光源檢測裝置的製作方法

2023-07-24 19:44:41 1

專利名稱：光源檢測裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種光源檢測裝置，特別涉及一種檢測發光二極體光源的光源檢測裝置。
背景技術：
現有的發光二極體光源檢測裝置通常包括測試臺、旋轉座以及用於檢測發光二極 管光源的測試針。旋轉座連接於測試臺底面，該測試臺的頂面開設有一個固定形狀的凹槽，用於放置發光二極體光源。轉動旋轉座可將測試針從測試臺上表面穿設而出並與發光二極體光源的電極接觸，從而進行光源檢測。然而由於測試臺上用於放置發光二極體光源的凹槽其形狀及尺寸已經固定，故該檢測裝置只適用於檢測一定形狀和尺寸的發光二極體光源。此外由於發光二極體光源裝設於凹槽內，如果測試臺採用的材料不具備良好的熱傳導性，則發光二極體光源產生的熱量不易快速消散，從而對測試結果產生不良影響。

發明內容
有鑑於此，有必要提供一種能夠檢測多種形狀及尺寸發光二極體的光源檢測裝置。一種用於檢測發光二極體光源的光源檢測裝置，包括基座、升降臺，所述基座上設有電極，該升降臺上形成有導電區域，所述升降臺內裝設有測試針，該測試針穿設於升降臺並與導電區域連接固定，所述發光二極體光源包括發光二極體和電路板，該電路板上設有電路結構，該發光二極體裝設於電路板上並與電路結構形成電性連接，該發光二極體光源裝設於升降臺上並與導電區域電性連接，所述升降臺由彈性元件固定於基座上，通過下壓該升降臺使測試針與基座上的電極接觸形成電性連接。將發光二極體光源固定於升降臺上，並利用彈性元件以及外力共同作用改變升降臺的高度，從而控制測試針與基座上的電極的導通與斷開，進而對升降臺上裝設的發光二極體光源進行檢測，並且不對裝設的發光二極體光源的形狀和尺寸進行過多限制，故該光源檢測裝置可用來檢測多種形狀和尺寸的發光二極體光源。下面參照附圖，結合具體實施例對本發明作進一步的描述。


圖I為本發明實施方式提供的光源檢測裝置的側視示意圖。圖2為圖I中的光源檢測裝置的俯視示意圖。圖3為圖I中的光源檢測裝置裝設有發光二極體光源的側視示意圖。圖4為圖3中的光源檢測裝置的俯視示意圖。主要元件符號說明
權利要求
1.一種用於檢測發光二極體光源的光源檢測裝置，包括基座、升降臺以及固定元件，所述基座上設有電極，該升降臺上形成有導電區域，其特徵在幹所述升降臺內裝設有測試針，該測試針穿設於升降臺並與導電區域連接固定，所述發光二極體光源包括發光二極體和電路板，該電路板上設有電路結構，該發光二極體裝設於電路板上並與電路結構形成電性連接，該發光二極體光源裝設於升降臺上並與導電區域電性連接，所述升降臺由弾性元件支撐於基座上，所述固定元件壓持於電路板上並通過下壓該升降臺使弾性元件壓縮，從而使測試針與基座上的電極接觸形成電性連接。
2.如權利要求I所述的光源檢測裝置，其特徵在於所述導電區域形成於升降臺遠離基座的上表面，所述電路結構自電路板裝設發光二極體的上表面延伸至與上表面相對的下表面，所述電路板裝設於升降臺的上表面，所述導電區域與電路板的電路結構相接觸從而形成電性連接。
3.如權利要求2所述的光源檢測裝置，其特徵在於所述升降臺上開設有盲孔，該盲孔自升降臺靠近基座的下表面向上開設直至，該導電區域自該盲孔露出，所述測試針穿設於該盲孔內並與導電區域連接固定。
4.如權利要求I所述的光源檢測裝置，其特徵在於所述光源檢測裝置還包括ー個支撐柱裝設於基座上，該支撐柱內形成有一個通孔，該通孔的內壁向內延伸形成一個支撐平臺，該支撐平臺將該通孔分隔為第一容置區和第二容置區，該升降臺容置於第一容置區內。
5.如權利要求4所述的光源檢測裝置，其特徵在於所述支撐平臺上開設有小孔，所述測試針穿設於該小孔中並與升降臺的導電區域連接。
6.如權利要求5所述的光源檢測裝置，其特徵在於所述測試針包括頂端和底端，該底端的面積大於頂端的面積。
7.如權利要求6所述的光源檢測裝置，其特徵在於所述彈性元件為彈簧，該彈簧支撐所述升降臺使升降臺的下表面距支撐平臺的上表面的距離與測試針的底端距基座的電極的距離相等。
8.如權利要求I所述的光源檢測裝置，其特徵在於所述固定元件包括絕緣壓板和固定器，該絕緣壓板用於壓持電路板以使升降臺下降到測試針與電極接觸的位置，該固定元件用於固定絕緣壓板使該絕緣壓板緊貼於支撐柱的上表面，以使測試針與電極保持接觸。
9.如權利要求8所述的光源檢測裝置，其特徵在於所述絕緣壓板中部設有孔洞，該孔洞的尺寸小於電路板的尺寸，且大於發光二極體的尺寸。
10.如權利要求9所述的光源檢測裝置，其特徵在於所述固定器包括第一旋轉條、第ニ旋轉條以及將該第一旋轉條和第二旋轉條樞轉連接的中軸，該第一旋轉條擋持與絕緣壓板，該第二旋轉條固定連接於支撐柱的外壁。
全文摘要
一種用於檢測發光二極體光源的光源檢測裝置，包括基座、升降臺，所述基座上設有電極，該升降臺上形成有導電區域，所述升降臺內裝設有測試針，該測試針穿設於升降臺並與導電區域連接固定，所述發光二極體光源包括發光二極體和電路板，該電路板上設有電路結構，該發光二極體裝設於電路板上並與電路結構形成電性連接，該發光二極體光源裝設於升降臺上並與導電區域電性連接，所述升降臺由彈性元件固定於基座上，通過下壓該升降臺使測試針與基座上的電極接觸形成電性連接。對發光二極體的尺寸和形狀不產生過多的限制性作用，故該光源檢測裝置可用來檢測多種形狀和尺寸的發光二極體光源。
文檔編號G01R31/44GK102680913SQ201110058159
公開日2012年9月19日 申請日期2011年3月11日 優先權日2011年3月11日
發明者張超雄, 柯志勳, 詹勳偉 申請人:展晶科技(深圳)有限公司, 榮創能源科技股份有限公司