一種超低流失色譜進樣隔墊的製作方法

2023-06-21 06:52:31

專利名稱：一種超低流失色譜進樣隔墊的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種氣相色譜儀器配件，具體涉及一種超低流失色譜進樣隔墊。
背景技術：
位於氣相色譜儀器上用於色譜柱和儀器接口的進樣隔墊，是起進樣口的密封作用的，樣品從進樣器中通過進樣隔墊進入氣相色譜儀器中運行，同類產品的進樣隔墊使用常規進樣器扎入有大量隔墊碎屑生成，單針重複軋取100次後隔墊便被扎穿，使氣相色譜儀於外界大氣相通，嚴重影響氣相儀器的運行。

發明內容
本發明的目的是提供一種超低流失色譜進樣隔墊，它可以大大降低隔墊的成屑率，保證單針扎取200次不會被穿透。為了解決背景技術所存在的問題，本發明是採用以下製作步驟一、矽橡膠原料的調和添加處理使用IOL的不鏽鋼容器加料口加入5L矽橡膠原料，另一側以lOOml/min通入99. 5%的高純氮氣保護，從加料口以每分鐘Iml的速度加入商品代號為M0T-77的調和劑共10ml，加熱時需攪拌，加熱保持3-5個小時，後取樣注塑並測試單針扎取次數，達標後將反映將至室溫，放空，出料；二、隔墊的注塑成型將製備好的原料2-10g注射入模具中，使之成型，注塑量與隔墊規格有關，隔墊直徑範圍為5mm到17mm，高度為lmm-5mm，注塑時應注意加料速度，如加料過慢會導致微量空氣的進入，影響隔墊的外觀和使用壽命；三、單側隔墊的開孔將成型的進樣隔墊使用預設刀具進行一側開孔，開孔位置，孔深固定；四、進樣隔墊的加熱純化將成品放入進樣口以高純氮氣30ml/ml的流速吹掃，並將隔墊加熱至350度以去除雜質，加熱保持3-5個小時，觀測氣相色譜儀，無雜質流出，即可。本發明具有以下有益效果1、加入商品代號為M0T-77的調和劑，降低了矽橡膠的硬度，柔韌度，使得在350度的高溫下，使用常規的色譜進樣針，單針扎取200次之內，隔墊不被穿孔，大大提高隔墊的使用壽命。2、在圓形進樣隔墊一側開導向孔，保證進樣器在扎取隔墊的時候始終固定於該點，從而大大降低成屑率，安捷倫5890儀器FID檢測器，350度恆溫計-流失率低於10pa。


圖1為本發明一種規格的結構示意圖，
圖2為圖1的俯視圖，圖3為現有產品成屑率檢測圖，圖4為本發明的成屑率檢測圖。
具體實施例方式參看圖1-3，本具體實施方式
採用以下製作步驟一、矽橡膠原料的調和添加處理使用IOL的不鏽鋼容器加料口加入5L矽橡膠原料，另一側以lOOml/min通入99. 5%的高純氮氣保護，從加料口以每分鐘Iml的速度加入商品代號為M0T-77的調和劑共10ml，加熱時需攪拌，加熱保持3-5個小時，後取樣注塑並測試單針扎取次數，達標後將反映將至室溫，放空，出料；二、隔墊的注塑成型將製備好的原料2-10g注射入模具中，使之成型，注塑量與隔墊規格有關，隔墊直徑範圍為5mm到17mm，高度為lmm-5mm，注塑時應注意加料速度，如加料過慢會導致微量空氣的進入，影響隔墊的外觀和使用壽命；三、單側隔墊的開孔將成型的進樣隔墊使用預設刀具進行一側開孔，開孔位置，孔深固定；四、進樣隔墊的加熱純化將成品放入進樣口以高純氮氣30ml/ml的流速吹掃，並將隔墊加熱至350度以去除雜質，加熱保持3-5個小時，觀測氣相色譜儀，無雜質流出，即可。本具體實施方式
可以大大降低隔墊的成屑率，保證單針扎取200次不會被穿透。
權利要求
1.一種超低流失色譜進樣隔墊，其特徵在於它的製作步驟為 (一)、矽橡膠原料的調和添加處理 使用IOL的不鏽鋼容器加料口加入5L矽橡膠原料，另一側以lOOml/min通入99. 5%的高純氮氣保護，從加料口以每分鐘Iml的速度加入商品代號為M0T-77的調和劑共10ml，力口熱時需攪拌，加熱保持3-5個小時，後取樣注塑並測試單針扎取次數，達標後將反映將至室溫，放空，出料； (二)、隔墊的注塑成型 將製備好的原料2-10g注射入模具中，使之成型，注塑量與隔墊規格有關，隔墊直徑範圍為5mm-17mm，高度為lmm-5mm，注塑時應注意加料速度，如加料過慢會導致微量空氣的進入，影響隔墊的外觀和使用壽命； (三)、單側隔墊的開孔 將成型的進樣隔墊使用預設刀具進行一側開孔，開孔位置，孔深固定； (四)、進樣隔墊的加熱純化 將成品放入進樣口以高純氮氣30ml/ml的流速吹掃，並將隔墊加熱至350度以去除雜質，加熱保持3-5個小時，觀測氣相色譜儀，無雜質流出，即可。
全文摘要
一種超低流失色譜進樣隔墊，它涉及一種氣相色譜儀器配件，它的製作步驟為(一)、矽橡膠原料的調和添加處理，(二)、隔墊的注塑成型，(三)、單側隔墊的開孔，(四)、進樣隔墊的加熱純化，它可以大大降低隔墊的成屑率，保證單針扎取200次不會被穿透。
文檔編號G01N30/16GK102998400SQ201110274180
公開日2013年3月27日 申請日期2011年9月15日 優先權日2011年9月15日
發明者盛劍玉, 夏敏勇, 沈志希, 張曉梅, 張佳 申請人:上海安譜科學儀器有限公司