核磁共振分析儀的製作方法

2023-05-04 12:35:26 1

核磁共振分析儀的製作方法
【專利摘要】本發明公開了一種核磁共振分析儀，包括滑臺、滑動設置於所述滑臺上的分析儀主體，所述滑臺包括位於左右兩側的側支架、連接於兩側所述側支架之間導向軸以及滑軌，所述導向軸位於所述滑軌上方，所述分析儀主體上開設有導向穿孔，所述導向穿孔與所述導向軸相配合，所述分析儀主體的底部設置有導向部，所述導向部與所述滑軌相配合，所述分析儀主體外部設置有電磁屏蔽罩，所述電磁屏蔽罩與所述分析儀主體相固定連接，通過設置電磁屏蔽罩能夠有效屏蔽外界的電磁幹擾，提高分析儀的分析精度。
【專利說明】核磁共振分析儀

【技術領域】
[0001]本發明涉及一種核磁共振分析儀。

【背景技術】
[0002]核磁共振分析儀是利用核磁共振原理對被測樣品進行核磁共振實驗的一種儀器，通過對實驗數據的解析實現對樣品內部結構和宏觀性質的探測，在對被測樣品進行核磁共振測量時，需將被測樣品放置於磁體產生的靜磁場中，現有的核磁共振分析儀中，磁體產生的靜磁場在一定空間範圍內，而被測樣品的尺寸不能超過磁體產生靜磁場的空間範圍，因而，被測樣品的尺寸特別是長度，受到很大限制。目前雖有移動式分析儀，但在移動過程中外界電磁極容易對分析造成影響。


【發明內容】

[0003]本發明的目的在於克服現有技術中存在的缺陷，提供一種核磁共振分析儀，分析精度高。
[0004]為實現上述目的，本發明的技術方案是提供了一種核磁共振分析儀，包括滑臺、滑動設置於所述滑臺上的分析儀主體，所述滑臺包括位於左右兩側的側支架、連接於兩側所述側支架之間導向軸以及滑軌，所述導向軸位於所述滑軌上方，所述分析儀主體上開設有導向穿孔，所述導向穿孔與所述導向軸相配合，所述分析儀主體的底部設置有導向部，所述導向部與所述滑軌相配合，所述分析儀主體外部設置有電磁屏蔽罩，所述電磁屏蔽罩與所述分析儀主體相固定連接。
[0005]進一步改進的是:所述分析儀主體由驅動機構驅動滑動，所述驅動機構包括轉動設置於所述導向部上的驅動滾輪，所述驅動滾輪由驅動電機驅動轉動。
[0006]本發明的優點和有益效果在於:通過設置電磁屏蔽罩能夠有效屏蔽外界的電磁幹擾，提高分析儀的分析精度。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]圖1為本發明的示意圖。
[0008]其中:1、分析儀主體；2、側支架；3、導向軸；4、滑軌；5、電磁屏蔽罩。

【具體實施方式】
[0009]下面結合附圖和實施例，對本發明的【具體實施方式】作進一步描述。以下實施例僅用於更加清楚地說明本發明的技術方案，而不能以此來限制本發明的保護範圍。
[0010]如圖1所示，一種核磁共振分析儀，包括滑臺、滑動設置於所述滑臺上的分析儀主體1，所述滑臺包括位於左右兩側的側支架2、連接於兩側所述側支架2之間導向軸3以及滑軌4，所述導向軸3位於所述滑軌4上方，所述分析儀主體I上開設有導向穿孔，所述導向穿孔與所述導向軸3相配合，所述分析儀主體I的底部設置有導向部，所述導向部與所述滑軌4相配合，所述分析儀主體I外部設置有電磁屏蔽罩5，所述電磁屏蔽罩5與所述分析儀主體I相固定連接。
[0011]本實施例中，所述分析儀主體I由驅動機構驅動滑動，所述驅動機構包括轉動設置於所述導向部上的驅動滾輪，所述驅動滾輪由驅動電機驅動轉動。
[0012]以上所述僅是本發明的優選實施方式，應當指出，對於本【技術領域】的普通技術人員來說，在不脫離本發明技術原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本發明的保護範圍。
【權利要求】
1.一種核磁共振分析儀，其特徵在於:包括滑臺、滑動設置於所述滑臺上的分析儀主體，所述滑臺包括位於左右兩側的側支架、連接於兩側所述側支架之間導向軸以及滑軌，所述導向軸位於所述滑軌上方，所述分析儀主體上開設有導向穿孔，所述導向穿孔與所述導向軸相配合，所述分析儀主體的底部設置有導向部，所述導向部與所述滑軌相配合，所述分析儀主體外部設置有電磁屏蔽罩，所述電磁屏蔽罩與所述分析儀主體相固定連接。
2.如權利要求1所述的核磁共振分析儀，其特徵在於:所述分析儀主體由驅動機構驅動滑動，所述驅動機構包括轉動設置於所述導向部上的驅動滾輪，所述驅動滾輪由驅動電機驅動轉動。
【文檔編號】G01N24/08GK104407002SQ201410828495
【公開日】2015年3月11日 申請日期:2014年12月26日 優先權日:2014年12月26日
【發明者】李曉南, 陳國華, 陸海浪 申請人:蘇州露宇電子科技有限公司