用於自動光學測量儀的旋轉平臺結構的製作方法

2023-06-01 03:31:16 1

專利名稱：用於自動光學測量儀的旋轉平臺結構的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種旋轉平臺結構，尤其涉及一種轉動平穩可靠、用於自動光學 測量儀的旋轉平臺結構。
背景技術：
在現有技術中對變截面零部件的精確測量通常採用三座標測量，它是通過在笛卡 兒坐標系中移動的探針來確定空間點的位置，當探針接觸到被測零部件時，探針受力並觸 發測量機記錄當前點的三個坐標信息，該方法測量精度高，且不受被測零部件的外形限制， 因此在工業測量中得以廣泛應用。但測量時往往對周圍的環境要求較高，因此人們又開始 採用對周圍環境要求較低、使用範圍更廣、測量精度更高的光學測量儀進行測量，但測量時 二者均需將待測零部件固定在工作平臺上，而常用的固定方法是用膠水將待測零部件直接 粘在工作平臺上，轉換測量面時需拆除後重新固定，導致測量周期長、效率低、並影響零部 件的測量精度，同時也難以適應大批量的零部件檢測。中國專利公開了一種試樣測量旋轉機構(CN10152(^95A)，它包括設於基板的兩氣 爪座，其中一個氣爪座上固設有一軸，該軸上套裝有可轉動的從動氣爪，另一個氣爪座上設 有通孔，該通孔內設有一兩端分別與主動氣爪和旋轉缸固定的軸。此裝置利用氣爪夾持試 樣，旋轉缸帶動氣爪旋轉90度或270度，因此其測量範圍僅局限於上、下表面，結構相對復 雜，而且在水平方向轉換測量面時同樣存在二次定位，由此導致測量周期長、效率低、並影 響零部件的測量精度等技術問題。
發明內容本實用新型主要是提供了一種結構簡單，轉動平穩可靠，一次定位即可對測試零 件進行全方位測量，從而可提高檢測效率和檢測精度的用於自動光學測量儀的旋轉平臺結 構，解決了現有技術中存在的測試零件轉換測量面時需重複定位，由此導致測量周期長、效 率低、並降低測量精度等的技術問題。本實用新型的上述技術問題主要是通過下述技術方案得以解決的用於自動光學 測量儀的旋轉平臺結構，包括工作平臺，在所述工作平臺上設有定位盤，所述定位盤通過推 力調心軸承和圓錐滾子軸承旋轉支撐有過渡軸，所述過渡軸的下端延伸至工作平臺下並通 過連軸器與垂直驅動轉軸相連，所述過渡軸的上端與水平固定盤固定相連。通過推力調心 軸承和圓錐滾子軸承來承載用於固定測試零件的水平固定盤的軸向載荷以及徑向載荷，降 低了傳動副的受力以及運動磨損，提高了旋轉平臺的旋轉承載性能，避免了傳動副的受力 以及運動磨損所造成的摩擦噪音和運動時的不平穩性，使旋轉平臺旋轉精度高，運動平穩 性好，安全係數高，整體結構簡單，測試時首先將測試零件固定在水平固定盤上，轉換測量 時只需轉動水平固定盤上即可帶動測試零件旋轉，即一次定位即可對測試零件進行全方位 測量，從而可提高檢測效率和檢測精度。作為優選，所述定位盤包括環形底盤及延伸設在環形底盤上的罩環，所述罩環朝向水平固定盤，所述過渡軸插接在定位盤的中孔內，所述圓錐滾子軸承嵌裝在環形底盤中 孔與過渡軸之間，所述推力調心軸承嵌裝在罩環中孔與過渡軸之間。通過一面帶有凹槽的 定位盤固定軸承，固定方式簡單可靠。作為更優選，所述過渡軸包括下過渡軸及同軸固定在下過渡軸上的上過渡軸，所 述圓錐滾子軸承嵌裝在環形底盤中孔與下過渡軸之間，所述推力調心軸承嵌裝在罩環中孔 與上過渡軸之間。將過渡軸分為上下兩段，便於軸承的安裝及調整，同時也方便過渡軸加 工，降低加工成本。作為優選，在所述過渡軸、垂直驅動轉軸、連軸器及水平固定盤的中部同軸設有軸 孔。中空結構重量輕，使水平固定盤轉動靈活，同時也便於設備上所用導線自軸孔穿出，由 此確保導線不會受損及保持設備外觀的整潔。作為優選，在所述定位盤的底部設有環形底座，所述定位盤通過環形底座固定在 工作平臺上。通過在定位盤與工作平臺間設置環形底座，可提高定位盤的穩定性，同時也便 於定位盤的固定連接。作為優選，所述水平固定盤呈圓盤形，在所述水平固定盤上設有若干個定位孔，且 所述定位孔沿水平固定盤的中心軸在圓周方向均布。通過在固定盤上設置定位孔，方便測 試零件固定。因此，本實用新型的用於自動光學測量儀的旋轉平臺結構具有下述優點通過推 力調心軸承和圓錐滾子軸承來承載水平固定盤的軸向載荷以及徑向載荷，降低了傳動副的 受力以及運動磨損，提高了旋轉平臺的旋轉承載性能，避免了傳動副的受力以及運動磨損 所造成的摩擦噪音和運動時的不平穩性，使旋轉平臺旋轉精度高，運動平穩性好，安全係數 高，整體結構簡單，轉換測量時只需轉動水平固定盤上即可帶動測試零件旋轉，即一次定位 即可對測試零件進行全方位測量，從而可提高檢測效率和檢測精度；通過一面帶有凹槽的 定位盤來固定軸承，固定方式簡單可靠；將過渡軸分為上下兩段，便於軸承的安裝及調整， 降低過渡軸加工成本。

圖1是本實用新型用於自動光學測量儀的旋轉平臺結構的結構示意圖；圖2是圖1所示的縱向剖視圖。
具體實施方式
下面通過實施例，並結合附圖，對本實用新型的技術方案作進一步具體的說明。實施例如圖1所示，本實用新型的用於自動光學測量儀的旋轉平臺結構，包括由大理石 製成的工作平臺1，在工作平臺1上通過螺栓固定一個環形底座9，在環形底座9上又通過 螺栓固定一個定位盤2，如圖2所示，定位盤2通過推力調心軸承62和圓錐滾子軸承61旋 轉支撐一根過渡軸，過渡軸的下端穿過工作平臺1上的孔延伸至工作平臺1的下面，並通過 連軸器7與垂直驅動轉軸4同軸相連，過渡軸的上端通過螺栓同軸固定一個水平固定盤5， 在水平固定盤5上垂直開有若干個定位孔51，且定位孔51沿水平固定盤5的中心軸在圓 周方向均布。其中的定位盤2包括環形底盤21及同軸一體式連接在環形底盤21上的罩環22，罩環22側朝向水平固定盤5，過渡軸包括下過渡軸31及同軸連接在下過渡軸31上的上 過渡軸32，圓錐滾子軸承61嵌裝在環形底盤21中孔與下過渡軸31之間，推力調心軸承62 嵌裝在罩環22中孔與上過渡軸32之間。在過渡軸、垂直驅動轉軸4、連軸器7及水平固定 盤5的中部同軸開有大小相同的軸孔8。使用時，首先將測試零件或夾持有測試零件的夾具固定在水平固定盤5上，再啟 動與垂直驅動轉軸4相連接的驅動裝置，驅動裝置帶動垂直驅動轉軸4及垂直驅動轉軸4 上的水平固定盤5旋轉，至水平固定盤5上的測試零件至合適的角度即可進行測量，轉換測 量面時只需再次啟動驅動裝置，操作省時省力，方便快捷。本文中所描述的具體實施例僅僅是對本實用新型的構思作舉例說明，本實用新型 所屬技術領域的技術人員可以對所描述的具體實施例做各種各樣的修改或補充或採用類 似的方式替代，但並不會偏離本實用新型的精神或者超越所附權利要求書所定義的範圍。
權利要求1.一種用於自動光學測量儀的旋轉平臺結構，包括工作平臺(1)，其特徵在於在所述 工作平臺(1)上設有定位盤O)，所述定位盤( 通過推力調心軸承(6 和圓錐滾子軸承 (61)旋轉支撐有過渡軸，所述過渡軸的下端延伸至工作平臺(1)下並通過連軸器(7)與垂 直驅動轉軸(4)相連，所述過渡軸的上端與水平固定盤(5)固定相連。
2.根據權利要求1所述的用於自動光學測量儀的旋轉平臺結構，其特徵在於所述定 位盤(2)包括環形底盤及延伸設在環形底盤上的罩環(22)，所述罩環02)朝向 水平固定盤(5)，所述過渡軸插接在定位盤( 的中孔內，所述圓錐滾子軸承(61)嵌裝在環 形底盤中孔與過渡軸之間，所述推力調心軸承(6 嵌裝在罩環0 中孔與過渡軸之 間。
3.根據權利要求2所述的用於自動光學測量儀的旋轉平臺結構，其特徵在於所述過 渡軸包括下過渡軸(31)及同軸固定在下過渡軸(31)上的上過渡軸(32)，所述圓錐滾子軸 承(61)嵌裝在環形底盤中孔與下過渡軸(31)之間，所述推力調心軸承(6 嵌裝在 罩環02)中孔與上過渡軸(32)之間。
4.根據權利要求1或2或3所述的用於自動光學測量儀的旋轉平臺結構，其特徵在於 在所述過渡軸、垂直驅動轉軸G)、連軸器(7)及水平固定盤( 的中部同軸設有軸孔(8)。
5.根據權利要求1或2或3所述的用於自動光學測量儀的旋轉平臺結構，其特徵在於 在所述定位盤( 的底部設有環形底座(9)，所述定位盤( 通過環形底座(9)固定在工作 平臺⑴上。
6.根據權利要求4所述的用於自動光學測量儀的旋轉平臺結構，其特徵在於在所述 定位盤的底部設有環形底座(9)，所述定位盤( 通過環形底座(9)固定在工作平臺 ⑴上。
7.根據權利要求1或2或3所述的用於自動光學測量儀的旋轉平臺結構，其特徵在於 所述水平固定盤( 呈圓盤形，在所述水平固定盤( 上設有若干個定位孔(51)，且所述定 位孔(51)沿水平固定盤(5)的中心軸在圓周方向均布。
8.根據權利要求6所述的用於自動光學測量儀的旋轉平臺結構，其特徵在於所述水 平固定盤( 呈圓盤形，在所述水平固定盤( 上設有若干個定位孔(51)，且所述定位孔 (51)沿水平固定盤(5)的中心軸在圓周方向均布。
專利摘要本實用新型公開了一種旋轉平臺結構，提供了一種結構簡單，轉動平穩可靠，一次定位即可對測試零件進行全方位測量，從而可提高檢測效率和檢測精度的用於自動光學測量儀的旋轉平臺結構，其特徵在於在所述工作平臺(1)上設有定位盤(2)，所述定位盤(2)通過推力調心軸承(62)和圓錐滾子軸承(61)旋轉支撐有過渡軸，所述過渡軸的下端延伸至工作平臺(1)下並通過連軸器(7)與垂直驅動轉軸(4)相連，所述過渡軸的上端與水平固定盤(5)固定相連，解決了現有技術中存在的測試零件轉換測量面時需重複定位，由此導致測量周期長、效率低、並降低測量精度等的技術問題。
文檔編號G01B11/00GK201909614SQ20102068384
公開日2011年7月27日 申請日期2010年12月28日 優先權日2010年12月28日
發明者殷伯銀, 潘先進 申請人:蘇州弗士達科學儀器有限公司