一種鏡片檢測系統的製作方法

2023-08-10 05:25:26

本申請涉及一種鏡片檢測系統，特別指一種可以提高檢測準確度的鏡片檢測系統。

背景技術：

在鏡片檢測系統中，通過圖像採集和後期圖像處理，得到瑕疵的相關參數，所以採集圖像的準確度會直接影響到鏡片檢測的最終結果。圖像處理過程中瑕疵成像的辨識度越高越能夠反映出瑕疵的真實狀態。現有的鏡片檢測系統為了得到滿足後期處理所需的圖像，使用像素很高的圖像採集設備，這種方式雖然能夠獲得清晰圖像，但是需要處理的數據非常龐大，效率不高、速度不快；光源問題上，現有的鏡片檢測系統採用的是平行面光源或者是環形的光源，而實際成像過程中，只有待測鏡片需要光線的照射，空間其它部分的光線都會對圖像的採集造成影響，降低瑕疵成像的辨識度，不利於數據處理。

技術實現要素：

本申請的主要目的在於提供一種可以提高檢測準確度的鏡片檢測系統。

為達到上述目的，鏡片檢測系統，包括：

圖像採集裝置，一組圖像採集裝置由像素較高的工業相機組成，放置於待檢測鏡片前方，調整相機的視野為整個待測鏡片，用於採集待測鏡片的圖像信息；

待檢測鏡片夾持裝置，用於固定待檢測檢鏡片，要求不影響鏡片中瑕疵的成像和數據分析，不對鏡片造成「傷害」；

錐形聚光光源，設於被檢鏡片後方，光源裝置在圖像採集裝置的視野之外，根據光源裝置和待測鏡片之間的位置和鏡片的大小確定錐形的角度；

「吸光」黑倉，倉體內壁凃有黑色吸光材料或者是粗糙度很高的黑色物質（例如黑色棉布），進入黑倉的光線經過漫反射被吸收。

本系統利用錐形聚光光源將光線匯聚在待測鏡片上，光線遇到瑕疵發生散射，部分光線反射到圖像採集裝置中，而進入黑倉的光線通過處理被「吸收」，提高了瑕疵成像的辨識度，從而提高了鏡片檢測系統的檢測準確度。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本申請的進一步理解，構成本申請的一部分，本申請的示意性實施例及其說明用於解釋本申請，並不構成對本申請的不當限定。在附圖中：

圖1本實用新型鏡片檢測系統的示意圖；

圖2 本實用新型鏡片檢測系統中錐形聚光光源示意圖；

圖3 本實驗新型鏡片檢測系統中錐形聚光光源剖析圖；

圖4 本實用新型鏡片檢測系統中「吸光」黑倉示意圖；

圖5 本實用新型鏡片檢測系統中「吸光」黑倉剖析圖。

具體實施方式

為使本申請的目的、技術方案和優點更加清楚，以下結合附圖及具體實施例，對本申請作進一步地詳細說明。

參考圖1，

鏡片檢測系統，包括設於待檢測鏡片1-2右側的錐形聚光光源裝置1-4，錐形光源的內壁發出均勻的光線，錐形角度可在0度到90度之間根據待測鏡片的大小和光源與待測鏡片間的距離等進行調整，使光線從圖片採集裝置的視野以外均勻匯聚在待測鏡片上，保證圖像採集裝置採集的圖片質量。「吸光」黑倉1-5位於錐形光源右側，黑倉內部倉體內壁塗有黑色吸光材料或者是粗糙度很高的黑色物質（例如黑色棉布），進入黑倉的光線經過漫反射被吸收。鏡片夾持裝置用來固定鏡片圖像採集設備1-1、待檢測檢鏡片1-2、錐形光源1-4的軸、以及「吸光」黑倉1-5的軸在一條水平直線上。

參考圖2，

錐形聚光光源為空心圓臺結構，光源放在為空心圓臺的內壁和外壁之間的區域2-1中，經過處理通過空心圓臺內壁2-2向待測鏡片發出均勻的光線，錐形光源與「吸光」黑倉的接觸平面2-3為「吸光」黑倉的入口。

參考圖3，

錐形聚光光源剖析圖，3-1為空心圓臺內壁和外壁之間的區域，光源放置其中，經過處理通過空心圓臺內壁3-2向待測鏡片發出均勻的光線。

參考圖4，

「吸光」黑倉，黑倉內壁4-1塗有黑色吸光材料，進入黑倉的光線經過漫反射被吸收，大大減少了反射出黑倉的光線；其中4-2為錐形光源和「吸光」黑倉的接觸面。

參考圖5，

「吸光」黑倉剖析圖，5-1為錐形光源和「吸光」黑倉的接觸面，黑倉內壁和外壁之間的區域5-2，使用能夠固定其模型的材料。5-3為「吸光」黑倉內壁，塗有黑色吸光材料，進入黑倉的光線經過漫反射被吸收，大大減少了反射出黑倉的光線。為了得到更好的吸收效果，黑倉底部5-4採用向內凸起的結構，使照射到黑倉底部的光線發散到兩側，能夠提高光線的吸收性。黑倉底部也塗有黑色吸光材料。

以上所述僅為本申請的實施例而已，並不用於限制本申請。對於本領域技術人員來說，本申請可以有各種更改和變化。凡在本申請的精神和原理之內所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本申請的權利要求範圍之內。