一種深孔掃描規結構的製作方法

2023-06-14 10:42:41 1

一種深孔掃描規結構的製作方法
【專利摘要】本發明提供了一種深孔掃描規結構，可以簡單地對小孔徑深孔的跳動度進行檢測，大大提高了檢測效率和檢測質量，其包括掃描規規體，所述掃描規規體內設置有傳感器，所述掃描規規體內設置有測量杆，所述測量杆一端連接所述傳感器，所述測量杆另一端連接活動測量頭，其特徵在於：所述測量杆通過斜面連接所述測量頭，所述測量頭通過壓簧連接所述測量杆，所述測量頭繞所述掃描規規體在一定角度裡擺動，所述測量頭上設置有凹槽，所述凹槽上設置有球形測量球。
【專利說明】一種深孔掃描規結構
【技術領域】
[0001]本發明涉及測量檢驗工具的【技術領域】，具體為一種深孔掃描規結構。
【背景技術】
[0002]在對有一端開口的小孔徑孔的跳動進行檢測時，要對孔內兩側進行檢測，由於孔徑較小而且孔較深，普通的方法和設備對小孔徑深孔的跳動度的檢測較為困難，影響了小孔徑深孔的檢測質量和檢測效率。

【發明內容】

[0003]針對上述問題，本發明提供了一種深孔掃描規結構，可以簡單地對小孔徑深孔的跳動度進行檢測，大大提高了檢測效率和檢測質量。
[0004]其技術方案是這樣的:一種深孔掃描規結構，其包括掃描規規體，所述掃描規規體內設置有傳感器，所述掃描規規體內設置有測量杆，所述測量杆一端連接所述傳感器，所述測量杆另一端連接活動測量頭，其特徵在於:所述測量杆通過斜面連接所述測量頭，所述測量頭通過壓簧連接所述測量杆，所述測量頭繞所述掃描規規體在一定角度裡擺動，所述測量頭上設置有凹槽，所述凹槽上設置有球形測量球。
[0005]其進一步特徵在於:所述測量頭通過銷軸連接所述掃描規規體；所述斜面呈45度角；所述掃描規規體上對應所述測量杆設置有限位孔，所述限位孔上設置有限位螺栓，測量杆上設置有與限位螺栓配合的限位長槽，限位長槽的長度大於限位螺栓的直徑。
[0006]本發明的上述結構中，測量杆通過斜面連接測量頭，活動測量頭通過壓簧連接所述測量杆，測量頭繞掃描規規體在一定角度裡擺動，所述測量頭上設置有凹槽，所述凹槽上設置有球形測量球，通過彈簧壓迫測量頭，測量頭上的球形測量球緊貼孔內壁，掃描規規體旋轉，測量球把孔內壁的跳動通過測量杆上的斜面傳遞給傳感器，可以簡單地對小孔徑深孔的跳動度進行檢測，大大提高了檢測效率和檢測質量。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]圖1為本發明深孔掃描規結構的主視結構圖。
【具體實施方式】
[0008]見圖1, 一種深孔掃描規結構,其包括掃描規規體I，掃描規規體I內設置有傳感器2，掃描規規體I內設置有測量杆3，測量杆3 —端連接傳感器2，測量杆3另一端過斜面連接活動測量頭4，測量杆斜面呈45度角，測量頭4通過銷軸5連接掃描規規體1，測量頭4通過壓簧6連接測量杆3，測量頭4繞掃描規規體I在一定角度裡擺動，測量頭4上設置有凹槽5，凹槽上設置有球形測量球7。
[0009]掃描規規體I上對應測量杆3設置有限位孔8，限位孔8上設置有限位螺栓9，測量杆3上設置有與限位螺栓9配合的限位長槽10，限位長槽10的長度大於限位螺栓9的直徑，保證了測量杆3穩定地上下運動。
【權利要求】
1.一種深孔掃描規結構,其包括掃描規規體,所述掃描規規體內設置有傳感器，所述掃描規規體內設置有測量杆，所述測量杆一端連接所述傳感器，所述測量杆另一端連接活動測量頭，其特徵在於:所述測量杆通過斜面連接所述測量頭，所述測量頭通過壓簧連接所述測量杆，所述測量頭繞所述掃描規規體在一定角度裡擺動，所述測量頭上設置有凹槽，所述凹槽上設置有球形測量球。
2.根據權利要求1所述的一種深孔掃描規結構，其特徵在於:所述測量頭通過銷軸連接所述掃描規規體。
3.根據權利要求1所述的一種深孔掃描規結構，其特徵在於:所述斜面呈45度角。
4.根據權利要求1-3任何所述的一種深孔掃描規結構，其特徵在於:所述掃描規規體上對應所述測量杆設置有限位孔，所述限位孔上設置有限位螺栓，測量杆上設置有與限位螺栓配合的限位長槽，限位長槽的長度大於限位螺栓的直徑。
【文檔編號】G01B21/00GK103644872SQ201310569402
【公開日】2014年3月19日 申請日期:2013年11月13日 優先權日:2013年11月13日
【發明者】蔣新芬 申請人:無錫麥鐵精密機械製造有限公司