一種幹法篩分物料及平均粒徑測量的方法及篩分裝置的製作方法
2023-05-25 11:00:01
專利名稱：一種幹法篩分物料及平均粒徑測量的方法及篩分裝置的製作方法
技術領域：
本發明屬於顆粒樣 品檢測技術領域，尤其涉及一種石膏幹法篩分及其平均粒徑測量方法，同時該方法也適應於其他易受潮，粒徑範圍在1 100 μ m物料的篩分及其平均粒
徑測量。
背景技術：
在化工、材料、環保等眾多領域的試驗研究和生產實踐中，顆粒粒徑的分布與測量都有著重要的意義。目前測量顆粒粒徑分布的方法主要有沉降法、篩分法、顯微鏡法和雷射散射法等，其中顯微鏡法和雷射散射法測量粒徑範圍較小，精確度較高，但是由於設備昂貴，不利於生產企業使用。石膏主要成分是硫酸鈣，是一種應用廣泛的工業材料和建築材料，主要用做水泥生產過程中的緩凝劑、建築石膏、半水石膏板等，粒徑範圍一般在10 80 μ m，是影響石膏廣泛利用的主要參數。由於石膏暴露在空氣中容易吸收空氣中水分而受潮團聚，導致幹法篩分比較困難，工業生產中測量石膏粒徑一般採用沉降法或溼法篩分的方法，但是沉降法要求顆粒外形規則，對於短柱狀石膏顆粒的測量誤差較大；溼法篩分操作繁瑣，且石膏顆粒在水流的衝洗下，會有部分溶解，影響測量結果的準確度。
發明內容
為了解決幹法篩分石膏過程中石膏顆粒累積於上層篩面難以分散的問題，本發明提供了一種「預熱_篩分_再預熱_再篩分」同時標準篩外壁包裹保溫材料的方法，在乾燥的室內實現對石膏有效的篩分，可獲得石膏粒徑分布、平均粒徑等結果。一種幹法篩分石膏及平均粒徑測量的方法，步驟如下(1)輕壓、捏碎石膏中結塊顆粒，於45 55°C條件下恆溫10 15h ；(2)將石膏乾燥冷卻至室溫後，稱量35 45g石膏於篩分裝置的頂層篩面，將篩分裝置及稱量好的石膏置於50 55°C條件下預熱40 50min，一次篩分5 lOmin。振篩環境條件如下空氣溼度保持在75%以下，篩子搖動次數180 ΖδΟπι Γ1，頂擊次數130 IBOmirf10(3)篩分結束後將篩分裝置和石膏置於50 55°C條件下再次預熱40 50min，二次篩分5 IOmin ；(4) 二次篩分結束後，將各層篩面石膏顆粒收集、稱量獲得各層篩面石膏質量。用調和平均粒徑計算公式計算石膏平均粒徑。所述石膏的質量純度在70%以上，石膏中CaCO3含量低於15%，其他雜質的總質量含量低於20%一種用於實現上述幹法篩分石膏及其平均粒徑測量方法的篩分裝置，包括若干個標準篩，按照孔徑從大至小、從上至下依次擺放，最底層標準篩下附加託盤，頂層標準篩上附加頂蓋；所述的標準篩、底部託盤及頂蓋均為不鏽鋼材質，所述的標準篩外臂包裹有保溫材料；所述的篩分裝置外接振篩機。
所述的標準篩直徑優選為20. 5cm,高5cm，所述的保溫材料優選厚0. 5cm,寬4cm。作為進一步優選的方案，所述的標準篩有6個，從上至下的各個標準篩的孔徑分別為 0. 075,0. 063,0. 053,0. 045,0. 037,0. 030mm。所述的保 溫材料優選採用酚醛樹脂發泡材料。本發明方法具有操作簡單、快速準確等特點。由於採用了篩分前對石膏及標準篩預熱和標準篩外壁包裹保溫材料的方法，能夠保證石膏不會因為吸收空氣中的水分團聚而不能通過篩孔；同時採用兩次預熱兩次篩分的方法，減小實驗誤差，使篩分數據更加準確。 另外本發明的篩分裝置結構簡單、安全，設計合理，所採用的標準篩和振篩機均為常用設備，且價格低廉，易於在工廠內部廣泛實施。
圖1為本發明的工藝流程框圖。圖2為本發明實施例1 5中的石膏樣品經雷射粒度分布儀檢測獲得的粒徑分布圖。圖3篩分裝置結構簡圖。
具體實施例方式下面結合具體實施方式
對本發明作進一步的描述，並非對保護範圍的限制。本具體實施方式
中石膏純度為92%，CaCO3含量1 %，其他雜質含量7%。為避免重複出現，以下各實施例中不再贅述。一種用於實現幹法篩分石膏及其平均粒徑測量方法的篩分裝置，包括6個標準篩1，6個標準篩的直徑均為20. 5cm,高5cm，從上至下的各個標準篩的孔徑分別為0. 075、 0. 063,0. 053,0. 045,0. 037,0. 030mm。將6個標準篩按照孔徑從大至小、從上至下依次擺放，最底層標準篩下附加託盤3，頂層標準篩上附加頂蓋2 ；所述的標準篩1、託盤3及頂蓋2 均為不鏽鋼材質，標準篩外包裹有酚醛樹脂發泡材料作為保溫材料，保溫材料厚0. 5cm,寬 4cm。所述的篩分裝置外接振篩機4。實施例1採用如上所述的篩分裝置，輕壓、捏碎石膏中結塊顆粒，並置於45°C條件下恆溫 15h後，乾燥器中冷卻至室溫。準確稱量35 45g石膏於包裹保溫材料標準篩1頂層篩面，蓋上頂蓋2。將標準篩及稱量好的石膏置於50°C條件下預熱50min，振篩機4上篩分 IOmin ；振篩環境空氣溼度65%。篩分結束後將標準篩1和石膏樣品置於50°C條件下再次預熱40min，振篩機4上篩分lOmin。篩分結束後，將各層篩面石膏顆粒收集於稱量紙上，準確稱量各層篩面石膏顆粒質量，平行篩分三次，測量結果如表1所示。用調和平均粒徑計算公式計算石膏平均粒徑，石膏平均粒徑分別為0. 035mm、0. 035mm、0. 0349mm。表1實施例1各層篩面石膏質量/g
權利要求
1.一種幹法篩分石膏及平均粒徑測量的方法，其特徵在於，包括以下步驟(1)輕壓、捏碎石膏中結塊顆粒，於45 55°C條件下恆溫10 15h；(2)將石膏乾燥冷卻至室溫後，稱量35 45g石膏於篩分裝置的頂層篩面，將篩分裝置及稱量好的石膏置於50 55°C條件下預熱40 50min，一次篩分5 lOmin。(3)篩分結束後將篩分裝置和石膏置於50 55°C條件下再次預熱40 50min，二次篩分 5 IOmin ；(4)二次篩分結束後，將各層篩面石膏顆粒收集、稱量獲得各層篩面石膏質量，用調和平均粒徑計算公式計算石膏平均粒徑。
2.根據權利要求1所述的幹法篩分石膏及平均粒徑測量的方法，其特徵在於所述石膏純度在65%以上，石膏中CaCO3含量低於15%，其他雜質的總質量含量低於20%。
3.根據權利要求1所述的幹法篩分石膏及平均粒徑測量的方法，其特徵在於所述的篩分環境為空氣溼度保持在75%以下。
4.一種用於實現如權利要求1 3任一所述的幹法篩分石膏及平均粒徑測量的方法的篩分裝置，其特徵在於所述的篩分裝置包括若干個標準篩，按照孔徑從大至小、從上至下依次擺放，最底層標準篩下附加託盤，頂層標準篩上附加頂蓋；所述的標準篩外臂包裹有保溫材料；所述的篩分裝置外接振篩機。
5.根據權利要求4所述的篩分裝置，其特徵在於所述的標準篩、底部託盤及頂蓋均為不鏽鋼材質。
6.根據權利要求4所述的篩分裝置，其特徵在於所述的標準篩直徑為20.5cm,高 5cm，所述的保溫材料厚0. 5cm,寬4cm。
7.根據權利要求4所述的篩分裝置，其特徵在於所述的標準篩有6個，從上至下的各個標準篩的孔徑分別為 0. 075,0. 063,0. 053,0. 045,0. 037,0. 030mm。
8.根據權利要求4所述的篩分裝置，其特徵在於所述的保溫材料為酚醛樹脂發泡材料。
9.根據權利要求4所述的篩分裝置，其特徵在於所述的振篩機規格要求篩子搖動次數180 ΖδΟπ ιΓ1，頂擊次數130 160min_1o
全文摘要
本發明公開了一種幹法篩分石膏及其平均粒徑測量方法，步驟包括準確稱取乾燥後的脫硫石膏於標準篩頂層篩面，蓋上頂蓋於50～55℃條件下預熱40～50min後，置于振篩機上篩分5～10min；篩分結束後，將標準篩及石膏再次預熱40～50min，振篩5～10min；準確稱量各層篩面石膏顆粒質量，計算石膏平均粒徑。本發明還公開了用於上述方法的篩分裝置。本發明所述方法和裝置具有簡單、實用性強、快速準確等特點，同時也適應於其他易受潮，粒徑在1～100μm物料的篩分及平均粒徑測量。
文檔編號G01N15/02GK102441526SQ20111040485
公開日2012年5月9日 申請日期2011年12月8日 優先權日2011年12月8日
發明者楊有餘, 盛海強, 程常傑, 莫建松 申請人:浙江天藍環保技術股份有限公司