一種測量複合材料零件漆層厚度的方法

2023-07-15 21:14:11 2

專利名稱：一種測量複合材料零件漆層厚度的方法
技術領域：
本發明是一種測量複合材料零件漆層厚度的方法，屬於測量技術領域。
背景技術：
目前，金屬載體上的幹膜漆層厚度可以用無損檢驗的方法(Foucault流)測定，但 此方法不適用測定複合材料載體上的幹膜漆層厚度。複合材料載體上的幹膜漆層厚度測定，只能採用金屬試片比照的方法，即在複合 材料載體旁放一塊金屬試片，金屬試片漆層厚度即為複合材料載體幹膜漆層厚度。其問題 是金屬試片幹膜漆層厚度不能準確的反映複合材料載體幹膜漆層厚度。本發明正是針對上述現有技術中存在的問題而設計提供了一種測量複合材料零 件漆層厚度的方法，其目的是準確測定複合材料載體上的幹膜漆層厚度。以解決無法直接 測定複合材料載體上的幹膜漆層厚度，從而保證測量數據的準確性。本發明的目的是通過以下技術措施來實現的本發明技術方案是一種利用V型剖面來測定複合材料載體上的幹膜漆層厚度。該 方法的步驟是(1)在複合材料載體上的幹膜漆層上，向下垂直加工一個V型的測量孔，測量孔的 底部圓孔座落在複合材料載體上；(2)測量測量孔底部圓孔的邊緣與頂部圓孔的邊緣之間的距離S，用以下公式計 算幹膜漆層的厚度D :D = SXF式中F為係數值，F的取值應該是tga X 20，α為鑽頭切角


圖1為本發明方法中測量孔的加工示意2為本發明方法中對測量孔的測量示意圖
具體實施例方式以下將結合附圖和實施例對本發明技術方案作進一步地詳述參見附圖1 2所示，該種測量複合材料零件漆層厚度的方法，其特徵在於該方 法的步驟是(1)在複合材料載體2上的幹膜漆層1上，向下垂直加工一個V型的測量孔3，測 量孔3的底部圓孔4座落在複合材料載體2上；(2)測量測量孔3底部圓孔4的邊緣與頂部圓孔5的邊緣之間的距離S,用以下公 式計算幹膜漆層(1)的厚度D D = SXF式中F為係數值，F的取值應該是tga X 20, α為鑽頭切角
加工測量孔3使用的是Paint Bohrer, PAINT BORER是一套裝置，它包括光學 瞄準組件構成；一臺微型鑽孔機；一個測量區域的照明系統；5種碳化鋼鑽頭No. 1、No. 2、 No. 3、No. 4和No. 5 ；9V充電蓄電池。鑽頭的選擇是根據幹膜漆層1的厚度，選擇方法是幹膜漆層1理論厚度2 200 μ m時，使用鑽頭No. 2，切角5. 7°，係數值F為2 ；幹膜漆層1理論厚度3 300 μ m時，使用鑽頭No. 5，切角8. 5°，係數值F為3 ；幹膜漆層1理論厚度5 500 μ m時，使用鑽頭No. 4，切角14°，係數值F為5 ；幹膜漆層1理論厚度10 IOOOym時，使用鑽頭No. 3，切角26.6°，係數值F為 10 ；幹膜漆層1理論厚度20 2000 μ m時，使用鑽頭No. 1，切角45°，係數值F為20。實際操作時，滑動微型鑽孔機，定位鑽孔點。按下按鈕，是微型鑽孔機轉動，直至鑽 到複合材料載體2，滑動顯微鏡置於測量孔3的上面，打開照明燈，透過顯微鏡觀察刻度，確 定2個同心圓，即底部圓孔4的邊緣與頂部圓孔5之間的刻度值。兩次測量點取平均值，保 證結果的可靠性。與現有技術相比，本發明方法準確地測定了複合材料載體上的幹膜漆層厚度。而 且測量方法簡單可靠。
權利要求
一種測量複合材料零件漆層厚度的方法，其特徵在於該方法的步驟是(1)在複合材料載體(2)上的幹膜漆層(1)上，向下垂直加工一個V型的測量孔(3)，測量孔(3)的底部圓孔(4)座落在複合材料載體(2)上；(2)測量測量孔(3)底部圓孔(4)的邊緣與頂部圓孔(5)的邊緣之間的距離S，用以下公式計算幹膜漆層(1)的厚度DD＝S×F式中F為係數值，F的取值應該是tgα×20，α為鑽頭切角。
全文摘要
本發明是一種測量複合材料零件漆層厚度的方法，該方法的步驟是(1)在複合材料載體上的幹膜漆層上，向下垂直加工一個V型的測量孔，測量孔的底部圓孔座落在複合材料載體上；(2)測量測量孔底部圓孔的邊緣與頂部圓孔的邊緣之間的距離S，用以下公式計算幹膜漆層的厚度DD＝S×F，式中F為係數值，F的取值應該是tgα×20，α為鑽頭切角，與現有技術相比，本發明方法準確地測定了複合材料載體上的幹膜漆層厚度。而且測量方法簡單可靠。
文檔編號G01B11/06GK101893427SQ20101022913
公開日2010年11月24日 申請日期2010年7月19日 優先權日2010年7月19日
發明者劉忠獻, 姜麗華, 姜春玉, 孫軼, 徐福泉, 李華, 李心明, 毛英坤 申請人:哈爾濱飛機工業集團有限責任公司