一種二極體極性檢測電路的製作方法
2023-05-06 06:20:11
專利名稱：一種二極體極性檢測電路的製作方法
技術領域：
本發明涉及電子元件檢測領域，特別涉及一種二極體極性檢測電路。
背景技術：
隨著技術的進步，LED、光耦等電 子器件在電子技術中得到越來越廣泛的使用。而由於有許多電子器件為半導體二極體元件，在電路焊接時需考慮其引腳的極性，因此在電子產品的生產、製造過程中不可避免的需要對電子元器件進行極性檢測。而在現有的技術中，一般採用在二極體的兩端加一電壓，通過判斷光電子器件是否有電流經過來判斷其極性，但是該方法無法判斷二極體器件是否已經損壞，如要判斷二極體損壞與否，則需分別從不同方向給二極體加一電壓，根據在不同的情況下的電路的電流情況來判斷二極體的極性以及是否損壞。而現有的技術缺乏一種能自動改變二極體兩端的電壓方向以進行極性檢測的電路，需要人為地改變二極體兩端的電壓方向，因而效率低，嚴重影響產品的大規模檢測。因此，為解決現有技術中的不足之處，提供能夠自動改變二極體兩端的電壓方向的光電子器件極性檢測電路顯得尤為重要。
發明內容
本發明的目的在於避免上述現有技術中的不足之處而提供一種能夠自動改變光電子器件兩端的電壓方向以進行極性檢測的光電子器件極性檢測電路。本發明的目的通過以下技術方案實現
一種二極體極性檢測電路，包括測試電路，所述測試電路包括兩組以上的H橋檢測單元；所述H橋檢測單元包括第一受控開關、第二受控開關、第三受控開關和第四受控開關，所述第一受控開關和第二受控開關串聯在高電平與電源地之間，所述第一受控開關與所述第四受控開關同步，所述第二受控開關與第三受控開關同步；所述第三受控開關和第四受控開關串聯在高電平與電源地之間，所述第一受控開關與第二受控開關的連接點為第一極測試接口，所述第三受控開關與第四受控開關的連接點為第二極測試接口。其中，所述第一受控開關、第二受控開關、第三受控開關和第四受控開關均為三極體。其中，還包括信號控制電路電路、通信電路和控制與結果輸出電路，所述信號控制電路電路向測試電路發送控制信號並接收、處理測試電路輸出的測試信號，所述通信電路使信號控制電路與PC機進行數據交換，所述控制與結果輸出電路連接信號控制電路和上位機，同時所述控制與結果輸出電路將上位機輸入的觸發信號向信號控制電路電路輸出，並將信號控制電路電路輸入的檢測結果向上位機輸出。其中，所述信號控制電路電路包括單片機U2，所述單片機U2設置有與測試電路連接的不少於八個的控制信號輸出埠和不少於四個的測試信號輸入埠。其中，所述通信電路包括線驅動器晶片U3和接口 J1，所述線驅動器晶片U3的R2IN和T20UT引腳與接口 Jl連接，所述線驅動器晶片U3的T2IN和R20UT引腳與信號控制電路連接。其中，所述控制與結果輸出電路包括一路以上的觸發信號電路和三路檢測結果輸出電路；在所述觸發信號電路中，從上位機輸入的觸發信號經過光耦後向信號控制電路輸出；在所述結果輸出電路中，從信號控制電路輸入的檢測結果信號經過光耦後向上位機輸出。其中，還包括電源電路，所述電源電路包括開關穩壓晶片Ul和自恢復保險絲F1，所述自恢復保險絲Fl設置於電源電路的輸入端，所述開關穩壓晶片Ul的輸入電壓為24V，輸出電壓為5V。本發明的有益效果提供一種二極體極性檢測電路，包括測試電路，所述的測試電路包括兩組以上的H橋檢測單元；第一受控開關、第二受控開關、第三受控開關和第四受控開關構成了一個H橋電路。當第一受控開關和第二受控開關導通時，第三受控開關和第四 受控開關截止，電路給待測的光電子器件兩端加一正向電壓；反之，電路給待測的光電子器件兩端加一反向電壓這樣實現了電路自動給待測二極體提供正反向電壓。同時通過分別檢測第一極測試接口和第二極測試接口的電壓即可判斷待測元件的極性以及是否損壞，無需手動操作，極大提高了檢測的效率。
利用附圖對本發明作進一步說明，但附圖中的實施例不構成對本發明的任何限制，對於本領域的普通技術人員，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據以下附圖獲得其它的附圖。圖I為本發明光電子器件極性檢測電路實施例的測試電路的電路圖。圖2為本發明光電子器件極性檢測電路實施例的結構框圖。圖3為本發明光電子器件極性檢測電路實施例的信號控制電路的電路圖。圖4為本發明光電子器件極性檢測電路實施例的通信電路的電路圖。圖5為本發明光電子器件極性檢測電路實施例的控制與結果輸出電路的電路圖。圖6為本發明光電子器件極性檢測電路實施例的電源電路的電路圖。圖7為本發明光電子器件極性檢測電路實施例的電路圖。在圖I至圖7中包括有
I——測試電路、2——信號控制電路、3——通信電路、4——控制與結果輸出電路、5——電源電路。
具體實施例方式結合以下實施例對本發明作進一步描述。本發明光電子器件極性檢測電路的具體實施方式
，如圖2和圖7所示，包括有測試電路I、信號控制電路電路2、通信電路3和控制與結果輸出電路4，所述信號控制電路電路2可向測試電路I發送控制信號並接收、處理測試電路I輸出的測試信號，所述通信電路3可使信號控制電路電路2與PC機進行數據交換，所述控制與結果輸出電路4可向信號控制電路電路2輸入測試觸發信號，所述信號控制電路電路2可向控制與結果輸出電路4輸出檢測結果。其中，信號控制電路電路2 —方面根據控制與結果輸出電路4輸入的驅動信號發送控制信號控制測試電路I進行檢測，另一方面信號控制電路電路2根據接收到的由測試電路I輸出的測試信號判斷光電子的極性情況並將其輸出給控制與結果輸出電路4。同時，所述信號控制電路電路2具有多種工作模式以對應不同的光電子器件，通信電路3實現信號控制電路電路2與外部PC機之間的連接，使信號控制電路電路2可與外部PC機進行數據交換，所以通過PC機可以選擇信號控制電路電路2的工作模式，使其與待測光電子器件對應。因此，該電路不僅可以同時測試多個二極體，還可以測試具有多個二極體的電子器件，如光稱等，提聞該電路的適用範圍。本實施例中，如圖I所示，測試電路I包括三腳插針JP4，型號為S8050的三極體Q31、三極體Q32、三極體Q33、三極體Q41、三極體Q42、三極體Q43、三極體Q51、三極體Q52、三極體Q53、三極體Q61、三極體Q62、三極體Q63、三極體Q71、三極體Q72、三極體Q73、三極體Q81、三極體Q82和三極體Q83 ;阻值為1ΚΩ、精度為5%的電阻R33、電阻R35、電阻R43、電阻R45、電阻R53、電阻R55、電阻R63、電阻R65、電阻R73、電阻R75、電阻R83和電阻R85， 阻值為100 ΚΩ、精度為5%的電阻R31、電阻R41、電阻R51、電阻R61、電阻R71和電阻R81，阻值為10 ΚΩ、精度為1%的電阻R30、電阻R40、電阻R50、電阻R60、電阻R70和電阻R80，阻值為6. 2 ΚΩ、精度為1%的電阻R36、電阻R46、電阻R36、電阻R56、電阻R66、電阻R76和電阻R86，阻值為3ΚΩ、精度為1%的電阻R37、電阻R47、電阻R57、電阻R67、電阻R77和電阻R87，用於連接LED晶片引腳的六針插座JP5，用於連接光耦晶片引腳的四針插座JP6。其中三腳插針JP4的第一個引腳與24V電源連接，第三個引腳與5V電源連接；所述三極體Q31的集電極經電阻R31與三腳插針JP4的第二個引腳、經電阻R32與三極體Q32的控制信號輸入端連接連接，所述三極體Q31的基極經電阻R33與三極體Q32的控制信號輸入端連接連接，所述三極體Q31的發射極接電源地，所述三極體Q32的集電極經電阻R30與三腳插針JP4的第二個引腳連接，所述三極體Q32的基極與三極體Q31的集電極連接，所述三極體Q32的發射極與所述三極體Q33的集電極、經電阻R34與三極體Q32的控制信號輸入端連接，所述三極體Q33的基極經電阻R35與三極體Q33的控制信號輸入端連接，所述三極體Q33的發射極接電源地，所述電阻R36的一端與三極體Q32的發射極連接，另一端與電阻R37的一端以及測試信號輸出端連接，所述電阻R37的另一端接電源地；所述三極體Q41的集電極經電阻R41與三腳插針JP4的第二個引腳、經電阻R42與三極體Q42的控制信號輸入端連接連接，所述三極體Q41的基極經電阻R43與三極體Q42的控制信號輸入端連接連接，所述三極體Q41的發射極接電源地，所述三極體Q42的集電極經電阻R40與三腳插針JP4的第二個引腳連接，所述三極體Q42的基極與三極體Q41的集電極連接，所述三極體Q42的發射極與所述三極體Q43的集電極連接，三極體Q42的發射極經電阻R44與三極體Q42的控制信號輸入端連接，所述三極體Q43的基極經電阻R45與三極體Q43的控制信號輸入端連接，所述三極體Q43的發射極接電源地，所述電阻R46的一端與三極體Q42的發射極連接，另一端與電阻R47的一端以及測試信號輸出端連接，所述電阻R47的另一端接電源地；以上三極體Q31、三極體Q32、三極體Q33、三極體Q41、三極體Q42、三極體Q43、電阻R30、電阻R31、電阻R32、電阻R33、電阻R34、電阻R35、電阻R36、電阻R37、電阻R40、電阻R41、電阻R42、電阻R43、電阻R44、電阻R45、電阻R46和電阻R47構成了第一組H橋檢測單元，其中三極體Q32為第一受控開關、三極體Q33為第二受控開關、三極體Q42為第三受控開關、三極體Q43為第四受控開關，三極體Q32的發射極為第一級測試接口，三極體Q42的發射極為第二極測試接口。與以上連接機構相似的，三極體Q51、三極體Q52、三極體Q53、三極體Q61、三極體Q62、三極體Q63、電阻R50、電阻R51、電阻R52、電阻R53、電阻R54、電阻R55、電阻R56、電阻R57、電阻R60、電阻R61、電阻R62、電阻R63、電阻R64、電阻R65、電阻R66和電阻R67構成了第二組H橋檢測單元，其中三極體Q52為第一受控開關、三極體Q53為第二受控開關、三極體Q62為第三受控開關、三極體Q63為第四受控開關；三極體Q71、三極體Q72、三極體Q73、三極體Q81、三極體Q82、三極體Q83、電阻R70、電阻R71、電阻R72、電阻R73、電阻R74、電阻R75、電阻R76、電阻R77、電阻R80、電阻R81、電阻R82、電阻R83、電阻R84、電阻R85、電阻R86和電阻R87構成了第三組H橋檢測單元，其中三極體Q72為第一受控開關、三極體Q73為第二受控開關、三極體Q82為第三受控開關、三極體Q83為第四受控開關。其中，所述插座JP6的引腳Tl與三極體Q32的發射極連接、所述插座JP6的引腳T2與三極體Q42的發射極連接、所述插座JP6的引腳T3與三極體Q52的發射極連接、所述插座JP6的引腳T4與三極體Q62的發射極連接，所述插座JP5的引腳Tl與三極體Q32的發射極連接、所述插座JP5的引腳T2與三極體Q42的發射極連接、所述插座JP5的引腳T3 與三極體Q52的發射極連接、所述插座JP5的引腳T4與三極體Q62的發射極連接，所述插座JP5的引腳T5與三極體Q72的發射極連接、所述插座JP5的引腳T6與三極體Q82的發射極連接。對光電子器件進行極性檢測時，將電子器件插入相對應的插座內，每一個H橋檢測單元都根據信號控制電路2發出的控制信號執行極性檢測。以第一組H橋檢測單元為例，在極性檢測時，三極體Q32、三極體Q33、三極體Q42和三極體Q43構成了一個H橋電路，待測光電子器件的一端與三極體Q32的發射極連接，另一端與三極體Q42的發射極連接；此時在信號控制電路電路2的控制下三極體Q32和三極體Q43導通，三極體Q33和三極體Q42截止，此時三極體Q32和三極體Q43形成一通路，如果三極體Q32的發射極為低電平，則待測光電子器件與三極體Q32的發射極連接端為正極，反之則為負極；同理，在完成一個方向的測試後，在信號控制電路電路2的控制下三極體Q32和三極體Q43變為截止，三極體Q33和三極體Q42導通，同理，如果三極體Q42的發射極為低電平，則待測光電子器件與三極體Q42的發射極連接端為正極，反之則為負極；另外，如果兩次測試後三極體Q32的發射極以及三極體Q42的發射極均為低電平，則可以判斷該光電子器件已經損壞。所以該電路能夠自動改變光電子器件兩端的電壓方向以對光電子器件進行極性檢測，在提高檢測結果的準確性的同時不影響檢測效率。另外，本電路具有三組H橋檢測單元，所以該電路可以同時檢測多個兩個引腳的二極體或者一個具備多個二極體的電子器件，進一步提高了檢測效率。本實施例中，如圖3所示，所述信號控制電路電路2包括型號為ATMEGA16L的AVR單片機U2，8M晶振Yl，型號為1N4148的開關二極體D5，輕觸開關SI，10uF/50V的電容C4，22pF的電容C5、電容C6，O. luF/50V的電容C7、電容C8、電容C9和電容CIO, IOuH的電感L2,10KQ/0. 125W的電阻R5，lKQ/0. 125W的電阻R22，發光二極體D6，2x5針插座JP2 ;所述單片機的引腳RESET與輕觸開關SI的一端、電容C4的一端、二極體D5的正極以及電阻R5的一端連接，所述電阻R5的另一端以及二極體D5的負極分別與5V電源連接，所述輕觸開關SI的另一端以及電容C4的另一端分別接電源地；所述單片機的引腳XTALl與晶振Yl的一端以及電容C6的一端連接，所述單片機的引腳XTAL2與晶振Yl的另一端以及電容C5的一端連接，所述電容C5，C6的另一端分別接電源地；所述單片機的VACC引腳與電感L2的一端、電容C9的一端連接，所述電感的另一端與電容C8的一端連接，所述電容C9的另一端、電容C8的另一端分別接電源地，所述單片機的AREF引腳與電容ClO的一端連接，所述電容ClO的另一端接電源地；所述單片機的TCK引腳、TDO引腳、TMS引腳和TDI引腳分別與插座JP2的I引腳、3引腳、5引腳和9引腳連接，所述插座JP2的4引腳和7引腳與分別與5V電源連接，所述插座JP2的2引腳和10引腳分別接電源地；所述單片機的PCO引腳與發光二極體D6的負極連接，所述發光二極體D6的正極與電阻R22的一端連接，所述電阻R22的另一端與5V電源連接；所述單片機的所有GND引腳接電源地，所述單片機的所有VCC端與5V電源以及電容C7的一端連接，所述電容C7的另一端接電源地；所述單片機的引腳PBOdI腳PB1、引腳PB3、引腳PB4、引腳PB5、引腳PB6、引腳PB7、引腳TO4、引腳TO5、引腳TO6、引腳 PD7和引腳PA7分別與測試電路I的控制信號輸入埠連接，所述單片機的弓I腳ADCO、引腳ADC1、引腳ADC2、引腳ADC3、引腳ADC4、引腳ADC5和ADC6分別與測試電路I的測試信號輸出端連接。採用單片機可以方便的實現對測試電路I的信號控制、處理測試信號以及與外部通信的功能，大大簡化了信號控制電路電路2的電路；同時使用元件較少，成本低。本實施例中，如圖4所示，所述通信電路3包括型號為MAX232的線驅動器晶片U3，luF/50V的電容Cl I、電容C12、電容C13和電容C14,0. luF/50V的電容C15，9針DB9母頭接口 Jl ;所述的線驅動器晶片U3的Cl+引腳與電容Cll的一端連接，所述電容Cll的另一端與的線驅動器晶片U3的Cl-引腳連接，所述的線驅動器晶片U3的C2+引腳與電容C12的一端連接，所述電容C12的另一端與的線驅動器晶片U3的C2-引腳連接，所述線驅動器晶片U3的R2IN引腳和T20UT引腳與接口 Jl的引腳3和引腳2連接，所述線驅動器晶片U3的T2IN和R20UT引腳與信號控制電路電路2連接的引腳TXD和引腳RXD連接；所述線驅動器晶片U3的引腳VDD與電容C14的一端連接，所述電容C14的另一端與5V電源以及電容C15的一端連接，所述電容C15的另一端接電源地，所述線驅動器晶片U3的引腳VCC與5V電源連接，所述線驅動器晶片U3的引腳VEE與電容C13的一端連接，所述電容C13的另一端接電源地。該通信電路電路可以可靠的實現信號控制電路電路2與外部PC機的信號交換，而且MAX232晶片符合所有的RS-232C技術標準，所以該電路可通過不同的PC機實現控制。本實施例中，如圖5所示，所述控制與結果輸出電路4包括型號為PC817的光耦U7、光耦U8、光耦U9、光耦U10、光耦Ull和光耦U12，IOK Ω/0. 125W的電阻R6，電阻R7，電阻R9、電阻R10、電阻R13、電阻R14、電阻R17、電阻R19，電阻R21，4. 7ΚΩ/0. 125W的電阻R8、電阻R12和電阻R15，330 Ω /0. 125W的電阻R16、電阻R18和電阻R20，6針輸入輸出連接座JP3 ;所述光耦U7的發光二極體的正極與電阻R7的一端連接，所述電阻R7的另一端與輸入輸出連接座JP3的引腳SOT以及電阻R6的一端連接，所述電阻R6的另一端接24V電源，所述光耦U7的發光二極體的負極接電源地，所述光耦U7的光敏二極體的正極與單片機U2的引腳INT2以及電阻R8的一端連接，所述電阻R8的另一端與5V電源連接，所述光耦U7的光敏二極體的負極接電源地；所述光耦U8的發光二極體的正極與電阻RlO的一端連接，所述電阻RlO的另一端與輸入輸出連接座JP3的引腳P_S0T以及電阻R9的一端連接，所述電阻R9的另一端接24V電源，所述光耦U8的發光二極體的負極接電源地，所述光耦U8的光敏二極體的正極與單片機U2的引腳INTO以及電阻R12的一端連接，所述電阻R12的另一端與5V電源連接，所述光耦U8的光敏二極體的負極接電源地；所述光耦U9的發光二極體的正極與電阻R14的一端連接，所述電阻R14的另一端與輸入輸出連接座JP3的引腳N_SOT以及電阻R13的一端連接，所述電阻R13的另一端接24V電源，所述光耦U9的發光二極體的負極接電源地，所述光耦U9的光敏二極體的正極與單片機U2的引腳INTl以及電阻R15的一端連接，所述電阻R15的另一端與5V電源連接，所述光耦U9的光敏二極體的負極接電源地；所述光耦UlO的 發光二極體的正極與電阻R16的一端連接，所述電阻R16的另一端與單片機U2的引腳PA6連接，所述光耦UlO的發光二極體的負極接電源地，所述光耦UlO的光敏二極體的正極與電阻R17的一端以及輸入輸出連接座JP3的引腳EOT連接，所述光耦UlO的光敏二極體的負極接電源地；所述光耦Ull的發光二極體的正極與電阻R18的一端連接，所述電阻R18的另一端與單片機U2的引腳PC6連接，所述光耦Ull的發光二極體的負極接電源地，所述光耦Ull的光敏二極體的正極與電阻R19的一端以及輸入輸出連接座JP3的引腳VOl連接，所述光耦Ull的光敏二極體的負極接電源地；所述光耦U12的發光二極體的正極與R20的一端連接，所述R20的另一端與單片機U2的引腳PA7連接，所述光耦U12的發光二極體的負極接電源地，所述光耦U12的光敏二極體的正極與電阻R21的一端以及輸入輸出連接座JP3的引腳V02連接，所述光耦U12的光敏二極體的負極接電源地。該控制與結果輸出電路4可方便的與上位機連接，方便電路更好的與上位機結合。同時將輸入、輸出信號經過光耦後再傳輸，提高了信號的抗幹擾能力。本實施例中，還包括電源電路，如圖6所示，所述電源電路5包括型號為MC33063的開關穩壓晶片U1，自恢復保險絲F1，肖特基二極體D1，肖特基二極體D3，瞬態抑制二極體D2，發光二極體D4，100uF/63V的極性鋁電解電容Cl，470uF/50V的無極性電容C2，470uF/10V的極性鋁電解電容C3，IOOuH的功率電感LI，O. 27 Ω /0. 5W的電阻 Rl，3· 65ΚΩ/0. 125W、精度為 1% 的電阻 R2，I. 21ΚΩ/0. 125W、精度為 1% 的電阻 R3，330Ω/0. 125W的電阻R4，三腳插針JPl ;所述三腳插針JPl的引腳I與24V電源以及自恢復保險絲Fl的一端連接，所述三腳插針JPl的引腳3接電源地，所述自恢復保險絲Fl的另一端與肖特基二極體Dl的正極連接，所述肖特基二極體Dl的負極與瞬態抑制二極體D2的負極、電阻Rl的一端以及電容Cl的正極連接，所述瞬態抑制二極體D2的正極、電容Cl的負極接電源地；所述電阻Rl的另一端與開關穩壓晶片Ul的引腳IPKS、引腳DC以及引腳SWC連接，所述開關穩壓晶片Ul的引腳VCC與電容Cl的正極連接，所述開關穩壓晶片Ul的引腳TC與電容C2的一端連接，所述電容C2的另一端接電源地，所述開關穩壓晶片Ul的引腳GND接電源地，所述開關穩壓晶片Ul的引腳SWE與肖特基二極體D3的正極以及電感LI的一端連接，所述肖特基二極體D3的正極接電源地，所述電感LI的另一端接5V電源輸出端；所述電阻R2的一端與5V電源連接，另一端與開關穩壓晶片Ul的引腳CII以及電阻R3的一端連接，所述電阻R3的另一端接電源地，所述5V電源輸出端還與電容C3的正極以及電阻R4的一端連接，所述電容C3D負極接電源地，所述電阻R4的另一端與發光二極體D4的正極連接，所述發光二極體D4的負極接電源地。採用MC33063的開關穩壓晶片可以根據外部分壓電路的電壓確定輸出電壓的值，將輸入電壓降壓至設定值，在這裡電源電路將24V電壓穩壓至5V電壓，為其他電路供電，電壓穩定可靠。同時自恢復保險絲Fl能夠有效的防止電路過載。
最後應當說明的是，以上實施例僅用以說明本發明的技術方案，而非對本發明保 護範圍的限制，儘管參照較佳實施例對本發明作了詳細地說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本發明的技術方案進行修改或者等同替換，而不脫離本發明技術方案的實質和範圍。
權利要求
1.一種二極體極性檢測電路，包括測試電路(1)，其特徵在於所述測試電路(I)包括兩組以上的H橋檢測單元；所述H橋檢測單元包括第一受控開關、第二受控開關、第三受控開關和第四受控開關，所述第一受控開關和第二受控開關串聯在高電平與電源地之間，所述第三受控開關和第四受控開關串聯在高電平與電源地之間；所述第一受控開關與所述第四受控開關同步，所述第二受控開關與第三受控開關同步；所述第一受控開關與第二受控開關的連接點為第一極測試接口，所述第三受控開關與第四受控開關的連接點為第二極測試接口。
2.如權利要求I所述的一種二極體極性檢測電路，其特徵在於所述第一受控開關、第二受控開關、第三受控開關和第四受控開關均為三極體。
3.如權利要求I所述的一種二極體極性檢測電路，其特徵在於還包括信號控制電路(2)、通信電路(3)和控制與結果輸出電路(4)，所述信號控制電路(2)向測試電路(I)發送控制信號並接收、處理測試電路(I)輸出的測試信號，所述信號控制電路(2)通過通信電路(3)與PC機進行數據交換，所述控制與結果輸出電路(4)連接信號控制電路(2)和上位機，同時所述控制與結果輸出電路(4)將上位機輸入的觸發信號(4)向信號控制電路(2)輸出，並將信號控制電路(2 )輸入的檢測結果向上位機輸出。
4.如權利要求3所述的一種二極體極性檢測電路，其特徵在於所述信號控制電路電路(2)包括單片機U2，所述單片機U2設置有與測試電路(I)連接的不少於八個的控制信號輸出埠和不少於四個的測試信號輸入埠。
5.如權利要求3所述的一種二極體極性檢測電路，其特徵在於所述通信電路(3)包括線驅動器晶片U3和接口 Jl，所述線驅動器晶片U3的R2IN和T20UT引腳與接口 Jl連接，所述線驅動器晶片U3的T2IN和R20UT引腳與信號控制電路(2)連接。
6.如權利要求3所述的一種二極體極性檢測電路，其特徵在於所述控制與結果輸出電路(4)包括一路以上的觸發信號電路和三路檢測結果輸出電路；在所述觸發信號電路中，從上位機輸入的觸發信號經過光耦後向信號控制電路(2)輸出；在所述結果輸出電路中，從信號控制電路(2)輸入的檢測結果信號經過光耦後向上位機輸出。
7.如權利要求I所述的一種二極體極性檢測電路，其特徵在於還包括電源電路(5)，所述電源電路(5)包括開關穩壓晶片Ul和自恢復保險絲Fl，所述自恢復保險絲Fl設置於電源電路(5)的輸入端，所述開關穩壓晶片Ul的輸入電壓為24V，輸出電壓為5V。
全文摘要
本發明涉及電子元件檢測領域，特別涉及一種二極體極性檢測電路，包括測試電路，所述的測試電路包括兩組以上的H橋檢測單元；第一受控開關、第二受控開關、第三受控開關和第四受控開關構成了一個H橋電路。當第一受控開關和第二受控開關導通時，第三受控開關和第四受控開關截止，電路給待測的光電子器件兩端加一正向電壓；反之，電路給待測的光電子器件兩端加一反向電壓這樣實現了電路自動給待測二極體提供正反向電壓。同時通過分別檢測第一極測試接口和第二極測試接口的電壓即可判斷待測元件的極性以及是否損壞，無需手動操作，極大提高了檢測的效率。
文檔編號G01R31/26GK102879724SQ20121037311
公開日2013年1月16日 申請日期2012年9月29日 優先權日2012年9月29日
發明者吳濤, 李斌 申請人:廣東志成華科光電設備有限公司