一種珍珠質量檢測裝置的製作方法
2023-12-02 07:22:01
專利名稱：一種珍珠質量檢測裝置的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種採用拉曼光譜進行珍珠質量檢測的方法，其主要用於優劣珍珠的質量評定，或進行真假珍珠的鑑別。
背景技術：
近幾年，珍珠製品行業發展迅速，產業規模不斷擴大，但珍珠製品市場的質量問題越來越突出，以次充好及假冒偽劣珍珠製品一直屢禁不止。目前，珍珠製品的質量檢測手段主要有外觀評價和化學檢測。外觀評價是指通過珍珠的外觀、氣味、密度以及光澤對珍珠質量進行評價。這種方法是從豐富的生產實踐中總結出來的，但在面對層出不窮的造假技術時，往往識別率不高。化學檢測是指通過化學的方法對珍珠成分進行識別，從而判斷其真偽。此方法雖然在識別率上有相當的精度，但檢驗過程時間較長，且會破壞樣品成分。
實用新型內容本實用新型所要解決的技術問題是提供一種精度高、檢測時間短且不損傷被測樣品的新型珍珠質量檢測裝置。其通過拉曼特徵光譜檢測，不同質量的珍珠，其中所含的特定成分在785nm的雷射激發下會產生不同波長的拉曼峰及拉曼強度，據此原理，我們可以快速有效的鑑別珍珠的主要成分，從而實現評價珍珠質量的效果。本實用新型解決其技術問題所採用的技術方案是一種珍珠質量檢測裝置，其特徵在於包括雷射器、拉曼二色鏡、顯微物鏡和拉曼光譜儀；所述雷射器，為拉曼檢測光源；所述雷射器輸出端連接到顯微鏡光源輸入端；由雷射器輸出的雷射照射到拉曼二色鏡上，所述雷射器與拉曼二色鏡呈45度入射角；由雷射器輸出的雷射經拉曼二色鏡反射後，垂直進入顯微物鏡，所述顯微物鏡與拉曼二色鏡呈45度夾角；檢測時，珍珠樣品置於顯微物鏡的焦平面上；由珍珠樣品反射的受激拉曼光經拉曼二色鏡透射，垂直進入拉曼光譜儀，所述拉曼光譜儀與拉曼二色鏡呈45度夾角。具體為，在正立顯微鏡的外部安裝雷射器、拉曼光譜儀，在顯微鏡的內部安裝一個拉曼二色鏡。雷射能通過二色鏡作用於樣品，樣品的拉曼信號能通過二色鏡引入拉曼光譜儀進行探測。調整好光路後，將待測的珍珠樣品放到載物臺上。開啟雷射器，實現光斑在珍珠樣品表面的聚焦，接著啟動拉曼光譜儀的軟體，對珍珠樣品的受激拉曼信號進行收集。最後，根據拉曼光譜在不同波數上的分布和強度信息對珍珠樣品的質量優劣和真假進行分析判定。本實用新型的有益效果是可以在不破壞珍珠樣品結構、成分的前提下，快速無損的檢測到它們的特異性振動光譜(即拉曼光譜)，從而反演出它們的結構、成分信息。該系統原理簡易、結構簡單，真正實現了從數據採集到加工分析的一體化檢測。
圖1是本實用新型的儀器示意圖。圖中1.雷射器，2.拉曼二色鏡，3.拉曼光譜儀，4.顯微物鏡，5.珍珠樣品。
具體實施方式
以下結合附圖實施例對本實用新型作進一步詳細描述。本實用新型的測試系統原理圖，如圖1所示。整個檢測系統基於雷射器1、拉曼光譜儀3、拉曼二色鏡2以及顯微物鏡4。所述雷射器1為半導體雷射器，且波長為785nm。所述拉曼二色鏡2和顯微物鏡4置於一臺正立的顯微鏡內。所述雷射器1的輸出端連接到顯微鏡光源輸入端。由雷射器1輸出的雷射入射一塊專用的拉曼二色鏡2，所述拉曼二色鏡 2與雷射器1呈45度入射角。入射雷射經拉曼二色鏡2反射後引入顯微物鏡4，所述顯微物鏡4與拉曼二色鏡2呈45度夾角。測試時，利用顯微鏡的調焦實現雷射光斑在顯微物鏡 4工作距離內的聚焦，從而使聚焦後的雷射垂直入射於珍珠樣品5的表面，實現其拉曼信號的激發。所述珍珠樣品5置於顯微物鏡4下，且位於顯微物鏡4中心位置。由珍珠樣品後向散射的拉曼信號被同一個顯微物鏡4收集，從而進入拉曼二色鏡2。拉曼散射光經拉曼二色鏡2透射後，被顯微鏡頂端的拉曼光譜儀3收集。所述拉曼光譜儀3與拉曼二色鏡2呈 45度夾角。在光譜儀的軟體中，檢測到的珍珠樣品5的拉曼光譜將以波數(cm—1)的形式顯示， 其檢測範圍一般是從zoocnriieoocnr1，根據顯示的拉曼信號的波長和峰值分布進行分析， 可以實現珍珠成分及結構的精確檢測，從而判斷珍珠質量的優劣。根據實際需要，我們的拉曼顯微檢測系統還能擴展另外不同類型的拉曼光譜儀， 以獲取更豐富的拉曼信息，提高檢測的準確度。除上述實施例外，本實用新型還包括有其他實施方式，凡採用等同變換或者等效替換方式形成的技術方案，均應落入本實用新型權利要求的保護範圍之內。
權利要求1 一種珍珠質量檢測裝置，其特徵在於包括雷射器(1)、拉曼二色鏡( 、顯微物鏡(4)和拉曼光譜儀(3)；所述雷射器(1)，為拉曼檢測光源；所述雷射器(1)輸出端連接到顯微鏡光源輸入端；由雷射器(1)輸出的雷射照射到拉曼二色鏡( 上，所述雷射器(1)與拉曼二色鏡呈45度入射角；由雷射器(1)輸出的雷射經拉曼二色鏡( 反射後，垂直進入顯微物鏡G)，所述顯微物鏡(4)與拉曼二色鏡 (2)呈45度夾角；檢測時，珍珠樣品( 置於顯微物鏡(4)的焦平面上；由珍珠樣品(5)反射的受激拉曼光經拉曼二色鏡( 透射，垂直進入拉曼光譜儀(3)，所述拉曼光譜儀(3)與拉曼二色鏡( 呈45度夾角。
2.根據權利要求1所述的珍珠質量檢測裝置，其特徵是用於拉曼顯微檢測的雷射器(1)，為半導體雷射器，其波長為785nm。
專利摘要一種珍珠質量檢測裝置，其技術要點在於將珍珠置於正立顯微鏡的載物臺上，雷射經顯微鏡照射到珍珠表面，其表面反射的拉曼特徵光譜被置於顯微鏡頂端的光譜儀收集。通過對光譜儀中顯示的拉曼信號的波長和峰值分布進行分析，可以實現珍珠中特定微量元素的精確檢測，從而判斷珍珠質量。本實用新型可以應用於珍珠製品的生產單位以及相關質量檢測機構。
文檔編號G01N21/65GK202049112SQ201120085850
公開日2011年11月23日 申請日期2011年3月28日 優先權日2011年3月28日
發明者張嫻, 牟晶晶 申請人:張嫻, 牟晶晶