一種特徵點處理方法及裝置製造方法
2023-05-06 23:39:56 1
一種特徵點處理方法及裝置製造方法
【專利摘要】本發明公開了一種特徵點處理方法及裝置,能夠減少非視距誤差,從而提高定位精度。所述方法包括:根據N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,建立矩陣S,該矩陣S中的元素用於標識N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,其中N為大於或等於2的整數;對該矩陣S中的元素進行合併,得到矩陣S1,並對該矩陣S1中的元素進行分類;去除該矩陣S1中每一類元素對應的特徵點中的除孤立點,每一類元素對應的特徵點中去除孤立點後剩餘的特徵點用於定位。這樣,通過對特徵點進行分類並去除孤立點,從而減少非視距誤差,應用去除孤立點後剩餘的特徵點進行定位能夠提高定位精度。
【專利說明】一種特徵點處理方法及裝置
【技術領域】
[0001]本發明涉及計算機領域,特別涉及一種特徵點處理方法及裝置。
【背景技術】
[0002]通信基站覆蓋範圍廣,推廣成本低,基於通信基站實現定位是實現室內位置服務的重要手段。在基於通信基站的室內定位中,非視距(簡稱為NL0S,英文全稱為None Lineof Sight)誤差是重要誤差來源。例如,信號受建築物遮擋時將產生非視距傳播現象,造成定位終端測得的信號傳播距離大於定位終端與通信基站之間的真實距離,形成非視距誤差。
[0003]隨著通信基站密度的增大,NLOS誤差相對減小,但仍可造成數十米甚至上百米的誤差。故基於通信基站實現定位時,需要對選取的特徵點進行處理減小非視距誤差,應用處理後的特徵點進行定位計算可以有效提高定位精度。
[0004]因此,如何對特徵點進行處理,減小非視距誤差,以提高定位精度是當前需要解決的問題。
【發明內容】
[0005]本發明實施例提供一種特徵點處理方法及裝置,能夠減少非視距誤差,從而提高定位精度。
[0006]本發明實施例採用如下技術方案:
[0007]一種特徵點處理方法,包括:
[0008]根據N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,建立矩陣S,所述矩陣S中的元素用於標識所述N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,其中N為大於或等於2的整數;
[0009]對所述矩陣S中的元素進行合併,得到矩陣S1,並對所述矩陣S1中的元素進行分類;
[0010]去除所述矩陣S1中每一類元素對應的特徵點中的除孤立點,每一類元素對應的特徵點中去除孤立點後剩餘的特徵點用於定位。
[0011]一種特徵點處理裝置,包括:
[0012]建立單元,用於根據N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,建立矩陣S,所述矩陣S中的元素用於標識所述N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,其中N為大於或等於2的整數;
[0013]第一處理單元,用於對所述矩陣S中的元素進行合併,得到矩陣S1,並對所述矩陣S1中的元素進行分類;
[0014]第二處理單元,用於去所述除矩陣S1中每一類元素對應的特徵點中的除孤立點,每一類元素對應的特徵點中去除孤立點後剩餘的特徵點用於定位。
[0015]基於上述技術方案,本發明實施例的特徵點處理方法及裝置根據N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,建立矩陣S,矩陣S中的元素用於標識N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,其中N為大於或等於2的整數;對矩陣S中的元素進行合併,得到矩陣S1,並對矩陣S1中的元素進行分類;去除矩陣31中每一類元素對應的特徵點中的除孤立點。這樣,通過對特徵點進行分類並去除孤立點,從而減少非視距誤差,應用去除孤立點後剩餘的特徵點進行定位能夠提高定位精度。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0016]為了更清楚地說明本發明實施例中的技術方案,下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例,對於本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0017]圖1為本發明實施例1提供的一種特徵點處理方法的流程圖;
[0018]圖2為本發明實施例1提供的一種特徵點選取示意圖;
[0019]圖3為本發明實施例2提供的一種特徵點處理方法的流程圖;
[0020]圖4a為本發明實施例2提供的特徵點聚類結果示意圖之一;
[0021]圖4b為本發明實施例2提供的特徵點聚類結果示意圖之二 ;
[0022]圖5為本發明實施例3提供的一種定位方法的流程圖;
[0023]圖6為本發明實施例4提供的一種特徵點處理裝置的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0024]為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚,下面將結合附圖對本發明實施方式作進一步地詳細描述。
[0025]實施例1
[0026]如圖1所示,本施例提供一種特徵點處理方法,包括:
[0027]110、根據N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,建立矩陣S,該矩陣S中的元素用於標識N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,其中N為大於或等於2的整數。
[0028]其中,特徵點為預先選取,本發明實施例不限定特徵點的選取方式。圖2為一個具體室內場景示意圖,圖2中圓點即為選定的特徵點。
[0029]120、對該矩陣S中的元素進行合併,得到矩陣S1,並對該矩陣S1中的元素進行分類。
[0030]可選地,可以對矩陣S中的相同的元素進行合併得到矩陣Sp
[0031]130、去除該矩陣S1中每一類元素對應的特徵點中的除孤立點,每一類元素對應的特徵點中去除孤立點後剩餘的特徵點用於定位。
[0032]其中,孤立點為特徵點中誤差較大的點,應用孤立點進行定位影響定位精度。
[0033]上述110-130的執行主體可以為特徵點處理裝置,如定位終端、計算機終端、通信
終端等。
[0034]本發明實施例的特徵點處理方法根據N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,建立矩陣S,矩陣S中的元素用於標識N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,其中N為大於或等於2的整數;對矩陣S中的元素進行合併,得到矩陣S1,並對矩陣S1中的元素進行分類;去除矩陣31中每一類元素對應的特徵點中的除孤立點。這樣,通過對特徵點進行分類並去除孤立點,從而減少非視距誤差,應用去除孤立點後剩餘的特徵點進行定位能夠提高定位精度。
[0035]實施例2
[0036]如圖3所示,本施例提供一種特徵點處理方法,包括:
[0037]210、根據N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,建立矩陣S,該矩陣S中的元素用於標識該N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,其中N為大於或等於2的整數。
[0038]本實施例中,可以根據
[0039]
【權利要求】
1.一種特徵點處理方法,其特徵在於,包括: 根據N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,建立矩陣S,所述矩陣S中的元素用於標識所述N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,其中N為大於或等於2的整數; 對所述矩陣S中的元素進行合併,得到矩陣S1,並對所述矩陣S1中的元素進行分類;去除所述矩陣S1中每一類元素對應的特徵點中的除孤立點,每一類元素對應的特徵點中去除孤立點後剩餘的特徵點用於定位。
2.根據權利要求1所述的方法,其特徵在於,如
3.根據權利要求1或2所述的方法,其特徵在於,所述對矩陣S中的元素進行合併,得到矩陣S1包括: 對所述矩陣S中包含相同元素的進行合併,並對相同元素所對應的特徵點進行處理,得到所述矩陣Si。
4.根據權利要求1或2或3所述的方法,其特徵在於,所述去除矩陣S1中每一類元素對應的特徵點中的除孤立點包括: 每一類元素對應的特徵點中第一 NLOS誤差減去第二 NLOS誤差所得到的值大於預設值的特徵點為孤立點,將孤立點去除。
5.根據權利要求4所述的方法,其特徵在於,根據
6.一種特徵點處理裝置,其特徵在於,包括: 建立單元,用於根據N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,建立矩陣S,所述矩陣S中的元素用於標識所述N個特徵點中每兩個特徵點能否聚為一類,O其中N為大於或等於2的整數; 第一處理單元,用於對所述矩陣S中的元素進行合併,得到矩陣S1,並對所述矩陣S1中的元素進行分類; 第二處理單元,用於去所述除矩陣S1中每一類元素對應的特徵點中的除孤立點,每一類元素對應的特徵點中去除孤立點後剩餘的特徵點用於定位。
7.根據權利要求6所述的裝置,其特徵在於,所述建立單元具體用於,如
8.根據權利要求6或7所述的裝置,其特徵在於,所述第一處理單元具體用於,對所述矩陣S中包含相同元素的進行合併,並對相同元素所對應的特徵點進行處理,得到所述矩陣S10
9.根據權利要求6或7或8所述的裝置,其特徵在於,所述第二處理單元具體用於,每一類元素對應的特徵點中第一 NLOS誤差減去第二 NLOS誤差所得到的值大於預設值的特徵點為孤立點,將孤立點去除。
10.根據權利要求9所述的裝置,其特徵在於,所述第二處理單元具體用於,根據
【文檔編號】H04W64/00GK103634904SQ201310611399
【公開日】2014年3月12日 申請日期:2013年11月26日 優先權日:2013年11月26日
【發明者】鄧中亮, 餘彥培, 王克己, 安倩, 阮鳳立, 李曉陽, 馬文旭 申請人:北京郵電大學