玻璃基板的檢測裝置及檢測方法
2023-07-19 23:22:46
專利名稱：玻璃基板的檢測裝置及檢測方法
技術領域：
本發明涉及檢測領域，特別是涉及一種玻璃基板的檢測裝置及檢測方法。
背景技術：
用於電腦顯示器及電視機等顯示面板的玻璃基板在進入製程線前裝在卡匣中臨時存放。該卡匣通常在豎直方向上設置多個支撐面，每一支撐面用以支撐一塊玻璃基板，因此，裝於同一卡匣中的相鄰兩塊玻璃基板之間間隔一定的距離。在生產顯示面板前，通過機械自動裝置將裝有多塊玻璃基板的卡匣移動至顯示面板製程線。因放置於同一卡匣中的相鄰支撐面上的兩玻璃基板之間距離較小，儲存和搬運過程中不易發現玻璃基板是否出現裂紋/破損。現有技術中，當玻璃基板被裝入卡匣中臨時存放到通過自動倉儲系統將存放玻璃基板的卡匣移動至顯示面板的製程線的這一過程中尚無法對玻璃基板是否破損進行檢測，因此上述過程中產生破損的玻璃基板可能直至製程線時才會被發現。因此，需要在顯示面板製程中將破損的玻璃基板搬走，勢必會影響顯示面板的生產效率。再者，若玻璃基板的破損程度較小，不能被及時發現，則有可能將破損的玻璃基板製成顯示面板，導致成品不良。鑑於此，有必要提供一種玻璃基板的檢測裝置及檢測方法，以解決上述問題。
發明內容
本發明主要解決的技術問題是提供一種玻璃基板的檢測裝置和檢測方法，能夠檢測承載於卡匣中的玻璃基板是否存在破損。為解決上述技術問題，本發明採用的一個技術方案是提供一種玻璃基板的檢測裝置，用於檢測承載於卡匣中的玻璃基板是否存在破損，其中，該檢測裝置包括至少一傳感器組和一處理單元，傳感器組包括位於玻璃基板一側的一投光元件和分別位於玻璃基板兩側的兩個受光元件，投光元件用於向玻璃基板投射檢測光，兩個受光元件中的一個受光元件用於檢測直射和/或經玻璃基板反射後的檢測光的亮度，兩個受光元件中的另一個受光元件用於檢測經玻璃基板折射後的檢測光的亮度，處理單元用於判斷兩個受光元件檢測的亮度之間的亮度差是否處於預定範圍，若亮度差未處於該預定範圍，則被檢測玻璃基板存在破損。為解決上述技術問題，本發明採用的另一個技術方案是提供一種玻璃基板的檢測方法包括向玻璃基板投射檢測光；分別檢測直射和/或經玻璃基板反射後的檢測光的亮度以及經玻璃基板折射後的檢測光的亮度；判斷兩個亮度之間的亮度差是否處於預定範圍，若亮度差未處於預定範圍，則被檢測玻璃基板存在 破損。本發明的有益效果是通過本發明的檢測裝置及檢測方法可對玻璃基板是否存在破損進行有效檢測，能夠減少或避免破損玻璃基板進入顯示面板製程線，進而可減少或避免在顯示面板製程中搬移破損玻璃基板，從而提高製程線生產效率，以及能夠降低將破損玻璃基板製成顯示面板而導致成品不良的機率。
圖I是利用本發明實施例的玻璃基板檢測裝置檢測玻璃基板的原理示意圖；圖2是利用本發明實施例的玻璃基板檢測裝置檢測位於卡匣中的玻璃基板的主視圖；圖3是利用本發明實施例的玻璃基板檢測裝置檢測位於卡匣中的玻璃基板的俯視圖；、
圖4是本發明實施例的玻璃基板檢測方法的流程圖。
具體實施例方式參閱圖I至圖3，本發明實施例的玻璃基板檢測裝置用於對臨時承載於卡匣50中的玻璃基板40是否存在破損進行檢測。該檢測裝置可一次檢測位於同一卡匣50中的部分或全部玻璃基板40。卡匣50用於一次承載多塊玻璃基板40。卡匣50包括沿豎直方向互相平行設置的多個支撐面(未圖示)，每個支撐面用於承載一塊玻璃基板40。當玻璃基板40被裝於卡匣50中後，相鄰的玻璃基板40之間間隔一定的距離。實際應用中，為了提高卡匣50容納玻璃基板40的數量，相鄰玻璃基板40之間的距離較小，因此，當卡匣50裝滿玻璃基板40後，除位於頂層的玻璃基板40外，其他玻璃基板40的表面均不便於從正面觀察，因此很難檢查出其他玻璃基板40是否存在破損。該玻璃基板檢測裝置包括至少一傳感器組，每個傳感器組包括分別位於卡匣50相對兩側的一投光元件11和一對受光元件12、13。該玻璃基板檢測裝置進一步包括處理單元14。該玻璃基板檢測裝置可以一次檢測位於單一卡匣50中的全部玻璃基板40。此時，可沿豎直方向設置的多個傳感器組，分別對承載於卡匣50內的每個玻璃基板40同時進行檢測，具體如圖2所示。此外，為了保證檢測結果更為準確，該玻璃基板檢測裝置還可以對應水平放置的每塊玻璃基板40均設置有三個或其他任意數量的沿水平方向設置的傳感器組分別對玻璃基板40的不同區域進行檢測。使用時，將投光兀件11置於玻璃基板40的一側,投光兀件11優選以斜入射方式向玻璃基板40投射檢測光。兩個受光元件12、13分別位於該玻璃基板40上、下兩側，受光元件12、13用以接收投光元件11發出的檢測光。在本實施例中，受光元件12接收的檢測光的一部分直接來自投光元件11，另一部分為經投光元件11射出至空氣-玻璃界面後被反射至受光元件12的檢測光。受光元件13接收的檢測光則為經投光元件11射出至空氣-玻璃界面後經玻璃基板折射最後到達受光元件13的檢測光。因此，受光元件12檢測的亮度和受光元件13檢測的亮度之間的亮度差取決於投光元件11的亮度、玻璃基板40的厚度和長度、兩受光元件12、13的位置以及玻璃基板40是否存在破損。實際應用中，針對完整的玻璃基板40，並根據上述投光元件11發出的檢測光的亮度、玻璃基板40的長度和厚度以及兩受光元件12、13的位置等因素進行多次測試，並最終確定在玻璃基板40完整的情況下，兩受光元件12、13所檢測的亮度之間亮度差的正常範圍(預定範圍)，並記錄於處理單元14中。利用該玻璃基板檢測裝置對位於卡匣50中的玻璃基板40進行檢測時，若兩受光元件12、13之間的亮度差位於該正常範圍內則判定玻璃基板40無破損，若該兩受光元件12、13之間的亮度差超出該正常範圍則判定玻璃基板40有破損。該判定過程由與受光元件12、13相連的處理單元14進行。在其他實施例中，受光元件12可以僅檢測從投光元件11直射的檢測光或僅檢測經玻璃基板40反射的檢測光。實際應用中，玻璃基板檢測裝置還可以進一步設有與處理單元14相連接的報警單元15。處理單元14根據判定結果向報警單元60發出控制信號，以使報警單元15在處理單元14判定玻璃基板40存在破損時發出報警信息。承載有破損玻璃基板的卡匣50將被搬運至其他位置，從而有效避免破損玻璃基板流入顯示面板製程線。該玻璃基板檢測裝置可應用至以下場合其一，當玻璃基板被裝入卡匣臨時存放時，運用玻璃基板檢測裝置對位於卡匣中的玻璃基板進行檢測能夠發現玻璃基板的包裝過程是否存在問題；其二，當裝有玻璃基板的卡匣進入自動倉儲系統時，在自動倉儲系統的入口處安裝玻璃基板檢測裝置對進入其中的卡匣中的玻璃基板進行檢測，可以將有破損玻璃基板的卡匣攔截，方便追查出現破損玻璃基板的原因；其三，在玻璃基板投入顯示面板製程 線時，在自動倉儲系統的出口處安裝玻璃基板檢測裝置對即將投入顯示面板製程線的卡匣中的玻璃基板進行檢測，將有破損玻璃基板的卡匣攔截，避免破損玻璃基板進入顯示面板製程線使生產效率降低，避免將破損玻璃基板製成顯示面板而導致成品不良。上述三處場合既可以同時分別安裝玻璃基板檢測裝置，亦可以擇一或擇二的方式安裝玻璃基板檢測裝置，不論玻璃基板檢測裝置安裝在哪個位置，與現有技術相比，均可以減低或避免破損玻璃進入顯示面板的製程線。優選地，在自動倉儲系統的入口處和出口處均安裝玻璃基板檢測裝置，既可以發現玻璃基板臨時儲存時的問題，又可以明確通過自動倉儲系統搬送卡匣的過程會不會導致玻璃基板破損，該兩處安裝的玻璃基板檢測裝置都可以對承裝有破損玻璃的卡匣進行攔截，從而避免破損玻璃進入顯示面板製程線。在本發明實施例的玻璃基板檢測裝置中，因玻璃基板40的寬度較寬，故，為了更全面仔細地檢測玻璃基板40表面，每一玻璃基板40對應設置三個傳感器，三個傳感器的投光元件11位於卡匣50的同一側，因此，它們各自對應的一對受光元件12、13均位於卡匣50的另一側。實際應用中，檢測同一玻璃基板40的傳感器組的數目可根據玻璃基板40的寬度做出調整，當玻璃基板40的寬度較窄時，可以選擇較少數量的傳感器組檢測一塊玻璃基板40，如採用I個或2個傳感器組檢測一塊玻璃基板；當玻璃基板40的寬度較寬時，還可以選擇大於3個的傳感器組對同一玻璃基板進行檢測。同時，當檢測同一玻璃基板40的傳感器數目大於I時，傳感器的投光元件11和一對受光元件12、13擺放也可不同。例如，一個傳感器的投光元件11位於卡匣50的一側，與該傳感器對應的受光元件12、13位於卡匣50的另一側；而其他傳感器的投光元件11和受光元件12、13的位置剛好與前述傳感器的位置分布相反。除前述實施例提到的一次檢測單一^^匣50中的全部玻璃基板40的玻璃檢測裝置夕卜，本發明玻璃檢測裝置還包括一次檢測單一卡匣50中的部分玻璃基板40的情形，例如，單一卡匣中裝有3n塊玻璃基板，玻璃檢測裝置一次僅檢測其中的n塊玻璃基板，因此單一卡匣中的玻璃基板需要玻璃檢測裝置分三次才可檢測完成。此時，投光元件11和受光元件12、13可裝載在傳送機構上，以在豎直方向上進行傳送，進而完成多次檢測。本發明實施例的玻璃基板檢測裝置中的投光元件11的位置位於玻璃基板40 —端的上側，實際應用中並不受此限制，投光元件11的位置亦可以位於玻璃基板40端部的下側或其他的任意適當位置。請參閱圖4，本發明的實施例進一步提供一種玻璃基板的檢測方法，包括S10.向玻璃基板投射檢測光，其中優選以斜入射的方式向玻璃基板投射檢測光；S20.分別檢測直射和/或經玻璃基板反射後的檢測光的亮度以及經玻璃基板折射後的檢測光的亮度；
S30.判斷兩個亮度之間的亮度差是否處於預定範圍，若亮度差未處於該預定範圍，則被檢測玻璃基板存在破損；S40.在玻璃基板存在破損時，發出報警信息。區別於現有技術，本發明的玻璃基板檢測裝置及檢測方法可對玻璃基板是否存在破損進行有效檢測，能夠減少或避免破損玻璃基板進入顯示面板製程線，進而可減少或避免在顯示面板製程中搬移破損玻璃基板，從而提高製程線生產效率，以及能夠降低將破損玻璃基板製成顯示面板而導致成品不良的機率。以上所述僅為本發明的實施例，並非因此限制本發明的專利範圍，凡是利用本發明說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括在本發明的專利保護範圍內。
權利要求
1.ー種玻璃基板的檢測裝置，用於檢測承載於卡匣中的玻璃基板是否存在破損，其特徵在幹，所述檢測裝置包括至少ー傳感器組和至少ー處理單元，所述傳感器組包括位於所述玻璃基板ー側的ー投光元件和分別位於所述玻璃基板兩側的兩個受光元件，所述投光元件用於向所述玻璃基板投射檢測光，所述兩個受光元件中的ー個受光元件用於檢測直射和/或經所述玻璃基板反射後的所述檢測光的亮度，所述兩個受光元件中的另ー個受光元件用於檢測經所述玻璃基板折射後的所述檢測光的亮度，所述處理単元用於判斷所述兩個受光元件檢測的亮度之間的亮度差是否處於預定範圍，若所述亮度差未處於所述預定範圍，則所述玻璃基板存在破損。
2.根據權利要求I所述的檢測裝置，其特徵在於，所述檢測裝置包括沿豎直方向設置的多個所述傳感器組，以分別對沿所述豎直方向承載於所述卡匣內的多個玻璃基板同時進行檢測。
3.根據權利要求I所述的檢測裝置，其特徵在於，所述檢測裝置包括沿水平方向設置的多個所述傳感器組，以對沿所述水平方向放置的所述玻璃基板的多個區域進行檢測。
4.根據權利要求I所述的檢測裝置，其特徵在於，所述投光元件以斜入射方式向所述玻璃基板投射所述檢測光。
5.根據權利要求I所述的檢測裝置，其特徵在於，所述投光元件和所述受光元件分別設置於所述卡匣的相對兩側。
6.根據權利要求I所述的檢測裝置，其特徵在於，所述檢測裝置進ー步包括報警單元，所述報警単元在所述處理単元判定所述玻璃基板存在破損時發出報警信息。
7.根據權利要求I所述的檢測裝置，其特徵在於，所述檢測裝置設置於用於存放所述卡匣的自動倉儲系統的入口或出ロ。
8.ー種玻璃基板的檢測方法，其特徵在於，所述檢測方法包括 向所述玻璃基板投射檢測光； 分別檢測直射和/或經所述玻璃基板反射後的所述檢測光的亮度以及經所述玻璃基板折射後的所述檢測光的亮度； 判斷所述兩個亮度之間的亮度差是否處於預定範圍，若所述亮度差未處於所述預定範圍，則所述玻璃基板存在破損。
9.根據權利要求8所述的檢測方法，其特徵在於，所述向所述玻璃基板投射檢測光的步驟包括以斜入射方式向所述玻璃基板投射所述檢測光。
10.根據權利要求8所述的檢測方法，其特徵在於，所述檢測方法進ー步包括當所述玻璃基板存在破損時，發出報警信息。
全文摘要
本發明提供一種玻璃基板的檢測裝置及檢測方法，用於檢測承載於卡匣中的玻璃基板是否存在破損。該檢測裝置包括至少一傳感器組和至少一處理單元。傳感器組包括位於玻璃基板一側的一投光元件和分別位於玻璃基板兩側的兩個受光元件，處理單元用於判斷兩個受光元件檢測的亮度之間的亮度差是否處於預定範圍，若該亮度差未處於預定範圍，則被檢測的玻璃基板存在破損。通過上述方式，本發明能夠減少或避免破損玻璃基板進入顯示面板製程線。
文檔編號G01N21/958GK102636498SQ20121007929
公開日2012年8月15日 申請日期2012年3月22日 優先權日2012年3月22日
發明者吳俊豪, 朱二慶, 李賢德, 楊衛兵, 林昆賢, 汪永強 申請人:深圳市華星光電技術有限公司