一種通道式x射線安全檢查設備透射圖像形變校正方法
2023-06-29 22:37:41 3
專利名稱：一種通道式x射線安全檢查設備透射圖像形變校正方法
技術領域：
本發明涉及X射線安全檢查應用領域，尤其涉及一種通道式X射線安全檢查設備透射圖像形變校正方法。
背景技術：
在通道式X射線安全檢查設備中，由於X射線源與物體通道平面、探測板三者之間的位置關係，探測板上各探測器與射線源之間的距離存在差異，導致在透射投影圖像中，不同位置處探測器的投影比例不同，從而導致被檢測物體的不同區域在透射成像中被縮放的程度不同，導致物體輪廓發生扭曲變形，與物體實際形狀不符。具體表現為對於同樣大小的物體，放置在距離射線源較近處與放置在距離射線源較遠處相比者大。由於物體圖像的扭曲變形，使得安檢員不容易區分物體類型，降低了安檢員對於被檢測物體判斷的準確性。 目前，在通道式X射線安全檢查領域中，仍然沒有解決這種圖像形變的有效方法。
發明內容
本發明的目的是提供一種通道式X射線安全檢查設備透射圖像形變校正方法，減少現有安全檢查設備因為圖像扭曲變形導致的漏判、誤判問題，幫助安檢員更加直觀地辨識包裹中的物體，以解決透射圖像中存在的形變問題。本發明的目的是通過以下技術方案來實現
一種通道式X射線安全檢查設備透射圖像形變校正方法，包括以下步驟
1)計算探測器的投影比例因子根據通道式X射線安全檢測設備中X射線源、物體通道平面以及探測板三者之間的位置關係，計算每一塊探測器板及板上各探測器的投影比例因子；
2)計算探測器形變校正因子針對每一個探測器，分別計算得到一個形變校正因子，形變校正因子用於對經過步驟1)獲得的投影比例因子進行修正；
3)插值放大處理以經過步驟2)獲得的探測器的形變校正因子為依據，對透射圖像進行形變校正，根據形變校正因子的差異，對透射圖像各像素點進行插值放大處理，得到形變校正結果圖像。在上述通道式X射線安全檢查設備透射圖像形變校正方法中，在步驟1)中所述 X射線源與探測器分別位於物體通道平面的兩側；由X射線源發射的X射線穿過物體通道平面後，被位於物體通道平面另一側的探測器所收集，並經過轉化生成物體的透射圖像。在上述通道式X射線安全檢查設備透射圖像形變校正方法中，在步驟1)中，計算各個探測器的投影比例因子包括以下步驟
(1)首先根據探測器、物體通道平面、X射線源的幾何位置計算每一個探測器對物體通道平面的投影比例因子；投影比例因子定義為
權利要求
1.一種通道式X射線安全檢查設備透射圖像形變校正方法，其特徵在於，包括以下步驟1)計算探測器的投影比例因子根據通道式X射線安全檢測設備中X射線源、物體通道平面以及探測板三者之間的位置關係，計算每一塊探測器板及板上各探測器的投影比例因子；2)計算探測器形變校正因子針對每一個探測器，分別計算得到一個形變校正因子，形變校正因子用於對經過步驟1)獲得的投影比例因子進行修正；3)插值放大處理以經過步驟2)獲得的探測器的形變校正因子為依據，對透射圖像進行形變校正，根據形變校正因子的差異，對透射圖像各像素點進行插值放大處理，得到形變校正結果圖像。
2.根據權利要求1所述的通道式X射線安全檢查設備透射圖像形變校正方法，其特徵在於，在步驟1)中所述X射線源與探測器分別位於物體通道平面的兩側；由X射線源發射的X射線穿過物體通道平面後，被位於物體通道平面另一側的探測器所收集，並經過轉化生成物體的透射圖像。
3.根據權利要求1所述的通道式X射線安全檢查設備透射圖像形變校正方法，其特徵在於，在步驟1)中，計算各個探測器的投影比例因子包括以下步驟(1)首先根據探測器、物體通道平面、X射線源的幾何位置計算每一個探測器對物體通道平面的投影比例因子；投影比例因子定義為(2)將經過步驟(1)得到的投影比例因子作為每一塊探測板上中間位置探測器的投影比例因子；(3)根據相鄰兩塊探測板上中間位置探測器的投影比例因子，採用線性插值方法得到它們之間所有探測器的投影比例因子。
4.根據權利要求1所述的通道式X射線安全檢查設備透射圖像形變校正方法，其特徵在於，在步驟2)中，計算探測器形變校正因子包括以下步驟(1)首先選擇某一個探測器投影比例因子作為參考值厶；(2)計算參考值厶與各個探測器投影比例因子的比值，得到各個探測器的形變校正因子A 根據選擇參考值的不同，探測器的形變校正因子可能大於1也可能小於1 ；對於所選定的參考探測器，其形變校正因子為1。
5.根據權利要求1所述的通道式X射線安全檢查設備透射圖像形變校正方法，其特徵在於，在步驟3)中，插值放大處理包括以下步驟(1)根據各個探測器的形變校正因子，計算原始透射圖像經過形變校正後的圖像寬度；形變校正後圖像的寬度為M=V,巧，其中#為校正前圖像寬度，M=^niR,為所有探測器的形變校正因子之和；(2)計算經過步驟(1)形變校正後的圖像上每一個點與插值前原始圖像上點的映射關係，得到插值索引表；插值索引表共有#項，分別對應校正後圖像寬度方向上各個位置；每個索引表項包含信息如下該位置像素點映射到校正前圖像寬度方向的相鄰兩點A與/^7， 以及一個權重係數廠(01)；(3)根據步驟(2)獲得的插值索引表，採用圖像插值方法得到校正後圖像；校正後圖像中每個位置像素值為..Px— i.Px+r /P*凡
全文摘要
本發明涉及一種通道式X射線安全檢查設備透射圖像形變校正方法，包括以下步驟1)計算探測器的投影比例因子根據通道式X射線安全檢測設備中X射線源、物體通道平面以及探測板三者之間的位置關係，計算每一塊探測器板及板上各探測器的投影比例因子；2)計算探測器形變校正因子針對每一個探測器，分別計算得到一個形變校正因子；3)插值放大處理根據形變校正因子的差異，對透射圖像各像素點進行插值放大處理，得到形變校正結果圖像。本發明的有益效果為可以在現有通道式X射線安全檢查設備的基礎上，不增加任何硬體成本，僅通過本發明圖像形變校正方法實現對透射圖像的形變校正，減少安檢員的漏判和誤判。
文檔編號G01V5/00GK102230975SQ20111008788
公開日2011年11月2日 申請日期2011年4月8日 優先權日2011年4月8日
發明者李啟磊, 楊奎, 王滿倉 申請人:上海瑞示電子科技有限公司