用於元素分析儀的落樣裝置的製作方法

2023-05-17 17:50:31 1

專利名稱：用於元素分析儀的落樣裝置的製作方法
技術領域：
本實用新型主要涉及到煤樣的測量設備領域，特指一種元素分析儀。
背景技術：
現有的元素分析儀，均通過在機箱外表面上的樣盤進行人工放樣操作，而樣盤上卻沒有任何遮擋裝置。在實驗過程中，空氣中的灰塵、細微煤粉一起其他雜質，將會直接落 到樣盤上，汙染試樣，影響到測試結果。同時，由於對樣盤沒有任何保護措施，人工放樣時， 經常會由於誤操作碰撞到樣盤，打亂樣盤上的擺放次序，直接導致實驗中斷，或者對樣盤及 樣盤的旋轉機構造成損壞。

實用新型內容本實用新型要解決的技術問題就在於針對現有技術存在的技術問題，本實用新 型提供一種結構簡單緊湊、成本低廉、裝配簡單、能達到防塵、防誤操作的效果、提高整機測 試精度的用於元素分析儀的落樣裝置。為解決上述技術問題，本實用新型採用以下技術方案。一種用於元素分析儀的落樣裝置，包括樣盤、樣盤旋轉軸、落樣底盤以及用來驅動 樣盤轉動的樣盤旋轉驅動機構，所述樣盤固定於樣盤旋轉軸上，所述落樣底盤位於樣盤的 底部，所述落樣底盤上開設有底盤落樣口，其特徵在於所述樣盤的頂部設有遮擋裝置。作為本實用新型的進一步改進所述遮擋裝置為可轉動並偏離樣盤正上方的旋蓋，所述旋蓋的一端固定於旋蓋旋 轉軸上所述旋蓋的直徑大於樣盤的直徑。所述旋蓋為透明蓋。所述樣盤旋轉驅動機構直接與樣盤旋轉軸相連，或者樣盤旋轉驅動機構直接與樣 盤相連所述樣盤上設有與盛樣槽位置對應的樣盤刻度盤。與現有技術相比，本實用新型的優點就在於1、本實用新型用於元素分析儀的落樣裝置，結構簡單緊湊、成本低廉、裝配簡單， 通過在樣盤頂部設置一個可轉到的遮擋裝置，起到防塵、防誤操作的效果，最終提高整機的 測試精度；2、本實用新型用於元素分析儀的落樣裝置，採用旋蓋的結構，結構非常簡單，操作 十分方便，只需旋轉就可以使其偏離樣盤正上方，讓操作人員完成放樣。本實用新型中，旋 蓋進一步採用透明結構，方便操作人員實時觀察試樣情況，保證測試精度。

圖1是本實用新型在應用實例中的結構示意圖；[0016]圖2是本實用新型在應用實例中的俯視結構示意圖；圖3是本實用新型在應用實例中去掉箱體後樣盤和旋蓋的結構示意圖。圖例說明1、樣盤；101、盛樣槽；102、樣盤刻度盤；2、樣盤旋轉軸；3、落樣底盤；301、底盤落 樣口 ；4、樣盤旋轉驅動機構；5、旋蓋；6、旋蓋旋轉軸；7、試樣；8、樣盤固定支架；9、箱體； 10、機箱蓋；11、轉軸固定座；12、螺母；13、阻尼墊；14、導樣管；15、坩堝；16、燃燒爐；17、燃燒菅。
具體實施方式
以下將結合具體實施例和說明書附圖對本實用新型做進一步詳細說明。 如圖1、圖2和圖3所示，本實用新型用於元素分析儀的落樣裝置，裝設於元素分析 儀箱體9的機箱蓋10上，該落樣裝置包括樣盤1、樣盤旋轉軸2、落樣底盤3以及用來驅動 樣盤1轉動的樣盤旋轉驅動機構4，樣盤旋轉驅動機構4直接與樣盤旋轉軸2相連，或者樣 盤旋轉驅動機構4直接與樣盤1相連。本實施例中樣盤旋轉驅動機構4直接與樣盤1相連 並驅動樣盤1轉動。樣盤1上開設有用來放置試樣7的盛樣槽101，並在樣盤1上設有與盛 樣槽101位置對應的樣盤刻度盤102，方便進行放樣操作。樣盤1固定於樣盤旋轉軸2上， 樣盤1底部設有樣盤固定支架8，落樣底盤3位於樣盤1的底部，落樣底盤3在元素分析儀 導樣管14的正上方處設有底盤落樣口 301，導樣管14的底部設有坩堝15，坩堝15放置於 燃燒爐16的燃燒管17內。樣盤1在樣盤旋轉驅動機構4的帶動下轉動，當轉動到底盤落 樣口 301處時，試樣7會從底盤落樣口 301掉下，經導樣管14落入到坩堝15內。本實用新 型在樣盤1的頂部設有遮擋裝置。該遮擋裝置可以為固定式的，在操作時人工取出後打開 或蓋上，也可以採用活動式的，直接在箱體9上操作。本實施例中，遮擋裝置為一個可轉動 並偏離樣盤1正上方的旋蓋5，旋蓋5的一端固定於旋蓋旋轉軸6上，旋蓋旋轉軸6固定於 轉軸固定座11上，轉軸固定座11通過螺母12和阻尼墊13固定於機箱蓋10上。旋蓋5的 直徑大於樣盤1的直徑，可以防止實驗過程中不小心碰撞到樣盤1，擾亂試樣7的次序，導致 實驗中斷或損壞樣盤1的樣盤旋轉軸2。旋蓋5可以為採用透明材質製作的透明蓋，能方便 操作人員觀察樣盤1上盛樣槽101內試樣7的擺放和使用情況。使用時，操作人員可以轉動旋蓋5，轉動一定角度，使其偏離樣盤1的正上方，方便 用戶往樣盤1的盛樣槽101內放試樣7。試樣7放置完畢後，又轉動旋蓋5，旋轉到樣盤1 的正上方後，可以防止空氣中的灰塵、細微煤粉等雜質汙染試樣7，影響到測試結果。以上所述僅是本實用新型的優選實施方式，本實用新型的保護範圍並不僅局限於 上述實施例，凡屬於本實用新型思路下的技術方案均屬於本實用新型的保護範圍。應當指 出，對於本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型原理前提下的若干改進和 潤飾，這些改進和潤飾也應視為本實用新型的保護範圍。
權利要求一種用於元素分析儀的落樣裝置，包括樣盤(1)、樣盤旋轉軸(2)、落樣底盤(3)以及用來驅動樣盤(1)轉動的樣盤旋轉驅動機構(4)，所述樣盤(1)固定於樣盤旋轉軸(2)上，所述落樣底盤(3)位於樣盤(1)的底部，所述落樣底盤(3)上開設有底盤落樣口(301)，其特徵在於所述樣盤(1)的頂部設有遮擋裝置。
2.根據權利要求1所述的用於元素分析儀的落樣裝置，其特徵在於所述遮擋裝置為 可轉動並偏離樣盤(1)正上方的旋蓋(5)，所述旋蓋(5)的一端固定於旋蓋旋轉軸(6)上。
3.根據權利要求2所述的用於元素分析儀的落樣裝置，其特徵在於所述旋蓋(5)的 直徑大於樣盤(1)的直徑。
4.根據權利要求2所述的用於元素分析儀的落樣裝置，其特徵在於所述旋蓋(5)為 透明蓋。
5.根據權利要求1或2或3或4所述的用於元素分析儀的落樣裝置，其特徵在於所 述樣盤旋轉驅動機構(4)直接與樣盤旋轉軸(2)相連，或者樣盤旋轉驅動機構(4)直接與 樣盤(1)相連。
6.根據權利要求1或2或3或4所述的用於元素分析儀的落樣裝置，其特徵在於所 述樣盤(1)上設有與盛樣槽(101)位置對應的樣盤刻度盤(102)。
7.根據權利要求5所述的用於元素分析儀的落樣裝置，其特徵在於所述樣盤(1)上 設有與盛樣槽(101)位置對應的樣盤刻度盤(102)。
專利摘要本實用新型公開了一種用於元素分析儀的落樣裝置，包括樣盤、樣盤旋轉軸、落樣底盤以及用來驅動樣盤轉動的樣盤旋轉驅動機構，所述樣盤固定於樣盤旋轉軸上，所述落樣底盤位於樣盤的底部，所述落樣底盤上開設有底盤落樣口，所述樣盤的頂部設有遮擋裝置。本實用新型是一種結構簡單緊湊、成本低廉、裝配簡單、能達到防塵、防誤操作的效果、提高整機測試精度的用於元素分析儀的落樣裝置。
文檔編號G01N1/02GK201575935SQ20092031854
公開日2010年9月8日 申請日期2009年12月25日 優先權日2009年12月25日
發明者任率 申請人:湖南三德科技發展有限公司