光學記錄介質、記錄/再現設備和記錄/再現方法
2023-05-14 12:57:21 3
專利名稱：光學記錄介質、記錄/再現設備和記錄/再現方法
技術領域：
本發明涉及一種用於缺陷管理的光學記錄介質、記錄/再現設備和記錄/ 再現方法。
背景技術：
盤缺陷管理是這樣一種處理，其通過將記錄在盤的用戶數據區中的缺陷， 即缺陷塊中的用戶數據寫入用戶數據區的新的部分來補償由缺陷塊引起的數 據損失。通常，使用線性替換方法或滑動替換方法來執行盤缺陷管理。在這 些方法中，用沒有缺陷的備用區來替換有缺陷的區。在滑動替換方法中，滑 過有缺陷的區，而使用下一個無缺陷的區。在線性替換方法中，用戶數據區 的出現缺陷的塊被稱為缺陷塊。用於替換缺陷塊的替換塊被記錄在盤的預定 部分中的備用區中。關於缺陷塊和替換塊的信息，即用於搜索缺陷塊和替換 塊的位置的信息被表示於缺陷列表中。
通常，當主機讀取記錄在盤上的數據時，主機確定數據的邏輯地址，並 命令硬碟驅動器讀取數據。然後，硬碟驅動器搜索與該邏輯地址對應的物理 地址，並讀取記錄在盤上的與該物理地址對應的位置中的數據。如果缺陷塊 出現在與該物理地址對應的數據中，則硬碟驅動器必須尋找替換缺陷塊的替 換塊。因此，缺陷列表包括缺陷列表條目，每一條目分別包含關於每一缺陷 塊的信息。即，為每一缺陷塊產生缺陷列表條目，因此需要用於缺陷列表的 相當大的i己錄空間。
發明公開 技術問題因此，需要對用於缺陷列表的空間進行有效管理。為此，需要對關於缺 陷塊，特別是用戶數據區的連續位置中出現的缺陷塊的信息進行有效管理。
-技術解決方案
本發明提供一種其上缺陷被管理的光碟、 一種有效地管理盤中用於管理 缺陷的缺陷列表所需的空間的缺陷管理設備和方法、以及存儲用於控制設備 執行所述缺陷管理方法的電腦程式的計算機可讀光碟。
有益效果
根據本發明，在缺陷管理被執行的光碟上，用於記錄缺陷管理的缺陷列 表的空間可被有效地管理，從而整個盤空間可被有效地管理。
圖1是根據本發明實施例的數據記錄/再現裝置的框圖。 圖2是根據本發明實施例的單記錄層盤的結構圖。 圖3是根據本發明實施例的雙記錄層盤的結構圖。
圖4是根據本發明實施例的SA/DL區的數據結構圖。 圖5是圖4中所示的DL射的詳細的數據構圖。 圖6是圖5中所示的DL條目射的詳細的數據結構圖。 圖7是示出根據本發明實施例的連續缺陷塊的參考圖。 圖8是示出根據本發明實施例的連續缺陷列表的參考圖。 圖9是示出圖6中所示的替換狀態信息和連續缺陷信息的示例的示圖。 圖IOA和圖IOB是示出根據本發明實施例的具有替換的連續缺陷塊和沒 有替換的連續缺陷塊的參考圖。
圖IIA是圖IOB中所示的DL弁k的^:據結構圖。
圖IIB是圖10B中所示的DL弁k的數據結構圖，該DL弁k還包括關於連 續缺陷列表條目的數量的信息。
圖IIC是圖10B中所示的DL弁k的數據結構圖，該DL弁k還包括關於具 有替換狀態信息"0"的連續缺陷列表條目的數量的信息以及關於具有替換狀 態信息"l'，的連續缺陷列表條目的數量的信息。
圖12是根據本發明實施例的用於其上缺陷區被管理的光碟的缺陷管理方法的流程圖。
最佳方式
根據本發明的一方面，其上缺陷被管理的光學記錄介質包括替換用戶數
據區中的缺陷塊的替換塊以及與缺陷有關的信息記錄在其中的SA/DL區。所 述與缺陷有關的信息包括連續缺陷列表條目，所述連續缺陷列表條目包括與 位於用戶數據區的連續位置中的缺陷有關的信息。
所述連續缺陷列表條目可包括開始條目，對應於與第一缺陷塊有關的 信息；和結束條目，對應於與最後缺陷塊有關的信息，其中，所述第一缺陷 塊和最後缺陷塊屬於用戶數據區的連續位置中的缺陷塊。
所述開始條目可包括與第 一缺陷塊有關的位置信息以及與替換第 一缺陷 塊的替換塊有關的位置信息。
所述結束條目可包括與最後缺陷塊有關的位置信息以及與替換最後缺陷 塊的替換塊有關的位置信息。
所述與缺陷有關的信息可包括與連續缺陷列表條目的數量有關的信息。
所述與缺陷有關的信息還可包括與缺陷列表條目的數量有關的信息。
可通過將連續缺陷列表條目的數量乘以因數2,並從缺陷列表條目的數 量中減去所得的乘積，來計算單個缺陷列表條目的數量。
所述與缺陷有關的信息可包括缺陷列表條目，所述缺陷列表條目包括與 缺陷塊有關的位置信息、與替換塊有關的位置信息、以及與缺陷有關的狀態 信息。
所述狀態信息可包括表示缺陷塊是否被替換的替換狀態信息以及表示 缺陷塊是否是連續缺陷塊的連續缺陷信息。
所述與缺陷有關的信息還可包括與具有表示缺陷塊被替換的替換狀態 信息的連續缺陷列表條目的數量有關的信息。
所述與缺陷有關的信息還可包括與具有表示缺陷塊沒有被替換的替換 狀態信息的連續缺陷列表條目的數量有關的信息。
根據本發明的另 一方面， 一種用於在光學記錄介質上記錄/再現數據的設
和控制單元，其中，所述控制單元為所述介質分配SA/DL區，替換用戶數據 區中的具有缺陷的缺陷塊的替換塊以及與缺陷有關的信息被記錄在所述SA/DL區中，並且所述控制單元控制寫/讀單元將所述與缺陷有關的信息記錄 在SA/DL區中，所述與缺陷有關的信息包括連續缺陷列表條目，所述連續缺 陷列表條目對應於與位於用戶數據區的連續位置中的缺陷有關的信息。
根據本發明的另 一方面， 一種在光學記錄介質上記錄/再現數據的方法包 括為介質分配SA/DL區，用於替換用戶數據區中的缺陷塊的替換塊以及與 對應於所述缺陷塊的缺陷有關的信息被記錄在所述SA/DL區中；將與缺陷有 關的信息記錄在SA/DL區中，所述與缺陷有關的信息包括連續缺陷列表條目， 所述連續缺陷列表條目對應於與位於用戶數據區的連續位置中的缺陷有關的 信息。
根據本發明的另一方面，提供一種存儲程序的計算機可讀光碟，所述程 序用於控制將數據記錄在其上缺陷被管理的光碟上/從該光碟再現數據的設 備執行缺陷管理方法，所述缺陷管理方法包括為介質分配SA/DL區，用於 替換用戶數據區中的具有缺陷的缺陷塊的替換塊以及與缺陷有關的信息被記 錄在所述SA/DL區中；將與缺陷有關的信息記錄在SA/DL區中，所述與缺 陷有關的信息包括連續缺陷列表條目，所述連續缺陷列表條目對應於與位於 用戶數據區的連續位置中的缺陷有關的信息。
具體實施例方式
現在，將對本發明實施例進行詳細描述，其示例示出於附圖中，在附圖 中，相同的標號始終表示相同的部件。下面，將參照附圖描述實施例以解釋 本發明。
圖1是根據本發明實施例的數據記錄/再現裝置的框圖。 參照圖1,該數據記錄/再現裝置包括寫/讀單元2和控制單元1 。 根據本發明，寫/讀單元2包括拾取器，並將數據記錄在其上缺陷被管理 的盤4上/從盤4讀取數據。控制單元1執行根據本發明的缺陷管理。在本發 明的實施例中，控制單元1使用寫後校驗方法，通過以預定的單位記錄數據 並對記錄的數據進行校驗來尋找有缺陷的數據。控制單元1通過以記錄操作 單位寫入用戶數據並對用戶數據進行校驗來檢查何處出現了缺陷數據。控制 單元1在檢查到缺陷數據之後，產生指示缺陷數據位於何處的缺陷信息，將 產生的信息作為臨時缺陷信息存儲在存儲器中，並在匯集了預定量的所述產 生的信息之後，將產生的信息記錄在盤上。在本發明的實施例中，作為由用戶的意圖確定的操作的記錄操作或者期 望的記錄操作等指的是包括加載盤、在盤上記錄數據、以及卸載盤的操作。 在所述記錄操作期間，寫後校驗操作至少被執行一次。然後，將通過使用寫 後校驗操作獲得的所述臨時缺陷信息臨時存儲在存儲器中。
當用戶為了卸載盤而按下彈出按鈕(未示出)時，控制單元l確定記錄 操作被終止，並讀取存儲在存儲器中的臨時缺陷信息，將該信息提供給寫/讀 單元2,使該信息被記錄在盤上。
控制單元1包括系統控制器10、主機I/F20、數位訊號處理器(DSP) 30、 RF AMP 40和伺服機構50。在記錄操作期間，主機I/F 20從主機3 (在 本實施例中，為計算機)接收預定的寫命令，並將該寫命令發送到系統控制 器10。系統控制器10在從主機I/F 20接收的寫命令下，控制DSP 30和伺服 機構50執行記錄操作。DSP 30將諸如奇偶校驗的附加數據添加到從主機I/F 20接收的將被記錄的數據以糾正數據差錯，並且DSP30執行ECC編碼，產 生作為糾錯塊的ECC塊，並以預定的方式對ECC塊進行調製。RF AMP 40 將從DSP 30輸出的數據改變為RF信號。寫/讀單元2將從RF AMP 40發送 來的RF信號記錄在盤4上。伺服機構50存儲從系統控制器10輸入的記錄 命令，並對寫/讀單元2的拾取器進行伺服控制。
系統控制器10包括缺陷管理單元11和存儲器單元12，以管理缺陷。根 據本發明，缺陷管理單元11讀取存儲在存儲器單元12中的臨時缺陷信息， 匯集所述臨時缺陷信息，然後產生缺陷列表。即，當缺陷管理單元ll在讀取 的缺陷信息中找到關於連續的缺陷塊的信息時，缺陷管理單元11產生連續缺 陷列表條目，所述連續缺陷列表條目包括開始條目，與關於所述連續缺陷 塊的第一缺陷塊的信息對應；和結束條目，與關於所述連續缺陷塊的最後缺 陷塊的信息對應。因此，即使連續出現例如8個缺陷塊，也僅產生2個條目， 而不是8個條目，這是因為不是為8個塊的每一個產生條目，而是為8個連 續缺陷塊的第一塊和最後塊產生條目。因此，存儲條目所需的空間可減小。 缺陷管理單元11還產生DL條目，所述DL條目包括連續缺陷信息，顯示 缺陷是連續缺陷還是單個缺陷；替換狀態信息，顯示是否存在替換塊。缺陷 管理單元11產生包括這樣的DL條目的DL。
為了再現數據，主機I/F 20從主機3接收讀命令。系統控制器10執行再 現所需的初始化。寫/讀單元2將雷射束投射到盤4上，並輸出通過接收從盤4反射的雷射束而獲得的光學信號。RF AMP 40將從寫/讀單元2輸出的光學 信號改變為RF信號，將從該RF信號獲得的調製的數據發送到DSP 30，並 將從該RF信號獲得的伺服控制信號發送到伺服機構50。 DSP 30對調製的數 據進行解調，並對解調的數據執行ECC糾錯。在接收到來自RF AMP 40的 伺服信號和來自系統控制器10的控制伺服所需的命令之後，伺服機構50對 拾取器進行伺服控制。主機I/F20將從DSP30接收的數據發送到主機3。為 了控制數據的再現，系統控制器10控制伺服機構50從數據被記錄的位置讀 取數據。根據本發明實施例的其上缺陷被管理的光碟的結構如下。記錄在根據本發明實施例的光碟上的盤管理信息(DMI)包括盤定義 結構(DDS)、記錄管理數據(RMD)和缺陷列表(DL)。 DMI記錄於其上 的盤管理區(DMA)包括臨時盤管理區(TDMA)，當盤被記錄時，TDMA 用於記錄臨時DMI;和最終的盤管理區(FDMA),用於記錄最終的DMI。用於記錄臨時DMI的TDMA包括DDS/RMD區，用於記錄DDS和 RMD;和DL區，用於i己錄DL。DDS包括關於SA/DL區的位置信息，在所述SA/DL區中記錄有替換 塊和DL，當記錄在數據區中的數據塊中出現缺陷時所述替換塊替換缺陷塊； 關於DDS/RMD區的位置信息；關於DL被記錄於何處的位置信息；可用於 替換SA/DL區中的數據或用於更新DL的位置信息； 一致性標記，用於檢查 盤是否在被使用時正常彈出；以及防寫信息，用於防止寫入。RMD是與管理盤上記錄的數據有關的信息，包括R區域條目，顯示順 序記錄模式下每一R區域的狀態；位圖，顯示為位值，所述位值表示對於隨 機記錄模式，與用戶區的每一記錄單位塊有關的數據是否被記錄。在單記錄層盤中，用於記錄DDS和RMD的DDS/RMD區被布置在導入 區或導出區中，而在雙記錄層盤中，DDS/RMD區^皮布置在導入區、中間區 或導出區中。在為了使用盤而對盤初始化時根據驅動器製造商或用戶的意圖， DDS/RMD區可被分配在數據區的一部分中以增加可能的更新的數量。當已不能在盤上記錄更多數據，或者用戶想要保持盤的當前狀態而不再 記錄另外的數據，僅將該盤用於再現時，執行封盤，並且最終的盤管理信息 被記錄在FDMA中。PCA區被布置用於測試，所述測試是指根據寫策略從各種記錄功率中檢測最佳記錄功率並檢測根據寫策略的變量。圖2是根據本發明實施例的單記錄層盤的結構圖。參照圖2，導出區向著盤的外周形成，導入區向著盤的中心形成，數據區形成在導出區和導入區之間。導入區包括PCA #0、 FDMA #1、 FDMA #2和DDS/RMD區柳。數據 區包括用戶區、SA/DL區#0和SA/DL區#1 。導出區包括PCA #1 、 FDMA #3、 FDMA弁4和DDS/RMD區#1。圖3是根據本發明實施例的雙記錄層盤的結構圖。參照圖3，導入區、數據區柳和中間區糾布置在一個記錄層L0中，而 中間區#1、數據區#1和導出區順次布置在另一記錄區Ll中。在層L0中，導入區包括PCA糾、FDMA弁2、DDS/RMD區柳和FDMA弁1。 數據區包括SA/DL區#0和用戶區#0。中間區#0包括FDMA#3、 DDS/RMD 區#2、 FDMA#4和PCA#1。另一方面，在層Ll中，中間區#1包括FDMA弁3、 DDS/RMD區#3、 FDMA糾和PCA #3。數據區#1包括SA/DL區#1和用戶 區#1。導出區包括PCA弁2、 FDMA#2、 DDS/RMD區#1和FDMA#1。如圖2和圖3中所示，當用戶區中出現缺陷時，替換缺陷塊的替換塊與 關於缺陷的信息一起被記錄在SA/DL區中。所述關於缺陷的信息包括關於缺 陷塊的位置信息、關於替換塊的位置信息以及關於連續缺陷的信息。圖4是根據本發明實施例的SA/DL區的數據結構圖。參照圖4， SA/DL區新包括DL #0、替換塊#1......替換塊弁k、 DL#1、替換塊弁k+l......DL #m。DL #0是包括關於缺陷的信息的缺陷列表，包括初始化信息。從替換塊#1至弁k的替換塊緊接著DL糾設置，這些替換塊替換從缺陷塊 #1至弁k的缺陷塊。DL #1是包括與從缺陷塊#1至弁k的缺陷塊有關的信息以 及與從替換塊#1至弁k的替換塊有關的信息的缺陷列表，DL#1緊接著替換塊 弁k被記錄。從替換塊弁k+l至弁m的替換塊緊接著DL #1設置，關於用戶區中 出現的缺陷，這些替換塊替換從缺格塊#1(+1至弁m的缺陷塊。以這樣的方式，才艮據本發明實施例的包括與缺陷有關的信息的缺陷列表 被記錄在SA/DL區中，替換缺陷塊的替換塊也位於該SA/DL區中。即，缺 陷列表和替換塊位於一個區中，而不是位於分開的區中。圖5是圖4中所示的DL射的詳細的數據結構圖。參照圖5， DL射200包括DL標識符210、 DL更新計數器220、 DL條 目數量230、 DL條目弁1 240、以及DL條目弁2 250。DL標識符210是指示缺陷列表的標識符。即，由於根據本發明本實施 例，缺陷列表和替換塊一同位於SA/DL區中，因此需要指示缺陷列表的標識付。DL更新計數器220是顯示缺陷列表的更新次數的值。DL條目數量230是缺陷列表中包括的條目的總數。DL條目弁1 240或DL條目#2 250是具有關於缺陷的信息的條目。圖6中 示出了這些DL條目中包括的內容的例子。圖6是圖5中所示的DL條目射的詳細的數據結構圖。參照圖6， DL條目弁i 300包括狀態信息310、缺陷塊位置信息320和 替換塊位置信息330。狀態信息310是關於由相應的DL條目表示的缺陷的狀態信息。缺陷塊 位置信息320表示與用戶區上記錄的缺陷塊有關的位置信息，例如缺陷塊的 扇區號。替換塊位置信息330表示與SA/DL區上記錄的替換塊有關的位置信 息，例如替換塊的物理扇區號。狀態信息310包括長度為1位的替換狀態信息311、長度為2位的連 續缺陷信息312。替換狀態信息311表示出現在用戶區中的缺陷塊是否被替換。即，該信 息表示是用戶區中的缺陷塊被替換並且替換塊存在於SA/DL區中，還是缺陷 塊沒有被替換並且替換塊不存在於SA/DL區中。連續缺陷信息312表示DL條目是否是表示連續缺陷塊的連續DL條目， 以及如果DL條目是連續DL條目，則該DL條目是連續DL條目的開始還是 連續DL條目的結束。以下，將參照圖7和圖8描述連續缺陷塊和連續缺陷列表條目。參照圖7,①至⑦指的是其中寫後校驗操作被執行的單位。記錄設備將 用戶數據記錄到區^:①上，然後返回區段①的最初部分，以檢查是數據被正 確地記錄還是出現缺陷。如果檢測到有缺陷的部分，則該部分被指定為缺陷 區。因此，作為缺陷區的缺陷#1被指定。記錄設備將缺陷#1中記錄的數據再 次記錄在SA/DL區中。缺陷#1中記錄的數據被再次記錄在其中的部分稱為替 換#1。然後，記錄設備將用戶數據記錄到區段②，然後返回區段②的最初部分，以檢查是數據被正確地記錄還是出現缺陷。如果檢測到有缺陷的部分，則該部分被指定為缺陷#2。以相同的方式，產生與缺陷#2對應的替換#2。在 區段③中，產生缺陷#3和替換#3。由於在區段④中沒有檢測到有缺陷的部分， 因此在該區段中不存在缺陷區。當在記錄並校驗到區段④之後預知記錄操作糾的終止時(當用戶按下彈 出按鈕或者該記錄操作中分配的用戶數據的記錄完成時)，記錄設備在SA/DL 區中記錄DL弁l,所述DL弁1包括與區段①至④中出現的缺陷弁1、 #2和#3有 關的信息。在記錄操作#1期間，記錄裝置將用戶數據記錄到區段⑤，然後返回區段 ⑤的最初部分，以檢查是數據被正確地記錄還是出現缺陷。如果檢測到有缺 陷的部分，則該部分^皮指定為缺陷區。以這樣的方式，由於作為缺陷區的缺 陷糾和缺陷#5已連續出現，因此連續塊被指定為缺陷塊。記錄裝置將缺陷弁4 和缺陷#5中記錄的數據再次記錄在SA/DL區中。然後，記錄設備將用戶數據 記錄到區段⑥，然後返回區段⑥的最初部分，以檢查是數據被正確地記錄還 是出現缺陷。如果作為缺陷區的缺陷#6和缺陷#7連續地出現，則連續塊被指 定為缺陷塊。記錄設備將缺陷#6和缺陷#7中記錄的數據再次記錄在SA/DL 區中。在區段⑦中，沒有檢測到有缺陷的部分，所以不存在缺陷區。當預知 記錄操作#1的終止時，記錄設備將DL#2記錄在SA/DL區中，DL#2包括關 於缺陷糾至#7的信息。用戶區的連續位置中出現的缺陷塊，如記錄操作#1中出現的缺陷是連續 缺陷塊。該連續缺陷塊的第一缺陷塊是缺陷#4,最後缺陷塊是缺陷#7。替換在用戶區的預定位置中連續出現的連續缺陷塊的替換塊被記錄在 SA/DL區的連續位置。如SA/DL區中所示，替換缺陷塊#4的替換塊糾被布 置。在下一位置，替換缺陷塊#5的替換塊#5被布置。在下一位置，替換缺陷 塊#6的替換塊#6被布置。然後，在下一位置，替換缺陷塊#7的替換塊#7被 布置。替換連續缺陷塊的替換塊中的第一替換塊是替換塊糾，替換這些連續 缺陷塊的最後替換塊是替換塊#7 。當在連續位置出現連續缺陷塊時，由於這樣的特性，即連續缺陷塊中包 括的缺陷塊位於連續位置，因此只要知道了連續缺陷塊的第一塊的位置和最 後塊的位置，就可從第一和最後塊的位置知道連續缺陷塊中包括的其餘塊的 位置。因此，通過僅包括關於缺陷的信息中的與連續缺陷塊的第一缺陷塊和最後缺陷塊有關的信息，可減小記錄關於缺陷的信息所需的空間。這也同樣 適用於替換連續缺陷塊的替換塊。因此，如圖8中所示，顯示與連續缺陷塊有關的信息的連續缺陷列表條 目可包括開始條目和結束條目。參照圖8，連續缺陷列表條目包括開始條目和結束條目。開始條目和結 束條目都具有與圖6中所示的DL條目相同的結構。開始條目包含與連續缺 陷中的第一缺陷有關的信息，結束條目包含與連續缺陷中的最後缺陷有關的信息。開始條目包括狀態信息；第一缺陷塊位置信息，表示連續缺陷塊中的 第一缺陷塊被記錄在用戶區中的位置；第一替換塊位置信息，表示替換第一 缺陷塊的第一替換塊被記錄在SA/DL區中的位置。結束條目包括狀態信息； 最後缺陷塊位置信息，表示連續缺陷塊中的最後缺陷塊被記錄在用戶區中的 位置；最後替換塊位置信息，表示替換最後缺陷塊的最後替換塊被記錄在 SA/DL區中的位置。圖9是圖6中所示的替換狀態信息和連續缺陷信息的示例。參照圖9,表示替換狀態信息的位是"0"和"1"。如果替換狀態信息311 是"l，，，則與缺陷塊位置信息320對應的缺陷塊沒有被替換，僅缺陷位置被示 出。如果替換狀態信息311是"0"，則與缺陷塊位置信息320對應的缺陷塊被 與替換塊位置信息330對應的替換塊替換。表示連續缺陷信息的位是"OO"、 "01"和"10"。如果連續缺陷信息312是 "00",則DL條目不是連續缺陷列表條目，而是單個缺陷列表條目。在這種 情況下，取決於作為替換狀態信息設置的值，DL條目可表示具有替換的缺陷 塊或者沒有替換的缺陷塊。在具有替換的缺陷塊的情況下，DL條目具有缺陷 塊位置信息和替換塊位置信息。在沒有替換的缺陷塊的情況下，DL條目僅具 有缺陷塊位置信息。如果連續缺陷信息312是"01",則DL條目表示連續缺陷列表條目的開 始條目。因此，如圖8中所示，該DL條目具有與連續缺陷塊有關的第一缺 陷塊位置信息以及與連續替換塊有關的第 一替換塊位置信息。如果連續缺陷信息312是"10"，則DL條目表示連續缺陷列表條目的結 束條目。因此，如圖8中所示，DL條目具有與連續缺陷塊有關的最後缺陷塊 位置信息以及與連續替換塊有關的最後替換塊位置信息。以下，將描述長度為1位的狀態信息311和長度為2位的連續缺陷信息 312的3位組合的賦值。如果所述3位組合為"000"，則DL條目表示關於單個缺陷塊的單個缺陷 列表條目以及該單個缺陷塊具有替換塊的狀態。因此，DL條目具有缺陷塊位 置信息和替換塊位置信息。如果所述3位組合為"100"，則DL條目表示關於單個缺陷塊的單個缺陷 列表條目以及該單個缺陷塊沒有替換塊的狀態。因此，DL條目具有缺陷塊位 置信息，但是沒有替換塊位置信息。如果所述3位組合為"001"，則DL條目表示連續缺陷塊的連續缺陷列表 條目的開始條目，並且與該開始條目對應的作為連續缺陷塊中的第一缺陷塊 的缺陷塊具有替換塊。因此，DL條目具有與連續缺陷塊中的第一缺陷塊有關 的位置信息以及與替換連續缺陷塊的連續替換塊中的第 一替換塊有關的位置 信息。如果所述3位組合為"010",則DL條目表示連續缺陷塊的連續缺陷列表 條目的結束條目，並且與該結束條目對應的作為連續缺陷塊中的最後缺陷塊 的缺陷塊具有替換塊。因此，DL條目具有與連續缺陷塊中的最後缺陷塊有關 的位置信息以及與替換連續缺陷塊的連續替換塊中的最後替換塊有關的位置 信息。如果所述3位組合為"110",則DL條目表示連續缺陷塊的連續缺陷列表 條目的結束條目，並且與該結束條目對應的作為連續缺陷塊中的最後缺陷塊 的缺陷塊沒有替換塊。因此，DL條目具有與連續缺陷塊中的最後缺陷塊有關 的位置信息，但是沒有與替換連續缺陷塊的連續替換塊中的最後替換塊有關 的位置信息。圖IOA和圖IOB是示出根據本發明實施例的連續缺陷信息的參考圖。圖IOA表示用戶數據被記錄在其中的用戶區，圖IOB表示替換塊和缺陷 列表被記錄在其中的SA/DL區。參照圖10A,作為第一缺陷的單個缺陷塊a出現在用戶區位置"5"。作為 第二缺陷塊的連續缺陷塊b、 c、 d和e出現在連續位置"9"至"12"。作為第三 缺陷塊的連續缺陷塊f、 g、 h和i出現在連續位置"17"至"20"。參照圖10B, SA/DL區中示出了作為替換用戶區中出現的缺陷塊的替換 塊以及缺陷列表。替換單個缺陷塊a的單個替換塊a，布置在SA/DL區的位置"55"。連續地 替換連續缺陷塊b、 c、 d和e的連續替換塊b，、 c，、 d，和e，布置在SA/DL區 的位置"56"至"59"。在第四個連續缺陷之後被更新的缺陷列表DL弁k被記錄 在位置"60"。連續缺陷塊f、 g、 h和i沒有替換塊。圖IIA中示出缺陷列表 DL#k中包括的信息。圖IIA是圖IOB中示出的DL弁k的數據結構圖。參照圖IIA， DL弁k400包括DL標識符410、 DL更新計數器420、 DL 條目數量430、以及5個DL條目，即DL條目弁1 440、 DL條目弁2 450、 DL 條目#3 460、 DL條目#4 470和DL條目#5 480。DL標識符410是指示DL的標識符。在DL更新計數器420中，"K"被 記錄為DL更新的次數。在DL條目數量430中，"5"被記錄為DL #K中包括 的條目的總數。DL條目弁1 440是與圖10A中所示的單個缺陷塊a有關的條目。在DL 條目#1 440中，"O"被記錄為替換狀態信息,"OO"作為連續缺陷信息，"5，，作為 缺陷塊位置信息，"55"作為替換塊位置信息。DL條目弁2 450和DL條目弁3 460包括連續缺陷列表條目。DL條目弁2 450是連續缺陷列表條目的開始條目，DL條目#3 460是連 續缺陷列表條目的結束條目。即，DL條目弁2 450是與圖10A中所示的連續 缺陷塊中的第一缺陷塊b有關的條目。在DL條目弁2 450中，因為缺陷塊b 被替換，所以"O"被記錄為替換狀態信息。因為DL條目弁2450是連續缺陷列 表條目的開始條目，所以"01"被記錄為連續缺陷信息。"9"被記錄為缺陷塊b 的位置信息，"56"被記錄為替換塊b，的位置信息。DL條目弁3 460是與圖8中所示的連續缺陷塊中的最後缺陷塊e有關的條 目。在DL條目#3 460中，因為缺陷塊e被替換，所以"O"被記錄為替換狀態 信息。DL條目弁3 460是連續缺陷列表條目的結束條目，所以"10"被記錄為連 續缺陷信息。"12"被記錄為缺陷塊e的位置信息，"59"被記錄為替換塊e，的 位置信息。DL條目#4 470和DL條目#5 480包括連續缺陷列表條目。 DL條目弁4 470是連續缺陷列表條目的開始條目，DL條目#5 480是連 續缺陷列表條目的結束條目。即，DL條目弁4 470是與圖10A中所示的連續 缺陷塊中的第一缺陷塊f有關的條目。在DL條目弁4470中，因為缺陷塊f沒有被替換，所以"l"被記錄為替換狀態信息。因為DL條目糾470是連續缺陷 列表條目的開始條目，所以"01"被記錄為連續缺陷信息。"17"被記錄為缺陷 塊f的位置信息。因為替換缺陷塊f的替換塊不存在，所以"OO"被記錄為替換位置信息。DL條目弁5 480是與圖10A中所示的連續缺陷塊中的最後缺陷塊i有關 的條目。在DL條目弁5 480中，因為缺陷塊i沒有被替換，所以"l"被記錄為 替換狀態信息。因為DL條目弁5 480是連續缺陷列表條目的結束條目，所以 "10"被記錄為連續缺陷信息。"20"被記錄為缺陷塊i的位置信息。因為替換缺 陷塊i的替換塊不存在，所以"OO，，被記錄為替換塊位置信息。圖IIB是圖10B中所示的DL弁k的結構圖，該DL弁k還包括關於連續缺 陷列表條目數量的信息。圖11B中所示的、DL弁k與圖IIA中所示的DL弁k相似，不同之處在於圖 11B中所示的DL弁k還包括連續缺陷列表條目數量490。參照圖10,因為有 兩個連續缺陷列表條目，所以"2"被記錄為連續缺陷列表條目數量490。通過包括用於連續缺陷列表條目的數量的欄位，不需搜索所有的DL條 目，就可知道缺陷列表中連續缺陷列表條目的數量和單個缺陷列表條目的數 量。如下面所示，可從DL條目的數量和連續缺陷列表條目的數量計算單個 缺陷列表條目的數量。單個缺陷列表條目數量=DL條目數量_ 2x連續缺陷列表條目數量。因為連續缺陷列表條目包括開始條目和結束條目，所以可形成上面的表達式。例如，在圖11B中所示的DL#k中，單個缺陷列表條目的數量可被計算 為"單個缺陷列表條目數量=5 - 2x2 = 1"。圖IIC是圖11B中所示的DL弁k的數據結構圖，該DL弁k還包括與具 有替換狀態信息"O"的連續缺陷列表條目的數量有關的信息；以及與具有替換 狀態信息'T，的連續缺陷列表條目的數量有關的信息。圖11C中所示的DL弁k與圖11B中所示的DL妝相似，不同之處在於圖 11C中所示的DL弁k還包括與具有替換狀態信息"O"的連續缺陷列表條目的 數量有關的信息500;以及與具有替換狀態信息"l"的連續缺陷列表條目的數 量有關的信息510。參照圖11A,具有替換狀態信息"O"的連續缺陷列表條目 是包括DL條目#2 450和DL條目#3 460的連續缺陷列表條目。因為具有替換狀態信息"O，，的連續缺陷列表條目的數量為1,所以"l"被記錄為具有替換狀態
信息"0"的連續缺陷列表條目的數量500。具有替換狀態信息'T，的連續缺陷列 表條目是包括DL條目弁4 470和DL條目弁5 480的連續缺陷列表條目。因為具 有替換狀態信息"l，，的連續缺陷列表條目的數量為1，所以'T'被記錄為具有替 換狀態信息'T，的連續缺陷列表條目的數量510。
圖12是示出根據本發明實施例的缺陷管理方法的流程圖。
參照圖12，在操作1201，記錄設備以其中執行寫後校驗操作的單位在數 據區中記錄用戶數據。接下來，在操作1202,操作1201中記錄的數據被校 驗以尋找出現缺陷的部分。在操作1203,控制單元1將出現缺陷的部分指定 為缺陷區，將記錄在缺陷區中的數據再次記錄在SA/DL區中以產生替換區， 產生與缺陷塊和替換塊有關的信息，並將該信息記錄在存儲器中。操作1201 至1203被重複，直到預知到記錄操作的終止。
當根據用戶輸入記錄了用戶數據，或者完成了記錄操作並且在操作1204 中預知到該記錄^t喿作的終止時，在操作1205,記錄裝置的控制單元1讀取存 儲在存儲器中的關於缺陷的信息。
如果在讀取的關於缺陷的信息中存在關於連續缺陷的信息，則產生包括 開始條目和結束條目的連續缺陷列表條目，所述開始條目與關於連續缺陷的 第一缺陷的信息對應，所述結束條目與關於最後缺陷的信息對應，並且在操 作1206中，還通過包括連續缺陷信息和替換狀態信息來產生DL，所述連續 缺陷信息顯示缺陷是連續缺陷還是單個缺陷，所述替換狀態信息顯示在每一 DL條目中是否存在替換塊。
在操作1207中，產生的DL被記錄在SA/DL區中。
上面所描述的盤缺陷管理方法還可被實現為存儲在計算機可讀記錄介質 上的計算機可讀代碼。所述計算機可讀記錄介質包括存儲有計算機可讀數據 的所有種類的記錄介質。所述計算機可讀記錄介質的例子包括ROM、 RAM、 CD-ROM、立體聲》茲帶、軟盤和光學數據記錄裝置。計算機可讀記錄介質還 可以是載波(例如，經網際網路傳輸)。在分布到通過網絡連接的計算機系統的 計算機可讀記錄介質中，可存儲並執行可由計算機通過分布式方法讀取的代 碼。可由本發明所屬技術領域的程式設計師容易地推出用於實現盤缺陷管理方法 的功能程序、代碼、代碼段。
儘管已顯示並描述了本發明的幾個實施例，但是本領域的技術人員應該理解，在不脫離權利要求及其等同物中限定其範圍的本發明的原則和精神的 情況下，可對這些實施例進行改變。
產業上的可利用性 本發明適用於用於缺陷管理的光學記錄介質、記錄/再現設備和記錄/再現 方法。
權利要求
1 、 一種在光學記錄介質上記錄數據和/或從光學記錄介質再現數據的設備，所述設備包括寫/讀單元，將數據寫到光學記錄介質上和/或從光學記錄介質讀取數據；控制單元，從光學記錄介質檢測連續缺陷塊，並產生連續缺陷列表條目， 所述連續缺陷列表條目包括分別與連續缺陷塊中的第一缺陷塊和最後缺陷塊 相應的開始條目和結束條目。
2、 一種在光學記錄介質上記錄數據和/或從光學記錄介質再現數據的設 備，所述設備包括寫/讀單元，將數據寫到光學記錄介質上和/或從光學記錄介質讀取數據；控制單元，控制寫/讀單元從光學記錄介質讀取連續缺陷列表條目，所述 連續缺陷列表條目包括分別與連續缺陷塊中的第 一缺陷塊和最後缺陷塊相應 的開始條目和結束條目。
全文摘要
提供了一種光學記錄介質、記錄/再現設備和記錄/再現方法。所述光學記錄介質，包括用戶數據區和SA/DL區，其中，用於替換用戶數據區中的缺陷塊的替換塊以及與對應於所述缺陷塊的缺陷有關的信息被記錄在所述SA/DL區中，其中，所述與缺陷有關的信息包括連續缺陷列表條目，所述連續缺陷列表條目包括與位於用戶數據區的連續位置中的缺陷有關的信息。
文檔編號G11B7/007GK101312063SQ20081010979
公開日2008年11月26日 申請日期2004年12月27日 優先權日2004年1月5日
發明者高禎完, 黃盛熙 申請人:三星電子株式會社