一種同軸度光學檢測裝置的製作方法
2023-06-05 11:11:46
專利名稱：一種同軸度光學檢測裝置的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及同軸度檢測領域，尤其是一種同軸度光學檢測裝置。
背景技術：
在工業、機械、科研等領域，往往需要對兩個圓杆的同軸度進行定量測量。如圖1所示，圓杆軸線不重合有三種情況:1)如圖1a所述，X1、X2平行但O點與Xl不重合；2)如圖1b所示，X1、X2有夾角但O點與Xl重合；3)如圖1c所示，X1、X2有夾角且O點與Xl不重合。目前針對圓杆的同軸度測量方法主要是機械準直法。機械準直法是建立在機械實物基礎上進行的測量方法，主要有拉鋼絲法或量規法，由於鋼絲撓度、環境振動、材料磨損等原因，機械準直法的測量精度比較低，而且由於採用接觸式測量，在很多環境下不適用。
實用新型內容本實用新型所要解決的技術問題是:為了克服現有的圓杆同軸度採用接觸式測量和測量精度較低的缺點，本發明提供一種基於非接觸測量的高精度同軸度光學裝置，該裝置可以實現非接觸測量，且測量精度較高。為達到上述目的，本實用新型採用的技術方案是:一種同軸度光學檢測裝置包括第一光學檢測裝置、第二光學檢測裝置、處理器，所述第一光學檢測裝置、第二光學檢測裝置分別檢測基準圓杆與相向圓杆數字圖像信號，所述第一光學檢測裝置、第二光學檢測裝置輸出信號發送至處理器。所述第一光學檢測裝置或第二光學檢測裝置是ICXD攝像機。所述第一光學檢測裝置光軸與第二光學檢測裝置光軸夾角是Φ，且位於與基準圓杆垂直同一平面內，所述Φ角度範圍是0° < Φ < 180°。從上述本實用新型的結構特徵可以看出，其優點是利用第一光學檢測裝置、第二光學檢測裝置獲得基準圓杆和相向圓杆的數字圖像信號，並傳輸至處理器進行處理，可獲得基準圓杆檢測直徑值、基準圓杆與相向圓杆軸線夾角、數字圖像信號中基準圓杆與相向圓杆的軸偏移值，結合基準圓杆實際直徑和第一光學檢測裝置與第二光學檢測裝置的夾角，計算得到基準圓杆與相向圓杆的同軸度軸線偏移參數、軸線夾角參數，該方法可以實現非接觸測量，且測量精度較高。同時由基於計算機的處理器處理數字圖像信號，檢測快速，可大大提高圓杆的同軸度檢測效率。
本實用新型將通過例子並參照附圖的方式說明，其中:圖1是圓杆軸線不重合的情況；圖1a是X1、X2平行但O點與Xl不重合情況；圖1b是X1、X2有夾角但O點與Xl重合情況；[0015]圖1c是X1、X2有夾角且O點與Xl不重合；圖2是本發明裝置連接示意圖；附圖標記1-基準圓杆2-相向圓杆3-第一光學測量裝置4-第二光學測量裝置5-處理器。
具體實施方式
為了使本實用新型的目的、技術方案及優點更加清楚明白，
以下結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本實用新型，並不用於限定本實用新型。相關說明:圖1中Xl表不基準圓杆軸線,X2表不相向圓杆軸線,O表不相向圓杆端面的圓心。實施例一:如圖2所示，一種同軸度光學檢測裝置，其特徵在於包括第一光學檢測裝置、第二光學檢測裝置、處理器，所述第一光學檢測裝置、第二光學檢測裝置分別檢測基準圓杆與相向圓杆數字圖像信號，所述第一光學檢測裝置、第二光學檢測裝置輸出信號發送至處理器。實施例二:在實施例一基礎上，所述第一光學檢測裝置或第二光學檢測裝置是ICCD攝像機。實施例三:在實施例一或二基礎上，所述第一光學檢測裝置光軸與第二光學檢測裝置光軸夾角是Φ，且位於與基準圓杆 垂直同一平面內，所述Φ角度範圍是0° < Φ< 180。本說明書中公開的所有特徵，除了互相排斥的特徵以外，均可以以任何方式組合。本說明書(包括任何附加權利要求、摘要和附圖)中公開的任一特徵，除非特別敘述，均可被其他等效或具有類似目的的替代特徵加以替換。即，除非特別敘述，每個特徵只是一系列等效或類似特徵中的一個例子而已。
權利要求1.一種同軸度光學檢測裝置，其特徵在於包括第一光學檢測裝置、第二光學檢測裝置、處理器，所述第一光學檢測裝置、第二光學檢測裝置分別檢測基準圓杆與相向圓杆數字圖像信號，所述第一光學檢測裝置、第二光學檢測裝置輸出信號發送至處理器。
2.根據權利要求1所述的一種同軸度光學檢測裝置，其特徵在於所述第一光學檢測裝置或第二光學檢測裝置是ICXD攝像機。
3.根據權利要求2所述的一種同軸度光學檢測裝置，其特徵在於所述第一光學檢測裝置光軸與第二光學檢測裝置光軸夾角是Φ，且位於與基準圓杆垂直同一平面內，所述Φ角度範圍是O。< Φ < 180°。
專利摘要本實用新型涉及同軸度檢測領域，尤其是一種同軸度光學檢測裝置。本實用新型所要解決的技術問題是為了克服現有的圓杆同軸度採用接觸式測量和測量精度較低的缺點，本實用新型提供一種基於非接觸測量的高精度同軸度光學檢測裝置，該裝置可以實現非接觸測量，且測量精度較高。一種同軸度光學檢測裝置包括第一光學檢測裝置、第二光學檢測裝置、處理器，所述第一光學檢測裝置、第二光學檢測裝置分別檢測基準圓杆與相向圓杆數字圖像信號，所述第一光學檢測裝置、第二光學檢測裝置輸出信號發送至處理器。本實用新型主要應用於同軸度檢測領域。
文檔編號G01B11/27GK202994108SQ20122067330
公開日2013年6月12日 申請日期2012年12月10日 優先權日2012年12月10日
發明者程晉明, 錢偉新, 祁雙喜, 李澤仁, 劉冬兵, 王婉麗, 彭其先 申請人:中國工程物理研究院流體物理研究所