晶粒檢測設備的進料機構的製作方法
2023-05-18 11:14:01
晶粒檢測設備的進料機構的製作方法
【專利摘要】本實用新型提供了一種晶粒檢測設備的進料機構，所述晶粒檢測設備的進料機構包括基座、震動供料盤、進料震動模組和回料震動模組。因此，本實用新型通過將進料震動模組與回料震動模組分別獨立地設置在不同的載臺上，以有效抑制進料震動模組與回料震動模組之間的共振的發生，從而可以提高供料的穩定度和吸料的準確度，並且可以加快進給速度。此外，本實用新型將進料震動模組的進料軌道直接鄰接震動供料盤，以承接從出料口送出的晶粒，從而省略了熟知的緩衝直震模組，既可以大幅降低成本，並且由於進給距離的縮短，又可以顯著提高進給速度。
【專利說明】晶粒檢測設備的進料機構
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種晶粒檢測設備的進料機構，具體地說，涉及一種適用於晶粒的進給供料的進料機構。
【背景技術】
[0002]晶粒檢測設備一般會有進料機構，該進料機構主要用於將晶粒位移至取放裝置的可取放的位置或檢測裝置上。然而，熟知的晶粒檢測設備的進料機構請參閱圖1和圖2，圖1為熟知的晶粒檢測設備的進料機構的俯視圖，圖2為熟知的晶粒檢測設備的進料機構的右視圖。
[0003]如圖1和圖2所示，熟知的晶粒檢測設備的進料機構主要包括一震動盤5、一緩衝直震模組6、一吸料直震模組7和一回料直震模組8。其中，震動盤5主要用於存放待測晶粒和供給待測晶粒；緩衝直震模組6主要介于震動盤5與吸料直震模組7之間，緩衝直震模組6主要用於承接從震動盤5流出的晶粒，並將晶粒傳遞至吸料直震模組7 ;吸料直震模組7則主要負責將來自緩衝直震模組6的待測晶粒傳送至取放機構(圖中未示)的取放位置。然而，通常待測晶粒不見得會很規律地依照順序進給，所以吸料直震模組7的吸料軌道71會設計有落料的機構，以便使得進給位置不正確的晶粒能夠重新進給。
[0004]另外，回料直震模組8用於使得落料的晶粒重新回到震動盤5，回料直震模組8包括一返料盤81，返料盤81位於吸料軌道71的下方，用於承接從吸料軌道71落下的晶粒。在現有技術中，緩衝直震模組6、吸料直震模組7和回料直震模組8的震動器均設置在一共同的基板9上。然而，因為回料直震模組8與吸料直震模組7和緩衝直震模組6的位移方向恰好是完全相反的，所以很容易產生共振，從而影響進給速度，甚至導致晶粒在進給過程中不規則跳動，從而使得在取放機構(圖中未示)的取放過程中容易造成取放不順或無法穩固取放等問題。
[0005]綜上所述，設計一種結構簡單、成本低廉，而且可以有效抑制共振的發生，從而提高供料的穩定度和吸料的準確度，並且可以加快進給速度的晶粒檢測設備的進料機構實在是產業界的迫切的需要。
實用新型內容
[0006]為了解決現有技術的不足之處，本實用新型的主要目的在於提供一種晶粒檢測設備的進料機構，以能夠有效抑制進料震動模組與回料震動模組之間的共振的發生。
[0007]為了實現上述目的，本實用新型提供了一種晶粒檢測設備的進料機構，所述晶粒檢測設備的進料機構包括一基座、一震動供料盤、一進料震動模組和一回料震動模組；其中，所述震動供料盤包括一出料口，所述震動供料盤組裝設置在所述基座上；所述進料震動模組包括一第一載臺、一第一震動器和一進料軌道，所述第一載臺組裝設置在所述基座上，所述第一震動器組裝設置在所述第一載臺上，並且所述進料軌道組裝設置在所述第一震動器上，所述進料軌道承接從所述震動供料盤的所述出料口流出的晶粒；所述回料震動模組包括一第二載臺、一第二震動器和一回料軌道，所述第二載臺組裝設置在所述基座上，所述第二震動器組裝設置在所述第二載臺上，並且所述回料軌道組裝設置在所述第二震動器上，所述回料軌道承接從所述進料軌道落下的晶粒。
[0008]優選地，本實用新型的所述回料震動模組的所述回料軌道位於所述進料軌道的下方，以便承接從所述進料軌道落下的晶粒。
[0009]優選地，本實用新型的所述進料震動模組的所述進料軌道包括一承接部和一直行部，所述承接部鄰接在所述震動供料盤的所述出料口，並且所述回料軌道位於所述直行部的下方。由此，本實用新型完全省略了熟知的緩衝直震模組，而是直接由進料軌道的承接部來承接來自震動供料盤的晶粒。
[0010]優選地，本實用新型的所述進料軌道的所述直行部開設有一落料孔，所述晶粒通過所述落料孔落入所述回料軌道。換句話說，落料孔主要用於排除在進料軌道上沒有按規則排列的晶粒。
[0011]優選地，本實用新型還包括一承載架，所述承載架組裝設置在所述基座上，所述震動供料盤組裝設置在所述承載架上。
[0012]優選地，本實用新型的進料震動模組還包括一 X軸位移調整機構和一 Y軸位移調整機構，所述X軸位移調整機構和所述Y軸位移調整機構設置在所述第一載臺的下方，所述X軸位移調整機構和所述Y軸位移調整機構分別用於驅使所述第一載臺在X軸向上和在Y軸向上位移。換句話說，本實用新型的第一載臺可以通過X軸位移調整機構和Y軸位移調整機構進行位移的調整。
[0013]因此，本實用新型的晶粒檢測設備的進料機構通過將進料震動模組與回料震動模組分別獨立設置在不同的載臺上，以有效抑制進料震動模組與回料震動模組之間的共振的發生，從而可以提高供料的穩定度和吸料的準確度，並且可以加快進給速度。此外，本實用新型將進料震動模組的進料軌道直接鄰接震動供料盤，來承接從出料口送出的晶粒，從而省略了熟知的緩衝直震模組，既可以大幅降低成本，並且由於進給距離的縮短，又可以顯著提聞進給速度。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0014]圖1為熟知的晶粒檢測設備的進料機構的俯視圖；
[0015]圖2為熟知的晶粒檢測設備的進料機構的右視圖；
[0016]圖3為本實用新型的晶粒檢測設備的進料機構的一優選實施例的俯視圖；
[0017]圖4為本實用新型的晶粒檢測設備的進料機構的一優選實施例的右視圖。
[0018]附圖標記說明如下:
[0019]基座1、震動供料盤2、承載架20、出料口 21、進料震動模組3、第一載臺31、第一震動器32、進料軌道33、承接部331、直行部332、落料孔333、X軸位移調整機構34、Y軸位移調整機構35、回料震動模組4、第二載臺41、第二震動器和42、回料軌道43、震動盤5、緩衝直震模組6、吸料直震模組7、吸料軌道71、回料直震模組8、返料盤81、共同基板9和晶粒C0
【具體實施方式】[0020]為了使審查員能夠進一步了解本實用新型的結構、特徵及其他目的，現結合所附優選實施例附以附圖詳細說明如下，使用本附圖所說明的實施例僅用於說明本實用新型的技術方案，並非限定本實用新型。
[0021]在本實施例詳細描述本實用新型的晶粒檢測設備的進料機構之前，需要特別注意的是，在以下的說明中，類似的元件將以相同的元件符號來表示。
[0022]請同時參閱圖3和圖4，圖3為本實用新型的晶粒檢測設備的進料機構的一優選實施例的俯視圖，圖4為本實用新型的晶粒檢測設備的進料機構的一優選實施例的右視圖。
[0023]如圖中所示,本實施例的晶粒檢測設備的進料機構主要包括:一基座1、一震動供料盤2、一進料震動模組3、一回料震動模組4和一承載架20。其中，承載架20組裝設置在基座I上，震動供料盤2組裝設置在承載架20上，震動供料盤2主要用於存放晶粒C和供給晶粒C。另外，震動供料盤2包括一出料口 21，晶粒C便是通過出料口 21供給而出的。
[0024]此外，進料震動模組3包括一第一載臺31、一第一震動器32、一進料軌道33、一 X軸位移調整機構34和一 Y軸位移調整機構35。其中，第一載臺31組裝設置在基座I上，第一震動器32組裝設置在第一載臺31上，並且進料軌道33組裝設置在第一震動器32上。進料軌道33包括一承接部331和一直行部332，承接部331鄰接在震動供料盤2的出料口21，以承接來自震動供料盤2的晶粒C。
[0025]進一步地，直行部332開設有一落料孔333，晶粒C可以通過落料孔333落入回料軌道43。換句話說，落料孔333主要用於排除在進料軌道33上沒有按規則排列的晶粒C。此外，X軸位移調整機構34和Y軸位移調整機構35設置在第一載臺31的下方，分別用於驅使第一載臺31在X軸向上和在Y軸向上位移。也就是說，本實施例的第一載臺31可以通過X軸位移調整機構34和Y軸位移調整機構35進行位移的調整。
[0026]另外，回料震動模組4包括一第二載臺41、一第二震動器42和一回料軌道43，第二載臺41組裝設置在基座I上，第二震動器42組裝設置在第二載臺41上，回料軌道43組裝設置在第二震動器42上，並且承接從進料軌道33落下的晶粒C。其中，回料軌道43位於進料軌道33的直行部332的下方。
[0027]由此，本實用新型通過將進料震動模組3與回料震動模組4分別獨立地設置在不同的第一載臺31和第二載臺41上，以有效抑制進料震動模組3與回料震動模組4之間的共振的發生，從而可以提高供料的穩定度和吸料的準確度，並且可以加快進給速度。此外，本實用新型還直接省略了熟知的緩衝直震模組，既可以大幅降低成本，並且因為進給距離的縮短，又可以顯著提高進給速度。
[0028]需要聲明的是，上述實用新型內容及【具體實施方式】意在證明本實用新型所提供技術方案的實際應用，不應解釋為對本實用新型保護範圍的限定。本領域技術人員在本實用新型的精神和原理內，當可作各種修改、等同替換或改進。本實用新型的保護範圍以所附權利要求書為準。
【權利要求】
1.一種晶粒檢測設備的進料機構，其特徵在於，所述晶粒檢測設備的進料機構包括: 一基座; 一震動供料盤，所述震動供料盤包括一出料口，所述震動供料盤組裝設置在所述基座上; 一進料震動模組，所述進料震動模組包括一第一載臺、一第一震動器和一進料軌道，所述第一載臺組裝設置在所述基座上，所述第一震動器組裝設置在所述第一載臺上，所述進料軌道組裝設置在所述第一震動器上，所述進料軌道承接從所述震動供料盤的所述出料口流出的晶粒；以及 一回料震動模組，所述回料震動模組包括一第二載臺、一第二震動器和一回料軌道，所述第二載臺組裝設置在所述基座上，所述第二震動器組裝設置在所述第二載臺上，所述回料軌道組裝設置在所述第二震動器上，並且所述回料軌道承接從所述進料軌道落下的晶粒。
2.根據權利要求1所述的晶粒檢測設備的進料機構，其特徵在於，所述回料軌道位於所述進料軌道的下方。
3.根據權利要求2所述的晶粒檢測設備的進料機構，其特徵在於，所述進料軌道包括一承接部和一直行部，所述承接部鄰接在所述震動供料盤的所述出料口，所述回料軌道位於所述直行部的下方。
4.根據權利要求3所述的晶粒檢測設備的進料機構，其特徵在於，所述直行部開設有一落料孔，所述晶粒通過所述落料孔落入所述回料軌道。
5.根據權利要求1所述的晶粒檢測設備的進料機構，其特徵在於，所述晶粒檢測設備的進料機構還包括一承載架，所述承載架組裝設置在所述基座上，所述震動供料盤組裝設置在所述承載架上。
6.根據權利要求1所述的晶粒檢測設備的進料機構，其特徵在於，所述進料震動模組還包括一 X軸位移調整機構和一 Y軸位移調整機構，所述X軸位移調整機構和所述Y軸位移調整機構設置在所述第一載臺的下方，所述X軸位移調整機構和所述Y軸位移調整機構分別用於驅使所述第一載臺在X軸向上和在Y軸向上位移。
【文檔編號】B65G47/14GK203512701SQ201320542247
【公開日】2014年4月2日 申請日期:2013年9月2日 優先權日:2013年8月20日
【發明者】黃德崑 申請人:臺北歆科科技有限公司