用於檢驗圓柱體外緣變形的驗具的製作方法

2023-06-24 04:04:56 1

用於檢驗圓柱體外緣變形的驗具的製作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種用於檢驗圓柱體外緣變形的驗具，該驗具為一個矩形結構的箱體，包括上蓋、下蓋和四個側面，所述四個側面的上方開口處封裝有上蓋，對應該上蓋的下方開口處封裝有下蓋，所述上蓋制有沉頭孔，該沉頭孔下端同軸連接一套管，所述下蓋通過合頁與側面連接，所述左、右兩側面的下端內分別嵌裝有磁鐵，對應該磁鐵的下蓋內同樣嵌裝有磁鐵。將零件對準沉頭孔並通過套管落在驗具內部，如果零件的外緣發生形變，則不能順利通過套管，即為不合格品。該驗具結構簡單、使用方便快捷，有效提高檢驗的工作效率，並大大降低了漏檢率。
【專利說明】用於檢驗圓柱體外緣變形的驗具
【技術領域】
[0001]本實用新型屬於驗具製造領域，具體地說，是一種用於檢驗圓柱體外緣變形的驗具。
【背景技術】
[0002]在元器件製造行業中，通常需要將兩個圓柱體芯體和套管同軸連接在一起，為了防止芯體脫落，在芯體與套管連接的套管外緣上壓制有壓痕。在進行上述操作過程中，如果用力過大會導致套管的外緣發生形變，從而不能將其安裝在另外的產品上。
[0003]傳統檢驗套管外緣是否發生變形的方法是:通過卡尺測量套管的直徑。但是這種方法的工作效率相當低，而且漏檢率高。
實用新型內容
[0004]本實用新型的目的在於克服現有技術的不足，提供一種結構簡單、使用方便的用於檢驗圓柱體外緣變形的驗具。
[0005]本實用新型的方案是這樣實現的:
[0006]一種用於檢驗圓柱體外緣變形的驗具，該驗具為一個矩形結構的箱體，包括上蓋、下蓋和四個側面，所述四個側面的上方開口處封裝有上蓋，對應該上蓋的下方開口處封裝有下蓋，所述上蓋制有沉頭孔，該沉頭孔下端同軸連接一套管。
[0007]而且，所述下蓋通過合頁與側面連接，所述左、右兩側面的下端內分別嵌裝有磁鐵，對應該磁鐵的下蓋內同樣嵌裝有磁鐵。
[0008]本實用新型的優點和積極效果是:
[0009]將零件對準沉頭孔並通過套管落在驗具內部，如果零件的外緣發生形變，則不能順利通過套管，即為不合格品。該驗具結構簡單、使用方便快捷，有效提高檢驗的工作效率，並大大降低了漏檢率。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1是本實用新型的主視圖；
[0011]圖2是圖1的A-A向剖視圖(下蓋打開狀態)。
【具體實施方式】
[0012]下面結合附圖並通過具體實施例對本實用新型作進一步詳述。
[0013]一種用於檢驗圓柱體外緣變形的驗具，如圖1、圖2所示，該驗具為一個矩形結構的箱體，包括上蓋1、下蓋6和四個側面4，所述四個側面的上方開口處封裝有上蓋，對應該上蓋的下方開口處封裝有下蓋。
[0014]所述上蓋制有兩個沉頭孔2，每個沉頭孔下端同軸連接一套管3，該套管的內圓與要檢測零件(圖中未示出)的外緣直徑相應。[0015]為了便於取出零件，所述下蓋通過合頁7與側面連接，所述左右兩側面的下端內分別嵌裝有磁鐵5，對應該磁鐵的下蓋內同樣嵌裝有磁鐵8，從而實現可打開或關閉下蓋的目的。
[0016]將零件對準沉頭孔並通過套管落在驗具內部，如果零件的外緣發生形變，則不能順利通過套管，即為不合格品。該驗具結構簡單、使用方便快捷，有效提高檢驗的工作效率，並大大降低了漏檢率。
[0017]需要強調的是，本實用新型所述的實施例是說明性的，而不是限定性的，因此本實用新型包括並不限於【具體實施方式】中所述的實施例，凡是由本領域技術人員根據本實用新型的技術方案得出的其他實施方式，同樣屬於本實用新型保護的範圍。
【權利要求】
1.一種用於檢驗圓柱體外緣變形的驗具，其特徵在於:該驗具為一個矩形結構的箱體，包括上蓋、下蓋和四個側面，所述四個側面的上方開口處封裝有上蓋，對應該上蓋的下方開口處封裝有下蓋，所述上蓋制有沉頭孔，該沉頭孔下端同軸連接一套管。
2.根據權利要求1所述的用於檢驗圓柱體外緣變形的驗具，其特徵在於:所述下蓋通過合頁與側面連接，所述左、右兩側面的下端內分別嵌裝有磁鐵，對應該磁鐵的下蓋內同樣嵌裝有磁鐵。
【文檔編號】G01B5/30GK203518929SQ201320555346
【公開日】2014年4月2日 申請日期:2013年9月9日 優先權日:2013年9月9日
【發明者】劉嘉明, 張帥 申請人:天津信諾特電子有限公司