電子顯示器畫質檢查裝置的製作方法
2023-05-23 20:20:51
專利名稱：電子顯示器畫質檢查裝置的製作方法
技術領域：
本發明是涉及一種電子顯示器畫質檢查裝置，其可以自動檢查等離子體顯示器等電子顯示裝置的顯示缺陷。
背景技術：
作為以往技術的一個例子，將使用了CCD(電荷耦合元件)攝像機的等離子體顯示器畫質檢查裝置表示在圖3，以下進行說明。
1是等離子體顯示器等電子顯示器裝置，2是CCD攝像機等的攝像裝置，3是向等離子體顯示器顯示圖象的信號發生器，5是從等離子體顯示器畫面的攝影圖像，檢查像素缺陷的圖像處理裝置，6是顯示或列印檢查結果的彩色監視器、印表機的顯示裝置，7是這個檢查裝置的操作裝置。
以往方式裡，如圖3所示，由信號發生器3將顯示白色的顯示圖案在等離子體顯示器1的整個顯示畫面輸出，這個圖像由CCD攝像機等的攝像裝置2攝入，並發送給圖像處理裝置5。在圖像處理裝置5裡檢查該圖像的黑點(未感光的像素)等顯示缺陷。
但是等離子體顯示器1的發光面，如圖5所示，R、G、B發光元件的隔板1a及連接各個發光元件的電極1b部分並不發光。為此，用具有與等離子體顯示器析像度(解析度)同等程度的析像度的攝像機，攝入等離子體顯示器1的發光面時，如圖4所示，產生莫爾條紋(幹涉條紋)現象，難以同黑點等未感光像素進行區分，因此，由於誤檢等給畫質檢查帶來障礙。
為了消除這個莫爾條紋現象，就需要一種方式，即，使用比顯示器顯示像素數更高析像度的攝像機，或者考慮使用以壓電元件將CCD元件邊進行半像素移動邊攝像的攝像機，由所攝入的圖像來進行高析像度化，但是這種方式裡，伴隨高析像度化其像素數也增加，並且有必要將隔板、電極等不發光部分和黑點進行分離處理，這樣就需要高價的高速圖像處理裝置。
發明內容
本發明的目的在於提供一種畫質檢查裝置，以消除這些缺點，依靠這種裝置，可以不使用高精度的CCD攝像機和高速圖像處理裝置，就可以很容易地消除等離子體顯示器等顯示裝置中的隔板、電極等不發光部分產生的莫爾條紋現象，並可以高速檢測出黑點(未感光像素)等像素缺陷。
本發明為了達到上述目的，提供一種電子顯示器畫質檢查裝置，其攝入電子顯示器的畫面，並根據這個圖像，檢查電子顯示器的像素產生的缺陷，這種裝置具有將攝入上述電子顯示器畫面的攝像元件在縱、橫方向移動預定距離的裝置、將每次該移動時攝入的圖像進行幀積分的裝置、以及從這個幀積分的圖像檢查電子顯示器的像素缺陷的裝置。
而且，一種電子顯示器畫質檢查裝置，其可攝入電子顯示器的畫面，並根據這個圖像，檢查電子顯示器像素產生的缺陷，其具有將攝入上述電子顯示器畫面的攝像元件在縱、橫方向移動預定距離的裝置、檢測保持每次該移動時所攝入圖像最大值的裝置、以及從檢測保持了最大值的圖像中，檢查電子顯示器像素缺陷的裝置。
又，一種電子顯示器畫質檢查裝置，其可攝入電子顯示器的畫面，並根據這個圖像，檢查電子顯示器像素產生的缺陷，其具有控制攝入上述電子顯示器畫面的攝像元件的曝光時間，並在該曝光中，將上述攝像元件在縱、橫方向移動預定距離的裝置、從由上述攝像元件攝入的並根據電荷蓄積特性來積分的圖像，檢查電子顯示器的像素缺陷的裝置。
還有，將使上述攝像元件就在縱、橫方向移動預定距離的裝置，做成，在縱、橫方向、上述攝像元件的像素陣列間距的1/N像素距離各移動N次、計N2次的裝置。
其結果，等離子體顯示器的發光像素、與隔板或者電極等不發光部分的圖像水平被平均化，就可以消除莫爾條紋現象。
而且，使用最大值檢測電路代替幀積分電路也可以消除莫爾條紋現象。另外，控制攝像元件的曝光時間，在曝光中，通過在縱.橫方向每隔預定距離就進行移動的攝像元件，可以不使用幀積分電路，利用攝像元件的電荷蓄積特性使其進行積分，同樣可以消除莫爾條紋現象。
圖1是表示本發明的等離子體顯示器畫質檢查裝置的一個實施例的方框圖。
圖2是表示按照本發明的莫爾條紋消除原理的處理方式說明圖。
圖3是表示以往等離子體顯示器畫質檢查裝置的一個例子的方框圖。
圖4是由CCD攝像機攝入的產生莫爾條紋現象的產生例的說明圖。
圖5是表示等離子體顯示器的不發光部分(電極/隔板)等的說明圖。
標號說明1等離子體顯示器2攝像裝置(CCD攝像機)3信號發生器4幀積分電路5圖像處理裝置6顯示裝置7操作裝置8CCD攝像機內部的壓電元件9CCD元件發明實施方式以下，參照圖1說明本發明適用於等離子體顯示器畫質檢查裝置的一個實施例。
1是等離子體顯示器等電子顯示器裝置、2是CCD攝像機等攝像裝置、3是使等離子體顯示器顯示圖像的信號發生器、4是幀積分電路或者最大值檢測保持電路，例如由幀存儲器組成。如果是幀積分電路，在每讀入一幀圖像時，都重複進行以下動作，即，將攝入的圖像和幀存儲器存儲的圖像的每一個像素進行積分。如果是最大值檢測保持電路，在每讀入一幀圖像時，都重複進行如下動作，即，將攝入的圖像和幀存儲器存儲的圖像的每一個像素都進行比較，然後在級別較高的情況下將其更新存儲。5是從等離子體顯示器畫面的攝入圖像的幀積分值或者最大值，來檢測像素缺陷的圖像處理裝置、6是顯示或列印檢測結果的彩色監視器或印表機等顯示裝置、7是這種檢測裝置的操作裝置。
以下參照圖1、圖2，詳細說明這個工作原理。圖2是按照本發明，說明莫爾條紋消除原理的圖，顯示了圖5點A中的1條線波形。
這裡，由信號發生器3輸出顯示於等離子體顯示器的整個顯示面的白色的顯示圖案。並由CCD攝像機等的攝像裝置2攝入這個圖像，並發送給幀積分電路4。
在幀積分電路4裡，一完成1幀圖像的讀入，就控制攝像裝置2內部的壓電元件8，使CCD元件9在縱、橫方向移動CCD像素陣列間距的1/N像素單位，而讀入圖像同上次讀入的圖像進行每一個像素的積分(或者檢測保持讀入圖像的最大值)，再重複進行這個動作。
也就是說，將CCD元件9在縱、橫方向N次、計N2次地移動CCD像素陣列間距的1/N像素單位(距離)，以進行圖像讀入和幀積分(最大值檢測保持)動作，再輸出給圖像處理裝置5。
圖像處理裝置5，將幀積分(最大值檢測保持)後的圖像和事先定好的缺陷判斷值SH進行比較，將規定值以下的像素作為缺陷(熄滅像素)檢測出來，並存儲管理這些缺陷數據，再輸出給顯示裝置6。
這裡，如圖2所示，攝入的圖像中，不發光的隔板部分和不發光的缺陷像素部分，都表現為低值，但由於如上所述，將CCD元件9在縱.橫方向、N次、計N2次地移動CCD像素陣列間距的1/N像素距離，以進行圖像讀入和幀積分(最大值檢測保持)，因此不發光的隔板部分被消除，只剩下不發光的缺陷像素部分在缺陷判斷值SH以下，則可以作為缺陷被檢測出來。
顯示裝置6，顯示這個檢查結果，根據需要進行列印等。操作裝置7是進行上述測試開始、結束等的控制和檢查順序的設定的裝置。
而且，在上述實施例裡，使用了幀積分電路4，但另外控制CCD元件9的曝光時間，將曝光中的CCD元件和上述情況一樣，在縱、橫方向移動，這樣，可以不使用幀積分電路，利用CCD元件的電荷蓄積特性進行積分，也可以消除莫爾條紋現象。
如上述所說明，即使等離子體顯示器等顯示畫面上存在隔板、電極等不發光部分，如圖2所示，可以將邊挪移CCD像素邊攝入的圖像依次進行幀積分，這樣很容易消除莫爾移動移動條紋現象，可以只把缺陷像素部分作為缺陷檢測出來。
權利要求
1.一種電子顯示器畫質檢查裝置，其對電子顯示器的畫面進行攝像，並根據該圖像，檢查電子顯示器的像素產生的缺陷，其特徵在於具有對上述電子顯示器畫面進行攝像的攝像元件，在縱、橫方向移動預定距離的裝置；將每次該移動時攝入的圖像進行幀積分的裝置；以及從該幀積分的圖像檢查電子顯示器的像素缺陷的裝置。
2.一種電子顯示器畫質檢查裝置，其電子顯示器的畫面進行攝像，並根據該圖像，檢查電子顯示器的像素產生的缺陷，其特徵在於具有對上述電子顯示器畫面進行攝像的攝像元件，在縱、橫方向移動預定距離的裝置；檢測保持每次該移動時所攝入圖像最大值的裝置；以及從檢測保持了最大值的圖像中，檢查電子顯示器像素缺陷的裝置。
3.一種電子顯示器畫質檢查裝置，其電子顯示器的畫面進行攝像，並根據這個圖像，檢查電子顯示器的像素產生的缺陷，其特徵在於具有控制對上述電子顯示器畫面進行攝像的攝像元件的曝光時間，並在該曝光中，在縱、橫方向移動預定距離的裝置、從由上述攝像元件攝入的並根據電荷蓄積特性進行積分的圖像中，檢查電子顯示器像素缺陷的裝置。
4.如權利要求1至3中任意一項所述的電子顯示器畫質檢查裝置，其特徵在於將上述攝像元件在縱橫方向移動預定距離的裝置，作為每隔上述攝像元件的像素陣列間距的1/N像素距離，就在縱.橫方向移動N次、計N2次的移動裝置。
全文摘要
本發明提供一種電子顯示器畫質檢查裝置，不使用高精度的CCD攝像機和高速圖像處理裝置，就能很容易消除在等離子體顯示器等的顯示裝置中，隔板、電極等不發光部分產生的莫爾條紋現象，即可以實現對黑點(不發光像素)等的像素缺陷的高速檢測，其攝入電子顯示器的畫面，並根據該圖像，檢查電子顯示器的像素產生的缺陷，這種裝置具有使攝入上述電子顯示器畫面的攝像元件，在縱橫方向移動預定距離的裝置、將每次該移動時攝入的圖像進行幀積分的裝置、從這個幀積分的圖像檢查電子顯示器像素缺陷的裝置。
文檔編號H04N13/02GK1407814SQ0212987
公開日2003年4月2日 申請日期2002年8月20日 優先權日2001年8月20日
發明者渡貫明男 申請人:株式會社日立國際電氣