交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置製造方法

2023-08-10 01:00:01

交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置製造方法
【專利摘要】本發明提供一種交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置，包括標準互感器、用於將標準互感器的模擬電流信號轉換為模擬電壓信號的標準電阻、A/D轉換模塊、對比電流互感器、合併單元仿真模塊、被測電流互感器、被測合併單元，所述對比電流互感器通過合併單元仿真模塊或被測合併單元連接微處理器模塊，所述被測電流互感器通過合併單元仿真模塊或被測合併單元連接微處理器模塊；該檢測裝置通過互感器和合併單元的交叉測試，得出兩組測試結果進行分析，實現對互感器和合併單元的獨立測試，使測試結果能夠準確定位，且能夠判斷得出合併單元對電流互感器是否具有兼容性等綜合性能，並最大限度地避免了由於對比電流互感器故障帶來的分析時間。
【專利說明】交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置

【技術領域】
[0001] 本發明涉及一種交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置。

【背景技術】
[0002] 智能變電站W全站信息數位化、通信平臺網絡化、信息共享標準化為基本要求， 採用先進、可靠、集成、低碳、環保的智能設備，自動完成信息採集、測量、控制、保護、計量 和監測等基本功能，並可根據需要支持電網實時自動控制、智能調節、在線分析決策、協同 互動等高級功能，實現與相鄰變電站、電網調度等互動的變電站。隨著智能變電站應用的不 斷深入，智能變電站檢測技術也隨之展開，合併單元是智能變電站的重要IED設備，合併單 元是針對電子式互感器，為智能電子設備提供一組時間同步的電流和電壓採樣值；合併單 元的主要功能是通過一臺合併單元，匯集或合併多個電子式互感器的數據，獲取電力系統 電流和電壓瞬時值，並W確定的數據品質傳輸到電力系統電氣測量和繼電保護設備；合併 單元的每個數據通道可W承載一臺或多臺的電子式電流和/或電子式電壓互感器的採樣 值數據。因此，傳統互感器校驗方式不再適用。
[0003] 傳統互感器校驗裝置進行整體校檢，校驗結果不能區分出是電子式互感器或是合 並單元的問題造成的，使得在維修時需要全部更換，從而造成維修成本的增加。現有的互感 器校驗裝置雖然能夠實現電子式互感器和合併單元的獨立校驗，但是仍存在結構較複雜、 成本較高的問題，如中國專利CN 102662152 A發明創造名稱為"電子式互感器及合併單元 的校驗系統和方法"。
[0004] W此，如何提供結構簡單且能夠實現互感器和合併單元的獨立檢測，從而便於對 互感器和合併單元的檢驗與維修是在互感器和合併單元的檢驗裝置的設計與使用過程中 應當予W考慮並解決的問題。


【發明內容】

[0005] 本發明的目的是提供一種交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置解決傳統互感 器校驗裝置進行整體校檢，校驗結果不能區分出是電子式互感器或是合併單元的問題造成 的，使得在維修時需要全部更換，從而造成維修成本的增加，而現有的互感器校驗裝置雖然 能夠實現電子式互感器和合併單元的獨立校驗，但是仍存在結構較複雜、成本較高的問題。
[0006] 本發明的技術解決方案是： 一種交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置，包括標準互感器、用於將標準互感器的 模擬電流信號轉換為模擬電壓信號的標準電阻、A/D轉換模塊、對比電流互感器、合併單元 仿真模塊、被測電流互感器、被測合併單元和用於記錄處理電路輸出數據的微處理器模塊， 所述標準互感器的信號輸出端通過串聯的標準電阻連接所述A/D轉換模塊，所述A/D轉換 模塊連接微處理器模塊，所述標準互感器的一次端依次串聯對比電流互感器和被測電流互 感器，所述對比電流互感器通過合併單元仿真模塊或被測合併單元連接微處理器模塊，所 述被測電流互感器通過合併單元仿真模塊或被測合併單元連接微處理器模塊。
[0007] 優選地，還包括用於產生同步時鐘信號的時鐘產生模塊，所述時鐘產生模塊分別 連接所述A/D轉換模塊、合併單元仿真模和被測合併單元。
[0008] 優選地，所述合併單元仿真模塊通過接收對比電流互感器或被測電流互感器的數 字信號進行採樣後並發送符合IEC61850標準的報文輸出給微處理器模塊。
[0009] 優選地，所述標準互感器的一次端連接有升流器。
[0010] 本發明一種交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置，能夠通過兩組測試結果對比 分析，實現對互感器和合併單元的獨立測試，使測試結果能夠準確定位。其中，第一組測試 結果通過使用微處理器模塊對A/D轉換模塊、合併單元仿真模塊和被測合併單元的數字信 號進行分析處理並顯示，即在電路連接為；所述對比電流互感器通過合併單元仿真模塊連 接微處理器模塊，所述被測電流互感器通過被測合併單元連接微處理器模塊，對標準互感 器、對比電流互感器和被測電流互感器的輸出數位訊號進行分析顯示。第二組測試結果通 過使用微處理器模塊對A/D轉換模塊、被測合併單元和合併單元仿真模塊的數位訊號進行 分析處理並顯示，即在電路連接為；所述對比電流互感器通過被測合併單元連接微處理器 模塊，所述被測電流互感器通過合併單元仿真模塊連接微處理器模塊，對標準互感器、對比 電流互感器和被測電流互感器的輸出數位訊號進行分析顯示。
[0011] 該種交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置，上述第一組、第二組測試結果的對 比分析中，標準互感器通過A/D轉換模塊後的輸出是具有最高精度的標準數據用來作為整 個測試的參考值，根據其他電路輸出顯示結果與參考值進行對比分析，能夠判斷得出是否 相應的電流互感器和合併單元組合是否存在問題進而根據進一步的比較分析得到具體是 哪種設備存在問題。例如，如果對比電流互感器通過合併單元仿真模塊連接微處理器模塊 的輸出數據與參考值存在明顯差別，在合併單元仿真模塊是一個可W相信的標準設備的前 提下，能夠判斷得出對比電流互感器存在故障。
[0012] 該種交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置，通過互感器和合併單元的交叉測 試，得出兩組測試結果，通過對第一組、第二組測試結果的對比分析，能夠判斷得出被測合 並單元針對不同電流互感器的是否具有兼容性等綜合性能，並且最大限度地避免了由於對 比電流互感器故障帶來的分析時間，例如，對比電流互感器通過合併單元仿真模塊連接微 處理器模塊的輸出數據與被測電流互感器通過被測合併單元連接微處理器模塊的輸出數 據存在明顯差別表明對比電流互感器有故障應該重新選擇電流互感器，如果對比電流互感 器通過合併單元仿真模塊連接微處理器模塊的輸出數據和對比電流互感器通過被測合併 單元連接微處理器模塊的輸出數據一致，表明被測合併單元對於對比電流互感器的兼容性 良好，同理可W通過比較被測電流互感器通過被測合併單元連接微處理器模塊的輸出數據 和被測電流互感器通過合併單元仿真模塊連接微處理器模塊的輸出數據可W判斷被測合 並單元對於被測電流互感器的兼容性能。
[0013] 本發明的有益效果是：本發明一種交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置，通過 互感器和合併單元的交叉測試，得出兩組測試結果，能夠通過兩組測試結果對比分析，實現 對互感器和合併單元的獨立測試，使測試結果能夠準確定位。通過對第一組、第二組測試結 果的對比分析，能夠判斷得出被測合併單元針對不同電流互感器的是否具有兼容性等綜合 性能，並且最大限度地避免了由於對比電流互感器故障帶來的分析時間。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0014] 圖1是本發明實施例的結構示意圖； 其中：1-被測電流互感器，2-合併單元仿真模塊，3-被測合併單元，4-時鐘產生模塊， 5-微處理器模塊，6-A/D轉換模塊，7-標準互感器，8-對比電流互感器，9-標準電阻。

【具體實施方式】
[0015] 下面結合附圖詳細說明本發明的優選實施例。
[0016] 如圖1所示，本實施例提供一種交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置，包括標 準互感器7、用於將標準互感器7的模擬電流信號轉換為模擬電壓信號的標準電阻9、A/D轉 換模塊6、對比電流互感器8、合併單元仿真模塊2、被測電流互感器1、被測合併單元3和用 於記錄處理電路輸出數據的微處理器模塊5,所述標準互感器7的信號輸出端通過串聯的 標準電阻9連接所述A/D轉換模塊6,所述A/D轉換模塊6連接微處理器模塊5,所述標準 互感器7的一次端依次串聯對比電流互感器8和被測電流互感器1，所述對比電流互感器 8通過合併單元仿真模塊2或被測合併單元3連接微處理器模塊5,所述被測電流互感器1 通過合併單元仿真模塊2或被測合併單元3連接微處理器模塊5。還包括用於產生同步時 鍾信號的時鐘產生模塊4,所述時鐘產生模塊4分別連接所述A/D轉換模塊6、合併單元仿 真模和被測合併單元3。所述合併單元仿真模塊2通過接收對比電流互感器8或被測電流 互感器1的數位訊號進行採樣後並發送符合IEC61850標準的報文輸出給微處理器模塊5。 所述標準互感器7的一次端連接有升流器。
[0017] 本實施例一種交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置，能夠通過兩組測試結果對 比分析，實現對互感器和合併單元的獨立測試，使測試結果能夠準確定位。如表1所示，其 中，第一組測試結果通過使用微處理器模塊5對A/D轉換模塊6、合併單元仿真模塊2和被 測合併單元3的數位訊號進行分析處理並顯示，即在電路連接為；所述對比電流互感器8通 過合併單元仿真模塊2連接微處理器模塊5,所述被測電流互感器1通過被測合併單元3連 接微處理器模塊5,對標準互感器7、對比電流互感器8和被測電流互感器1的輸出數字信 號進行分析顯示。第二組測試結果通過使用微處理器模塊5對A/D轉換模塊6、被測合併單 元3和合併單元仿真模塊2的數位訊號進行分析處理並顯示，即在電路連接為；所述對比電 流互感器8通過被測合併單元3連接微處理器模塊5,所述被測電流互感器1通過合併單 元仿真模塊2連接微處理器模塊5,對標準互感器7、對比電流互感器8和被測電流互感器 1的輸出數位訊號進行分析顯示。
[0018] 表1微處理器模塊5得到的兩組輸出數據分析表

【權利要求】
1. 一種交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置，其特徵在於：包括標準互感器（7)、用 於將標準互感器（7)的模擬電流信號轉換為模擬電壓信號的標準電阻（9)、A/D轉換模塊 (6)、對比電流互感器（8)、合併單元仿真模塊（2)、被測電路互感器（1)、被測合併單元（3) 和用於記錄處理電路輸出數據的微處理器模塊（5)，所述標準互感器（7)的信號輸出端通 過串聯的標準電阻（9 )連接所述A/D轉換模塊（6 )，所述A/D轉換模塊（6 )連接微處理器模 塊（5)，所述標準互感器（7)的一次端依次串聯對比電流互感器（8)和被測電路互感器（1)， 所述對比電流互感器（8)通過合併單元仿真模塊（2)或被測合併單元（3)連接微處理器模 塊（5 )，所述被測電路互感器（1)通過合併單元仿真模塊（2 )或被測合併單元（3 )連接微處 理器模塊（5)。
2. 如權利要求1所述的交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置，其特徵在於：還包括 用於產生同步時鐘信號的時鐘產生模塊（4)，所述時鐘產生模塊（4)分別連接所述A/D轉換 模塊（6 )、合併單元仿真模和被測合併單元（3 )。
3. 如權利要求1或2所述的交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置，其特徵在於：所 述合併單元仿真模塊（2 )通過接收對比電流互感器（8 )或被測電路互感器（1)的數位訊號 進行米樣後並發送符合IEC61850標準的報文輸出給微處理器模塊（5)。
4. 如權利要求1或2所述的交叉測試合併器單元兼容性的檢測裝置，其特徵在於：所 述標準互感器（7)的一次端連接有升流器。
【文檔編號】G01R35/02GK104237833SQ201310225837
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2013年6月7日 優先權日:2013年6月7日
【發明者】曾一, 魯加明, 呂學山, 蔣漢儒, 蔣其友 申請人:中國能建集團裝備有限公司南京技術中心, 中國能源建設集團有限公司湖南電力電瓷電器廠