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自動光學檢測方法及實施該方法的自動光學檢測系統的製作方法

2023-05-29 06:04:36 1

自動光學檢測方法及實施該方法的自動光學檢測系統的製作方法
【專利摘要】本發明提供一種自動光學檢測方法及實施該方法的自動光學檢測系統;在該自動光學檢測方法中,首先將待測物輸送至檢測定位點,接著選擇使用第一影像擷取器或第二影像擷取器擷取待測物的影像,當是使用第一影像擷取器時,需要配合操作影像分析單元對待測物的影像進行分析處理並判讀是否存有不良點,當是使用第二影像擷取器時,通過第二影像擷取器本身所內建的影像處理功能,便能夠對待測物的影像進行分析處理並判讀是否存有不良點,最後使用計算機取得經過分析處理後的影像數據和判讀結果並對待測物進行分流管控,且將所取得的判讀結果上傳至生產現場管控系統,由此達到提高效率、維持良率以及降低維護成本的效果。
【專利說明】自動光學檢測方法及實施該方法的自動光學檢測系統

【技術領域】
[0001]本發明涉及光學檢測技術,尤其涉及一種能夠提升效率及維持良率的自動光學檢測方法及實施該方法的自動光學檢測系統。

【背景技術】
[0002]就自動光學檢測技術(Automatic Optical Inspect1n,AOI)來說,傳統的檢測步驟是先利用輸送帶將待測物(如電路板)運送至檢測定位點,接著通過設置在檢測定位點的影像擷取器擷取待測物的影像之後,再將所擷取到的影像數據傳送至計算機,由作業人員進行後續的影像儲存及缺陷判讀。
[0003]然而,有時候為了對應不同的產品需求,在生產現場可能會配置多種不同的影像擷取器(如(XD、CMOS或Webcam)或多套控制系統,但是這些不同的影像擷取器之間往往具有系統兼容性的問題,除了容易造成維修人員的困擾及維護成本上的增加之外,同時也很難共同搭配成一貫化的生產作業流程,如此勢必會對生產效率及產品良率造成負面的影響。


【發明內容】

[0004]本發明的主要目的在於提供一種自動光學檢測方法及實施該方法的自動光學檢測系統,其能夠提高生產效率、維持產品良率以及降低維護成本。
[0005]為了達成上述目的,本發明的自動光學檢測方法包含有四個步驟。第一個步驟將待測物輸送至檢測定位點;第二個步驟選擇使用第一影像擷取器或第二影像擷取器對該待測物進行影像擷取,其中,該第一影像擷取器並未具備有影像處理功能,該第二影像擷取器本身內建有影像處理功能;第三個步驟對所擷取的影像進行分析處理,當在前一個步驟(第二個步驟)選擇使用該第一影像擷取器時,同時再配合操作影像分析單元對該待測物的影像進行分析處理並判讀是否存有不良點,當在前一個步驟(第二個步驟)是選擇使用該第二影像擷取器時,通過該第二影像擷取器所內建的影像處理功能便能夠對該待測物的影像進行分析處理並判讀是否存有不良點;第四個步驟將影像數據和判讀結果傳送至計算機。
[0006]藉由上述步驟可知,本發明的自動光學檢測方法讓兩種不同功能的影像擷取器在生產作業流程中能夠互相支持,如此即能達到提高生產效率、維持產品良率以及降低維護成本的目的。
[0007]優選在第一個步驟中,將該待測物輸送至該檢測定位點之後,啟動條形碼掃描機讀取該待測物的條形碼,由此取得該待測物的序號而方便調出先前所備份過的影像數據。
[0008]優選在第四個步驟中,當使用該計算機發現該待測物的影像經由該第二影像擷取器的分析處理之後出現不良點時,操作該影像分析單元對該待測物的影像進行第二次的分析處理,以確認該待測物是否為不良品。
[0009]優選在第四個步驟中,該計算機將所取得的影像數據上傳至資料庫內進行備份,以便於日後管理及查詢。
[0010]本發明還提供一種自動光學檢測系統以實施前述檢測方法,其包含有:計算機;影像分析單元,其與該計算機連接;第一影像擷取器,其不具有影像處理功能且連接於該影像分析單元;以及第二影像擷取器,其具有影像處理功能並同時連接於該計算機及該影像分析單元。
[0011]由此,計算機能夠根據待測物的功能取向或者自動光學檢測系統本身的配置而選擇使用第一影像擷取器或第二影像擷取器對待測物進行影像擷取,還能夠利用影像分析單元對該第二影像擷取器所擷取的影像進行復檢,以維持檢測質量。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1為本發明涉及的自動光學檢測方法的流程圖。
[0013]圖2為實施本發明的自動光學檢測方法的自動光學檢測系統的方塊圖。
[0014](符號說明)
[0015]10...待測物
[0016]12…條形碼掃描機
[0017]14…第一影像擷取器
[0018]16…第二影像擷取器
[0019]18…影像分析單元
[0020]20…計算機
[0021]22…生產現場管控系統
[0022]24…資料庫
[0023]30…自動輸送設備

【具體實施方式】
[0024]請參閱圖1及圖2,本發明的自動光學檢測方法是通過如圖2所示的自動光學檢測系統來實施,該自動光學檢測系統具有計算機20、與計算機20連接的影像分析單元18、與計算機20連接的生產現場管控系統22、以及與計算機20連接的資料庫24,其中,生產現場管控系統22還與自動輸送設備30及條形碼掃描機12連接。
[0025]此外,自動光學檢測系統能夠同時地或擇一地將不具有影像處理功能的第一影像擷取器14 (如Webcam)連接於影像分析單元18,另外,將具有影像處理功能的第二影像擷取器16 (如CXD或CMOS)同時連接於計算機20及影像分析單元18。
[0026]該自動光學檢測方法包含有下列步驟。
[0027]步驟a):首先將待測物10 (如電路板)置放於自動輸送設備30的輸送帶上,接著控制輸送帶將待測物10輸送至檢測定位點,在待測物10到達檢測定位點之後,啟動條形碼掃描機12讀取待測物10的條形碼,由此使生產現場管控系統22取得待測物10的序號並將相關流程數據傳送至計算機20。
[0028]步驟b):計算機20根據待測物10的功能取向或者自動光學檢測系統本身的配置,來判斷並選擇使用第一影像擷取器14或第二影像擷取器16對待測物10進行影像擷取。
[0029]步驟c):開始擷取待測物10的影像。當在前一個步驟(步驟b))中是選擇使用第一影像擷取器14時,由於第一影像擷取器14並不具有影像處理功能,因此,在擷取待測物10的影像之後,需要再操作影像分析單元18對第一影像擷取器14所擷取的影像進行分析處理;反過來說,當在前一個步驟(步驟b))中是選擇使用第二影像擷取器16時,由於第二影像擷取器16本身就內建了影像處理功能,因此第二影像擷取器16在擷取到待測物10的影像之後可以直接對所擷取到的影像進行分析處理。
[0030]前述影像所進行的分析處理可以包含影像截取、影像偏移補正及視覺辨識,並且利用影像分析單元18或第二影像擷取器16對經過分析處理後的影像判讀是否存有不良點。
[0031]步驟d):將處理後的影像數據和判讀結果傳送至計算機20進行存檔,傳送完成之後,計算機20會將判讀結果上傳至生產現場管控系統22,且根據判讀結果控制自動輸送設備30,使自動輸送設備30對待測物10進行良品與不良品的分流,使良品到達自動輸送設備30的輸出端,不良品則到達不良區;在同一時間內,計算機20將所得到的影像數據上傳至資料庫24內並按照待測物的序號進行備份並指出不良點,以便於日後管理及查詢。
[0032]另一方面,假如發現待測物10的影像在經過第二影像擷取器16的分析處理之後有出現不良點的情況時,可以進一步將影像數據傳送至影像分析單元18對有問題的影像進行第二次的分析處理,以確認待測物10是否為不良品。
[0033]由上述步驟可知,本發明的自動光學檢測方法讓兩種不同功能的影像擷取器14、16在生產作業流程中能夠互相支持搭配,能夠解決系統兼容性的問題而降低維護成本;另夕卜,通過影像分析單元18實現精確的影像判讀和重複比對,避免誤判的情形發生,以維持檢測質量。
[0034]此外,利用資料庫24能夠整合所有影像數據而避免了數據遺失,也有利於跨系統整合,同時將判讀結果實時上傳至生產現場管控系統22進行管控,且對良品與不良品進行自動分流,能夠達到提尚生廣效率及維持廣品良率的目的。
【權利要求】
1.一種自動光學檢測方法,其特徵在於,包含有下列步驟: a)將待測物輸送至檢測定位點; b)選擇使用第一影像擷取器或第二影像擷取器對所述待測物進行影像擷取,其中,所述第一影像擷取器並未具有影像處理功能,所述第二影像擷取器具有影像處理功能; c)擷取所述待測物的影像,當在步驟b)中選擇使用所述第一影像擷取器時,操作影像分析單元對所述待測物的影像進行分析處理並判讀是否存有不良點,當在步驟b)中選擇使用所述第二影像擷取器時,通過所述第二影像擷取器所內建的影像處理功能對所述待測物的影像進行分析處理並判讀是否存有不良點;以及 d)將影像數據和判讀結果傳送至計算機。
2.如權利要求1所述的自動光學檢測方法,其特徵在於, 在步驟a)中,在所述待測物到達所述檢測定位點之後,啟動條形碼掃描機讀取所述待測物的條形碼,由此取得所述待測物的序號。
3.如權利要求1所述的自動光學檢測方法,其特徵在於, 在步驟d)中,在使用所述計算機的過程中,假如發現所述待測物的影像在經過所述第二影像擷取器的分析處理之後判斷有出現不良點時,操作所述影像分析單元對所述待測物的影像進行第二次的分析處理並判讀是否存有不良點。
4.如權利要求1所述的自動光學檢測方法,其特徵在於, 在步驟d)中,所述計算機將所取得的影像數據上傳至資料庫內進行備份。
5.如權利要求1所述的自動光學檢測方法,其特徵在於, 在步驟d)中,所述計算機將判讀結果上傳至生產現場管控系統,該生產現場管控系統進一步控制自動輸送設備進行分流。
6.一種自動光學檢測系統,其特徵在於,包含有: 計算機; 影像分析單元,其與所述計算機連接; 第一影像擷取器,其不具有影像處理功能且連接於所述影像分析單元;以及 第二影像擷取器,其具有影像處理功能並同時連接於所述計算機及所述影像分析單J L.ο
7.如權利要求6所述的自動光學檢測系統,其特徵在於,還包含有與所述計算機連接的生產現場管控系統。
8.如權利要求7所述的自動光學檢測系統,其特徵在於,還包含有與所述生產現場管控系統連接的自動輸送設備。
9.如權利要求7所述的自動光學檢測系統,其特徵在於,還包含有條形碼掃描機,該條形碼掃描機連接於所述生產現場管控系統。
10.如權利要求6所述的自動光學檢測系統,其特徵在於,還包含有資料庫,該資料庫連接於該計算機。
【文檔編號】G01N35/00GK104515862SQ201510027784
【公開日】2015年4月15日 申請日期:2015年1月20日 優先權日:2015年1月20日
【發明者】黃仁助, 陳鑫舜, 沈克昌, 曾國斌, 林雍健, 王緯 申請人:環旭電子股份有限公司

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