SQ201410462612
【公開日】2014年12月3日 申請日期:2014年9月12日 優先權日:2014年9月12日
【發明者】王偉光, 王斐斐 申請人:四川九洲電器集團有限責任公司