巖性密度測井儀的製作方法

2023-12-11 17:23:42 1

專利名稱：巖性密度測井儀的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種測量地層巖性和密度的儀器，主要用於石油測井，也可用於煤井的測量。
(二)、背景技術目前，用於石油測井的巖性密度測井儀能量窗口(分道)不夠科學和靈活，影響了儀器的測量精度，對特殊井況，如重晶石泥漿井、厚泥餅井等不能校正。
(三)、發明內容為了克服現有技術的缺點，本發明提供一種巖性密度測井儀，它測量精度高、適應能力廣、在複雜地層也能獲得良好的測量結果。
本發明解決其技術問題所採取的技術方案是根據康普頓散射理論，優化密度測量的能量窗口，並且把長源距密度窗口分為上、下兩個窗口，當遇到重晶石泥漿井時剔除下窗口，消除重晶石對測量的影響；把短源距密度補償窗口亦分為上、下兩個窗口，平時使用上窗口數據，當遇到厚泥餅時，使用下窗口，克服厚泥餅對測量的影響。
本發明測量精度高，達到了±0.01g/cm3；適應能力廣，在複雜地層也能獲得良好的測量結果。


下面結合附圖和實施例對本發明進一步說明。
圖1為本發明；具體實施方式
密度測井利用的是康普頓散射理論。儀器測井時，向地層發射伽馬射線，射線與地層會發生形成電子對、康普頓散射、光電效應等，只有經過了康普頓散射的伽馬射線對密度測量有貢獻。射線與地層發生何種作用取決於射線能量，所以要科學地設置能量窗口。為了克服泥餅對測量的影響，密度儀器均採用了雙源距測量，即一個離放射源遠的長源距探測器，其測量深度深，以測量地層為主，是主探測器，在離放射源近處再設計一個短源距探測器，其測量深度淺，以測量泥餅為主，用於對主探測器測量的修正，即消除泥餅對測量的影響。重晶石泥漿井，會影響長源距測量的低能端，厚泥餅對測量的影響會在短源距的低能端反映出來，所以要靈活設置能量窗口，才能在遇到重晶石泥漿井時，或在厚泥餅井等情況下合理地剔除和選取數據，以保證測量精度。
根據康普頓散射理論，優化密度測量的能量窗口，並且把長源距密度窗口分為上、下兩個窗口，當遇到重晶石泥漿井時剔除下窗口，消除重晶石對測量的影響；把短源距密度補償窗口亦分為上、下兩個窗口，平時使用上窗口數據，當遇到厚泥餅時，使用下窗口，克服厚泥餅對測量的影響。
長、短源距具體窗口能量設計值是不同的，原理相同，如附圖所示。
對於長源距密度能量窗口設置，A值考慮避免開光電效應對密度測量的影響。B值考慮重晶石泥漿時，B值能量以上的計數基本不受影響。C值避免開參考源的影響。
對於短源距密度能量窗口設置，A值考慮避免開光電效應對密度測量的影響。B值考慮儀器適應不同厚度的泥餅。C值避免開參考源的影響。
權利要求
1.一種巖性密度測井儀，其特徵在於根據康普頓散射理論，優化密度測量的能量窗口，並且把長源距密度窗口分為上、下兩個窗口，當遇到重晶石泥漿井時剔除下窗口，消除重晶石對測量的影響；把短源距密度補償窗口亦分為上、下兩個窗口，平時使用上窗口數據，當遇到厚泥餅時，使用下窗口，克服厚泥餅對測量的影響。
全文摘要
一種巖性密度測井儀，根據康普頓散射理論，優化密度測量的能量窗口，並且把長源距密度窗口分為上、下兩個窗口，當遇到重晶石泥漿井時剔除下窗口，消除重晶石對測量的影響；把短源距密度補償窗口亦分為上、下兩個窗口，平時使用上窗口數據，當遇到厚泥餅時，使用下窗口，克服厚泥餅對測量的影響。它測量精度高，達到了±0.01g/cm
文檔編號E21C39/00GK1773077SQ20051012448
公開日2006年5月17日 申請日期2005年11月12日 優先權日2005年11月12日
發明者田彥民, 賈菲, 劉東友, 王潔冰, 郭嗣傑, 張利光, 範廣軍 申請人:中國船舶重工集團公司第七一八研究所