一種用於測定膜狀螢光物質的樣品池的製作方法

2023-06-12 09:33:41 1

專利名稱：一種用於測定膜狀螢光物質的樣品池的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種用於螢光測定儀中測定固態螢光物質所使 用的樣品器具，具體涉及一種用於測定膜狀螢光物質的樣品池。
背景技術：
眾所周知，在傳統常規的螢光測定儀中所測定的樣品一般均呈液 態，而需要測定固態膜狀螢光物質的樣品器具一般需要較高端的檢測 儀器，特別目前在國內，由於尚未開發出合適的可測定固態膜狀螢光 物質的樣品器具，致使常規實驗室使用的螢光測定儀的應用領域受到 了很多限制，急切需要開發一種可在螢光測定儀中測定固態膜狀螢光 物質所使用的樣品器具。
發明內容
本實用新型的目的在於提供一種用於測定膜狀螢光物質的樣品 池，以擴大常規螢光測定儀的應用領域，滿足市場的需要。
本實用新型採用了 "對螢光物體表面進行光測定"的工作原理， 只要將載有膜狀螢光物質的樣品池插入螢光測定儀的可旋轉式樣品 架底座中，並按要求調節測定角度即可對膜狀螢光物質進行螢光定 性、定量測定。
本實用新型提供的一種用於測定膜狀螢光物質的樣品池為一箱 體結構，所述的箱體內腔中空對穿，具有左右二個開口，在其中任一 個開口的頂部和底部各設有若干強磁體，所述的強磁體會使一框形導 磁蓋板將塗有螢光物質的薄膜樣品平整地緊扣在該處開口前，作為測
量窗口。
本實用新型提供的一種用於測定膜狀螢光物質的樣品池外形類 似常規樣品測試架。所述的箱體橫截面的外形尺寸與螢光測定儀中的 可旋轉式樣品架底座的尺寸相匹配。本實用新型提供的一種用於測定膜狀螢光物質的樣品池特別適 用於以常規螢光測定儀對螢光塗料薄膜的測定，其結構簡單、成本低 廉、因此易於推廣使用。
下面，結合附圖和實施例詳細說明依據本實用新型提出的具體裝 置的細節及工作情況。


圖1為本實用新型的組裝結構示意圖； 圖2為本實用新型的橫截面結構示意圖。
具體實施方式
如附圖l一2所示，本實用新型實施例提供的一種用於測定膜狀 螢光物質的樣品池為一箱體結構，所述的箱體1內腔中空對穿，具有 左右二個開口 la，在其中任一個開口 la的頂部lb和底部lc各設有 若干強磁體2，所述的強磁體2會使一框形導磁蓋板3將塗有螢光物 質的薄膜4樣品平整地緊扣在該處開口 la前，作為測量窗口。
如附圖所示，本實用新型實施例提供的一種用於測定膜狀螢光物 質的樣品池外形類似常規樣品測試架。所述的箱體1橫截面的外形尺 寸與螢光測定儀中的可旋轉式樣品架底座的尺寸相匹配。
本實用新型採用了 "對螢光物體表面進行光測定"的工作原理， 只要將載有膜狀螢光物質的樣品池插入螢光測定儀的可旋轉式樣品 架底座中，並按要求調節測定角度即可對膜狀螢光物質進行螢光定 性、定量測定。
權利要求1、一種用於測定膜狀螢光物質的樣品池，其特徵在於該樣品池為一箱體結構，所述的箱體(1)內腔中空對穿，具有左右二個開口(1a)，在其中任一個開口(1a)的頂部(1b)和底部(1c)各設有若干強磁體(2)，所述的強磁體(2)會使一框形導磁蓋板(3)將塗有螢光物質的薄膜(4)樣品平整地緊扣在該處開口(1a)前，作為測量窗口。
2、 根據權利要求1所述的一種用於測定膜狀螢光物質的樣品池，其 特徵在於所述的樣品池外形類似常規樣品測試架，所述的箱體(1) 橫截面的外形尺寸與螢光測定儀中的可旋轉式樣品架底座的尺寸相 匹配。
專利摘要本實用新型涉及一種用於測定膜狀螢光物質的樣品池，該樣品池為一箱體結構，所述的箱體(1)內腔中空對穿，具有左右二個開口(1a)，在其中任一個開口(1a)的頂部(1b)和底部(1c)各設有若干強磁體(2)，所述的強磁體(2)會使一框形導磁蓋板(3)將塗有螢光物質的薄膜(4)樣品平整地緊扣在該處開口(1a)前，作為測量窗口。本實用新型提供的一種用於測定膜狀螢光物質的樣品池特別適用於以常規螢光測定儀對螢光塗料薄膜的測定，其結構簡單、成本低廉、因此易於推廣使用。
文檔編號G01N21/01GK201382892SQ20092006951
公開日2010年1月13日 申請日期2009年3月27日 優先權日2009年3月27日
發明者吳樹恩, 曹劍琛 申請人:上海稜光技術有限公司