工控晶片調試系統和調試方法與流程
2023-07-14 12:53:56 1
本發明涉及設備控制技術領域，具體而言，涉及一種工控晶片調試方法和裝置。
背景技術：
因為，在線更改或讀取工控晶片參數的調試方法初期投入較少，簡單易懂，操作簡單，又可以做到實時修改、讀取工業晶片中的某一地址參數的目的，因此，得到了廣泛的應用。目前，在變頻器行業，普遍採用的在線調試方法是使用WINDOWS自帶的超級終端軟體進行點對點的數據讀寫。
然而，這種單點操作的方式，每次只能讀取或修改晶片的一個參數值，無法對晶片的多個參數值進行讀寫，同時，不具備連續性，全部是人為操作，單次讀寫後的第二次讀寫長達數秒，也無法實時觀看多個參數之間的聯動關係。
針對上述問題，目前尚未提出有效的解決方案。
技術實現要素：
本發明實施例提供了一種工控晶片調試系統，以實現對多個參數值的同時多寫，同時可以實時監測多個參數之間的聯動關係，該系統包括：
被測工控晶片，設置有通訊接口，且允許同時多個參數被讀寫；
智能終端，與所述被測工控晶片的通訊接口相連，用於同時讀寫所述被測工控晶片的多個參數。
在一個實施方式中，所述通訊接口包括以下至少之一：485接口、UART接口、CAN接口，或者，HBS接口。
在一個實施方式中，所述智能終端上設置有RS232接口電路或USB接口電路。
在一個實施方式中，所述被測工控晶片中的通訊接口轉換為RS232串口通訊後，與所述智能終端上設置的RS232接口電路相連。
在一個實施方式中，所述被測工控晶片中的通訊接口轉換為USB轉接方式後，與所述智能終端上設置的USB接口電路相連。
在一個實施方式中，所述智能終端設置有顯示屏，所述顯示屏用於對讀取的所述被測工控晶片的多個參數進行顯示。
在一個實施方式中，所述智能終端還設置有處理器，用於接收用戶對一個或多個參數的調整請求，並響應於所述調整請求對所述被測工控晶片進行調整，同時顯示在所述一個或多個參數被調整後，所述被測工控晶片各個參數的參數值。
在一個實施方式中，所述智能終端還設置有存儲器，用於存儲所述被測工控晶片多組參數值。
本發明實施例還提供了一種基於上述工控晶片調試系統進行工控晶片調試的方法，以實現對多個參數值的同時多寫，同時可以實時監測多個參數之間的聯動關係，該方法包括：
同時從被測工控晶片中讀取多個參數的參數值；
對讀取的多個參數的參數值進行顯示。
在一個實施方式中，對讀取的多個參數的參數值進行顯示，包括：
確定用戶對界面呈現方式的選擇操作；
響應於所述選擇操作，通過用戶選擇的界面呈現方式顯示讀取的多個參數的參數值。
在一個實施方式中，所述界面呈現方式包括：直觀圖式，和/或，表格式。
在一個實施方式中，在對讀取的多個參數的參數值進行顯示之後，所述方法還包括：
接收用戶對一個或多個參數進行修改的修改指令；
響應於所述修改指令，對所述被測工控晶片中的所述一個或多個參數的參數值進行調整，並顯示所述一個或多個參數的參數值被調整後，所述被測工控晶片各個參數的參數值。
在一個實施方式中，上述方法還包括：繪製所述被測工控晶片的各個參數隨所述一個或多個參數的參數值被調整後的變化趨勢。
在上述實施例中，通過多點讀寫功能，可實現同時對並列參數的讀寫，從而可以滿足某些參數必須一同變動或一同監測的需求，有效解決了現有技術中，每次只能讀取或修改晶片的一個參數值，無法對晶片的多個參數值進行讀寫的技術問題，達到了對多個參數值的同時多寫，同時可以實時監測多個參數之間的聯動關係。
附圖說明
構成本申請的一部分的附圖用來提供對本發明的進一步理解，本發明的示意性實施例及其說明用於解釋本發明，並不構成對本發明的不當限定。在附圖中：
圖1是根據本發明實施例的工控晶片調試系統的架構圖；
圖2是根據本發明實施例的工控晶片調試方法的流程圖；
圖3是根據本發明實施例的多參數同時讀寫方式的示意圖；
圖4是根據本發明實施例的直觀圖式界面示意圖；
圖5是根據本發明實施例的表格式顯示界面示意圖。
具體實施方式
為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚明白，下面結合實施方式和附圖，對本發明做進一步詳細說明。在此，本發明的示意性實施方式及其說明用於解釋本發明，但並不作為對本發明的限定。
在本發明實施例中提供了一種工控晶片調試系統和調試方法，以達到在操作簡單的基礎上，解決單點讀寫的弊端，且可以同時對多個參數進行讀寫，能在毫秒級的時間內連續讀寫晶片參數並可描點畫圖，可實時觀看多個參數之間的聯動關係，如圖1所示，該工控晶片調試系統，可以包括：
1)被測工控晶片101，設置有通訊接口，且允許同時多個參數被讀寫；
其中，通訊接口可以包括但不限於以下至少之一：485接口、UART接口、CAN接口，或者，HBS接口。
2)智能終端102，與被測工控晶片101的通訊接口相連，用於同時讀寫所述被測工控晶片的多個參數。
智能終端上可以設置但不限於以下至少之一的電路：RS232接口電路或USB接口電路。即，用戶可以將被測工控晶片的隔離式通訊接口連接到智能終端中，連接方式可以是RS232串口通訊，也可以是USB轉接方式，中間通過標準的485/UART/CAN/HBS轉換RS232或USB電路。
即，工控晶片具備多個接口之一即可與智能終端連接，智能終端只要具備RS23或USB便可，通過通訊數據轉換後可實現有效的即時通訊。
例如：被測工控晶片中的通訊接口轉換為RS232串口通訊後，與智能終端上設置的RS232接口電路相連；被測工控晶片中的通訊接口轉換為USB轉接方式後，與所述智能終端上設置的USB接口電路相連。
為了實現對參數進行實時顯示，可以在智能終端中設置顯示屏，顯示屏用於對讀取的被測工控晶片的多個參數進行顯示。例如：可以採用列表或者是電路直觀圖的方式進行顯示，如果採用列表的方式可以是列出每個參數，每個參數有個規定的位置，其後顯示該參數對應的參數值，如果採用電路直觀圖的方式，則可以直接在電路圖上各個器件或者支路的位置顯示參數值。
在對被測工控晶片進行調試的時候，有時需要對其參數進行調整，從而檢測整個電路晶片各個部件的參數變化，例如，調整電壓值，檢測電路中電流的變化，或者是電動勢等的變化等等，為了實現這種檢測，智能終端還可以設置有處理器，該處理器用於接收用戶對一個或多個參數的調整請求，並響應於該調整請求對被測工控晶片進行調整，同時顯示在一個或多個參數被調整後，被測工控晶片各個參數的參數值。
因為在調整的過程中，會產生多組參數值，即每個參數會有在不同情況下的參數值，因此，可以在智能終端中設置存儲器，通過存儲器存儲被測工控晶片多組參數值，從而便於後續調用或者是分析統計。
上述的被測工控晶片可以是變頻器或者是工業設備中的晶片。
上述智能終端可以是PC機、平板電腦、智慧型手機，或者是其它具備處理和通訊功能的設備。
基於圖1所示的工控晶片調試系統，在本例中還提供了一種工控晶片調試方法，如圖2所示，可以包括以下步驟：
步驟201：同時從被測工控晶片中讀取多個參數的參數值；
步驟202：對讀取的多個參數的參數值進行顯示。
為了使得用戶可以根據需要和習慣顯示參數值，以便提高用戶體驗，可以設置多種呈現方式，用戶可以按照需要進行選擇，即，確定用戶對界面呈現方式的選擇操作；響應於所述選擇操作，通過用戶選擇的界面呈現方式顯示讀取的多個參數的參數值。
上述界面呈現方式可以包括但不限於：直觀圖式，和/或，表格式。
在對被測工控晶片進行調試的時候，有時需要對其參數進行調整，從而檢測整個電路晶片各個部件的參數變化，例如，調整電壓值，檢測電路中電流的變化，或者是電動勢等的變化等等，為了實現這種檢測，在對讀取的多個參數的參數值進行顯示之後，還可以包括：接收用戶對一個或多個參數進行修改的修改指令；響應於所述修改指令，對所述被測工控晶片中的所述一個或多個參數的參數值進行調整，並顯示所述一個或多個參數的參數值被調整後，所述被測工控晶片各個參數的參數值。
為了使得對參數值變化的觀測更為直觀，可以繪製所述被測工控晶片的各個參數隨所述一個或多個參數的參數值被調整後的變化趨勢。即，通過趨勢線觀測參數變化。
在上例中，通過多點讀寫功能，可實現同時對並列參數的讀寫，滿足某些參數必須一同變動或觀看的情況，同時毫秒級的通訊時間，極大地縮減了數據等待時間，能將晶片參數實時描繪出來，使得觀察更為直觀明了，也提高了調試精度，使在線更改參數的調試行為更加精確，有效減少了測量誤差。
下面結合一具體實施例對上述工控晶片調試系統和調試方法進行說明，然而，值得注意的是，該具體實施例僅是為了更好地說明本發明，並不構成對本發明的不當限定。
在本例中，編寫了一種可同步讀寫多個晶片地址參數的軟體，採用CAN或其它快速的通訊方式，實現快速讀寫，並可根據讀寫的數值進行描點畫圖。其中，CAN是控制器區域網路(Controller Area Network)，CAN總線是一種應用廣泛的現場總線，在工業測控和工業自動化等領域有很大的應用前景。
由於變頻器或工業設備一般是連接強電的，因此無法採取在線仿真的方式進行調試，如圖3所示為本例中多參數同時讀寫方式的示意圖，可以有效解決以前超級終端式的單點調試所存在的問題。
使用編程軟體編寫程序，使之滿足圖3所示的要求，用戶可根據自己喜好，選擇圖4所示的直觀圖式界面，該界面對於控制算法中各部分的參數都直觀明了地表現出來了，也可以選擇圖5所示的表格式顯示界面，所有參數均被列在表格中。
用戶將工控晶片的隔離式通訊接口連接到智能終端，連接方式可以是RS232串口通訊，也可以是USB轉接方式，中間通過標準的485/UART/CAN/HBS轉換RS232或USB電路。
在工控晶片的程序中預留與智能終端的通訊接口，增加對指定地址進行讀、寫操作等的指令，且允許同時讀寫多個參數。下面對圖4和圖5兩種界面的實現方式說明如下：
1)直觀圖式界面
如圖4所示，可以實時對算法相應位置的參數進行讀寫，例如：任意中間環節的電流、電壓、PID參數等。同時，用戶可選擇在相應參數後面是否顯示具體數值，例如：Id的顯示位置可顯示為Id:3215，用戶點選相應位置的參數名稱或數值就可以進行修改，每次點選參數值的改動後可選擇直接修改到工控晶片或等待多個數值一起改動完畢後修改到工控晶片。所有數值實時顯示，用戶可同步觀看參數修改後對其他位置參數是否有影響，也可將一個或多個參數進行描點繪圖，觀看參數跟隨時間的變化曲線，直觀了解參數的變化動向。
2)表格式顯示界面
如圖5所示，所有參數都列出在表格中，每個參數後面跟隨實時數值，用戶可對每個參數進行修改，每次的參數改動後可選擇直接修改到工控晶片或等待多個數值一起改動完畢後修改到工控晶片。所有數值實時顯示，用戶可同步觀看參數修改後對其他位置參數是否有影響，也可將一個或多個參數進行描點繪圖，觀看參數跟隨時間的變化曲線，直觀了解參數的變化動向。
在調試過程中，可以保存多組已使用的參數組，可以一次將參數組中所有參數導入工控晶片，對比兩組參數的影響。進行或重複以上步驟可以實現對工控晶片的在線調試。
從以上的描述中，可以看出，本發明實施例實現了如下技術效果：通過多點讀寫功能，可實現同時對並列參數的讀寫，從而可以滿足某些參數必須一同變動或一同監測的需求，有效解決了現有技術中，每次只能讀取或修改晶片的一個參數值，無法對晶片的多個參數值進行讀寫的技術問題，達到了對多個參數值的同時多寫，同時可以實時監測多個參數之間的聯動關係。
顯然，本領域的技術人員應該明白，上述的本發明實施例的各模塊或各步驟可以用通用的計算裝置來實現，它們可以集中在單個的計算裝置上，或者分布在多個計算裝置所組成的網絡上，可選地，它們可以用計算裝置可執行的程序代碼來實現，從而，可以將它們存儲在存儲裝置中由計算裝置來執行，並且在某些情況下，可以以不同於此處的順序執行所示出或描述的步驟，或者將它們分別製作成各個集成電路模塊，或者將它們中的多個模塊或步驟製作成單個集成電路模塊來實現。這樣，本發明實施例不限制於任何特定的硬體和軟體結合。
以上所述僅為本發明的優選實施例而已，並不用於限制本發明，對於本領域的技術人員來說，本發明實施例可以有各種更改和變化。凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護範圍之內。