一種下照式螢光分析儀器測試點定位裝置的製作方法

2023-06-27 23:15:46

專利名稱：一種下照式螢光分析儀器測試點定位裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種下照式螢光分析儀器，具體的涉及一種下照式螢光分析儀器測試
點定位裝置。
背景技術：
隨著經濟的發展，我國對外貿易的步伐進一步加大，屬於歐盟RoHS指令輻射範圍 的企業不計其數，他們急需要一種有力武器，能協助他們應對RoHS指令。RoHS指令，全稱 為《電氣、電子設備中限制使用某些有害物質指令》，實際上是歐盟推出的一個"綠色貿易壁 壘"，它是歐盟與2003年2月頒布的，旨在限制在電子電氣設備中使用6種有害物質的法 令。其目標與其它國際法規相一致，旨在限制新設備使用某些有害物質，以保護人類健康和 環境。對於歐洲以外的電子產品製造商，只要其生產的設備最終出口到歐盟成員國，就必須 與2006年7月1日起遵守這項法規，全球各國也擬定了類似的法規。這部對於廣大中國消 費者而言還比較陌生的歐盟RoHS環保指令，被稱為是"牽動全球製造業神經的指令"，它所 涉及的產品範圍極其廣泛，包括10大類近20萬種，幾乎涵蓋了所有電子信息類產品，如大 小型家用電器、IT和通信設備、電器電子工具、玩具休閒及體育設備、醫療設備等。
目前市場上檢測的方法有很多，主要有螢光分析法，電子能譜分析法和無機質譜 分析法三大類其中螢光分析法不但能準確檢測產品或者原料中所含的五種元素的含量， 而且從歐盟海關的檢測流程，檢測的準確性，檢測的速度，檢測的直觀性，儀器的價格等多 方面進行考慮，以螢光光譜儀最受青睞。 目前市場上推出的螢光光譜儀中有一類下照式螢光分析儀器，經實際操作發現很 難有效的對測試點準確定位，因此給技術人員操作時帶來了一定難度。

發明內容
為了克服現有技術中的不足，本發明提供了一種下照式螢光分析儀器測試點定位 裝置，它能精確方便的定位。 為解決上述技術問題，本發明一種下照式螢光分析儀器測試點定位裝置包括一可 移動的兩維測試平臺，所述可移動的兩維測試平臺下方設有一 X螢光射線管，所述X螢光射 線管前端安有一準直器，所述可移動的兩維測試平臺下方還設有一高清晰可變焦攝像頭， 所述可移動的兩維測試平臺下方還設有一光譜探測儀，所述可移動的兩維測試平臺上設有 一螢光十字框架。 當用戶放入樣品時，根據軟體中的視頻圖像移動可移動的兩維測試平臺，精確定 位測試點，然後指令X螢光射線管發出射線，經過準直器聚集照射在測試點上，返射出光譜 被光譜探測儀接收。 由於本發明的螢光十字框架結構，使得在對測試點進行定位時有了一個固定的十 字架作為參考物，配合可移動的兩維測試平臺可以方便、精確的測試到樣品的任一部位。


下面結合附圖和實施方式對本發明作進一步詳細的說明。
圖1為本發明下照式螢光分析儀器測試點定位裝置的結構示意圖。
圖2為本發明下照式螢光分析儀器測試點定位裝置的螢光十字架的結構示意圖。 圖3為X螢光射線管在螢光十字架上投射的可見光斑示意圖。 圖4為攝像界面裡的十字框與螢光十字架的位置關係圖。 圖中標號說明1.X螢光射線管，2.高清晰可變焦攝像頭，3.光譜探測儀，4.準直 器，5.可移動的兩維測試平臺，6.螢光十字框架，7.可見光斑，8.攝像界面裡的十字框。
具體實施例方式
參見圖l，本發明的一具體實施列子一種照式螢光分析儀器測試點定位裝置，包 括一可移動的兩維測試平臺5，可移動的兩維測試平臺5下方設有一高清晰可變焦攝像頭 2， 一光譜探測儀3， 一螢光十字框架6， 一 X螢光射線管1，螢光射線管1前端安有一準直器 4。 本發明的調試方法如下 ①調試可移動的兩維測試平臺5復位於測量腔中心位置，放入螢光十字框架6 ;
②當X螢光射線管1接收指令發出X射線時，射線經過準直器4聚集後照射在熒 光十字框架上，形成可見光斑7，如圖3所示，這就是此時光斑的位置，然後根據光斑的位置 調解X螢光射線管1的角度和位置，對準螢光十字框架6的中心，最後固定好X螢光射線管 1 ; ③高清晰可變焦攝像頭2聯接電腦，打開高清晰可變焦攝像頭2視頻調試軟體，調 節高清晰可變焦攝像頭2焦距使其能最清晰的觀測到螢光十字框架6，調節攝像頭X、 Y軸 位置，把攝像的界面的十字框與螢光十字框架6的十字中心相重合，然後固定高清晰可變 焦攝像頭2，如圖4所示。
權利要求
一種下照式螢光分析儀器測試點定位裝置，包括一可移動的兩維測試平臺(5)，所述可移動的兩維測試平臺(5)下方設有一X螢光射線管(1)，所述X螢光射線管(1)前端安有一準直器(4)，所述可移動的兩維測試平臺(5)下方還設有一高清晰可變焦攝像頭(2)，所述可移動的兩維測試平臺(5)下方還設有一光譜探測儀(3)，其特徵在於所述可移動的兩維測試平臺(5)上設有一螢光十字框架(6)。
2. 根據權利要求1所述的下照式螢光分析儀器測試點定位裝置，其特徵在於所述的 螢光十字框架(6)由特殊螢光紙製作，其中間畫有標準的十字架。
全文摘要
本發明公開了一種下照式螢光分析儀器測試點定位裝置，包括一可移動的兩維測試平臺，可移動的兩維測試平臺下方設有一高清晰可變焦攝像頭，一光譜探測儀，一螢光十字框架，一X螢光射線管，X螢光射線管前端安有一準直器。本發明定位裝置應用在下照式螢光分析儀器的測試定位中，可以方便、精確的定位。
文檔編號G01N21/64GK101726479SQ200910264830
公開日2010年6月9日 申請日期2009年12月24日 優先權日2009年12月24日
發明者嚴成立, 劉召貴 申請人:江蘇天瑞儀器股份有限公司