光電探測器線列的製作方法

2023-07-26 18:03:46 2

本實用新型是探測器技術領域，具體是涉及一種光電探測器線列的改進。

背景技術：

光電探測器線列廣泛應用於安檢探測等傳感領域，其基本構型為在一顆晶片上承載多個光電二極體像素(或稱像素)，構成一個線列的方式。它能夠同時採集一個線空間上的每個點的光信號，通過後續軟體處理後可以構建圖像。由於所有像素同處於一顆物理晶片上，所以像素之間有串擾；雖然可以通過一些片上隔離的手段(例如，採用PN結隔離等)，但是仍無法把串擾徹底消除。由此產生的不良後果是：(1)對圖像進行了一定程度的空間平均化(平滑)處理，降低了圖像的清晰度；(2)邊緣像素的響應率低於中間像素的響應率，導致像素響應一致性變差。

由於所有像素同處於一顆物理晶片上，致使單顆晶片尺寸較大，從而導致每片晶圓上的晶片顆粒產出率很低，因為晶圓上有很多邊角料浪費了。這造成成本的提高。

技術實現要素：

針對現有技術存在的不足，本實用新型所要解決的技術問題是提供一種可徹底消除像素間的串擾，改善性能；且可提高晶圓上的晶片顆粒產出率，降低成本的光電探測器線列。

本實用新型是採取如下技術方案來完成的：光電探測器線列，包括PCB板、晶片和晶片上的光電二極體像素，其特徵在於：在所述PCB板上並聯貼有數個晶片，每個晶片上承載有一個光電二極體像素。

本實用新型的有益效果是：本實用新型每顆晶片上只承載一個光電二極體像素。在貼裝時，把n個晶片並排貼裝在PCB板上。由此，相鄰像素間是物理上隔離開的，從而徹底消除了串擾。同時，單個晶片顆粒的尺寸大大減小，這可以有效減少晶圓上廢棄的邊角料，提高晶圓的晶片產出率，降低成本。

附圖說明

圖1為現有光電探測器線列結構示意圖。

圖2為本實用新型光電探測器線列結構示意圖。

圖中，1為光電二極體像素、2為PCB板，3為晶片。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施方式對本實用新型作進一步詳細描述。

根據附圖2所示，光電探測器線列，包括PCB板2、晶片3和晶片3上的光電二極體像素1，其特徵在於：在所述PCB板2上並聯貼有數個晶片3，每個晶片3上承載有一個光電二極體像素1。

本實用新型每顆晶片3上只承載一個光電二極體像素1。在貼裝時，把n個晶片3並排貼裝在PCB板2上。由此，相鄰像素間是物理上隔離開的，從而徹底消除了串擾。同時，單個晶片顆粒的尺寸大大減小，這可以有效減少晶圓上廢棄的邊角料，提高晶圓的晶片產出率，降低成本。

以上詳細描述了本實用新型的較佳具體實施例。應當理解，本領域的普通技術人員無需創造性勞動就可以根據本發明的構思作出諸多修改和變化。因此，凡本技術領域中技術人員依本發明的構思在現有技術的基礎上通過邏輯分析、推理或者有限的實驗可以得到的技術方案，皆應在由權利要求書所確定的保護範圍內。