晶片測試座的製作方法

2023-06-06 11:28:26 1

晶片測試座的製作方法
【專利摘要】本發明公開了一種晶片測試座，包括基座，所述基座下表面設置至少一對用於連接電晶體圖示儀的引腳，所述一對引腳與電晶體圖示儀上的一組測試插孔適配；所述基座上表面設置有第一撥碼開關、第二撥碼開關和晶片夾具，所述一對引腳中的一個引腳與所述第一撥碼開關電性連接，所述第一撥碼開關與所述晶片夾具電性連接，所述晶片夾具與所述第二撥碼開關電性連接，所述第二撥碼開關與所述一對引腳中的另一個引腳電性連接。本發明的晶片測試座使得晶片測試操作簡單，測試效率高。
【專利說明】晶片測試座
【技術領域】
[0001]本發明涉及晶片測試領域，特別涉及一種利用TektiOniX370A電晶體圖示儀測試晶片的晶片測試座。
【背景技術】
[0002]目前利用Tektronix370A電晶體圖示儀對半導體晶片測試時，需要手動用帶有插頭的導線連接晶片相應引腳到電晶體圖示儀的相應插口內，實現晶片與電晶體圖示儀的連接，從而完成後續不同電性能參數的測試，這種方式需要操作人員人工連線，且不停插拔導線插頭連接到電晶體圖示儀上，操作繁瑣易出錯，晶片測試效率低下。

【發明內容】

[0003]本發明的目的在於克服現有技術中所存在的上述不足，提供一種操作簡單，晶片測試效率高的晶片測試座。
[0004]為了實現上述發明目的，本發明採用的技術方案是:
一種晶片測試座，包括基座，所述基座下表面設置至少一對用於連接電晶體圖示儀的引腳，所述一對引腳與電晶體圖示儀上的一組測試插孔適配；所述基座上表面設置有第一撥碼開關、第二撥碼開關和晶片夾具，所述一對引腳中的一個引腳與所述第一撥碼開關電性連接，所述第一撥碼開關與所述晶片夾具電性連接，所述晶片夾具與所述第二撥碼開關電性連接，所述第二撥碼開關與所述一對引腳中的另一個引腳電性連接。
[0005]所述電晶體圖示儀為Tektronix 370A型電晶體圖示儀。
[0006]優選的，所述引腳有3對，每一對引腳分別與電晶體圖示儀上的一組測試插孔適配。
[0007]所述第一撥碼開關與所述第二撥碼開關對稱設置在所述基座上表面兩端，所述晶片夾具位於第一撥碼開關和第二撥碼開關之間。
[0008]所述晶片夾具包括本體，該本體具有用於晶片固定的固定槽和用於與晶片引腳接觸的針腳，所述針腳位於所述固定槽的底部兩側並伸出所述本體。
[0009]與現有技術相比，本發明的有益效果:
本發明的晶片測試座使用時將晶片放入晶片夾具內固定，晶片相應引腳通過晶片夾具與兩個撥碼開關電連接，而兩個撥碼開關分別與晶片測試座下表面的一對引腳電連接，測試時將晶片測試座下表面的至少一對引腳插入電晶體圖示儀上相應的測試插孔內，實現晶片引腳與電晶體圖示儀的電連接，通過晶片測試座上的兩個撥碼開關實現測試電路的通斷控制，操作人員只需插拔晶片測試座連接，免去手動連線，操作簡單不易出錯，也使得晶片測試效率大大提高。
[0010]【專利附圖】

【附圖說明】:
圖1是本發明實施例中的晶片測試座的結構示意圖。
[0011]圖2是圖1中的晶片夾具結構示意圖。[0012]圖3是本發明實施例中的晶片測試座的電路框圖。
[0013]圖4是本發明實施例中的電晶體圖示儀示意圖。
【具體實施方式】
[0014]下面結合【具體實施方式】對本發明作進一步的詳細描述。但不應將此理解為本發明上述主題的範圍僅限於以下的實施例，凡基於本
【發明內容】
所實現的技術均屬於本發明的範圍。
[0015]如圖1所示的晶片測試座，包括基座1，所述基座I下表面設置至少一對用於連接電晶體圖示儀的引腳2，本實施例中所述引腳2以兩對為例說明，所述電晶體圖示儀為Tektronix 370A型電晶體圖示儀(見圖4)，其上具有多個測試插孔，所述一對引腳2與該電晶體圖示儀上的一組測試插孔適配，圖1僅為示意圖，引腳2安裝在基座下表面什麼位置是根據電晶體圖示儀上的測試插孔來確定的，兩者要互相適配，以便於對準插接。所述基座I上表面設置有第一撥碼開關3、第二撥碼開關4和晶片夾具5。參看圖3，所述一對引腳2中的一個引腳與所述第一撥碼開關3電性連接，所述第一撥碼開關3與所述晶片夾具5電性連接，所述晶片夾具5與所述第二撥碼開關4電性連接，所述第二撥碼開關4與所述一對引腳2中的另一個引腳電性連接。具體的，所述第一撥碼開關3與所述第二撥碼開關4對稱設置在所述基座I上表面兩端，所述晶片夾具5位於第一撥碼開關3和第二撥碼開關4之間。撥碼開關(3、4)包括多個撥動開關單元，本實施例以2個波動開關單元為例說明，每個撥碼開關上的一個波動開關單元，即一組波動開關單元一端分別連接測試座下表面的一對引腳2，該組波動開關單元另一端再分別與所述晶片夾具5電連接，參看圖2，晶片夾具包括本501，本體501上具有用於晶片固定的固定槽502和與晶片引腳接觸的針腳503，所述針腳503位於所述固定槽502的底部兩側並伸出所述本體501。撥碼開關(3、4)上的波動開關單元與晶片夾具5的相應針腳503連接，測試座引腳2插入電晶體圖示儀的相應測試插孔，這樣就實現了晶片與電晶體圖示儀的電性連接。
[0016]本發明的晶片測試座是發明人為方便利用Tektronix 370A型電晶體圖示儀測試晶片而發明的，專門針對Tektronix 370A型電晶體圖示儀而設計，使用時將晶片放入晶片夾具5內固定，晶片相應引腳通過晶片夾具5上的針腳503與兩個撥碼開關(3、4)電連接，而兩個撥碼開關(即一組波動開關單元)分別與晶片測試座下表面的一對引腳2電連接，測試時將晶片測試座下表面的至少一對引腳2插入電晶體圖示儀相應的測試插孔內，實現晶片引腳與電晶體圖示儀的電連接，通過晶片測試座上的兩個撥碼開關實現測試電路的控制，操作人員只需插拔晶片測試座連接，免去手動連線，操作簡單不易出錯，也使得晶片測試效率大大提高。
[0017]作為本發明的優選方案，所述測試座下表面的引腳2有3對(圖未示)，每一對引腳分別與電晶體圖示儀上的一組測試插孔適配。撥碼開關包括多個撥動開關單元，每個撥碼開關上的一個波動開關單元，即一組波動開關單元分別連接測試座下表面的一對引腳，該組波動開關單元另一端再分別與所述晶片夾具電連接，晶片夾具具有與晶片引腳接觸的針腳，波動開關單元與晶片夾具的相應針腳連接，測試座引腳插入電晶體圖示儀的相應測試插孔，這樣就實現了晶片與電晶體圖示儀的連接，電晶體圖示儀上的每一組插孔用於測試不同的參數，測試時通過兩個撥碼開關上撥動開關單元的通斷組合，實現晶片引腳與電晶體圖示儀的不同測試插孔的連接，可方便進行多項參數測試，測試效率進一步提高。
[0018]上面結合附圖對本發明的【具體實施方式】進行了詳細說明，但本發明並不限制於上述實施方式，在不脫離本申請的權利要求的精神和範圍情況下，本領域的技術人員可以作出各種修改或改型。
【權利要求】
1.一種晶片測試座，包括基座，其特徵在於，所述基座下表面設置至少一對用於連接電晶體圖示儀的引腳，所述一對引腳與電晶體圖示儀上的一組測試插孔適配；所述基座上表面設置有第一撥碼開關、第二撥碼開關和晶片夾具，所述一對引腳中的一個引腳與所述第一撥碼開關電性連接，所述第一撥碼開關與所述晶片夾具電性連接，所述晶片夾具與所述第二撥碼開關電性連接，所述第二撥碼開關與所述一對引腳中的另一個引腳電性連接。
2.根據權利要求1所述的晶片測試座，其特徵在於，所述電晶體圖示儀為Tektronix370A型電晶體圖示儀。
3.根據權利要求1所述的晶片測試座，其特徵在於，所述引腳有3對，每一對引腳分別與電晶體圖示儀上的一組測試插孔適配。
4.根據權利要求1所述的晶片測試座，其特徵在於，所述第一撥碼開關與所述第二撥碼開關對稱設置在所述基座上表面兩端，所述晶片夾具位於第一撥碼開關和第二撥碼開關之間。
5.根據權利要求1-4任一項所述的晶片測試座，其特徵在於，所述晶片夾具包括本體，該本體具有用於晶片固定的固定槽和用於與晶片引腳接觸的針腳，所述針腳位於所述固定槽的底部兩側並伸出所述本體。
【文檔編號】G01R1/04GK103926429SQ201410154263
【公開日】2014年7月16日 申請日期:2014年4月16日 優先權日:2014年4月16日
【發明者】王銳, 夏群 申請人:成都先進功率半導體股份有限公司