複合治具針盤的製作方法

2023-12-01 13:50:31 2

專利名稱：複合治具針盤的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種半導體器件的電性能測試設備，尤其是涉及一種複合治具針盤。
背景技術：
印刷電路板的出廠前，需要測試其電性能，其常採用的測試治具是一種以PCB板為模型而設計的、用於電性能通斷測試的一種專用夾具，有單面治具、雙面治具之分，治具具有針盤，針盤上的探針直接決定電性能測試的穩定性以及效率；在實際生產中，PCB板多為批量製造、批量測試，需要保證針盤上探針始終處於良好的狀態，一旦探針出現故障、尤其是間歇性故障，將導致誤測試而造成質量事故，往往需要將大批量的產品收回重新測試； 因此針盤探針的可靠性，嚴重影響測試的穩定性和可靠性；在針盤上，探針一般為斜置，其主要作用是利用其頭部與小密度的PCB板針腳接觸，然後通過其尾部放大分布密度。隨著技術的進步，PCB板上的針腳越來越密，因此探針也越來越細、越來越長，在待測試PCB板下壓與探針頭部接觸時，探針易受力致損。
發明內容本實用新型主要目的是提供一種複合治具針盤，其針盤對探針支撐較好，使探針不易受損、使用壽命長。本實用新型的上述技術問題主要是通過下述技術方案得以解決的複合治具針盤，包括針板、探針，針板包括頂板、底板和兩者之間的若干中間板；探針可滑動地斜置在針板上的過孔中，其特徵在於所述針板設置為4-6層結構，各層間距自頂部至底部逐漸增大。由於探針為斜置狀態，而探針受到來自PCB板的外力為豎直方向，探針需要將輸入力分解為軸向分力和徑向分力，軸向分力傳遞給外部的彈簧套筒，而徑向分力需要針板承擔；由於探針直徑微小，且具有一定的彈性易受力變形，因此在實際使用中，徑向分力更多地集中在探針頭部區域，所以在待測試PCB板下壓與探針頭部接觸時，與探針接觸的針板間距越小，則提供給探針頭部的支撐越好，亦即探針將輸入力的徑向分力儘可能地在探針頭部區域傳遞給針板，避免探針針體變形而在軸向移動中受損。針板設為4-6層結構，為探針提供多個徑向支撐，使探針尾部保持為較大密度的情況下，其頭部可以設置為更小密度，也可使探針直徑更小，這種結構下探針最小直徑可達0. 12MM，使測試精度高。探針頭部和尾部需要分別於外部接觸受力，作為優選，所述頂板和底板的厚度大於中間板的厚度。這種結構，使探針頭尾兩個的受力輸入端得到更好的支撐。作為優選，所述針板為玻璃纖維材質，中間板之間以及中間板與底板之間設置銅質連接件。層與層之間用銅件緊密結合，使針盤更加穩固，測試更加穩定。為了便於探針頭部和尾部與外部較為可靠地接觸，作為優選，探針頭部凸出於頂板0. 3-0. 6mm,底部伸出於底板。作為優選，各個探針頭部具有若干種不同直徑大小規格。探針頭部適應多種規格的PCB板針腳。因此，本實用新型具有結構合理、易於製作等特點，尤其是具有針盤對探針支撐較好、探針不易受損、使用壽命長等有益效果。

附圖1是本實用新型的一種結構示意圖；附圖2是探針的一種結構示意圖。
具體實施方式
下面通過實施例，並結合附圖，對本實用新型的技術方案作進一步具體的說明。實施例本實用新型複合治具針盤，其包括針板1、探針3。針板1包括頂板101、 底板102和兩者之間的若干中間板103 ；探針3可滑動地斜置在針板1上的過孔中。針板1設置為4-6層結構，各層間距自頂部至底部逐漸增大。頂板101和底板102 的厚度大於中間板103的厚度。針板1為玻璃纖維材質，中間板103之間以及中間板103 與底板102之間設置銅質連接件。探針3頭部凸出於頂板101的高度為0. 3-0. 6mm mm，底部伸出於底板102。各個探針3頭部具有若干種不同直徑大小規格。
權利要求1.一種複合治具針盤，包括針板(1)、探針(3)，針板(1)包括頂板(101)、底板(102) 和兩者之間的若干中間板(103)；探針C3)可滑動地斜置在針板(1)上的過孔中，其特徵在於所述針板(1)設置為4-6層結構，各層間距自頂部至底部逐漸增大。
2.根據權利要求1所述的複合治具針盤，其特徵在於所述頂板(101)和底板(102)的厚度大於中間板(103)的厚度。
3.根據權利要求1所述的複合治具針盤，其特徵在於所述針板(1)為玻璃纖維材質， 中間板(10 之間以及中間板(10 與底板(10 之間設置銅質連接件。
4.根據權利要求1所述的複合治具針盤，其特徵在於探針(3)頭部凸出於頂板 (101)0. 3-0. 6mm，底部伸出於底板(102)。
5.根據權利要求1或2或3或4所述的複合治具針盤，其特徵在於各個探針(3)頭部具有若干種不同直徑大小規格。
專利摘要本實用新型涉及一種具有計數功能的PCB板測試治具，其包括上治具和下治具，下治具包括針盤與底座，其特徵在於所述的針盤上設有觸碰開關，觸碰開關的觸發端凸出於針盤的上表面；該觸碰開關電連接有計數器。每次測試PCB板，上治具下壓PCB板，由於觸碰開關的觸發端凸出於針盤的上表面，故PCB板觸發觸碰開關，形成一次測試計數，並顯示在計數器上；通過計數器的統計，操作者可確定針盤的總測試次數，並根據總測試次數而確定的針盤是否達到預期或設計的使用壽命，達到則更換針盤；這種方式，可有效地控制針盤的使用壽命，在保證測試的穩定性和可靠性的情況下，充分地利用了針盤的使用壽命，降低了生產成本。
文檔編號G01R1/04GK202075313SQ20112012064
公開日2011年12月14日 申請日期2011年4月22日 優先權日2011年4月22日
發明者張正太, 彭梅春, 文東升 申請人:蘇州市科林源電子有限公司