選擇性地使用或繞過遠程管腳電子設備塊來測試至少一個待測設備的方法和裝置的製作方法
2023-04-29 19:19:16
專利名稱：選擇性地使用或繞過遠程管腳電子設備塊來測試至少一個待測設備的方法和裝置的製作方法
選擇性地使用或繞過遠程管腳電子設備塊來測試至少一個 待測設備的方法和裝置相關申請的交叉引用本申請是De La Puente 等人的題為 「Parallel Test Circuit with ActiveDevices」 (申
請號為12/035,378，於2008年2月21日遞交)的美國專利申請的部分繼續，該美國專利 申請所公開的全部內容通過引用被結合於此。申請12/035,378在此被稱作』 378申請。
背景技術：
當對設備進行測試時，尤其是對電氣設備進行測試時，希望將接收、驅動、生 成、處理或評估測試信號的(即，提供測試功能的)管腳電子設備(pin electronics)放置 得儘可能接近待測設備(DUT)。這是因為儘管存在用於減輕信號在信號傳輸路徑上的 劣化的多種技術，但是減輕信號在較簡訊號路徑上而非較長信號路徑上的劣化通常是更 容易的。理想地，所有需要與DUT I/O相接口的管腳電子設備將被放置得十分接近於 DUT I/O。然而，許多DUT具有小的形狀因數或者高的輸入/輸出(I/O)密度，從而使 得這樣做較為困難(或者不可能)。結果，測試系統的設計者通常需要在如下各項之間進 行選擇1)在距DUT I/O較遠的位置處實現全部的所希望測試功能，或者2)在距DUT I/O較近的位置處實現部分的測試功能。
在附圖中圖示出本發明的說明性實施例，其中圖1圖示出用於測試至少一個DUT的第一示例性裝置；圖2圖示出圖1所示的遠程管腳電子設備塊的第一示例性實現方式，以及遠程管 腳電子設備塊和旁路電路之間的示例性協作；圖3圖示出圖1所示的遠程管腳電子設備塊的第二示例性實現方式，以及遠程管 腳電子設備塊和旁路電路之間的示例性協作；圖4圖示出其中圖1的裝置的遠程管腳電子設備塊和旁路電路可在測試器I/O節 點和DUT I/O節點之間提供雙向信號路徑的示例性方式；圖5圖示出圖1所示的裝置與測試系統的示例性耦合；圖6圖示出用於例如利用圖5中示出的裝置和測試系統來測試至少一個DUT的 示例性方法；並且圖7圖示出在測試信號在單個測試器I/O節點和多個DUT I/O節點之間被扇入 (fan-in)/扇出(fan-out)的環境中可以如何擴展圖1所示的裝置。
具體實施例方式圖1圖示出用於測試至少一個待測設備(DUT) 102的第一示例性裝置100。裝置 100包括測試器I/O節點104、DUT I/O節點106、遠程管腳電子設備塊108、旁路電路110和控制系統112。遠程管腳電子設備塊108提供測試功能114並且耦合在測試器I/O 節點104和DUT I/O節點106之間。作為示例，測試功能114可以是信號接收、信號驅 動、信號生成、信號處理或信號評估功能。測試功能114也可以是子功能的集合，比如 接收、評估和驅動功能的集合。旁路電路110耦合在測試器I/O節點104和DUT I/O節點106之間並且提供測 試器I/O節點104和DUT I/O節點106之間的信號旁路路徑116。信號旁路路徑116提 供繞過由遠程管腳電子設備塊108提供的測試功能114的路線。控制系統112被配置來 使能和禁用旁路電路110，從而使能和禁用信號旁路路徑116。在圖1所示裝置100的一些實施例中，測試信號(例如，DUT響應信號)可經 由DUT I/O節點106從DUT 102接收。當旁路電路110被禁用時，測試信號被遠程管腳 電子設備塊108的測試功能114接收、處理或評估。測試電路114的輸出然後可被提供 給測試器I/O節點104。當旁路電路110被使能時，測試功能114被繞過，並且測試信 號經由信號旁路路徑116向測試器I/O節點104傳播。在圖1所示裝置100的其他實施例中，測試信號可以經由測試器I/O節點104從 測試系統接收。當旁路電路110被禁用時，測試信號被遠程管腳電子設備塊108的測試 功能114接收或處理，並且測試功能114的輸出可被提供(驅動)到DUT I/O節點106。 當旁路電路110被使能時，測試功能114被繞過，並且測試信號經由信號旁路路徑116向 DUT I/O節點106傳播。在圖1所示裝置的另一些實施例中，遠程管腳電子設備塊108和旁路電路110可 以在測試器I/O節點104和DUT I/O節點106之間提供雙向信號路徑。在一些情況下， 控制系統112可以提供確定或使能通過遠程管腳電子設備塊108或旁路電路110的特定方 向的信號流的一個或多個信號。圖2圖示出遠程管腳電子設備塊108 (該塊被更一般地示出在圖1中)的第一示 例性實現方式。在圖2中，遠程管腳電子設備塊108被配置為經由DUT I/O節點106從 DUT 102接收測試信號。更具體地，圖2所示遠程管腳電子設備塊108的實施例包括比 較器200。比較器200具有接收來自DUT I/O節點106的信號的第一輸入端202和接收 基線信號(baselinesignal)的第二輸入端204。比較器200的輸出端206耦合到測試器I/ O節點104。圖2還圖示出遠程管腳電子設備塊108和旁路電路110之間的示例性協作。具體 地，旁路電路Iio被示出為包括復用器208，該復用器208具有接收遠程管腳電子設備塊 108的輸出的第一輸入端210和耦合到信號旁路路徑116的第二輸入端212。復用器208 的輸出端214耦合到測試器I/O節點104。復用器208的選擇輸入端(SEL)耦合到控制 系統112。以這種方式，通過將信號旁路路徑116耦合到測試器I/O節點104，旁路電路 110被使能，並且通過將遠程管腳電子設備塊108耦合到測試器I/O節點104，旁路電路 110被禁用。圖3圖示出遠程管腳電子設備塊108 (該塊被更一般地示出在圖1中)的第二示 例性實現方式。在圖3中，遠程管腳電子設備塊108被配置為經由測試器I/O節點104 從測試系統接收測試信號。更具體地，圖3所示遠程管腳電子設備塊108的實施例包括 驅動器300。驅動器300具有接收來自測試器I/O節點104的信號的輸入端302和耦合到處理塊306的輸出端304。處理塊306的輸出端308耦合到DUT I/O節點106。作為 示例，處理塊306可以放大測試信號，響應於測試信號來生成測試式樣(pattern)，或者操 縱測試信號的定時。圖3還圖示出遠程管腳電子設備塊108和旁路電路110之間的示例性協作。具 體地，旁路電路Iio被示出為包括切換元件310，該切換元件310具有耦合到測試器I/O 節點104的輸入端312、耦合到驅動器輸入端302的第一輸出端314和耦合到信號旁路路 徑116的第二輸出端316。切換元件310的控制輸入端318耦合到控制系統112。以這 種方式，通過將信號旁路路徑116耦合到測試器I/O節點104，旁路電路110被使能，並 且通過將驅動器300耦合到測試器I/O節點104，旁路電路110被禁用。在一些實施例 中，可使用第二切換元件來將遠程管腳電子設備塊108或旁路電路110中的一個或另一個 耦合到DUT I/O節點106。圖4圖示出遠程管腳電子設備塊108(該塊被更一般地示出在圖1中)的第三示例 性實現方式。在圖4中，遠程管腳電子設備塊108和旁路電路110在測試器I/O節點104 和DUT I/O節點106之間提供雙向信號路徑。作為示例，遠程管腳電子設備塊108被示 出為包括扇出功能，其中在測試器I/O節點104處接收到的測試信號被驅動器300緩衝並 且被多個額外的驅動器400、402、404、406扇出到多個DUT I/O節點106、408、410、 412。可通過使用控制系統112禁用除一個扇出驅動器之外的其他扇出驅動器(例如，禁 用除了經由端接電阻器Rtemrf耦合到DUT I/O節點106的驅動器406之外的其他扇出驅動 器)而繞過扇出功能。圖4所示遠程管腳電子設備塊108還包括比較功能。比較功能經 由DUT I/O節點106和接收器414接收測試信號，並且利用比較器200來將所接收的測 試信號與基線信號進行比較，如在前關於圖2所討論的。可通過使用控制系統112選擇 復用器208的第二輸入端212而繞過比較功能。復用器208經由接收器416和端接電阻 器(Rtemri)耦合到測試器I/O節點104。圖5圖示出圖1所示的裝置100與測試系統500的示例性耦合。如所示出的， 測試系統500包括提供測試功能504的測試器管腳電子設備塊502。信號路徑506將測試 器I/O節點104耦合到測試器管腳電子設備塊502和測試功能504。在一些實施例中， 遠程管腳電子設備塊108和旁路電路110可被集成在集成電路508中。通常而非必定地，將遠程管腳電子設備塊108耦合到DUT I/O節點106的信號 路徑短於將測試器管腳電子設備塊502耦合到DUT I/O節點106的信號路徑506、116。由遠程管腳電子設備塊108和測試器管腳電子設備塊502提供的測試功能114、 504可以是相同的或不同的。通常，測試功能114將是用戶希望更快速、更頻繁或者更準 確地執行的測試功能(例如，需要在DUT響應信號經歷很多劣化(如果存在)之前被執 行的信號比較)。測試功能504例如可以是需要更多開銷或者較不頻繁地實現的測試功 能。為了確保由測試系統500並且向測試系統500提供最高質量的信號，信號路徑506 可被構造為傳輸線。圖6圖示出用於例如利用圖5中示出的裝置100和測試系統500來測試至少一個 DUT的示例性方法600。方法600包括將裝置100 (例如，測試電路)配置在第一模式中 的步驟(在塊602處)。當裝置100被配置在第一模式中時，遠程管腳電子設備塊108被 用來為DUT I/O節點106提供第一測試功能114(在塊604處)，並且第一測試功能的結果被經由信號路徑506發送到測試系統500 (在塊606處)。在裝置100被配置在第一模式中之前或之後，方法600可將裝置100配置在第二 模式中(在塊608處)。在第二模式中，遠程管腳電子設備108被繞過。當裝置100被配 置在第二模式中時，測試功能504所需的數據被經由信號路徑506發送(在塊610處)， 並且測試器管腳電子設備塊502被用來為DUT I/O節點104提供測試功能504(在塊612 處)。當設計或執行利用方法600的測試程序時，可以設計或執行測試程序以使得第 一多個測試在裝置100被配置在第一模式中時執行，並且然後第二多個測試在裝置100被 配置在第二模式中時執行。或者，測試程序可以被設計為使得第二多個測試在第一多個 測試之前執行。圖7圖示出在測試信號在單個測試器I/O節點702和多個DUT I/O節點704、 706、708、710之間被扇入/扇出的環境中可以如何擴展裝置100(圖1)。作為示例，裝 置700提供1 4的扇出。然而，裝置700所採用的原理可被用來構造具有1 2或更 大的扇出的任何電路。裝置700包括針對DUT I/O節點704、706、708、710的遠程管腳電子設備塊 712、714、716、718，這些遠程管腳電子設備塊的每個被耦合在DUT I/O節點704、 706、708、710中的相應一個與測試器I/O節點702之間，並且它們每個為各自的DUT I/ O節點704、706、708、710提供第一測試功能。旁路電路720被耦合在測試器I/O節點 702和多個DUT I/O節點704、706、708、710的每個之間。旁路電路720提供測試器I/ O節點702和多個DUT I/O節點704、706、708、710的每個之間的信號旁路路徑722、 724、726、728。控制系統730被配置為每次使能信號旁路路徑722、724、726、728中 的一個。以這種方式，並且在旁路模式中，每次DUT I/O節點704、706、708、710中 的一個可被耦合到旁路電路720。在一些實施例中，裝置700的測試器I/O節點702可被耦合到如圖5所示的測試 系統。『378申請公開了用於實現遠程管腳電子設備塊712、714、716、718和旁路電 路720的其他方式。在這裡所公開的裝置100、裝置700中的任一個中，旁路電路110或720優選地 位於它所繞過的遠程管腳電子設備塊108、712、714、716、718的近旁，從而使替換路
徑間的信號失真最小化。通過旁路電路110或720的DC衰減或增益優選地隨溫度變化保持恆定，以使得 它能夠跨所有溫度而被測量並且被校準或者被調節。
權利要求
1.一種用於測試至少一個待測設備(DUT)的裝置，該裝置包括測試器輸入/輸出(I/O)節點；DUT I/O 節點；提供第一測試功能的遠程管腳電子設備塊，該遠程管腳電子設備塊被耦合在所述測 試器I/O節點和所述DUT I/O節點之間；被耦合在所述測試器I/O節點和所述DUT I/O節點之間的旁路電路，該旁路電路提 供所述測試器I/O節點和所述DUT I/O節點之間的信號旁路路徑，並且該信號旁路路徑 繞過由所述遠程管腳電子設備塊提供的第一測試功能；以及控制系統，被配置為使能和禁用所述旁路電路。
2.根據權利要求1所述的裝置，還包括提供第二測試功能的測試器管腳電子設備塊；以及將所述DUT I/O節點耦合到所述測試器管腳電子設備塊的信號路徑。
3.根據權利要求2所述的裝置，還包括其中集成了所述遠程管腳電子設備塊和所 述旁路電路但不集成所述測試器管腳電子設備塊的集成電路。
4.根據權利要求2所述的裝置，其中，所述信號路徑包括傳輸線。
5.根據權利要求2所述的裝置，其中，將所述遠程管腳電子設備塊耦合到所述DUT I/O節點的信號路徑短於將所述測試器管腳電子設備塊耦合到所述DUT I/O節點的信號路 徑，其中將所述測試器管腳電子設備塊耦合到所述DUT I/O節點的所述信號路徑經過所 述旁路電路。
6.根據權利要求2所述的裝置，其中，所述第一測試功能和所述第二測試功能是相同 的測試功能。
7.根據權利要求2所述的裝置，其中，所述第一測試功能與所述第二測試功能不同。
8.根據權利要求1所述的裝置，其中所述遠程管腳電子設備塊包括比較器，該比較器 具有接收來自所述DUT I/O節點的信號的第一輸入端、接收基線信號的第二輸入端和耦 合到所述測試器I/O節點的輸出端。
9.根據權利要求1所述的裝置，其中所述DUT I/O節點是多個DUT I/O節點之一；所述旁路電路被進一步耦合在所述測試器I/O節點和所述多個DUTI/0節點中的每個 DUT I/O節點之間；所述旁路電路提供所述測試器I/O節點和所述多個DUT I/O節點中的每個DUT I/O 節點之間的信號旁路路徑；並且所述控制系統被進一步配置為每次使能所述信號旁路路徑中的一個信號旁路路徑。
10.根據權利要求1所述的裝置，還包括其中集成了所述遠程管腳電子設備塊和所 述旁路電路的集成電路。
11.根據權利要求1所述的裝置，其中，所述旁路電路在所述測試器I/O節點和所述 DUT I/O節點之間提供雙向信號路徑。
12.根據權利要求1所述的裝置，其中，所述旁路電路包括復用器，該復用器具有接 收來自所述遠程管腳電子設備塊的信號的第一輸入端、接收來自所述信號旁路路徑的信 號的第二輸入端和耦合到所述測試器I/O節點的輸出端。
13.—種用於測試至少一個待測設備(DUT)的方法，該方法包括 將測試電路配置在第一模式中；當所述測試電路被配置在第一模式中時，使用遠程管腳電子設備塊來為DUT I/O節點提供第一測試功能；並且經由信號路徑發送所述第一測試功能的輸出；將所述測試電路配置在第二模式中，所述第二模式繞過所述遠程管腳電子設備塊；當所述測試電路被配置在第二模式中時，經由所述信號路徑發送第二測試功能所需的數據；並且使用測試器管腳電子設備塊來為所述DUT I/O節點提供第二測試功能。
14.根據權利要求13所述的方法，還包括當所述測試電路被配置在所述第一模式中時，執行第一多個測試；並且然後 將所述測試電路配置在所述第二模式中並且執行第二多個測試。
15.根據權利要求13所述的方法，還包括當所述測試電路被配置在所述第二模式中時，執行第一多個測試；並且然後 將所述測試電路配置在所述第一模式中並且執行第二多個測試。
16.根據權利要求13所述的方法，其中，所述第一測試功能和所述第二測試功能是相 同的測試功能。
17.根據權利要求13所述的方法，其中，所述第一測試功能與所述第二測試功能不同。
18.根據權利要求13所述的方法，其中，所述第一測試功能將從所述DUTI/O節點 接收到的信號與基線信號進行比較。
19.根據權利要求13所述的方法，其中，所述DUTI/O節點是多個DUT I/O節點之 一，並且其中，所述遠程管腳電子設備塊是多個遠程管腳電子設備塊之一，該方法還包 括當所述測試電路被配置在所述第一模式中時，使用所述多個遠程管腳電子設備塊來為所述多個DUT I/O節點提供第一測試功能；並且經由信號路徑串行地發送所述第一測試功能的輸出；其中將所述測試電路配置在所述第二模式中提供了所述多個遠程管腳電子設備塊的 旁路並且將所述測試器I/O節點耦合到僅一個DUT I/O節點。
全文摘要
在一個實施例中，用於測試至少一個待測設備(DUT)的裝置包括測試器輸入/輸出(I/O)節點、DUT I/O節點、遠程管腳電子設備塊、旁路電路和控制系統。遠程管腳電子設備塊提供測試功能，並且被耦合在測試器I/O節點和DUT I/O節點之間。旁路電路被耦合在測試器I/O節點和DUT I/O節點之間，並且提供測試器I/O節點和DUT I/O節點之間的信號旁路路徑。信號旁路路徑繞過由遠程管腳電子設備塊提供的測試功能。控制系統被配置來使能和禁用旁路電路。還公開了用於利用該裝置和其他有關裝置來測試一個或多個DUT的方法。
文檔編號G01R31/28GK102016614SQ200980114118
公開日2011年4月13日 申請日期2009年2月23日 優先權日2008年2月21日
發明者大衛·D·埃斯克德森, 拉 帕恩特 愛德馬度·德 申請人:惠瑞捷(新加坡)私人有限公司