一種音叉晶體穩定度分析儀的製作方法
2023-05-23 01:29:31
一種音叉晶體穩定度分析儀的製作方法
【專利摘要】一種音叉晶體穩定度分析儀，其特徵在於：包括待測音叉、控制晶片、鍵盤電路和顯示器，所述鍵盤電路與控制晶片的輸入口連接，顯示器與控制晶片的輸出口連接，所述控制晶片的控制口連接有繼電器，控制晶片還與漏電流檢測電路和頻率穩定度分析電路相連接，所述待測音叉通過繼電器分別與漏電流檢測電路、頻率穩定度分析電路選擇連接。本發明通過漏電流檢測電路和頻率穩定度分析電路測試音叉晶體的漏電流和振蕩頻率，並通過51單片機將測試數據和設定數據進行比較分析，而後在顯示屏上給出分析結果，整個測試過程非常簡單，測試精度高，結果一目了然。
【專利說明】一種音叉晶體穩定度分析儀
【技術領域】
[0001] 本發明涉及一種音叉測試裝置，具體涉及一種音叉晶體穩定度分析儀。
【背景技術】
[0002] 在石英晶體生產領域，需要對石英音叉晶體穩定度進行分析，避免產品在上機使 用過程中失效，頻率抖動等不良反應。為提高石英音叉晶體穩定性除了對其高溫老化處理 夕卜，必須通過電氣性能上的測試進行判別，剔除不穩定產品，使晶體能在不同電磁環境下正 常使用。現階段的音叉晶體生產領域沒有專門的測試分析工具，測試手續繁瑣，準確度也不 商。
【發明內容】
[0003] 本發明的目的是克服現有技術的缺陷和不足，提供一種操作簡單、數據準確的音 叉晶體穩定度分析儀。
[0004] 為實現以上目的，本發明的技術解決方案是：一種音叉晶體穩定度分析儀，其特徵 在於：包括待測音叉、控制晶片、鍵盤電路和顯示器，所述鍵盤電路與控制晶片的輸入口連 接，顯示器與控制晶片的輸出口連接，所述控制晶片的控制口連接有繼電器，控制晶片還與 漏電流檢測電路和頻率穩定度分析電路相連接，所述待測音叉通過繼電器分別與漏電流檢 測電路、頻率穩定度分析電路選擇連接。
[0005] 所述漏電流檢測電路包括電壓取樣電阻、電壓跟隨電路、電壓放大電路和A/D轉 換電路。
[0006] 所述頻率穩定度分析電路包括電壓放大電路、D/A轉換電路、小信號整流電路、力口 法電路、同相比例運算放大電路、自動增益同相比例運算放大電路、信號整形電路和頻率計 數電路。
[0007] 所述控制晶片為51單片機。
[0008] 與現有技術相比，本發明的有益效果為：
[0009] 1、本發明通過漏電流檢測電路和頻率穩定度分析電路測試音叉晶體的漏電流和 振蕩頻率，並通過51單片機將測試數據和設定數據進行比較分析，而後在顯示屏上給出分 析結果，整個測試過程操作簡單，測試精度高，結果一目了然。
[0010] 2、本發明採用51單片機作為控制晶片，這樣做既滿足了測試設備基本性能要求 的同時也降低了設備的成本。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0011] 圖1是本發明的結構示意圖。
[0012] 圖中：待測音叉1，控制晶片2,鍵盤電路3,顯示器4,繼電器5,漏電流檢測電路6， 頻率穩定度分析電路7,電壓取樣電阻8,電壓跟隨電路9,電壓放大電路10, A/D轉換電路 11，電壓放大電路12, D/A轉換電路13,小信號整流電路14,加法電路15,同相比例運算放 大電路16,自動增益同相比例運算放大電路17,信號整形電路18,頻率計數電路19。
【具體實施方式】
[0013] 以下結合【專利附圖】
【附圖說明】和【具體實施方式】對本發明作進一步詳細的說明。
[0014] 參見圖1，一種音叉晶體穩定度分析儀，包括待測音叉1、控制晶片2、鍵盤電路3和 顯示器4,本發明使用性能好、體積小的51單片機作為分析儀的控制晶片，所述鍵盤電路3 與控制晶片2的輸入口連接，顯示器4與控制晶片2的輸出口連接，所述控制晶片2的控制 口連接有繼電器5,控制晶片2還與漏電流檢測電路6和頻率穩定度分析電路7相連接，所 述待測音叉1通過繼電器5分別與漏電流檢測電路6、頻率穩定度分析電路7選擇連接。
[0015] 所述漏電流檢測電路6包括電壓取樣電阻8、電壓跟隨電路9、電壓放大電路10和 A/D轉換電路11。
[0016] 所述頻率穩定度分析電路7包括電壓放大電路12、D/A轉換電路13、小信號整流 電路14、加法電路15、同相比例運算放大電路16、自動增益同相比例運算放大電路17、信號 整形電路18和頻率計數電路19。
[0017] 本發明的工作過程為：首先用鍵盤電路3將設定好的頻率變化量、漏電量的最大 值輸入51單片機，當需要測試音叉晶體漏電量時，用51單片機控制繼電器5連通漏電流檢 測電路6,在100伏直流電壓下，通過串聯電阻電壓加到待測音叉1兩端，電壓取樣電阻8通 過的電流由待測音叉1決定，當有電流經過電壓取樣電阻8時，電壓取樣電阻8兩端會有感 應電壓，感應電壓通過電壓跟隨電路9、電壓放大電路10後輸入到A/D轉換電路11中，單 片機讀取A/D轉換電路11對應信號電壓的16位二進位數據，得到的數據與設定數據進行 比對，判別待測音叉1的絕緣特性；當需要檢測待測音叉1頻率穩定度時，用51單片機控制 繼電器5連通頻率穩定度分析電路7, 51單片機通過其埠分時發出大小由低到高的數據， 數據通過D/A轉換電路13得到對應的電壓值，該電壓值經過電壓放大電路12放大，再經過 加法電路15、小信號整流電路14、同相比例運算放大電路16和自動增益同相比例運算放大 電路17將待測音叉1在電壓刺激下產生的頻率信號收集整合，頻率信號經過信號整形電路 18和頻率計數電路19整理後輸送給51單片機，51單片機讀取發送過來的數據，計算出對 應D/A轉換數據下的頻率值，通過對多組頻率值的最大差值與設定值比對，得到待測音叉1 的頻率穩定性能。51單片機對以上兩種電氣性能分析，得出待測音叉1的穩定性，並將分析 結果呈現在顯示器4上，以便操作人員觀察。
【權利要求】
1. 一種音叉晶體穩定度分析儀，其特徵在於：包括待測音叉（1)、控制晶片（2)、鍵盤電 路（3)和顯示器（4)，所述鍵盤電路（3)與控制晶片（2)的輸入口連接，顯示器（4)與控制 晶片⑵的輸出口連接，所述控制晶片⑵的控制口連接有繼電器（5)，控制晶片⑵還與 漏電流檢測電路（6)和頻率穩定度分析電路（7)相連接，所述待測音叉（1)通過繼電器（5) 分別與漏電流檢測電路￠)、頻率穩定度分析電路（7)選擇連接。
2. 根據權利要求1所述的一種音叉晶體穩定度分析儀，其特徵在於：所述漏電流檢測 電路（6)包括電壓取樣電阻（8)、電壓跟隨電路（9)、電壓放大電路（10)和A/D轉換電路 (11)。
3. 根據權利要求1所述的一種音叉晶體穩定度分析儀，其特徵在於：所述頻率穩定度 分析電路（7)包括電壓放大電路（12)、D/A轉換電路（13)、小信號整流電路（14)、加法電 路（15)、同相比例運算放大電路（16)、自動增益同相比例運算放大電路（17)、信號整形電 路（18)和頻率計數電路（19)。
4. 根據權利要求1所述的一種音叉晶體穩定度分析儀，其特徵在於：所述控制晶片（2) 為51單片機。
【文檔編號】G01R31/00GK104215861SQ201410489433
【公開日】2014年12月17日 申請日期:2014年9月22日 優先權日:2014年9月22日
【發明者】葉熒福, 黃大勇, 葉保平, 李文雙 申請人:隨州潤晶電子科技有限公司