一種測試設備的製作方法
2023-12-10 02:08:31
專利名稱：一種測試設備的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種測試設備。
背景技術：
根據國家標準GB14048. 2-2001，GB16916. 1-2003，GB16917. 1-2003 等規定對無
論是突然施加或緩慢上升的具有規定的剩餘脈動直流或剩餘正弦交流電流，能確保在規定時間內脫扣的漏電斷路器稱為A型漏電斷路器。對無論是突然施加或緩慢上升的具有無直流分量的剩餘正弦交流電流，能確保在規定時間內脫扣的漏電斷路器，稱為AC型漏電斷路器。由上可知，A型漏電斷路器覆蓋了 AC型漏電斷路器的功能。上述「規定的剩餘脈動電流」為以下4種情況電流滯後電壓0°的半波整流電流、 電流滯後電壓90°的半波整流電流、電流滯後電壓135°的半波整流電流、含有6mA直流的電流滯後電壓0°的半波整流電流。現有技術中不存在對A型漏電斷路器進行測量的裝置。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是提供一種測試範圍較廣且性能較為穩定可靠的測試設備。為解決上述技術問題，本發明提供了一種測試設備，包括交流電源電路、相位產生電路、交流漏電調節電路和時間檢測電路；相位產生電路包括可控矽電流控制電路；所述可控矽電流控制電路包括根據所述第一半波整流電路、第二半波整流電路和第三半波整流電路輸出的控制信號而導通的三極體BG18、由三極體BG18驅動的光耦晶片IC4，由光耦晶片IC4控制通斷的雙向可控矽BG19，雙向可控矽BG19的A、K極串聯在外接模擬漏電迴路中。本發明具有積極的效果(I)本發明通過改進可控矽電流控制電路，使其結構較為合理，能夠有效滿足特殊漏電斷路器的測試需求。
下面將結合附圖對本發明作進一步的解釋，其中附圖如下圖I為實施例I的測試設備的外形結構示意圖；圖2為實施例I的測試設備的部分電原理圖；圖3為實施例I的測試設備的另一部分電原理圖。
具體實施例方式(實施例I)見圖1-3，測試設備本實施例是一種用於測試漏電斷路器的測試設備，包括交流電源電路I、直流供電電路7、相位產生電路2、交流漏電調節電路3、相位顯示電路6、指示燈電路5和時間檢測電路4。交流電源電路I具有用於構成負載迴路的第一火線端和用於構成模擬漏電迴路的第二火線端，第一火線端和第二火線端用於與被測設備9的火線輸入端相連，所述負載迴路的零線端用於與被測設備9的零線端相連。本實施例中被測設備9是A型漏電斷路器。相位產生電路2用於與被測設備9的火線輸出端L2相連；相位產生電路2包括控制按鈕電路，控制按鈕電路用於控制相位產生電路2在所述模擬漏電迴路中分別生成電流滯後電壓0°的半波整流電流、電流滯後電壓90°的半波整流電流、電流滯後電壓135°的半波整流電流和含有6mA直流的電流滯後電壓0°的半波整流電流。交流漏電調節電路3用於控制所述模擬漏電迴路的電流大小；時間檢測電路4用於測量從所述模擬漏電迴路導通至A型漏電斷路器脫扣所需的時間，即動作時間。所述相位產生電路2包括電流滯後電壓0°的第一半波整流電路、電流滯後電壓90°的第二半波整流電路、電流滯後電壓135°的第三半波整流電路、6mA直流生成電路、以及用於根據所述第一半波整流電路、第二半波整流電路和第三半波整流電路輸出的控制信號在所述模擬漏電迴路中分別生成電流滯後電壓0°的半波整流電流、電流滯後電壓90°的半波整流電流、電流滯後電壓135°的半波整流電流和含有6mA直流的電流滯後電壓0°的半波整流電流的可控矽電流控制電路。所述電流滯後電壓135°的第三半波整流電路包括由變壓器T2、二極體D5、電阻R3、R4、R5、R6、R7和運算放大器IClA構成的正弦波整形成電路，與運算放大器IClA的輸出端相連的由電阻R8、電容C5構成的充電電路，由二極體D6、D7構成的與門；用來設定相對於電流滯後電壓135°的整定電壓的電阻R9和R10，用來調節運算放大器IClB的反向端的相對於電流滯後電壓135°的比較電壓的電阻Rll和電位器WRl,運算放大器IClB的輸出端用於輸出電流滯後電壓135°的控制信號。電阻R12是三極體BG3基極的限流電阻，三極體BG3與電阻R13構成射極跟隨器，電阻R13上的電流滯後電壓135°的控制信號通過按鈕開關SB1、電阻R58送給三極體BG18，三極體BG18驅動光耦晶片IC4，電阻R59是限流電阻，保證光耦晶片IC4有效工作。光耦晶片IC4用以隔離交流220V與相位產生電路直流部分，控制雙向可控矽BG19的導通和關斷，電阻R60、R61用於控制雙向可控矽BG19的G極輸入電流，使輸入信號足夠觸發雙向可控矽BG19導通。雙向可控矽BG19的A、K 二極串聯在負載與交流電源之間，流過負載的電流就是滯後於電壓135°的半波整流電流。控制雙向可控矽BG19即可控制線路中通過規定的剩餘脈動電流，調節電位器WR3、WR4、WR5即可控制漏電流大小。當按鈕開關SBlO閉合時，按鈕開關SBlO的兩個中間觸點用於相位產生電路輸出波形的檢測。所述可控矽電流控制電路包括根據所述第一半波整流電路、第二半波整流電路和第三半波整流電路輸出的控制信號而導通的三極體BG18、由三極體BG18驅動的光耦晶片IC4，由光耦晶片IC4控制通斷的雙向可控矽BG19，雙向可控矽BG19的A、K極串聯在所述模擬漏電迴路中。所述時間檢測電路4包括單片機IC6、與單片機IC6的漏電檢測端相連的用於檢測所述模擬漏電迴路是否導通的漏電信號檢測電路、以及與單片機IC6的時間信息輸出端相連的用於顯示時間的數碼管；單片機IC6根據漏電信號檢測電路輸出的漏電信號測量從所述模擬漏電迴路導通至A型漏電斷路器脫扣所需的時間並通過所述數碼管顯示該時間。、
所述相位產生電路2連接有用於顯示所述模擬漏電迴路存在電流滯後電壓0°的半波整流電流或電流滯後電壓90°的半波整流電流或電流滯後電壓135°的半波整流電流或含有6mA直流的電流滯後電壓0°的半波整流電流的相位顯示電路6。交流電源電路由220V 50Hz交流電源供電給變壓器T4，變壓器T4輸出180V、220V.250V.380V電壓經波段開關SAl連接至交流輸出接線柱L1、N上。通過調節波段開關SAl的檔位，可改變交流輸出接線柱LI和N兩端的電壓。變壓器T4的負載是交流漏電調節電路3。交流漏電調節電路3由變壓器T4輸出26V交流電，其輸出端一端與波段開關SA2串聯後接至交流輸出接線柱LI，另一端與電流表、漏電調節電阻、雙向可控矽BG19、波段開關SA3串聯後，連接至交流輸出接線柱L2。相位顯示電路6由數碼管LED1-LED4、二極體D11-36、三極體BG7-16組成的邏輯電路、按鈕開關組成。
當按下按鈕開關SB4時，電流信號觸發三極體BG20導通，三極體BG20輸出信號觸發三極體BG7、BG8導通，數碼管LEDl顯示「A」，數碼管LED2顯示「C」。按下按鈕開關SB3時，數碼管LED1、LED4顯示「A0」 ；按下按鈕開關SB2，數碼管LED1、LED3、LED4顯示「A90」 ；按下按鈕開關SB5，數碼管LED1、LED2、LED3、LED4顯示「A0-6」。指示燈電路5由變壓器T4、整流二極體D42-45、三端穩壓器BG27、RC濾波電路組成。直流供電電路7包括由變壓器TI供電的5V直流供電電路、由變壓器T3供電的5V直流供電電路、12V直流供電電路、6mA直流生成電路。時間檢測電路4由按鈕開關、整流二極體D46-49、三極體BG23-26、電阻、電容C15、光電耦合器IC5、單片機IC6、數碼管LEDll等組成。6mA直流生成電路由電阻R67、9V乾電池Bt、按鈕開關SB5、SB6組成。電阻R67的一端與9V乾電池U的正極相連，電阻R67的另一端與按鈕開關SB5的中間觸點相連，按鈕開關SB5的常開觸點與按鈕開關SB6的常開觸點、常閉觸點相連，9V乾電池負極接按鈕開關SB6的常開觸點、常開觸點相連，按鈕開關SB6的中間觸點與直流輸出接線柱「 + 」相連，按鈕開關SB6的中間觸點SB6-21與直流輸出相連。電流滯後電壓90°的第二半波整流電路由電阻R17、R18、R19、R20、R21、R22、R23、R24、R25、R26、R27、R57、R58、R59、R60、R61,電容 C6, 二極體 D8、D9、D10，三極體 BG5、BG18，雙向可控矽BG19，運算放大器IC2，光耦晶片IC4，電位器WR2構成。電流滯後電壓0°的第一半波整流電路由電阻1 50、1 51、1 52、1 53、1 54、1 55、1 56、R57、R58、R59、R60、R61，二極體D37，三極體BG17、BG18，雙向可控矽BG19，運算放大器IC3，光耦晶片IC4構成。二極體D51的正極端與相位顯示電路中的三極體BG22的e極相連，二極體D51的負極端與電阻R75的一端相連，電阻R75的另一端與三極體BG28的b極相連，光耦晶片IC7的2腳與三極體BG28的c極相連，三極體BG28的e極與穩壓管BG21的2腳相連。電阻R74的一端與穩壓管BG21的3腳相連,光稱晶片IC7的4、6腳分別與按鈕開關SB3中間觸點SB3-21、常開觸點SB3-22相連。因「規定的剩餘脈動電流」中有電流滯後電壓0°的含有6mA直流的半波整流電流，故本部分是為實現在「A0-6」的情況下，保證電流滯後電壓0°的半波整流電流的輸出。電阻R73、R77為光耦晶片IC5的限流電阻，電阻R78為單片機IC6的I腳的限流電阻，電容C15、電阻R79組成微分電路，電阻1 80、1 81、1 82、1 83、1 84、1 85、1 86、1 87為數碼管LEDll各管腳的限流電阻，電阻R88、R89、R90、R91為三極體BG23、BG24、BG25、BG26的b極的限流電阻。按鈕開關SB17為測試按鈕，按鈕開關SB18為復位按鈕。當按鈕開關SB17閉合時，斷路器通電，直流電流經微分電路形成一個尖脈衝，輸入單片機IC6的I腳，單片機IC6開始計時。當斷路器跳閘時，光耦晶片IC5失電，其4、6腳關斷，單片機IC6的3腳有高電平輸入，單片機IC6停止計時並輸出數據到數碼管LEDll顯示。當按鈕開關SB18按下時，單片機IC6、數碼管LEDll清零。上述實施例僅僅是為清楚地說明本發明所作的舉例，而並非是對本發明的實施方式的限定。對於所屬領域的普通技術人員來說，在上述說明的基礎上還可以做出其它不同形式的變化或變動。這裡無需也無法對所有的實施方式予以窮舉。而這些屬於本發明的精神所引伸出的顯而易見的變化或變動仍處於本發明的保護範圍之中。
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權利要求
1.一種測試設備，包括交流電源電路(I)、相位產生電路(2)、交流漏電調節電路(3)和時間檢測電路(4);其特徵在於相位產生電路(2)包括可控矽電流控制電路；所述可控矽電流控制電路包括根據所述第一半波整流電路、第二半波整流電路和第三半波整流電路輸出的控制信號而導通的三極體BG18、由三極體BG18驅動的光耦晶片IC4，由光耦晶片IC4控制通斷的雙向可控矽BG19，雙向可控矽BG19的A、K極串聯在外接模擬漏電迴路中。
全文摘要
本發明涉及一種測試設備，包括交流電源電路、相位產生電路、交流漏電調節電路和時間檢測電路；其特徵在於相位產生電路包括可控矽電流控制電路；所述可控矽電流控制電路包括根據所述第一半波整流電路、第二半波整流電路和第三半波整流電路輸出的控制信號而導通的三極體BG18、由三極體BG18驅動的光耦晶片IC4，由光耦晶片IC4控制通斷的雙向可控矽BG19，雙向可控矽BG19的A、K極串聯在外接模擬漏電迴路中。本發明通過改進可控矽電流控制電路，使其結構較為合理，能夠有效滿足特殊漏電斷路器的測試需求。
文檔編號G01R31/327GK102749581SQ201210262490
公開日2012年10月24日 申請日期2012年7月27日 優先權日2012年7月27日
發明者胡小青 申請人:蘇州貝騰特電子科技有限公司