一種快速測量土壤潛勢氡濃度的方法

2023-06-01 16:18:21

專利名稱：一種快速測量土壤潛勢氡濃度的方法
技術領域：
本發明涉及一種輻射探測技術，特別是一種快速測量土壤潛勢氡濃度的方法。
背景技術：
土壤氡濃度與低層建築室內氡水平以及地下建築氡水平息息相關，建築工程的選址和建築防氡設計過程中都需要對土壤氡濃度進行測量。均勻土壤中，氡濃度隨土壤深度的加深大致呈指數增加的趨勢，最終達到最大值並趨於穩定，將土壤中潛在的最大氡濃度定義為土壤潛勢氡濃度。各種不同地質類型的土壤基本都要在2 3m甚至更深處才能達到潛勢氡濃度水平，與室內氡水平直接相關的正是土壤潛勢氡濃度，因為房屋地基的混凝土覆蓋到土壤表面後會形成氡的擴散壘，使淺層土壤氡濃度也達到潛勢氡濃度水平。然而，目前土壤氡濃度的測量深度一般在0.5 0.8m之間，這個深度的土壤 氡濃度用於評價室內氡水平是不可靠的，真正需要測量的是土壤潛勢氡濃度。直接對土壤潛勢氡濃度進行測量難度較大，需要打洞勘探測量，勘探洞的深度達到2 3m甚至更深，費時費力且不經濟，因此需要建立一種快速獲得土壤潛勢氡濃度的方法，降低測量難度，節約測量成本。

發明內容
本發明的目的是克 服現有技術的上述不足而提供一種快速測量土壤潛勢氡濃度的方法。該方法大大方便了土壤潛勢氡濃度的測量，更重要的是使土壤氡濃度的測量更具實際意義。本發明的技術方案是:一種快速測量土壤潛勢氡濃度的方法，將均勻土壤看成半無窮大均勻介質，土壤中氡的垂直分布能夠採用一維方程計算，且均勻土壤中鈾含量為一定值，那麼土壤潛勢氡濃度、淺層土壤氡濃度、土壤表面氡析出率這三者之間必定存在一個確定的關係。在深入分析土壤氡運移規律的基礎上確定這一關係，從而建立起由淺層土壤氡濃度和土壤表面氡析出率來快速確定土壤潛勢氡濃度(雙源法)的理論模型，對理論模型進行求解，就能利用淺層土壤氡濃度和土壤表面氡析出率來快速獲得土壤潛勢氡濃度。其具體測量方法如下:在一維穩定狀態下只考慮土壤介質中氡的擴散作用，從而建立氡在土壤中運移與分布的微分方程:
權利要求
1.一種快速測量土壤潛勢氡濃度的方法，其特徵是:將均勻土壤看成半無窮大均勻介質，土壤中氡的垂直分布能夠採用一維方程計算，且均勻土壤中鈾含量為一定值，那麼土壤潛勢氡濃度、淺層土壤氡濃度、土壤表面氡析出率這三者之間必定存在一個確定的關係，在深入分析土壤氡運移規律的基礎上確定這一關係，從而建立起由淺層土壤氡濃度和土壤表面氡析出率來快速確定土壤潛勢氡濃度的理論模型，對理論模型進行求解，就能利用淺層土壤氡濃度和土壤表面氡析出率來快速獲得土壤潛勢氡濃度； 其具體測量方法如下: 在一維穩定狀態下只考慮土壤介質中氡的擴散作用，從而建立氡在土壤中運移與分布的微分方程:
全文摘要
一種快速測量土壤潛勢氡濃度的方法，將均勻土壤看成半無窮大均勻介質，土壤中氡的垂直分布能夠採用一維方程計算，且均勻土壤中鈾含量為一定值，那麼土壤潛勢氡濃度CP、淺層土壤氡濃度C、土壤表面氡析出率E這三者之間必定存在一個確定的關係。在深入分析土壤氡運移規律的基礎上確定這一關係，從而建立起由淺層土壤氡濃度和土壤表面氡析出率來快速確定土壤潛勢氡濃度的理論模型，對理論模型進行求解，就能利用淺層土壤氡濃度C和土壤表面氡析出率E來快速獲得土壤潛勢氡濃度CP。
文檔編號G01N33/24GK103091472SQ20131002974
公開日2013年5月8日 申請日期2013年1月25日 優先權日2013年1月25日
發明者趙桂芝, 肖德濤, 康璽, 周青芝, 彭俊哲, 傅燕 申請人:南華大學