一種分光光度計固體樣品支架的製作方法

2023-05-22 08:21:21

一種分光光度計固體樣品支架的製作方法
【專利摘要】本發明涉及一種分光光度計固體樣品支架，主要由頂蓋、頂板、滑塊、底板組成，同時在頂蓋上還設置有用於固定滑塊的方槽；在頂板上設置有通孔、螺紋孔、方孔、凸臺、滑道；在滑塊上設置有凹槽、圓槽；在底板上設置有兩個通孔、底座，三個螺紋孔、淺方槽；由於本發明的固體樣品支架採用上述結構，用彈簧推動滑塊的方法，將樣品固定於滑塊與頂板凸臺之間，保證樣品穩固，且光線垂直通過樣品，便於更換樣品，讀取數據時間短，光路通過樣品的面積保持一致，適用於分光光度計的固體樣品分析。
【專利說明】 一種分光光度計固體樣品支架
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種分光光度計的樣品支架，特別是一種分光光度計讀取分析固體樣品通光量/吸光量的樣品支架，屬化學分析領域。
【背景技術】
[0002]分光光度計使用時，需採用樣品支架盛放樣品，樣品支架起到固定樣品，使光路垂直通過面積一致，以實現讀取樣品通光量/吸光量的作用。因分光光度計的光斑尺寸小，故在使用分光光度計時樣品支架是必不可少的，而目前分光光度計的應用大多為液體樣品濃度分析，使用的樣品支架是一液體樣品池，樣品池的尺寸能放入分光光度計的觀察艙室即可，同時要注入足夠量的液體樣品，即可保證光路通過樣品，完成通光量/吸光量的讀取分析。隨著科技事業的不斷發展，分光光度計不僅限於液體樣品分析，還要對各種固體樣品的通光量/吸光量進行分析，與液體樣品不同，固體樣品不可以通過樣品數量的累加實現光路正好通過樣品。故相關企業不斷研製各種固體樣品支架，如中國專利號為20072007149.7(一種樣品支架)、201020293270.3 (分光光度計的固體樣品支架)等。這些樣品支架雖都能使光路正好通過樣品，結構也較簡單，但不能保證在分析讀取時樣品的穩固，故難以保證分析的精度。

【發明內容】

[0003]本發明的目的是提供一種能使光路垂直通過樣品，使光路通過樣品的面積保持一致，分析精度高的分光光度計固體樣品支架。
[0004]本發明是這樣實現的:一種分光光度計固體樣品支架，包括頂蓋、頂板、底板，還包括滑塊、彈簧、方槽、通孔A、方孔、螺紋孔A、凸臺、滑道、凹槽、圓槽、螺紋孔B、通孔B、二個螺紋孔C、通孔C、淺方槽、底座，其中所述的方槽是設置在所述的頂蓋上；所述的通孔A、方孔、螺紋孔A、凸臺、滑道都分別設置在所述頂板上；所述的凹槽、圓槽分別設置在所述的滑塊上的；所述的螺紋孔B、通孔B、二個螺紋孔C、通孔C、淺方槽、底座都分別設置在所述的底板上的；所述彈簧是設置在所述滑塊與所述底板之間，所述滑塊是緊壓在設置在所述頂蓋的所述方槽內，設置在所述滑塊上的凹槽嵌入所述頂板上設置的滑道內，所述頂板與所述底板是通過所述的通孔A、螺紋孔A、螺紋孔B、通孔C用螺釘將兩者固定安裝在一起的，所述二個螺紋孔C是設置在所述底板的底座上的，所述的淺方槽是設置在所述的底板的中部，所述的通孔B是設置在所述的淺方槽的中心位置。
[0005]本發明的分光光度固體樣品支架由於採用了上述結構，故能使光路垂直通過樣品；通光面積小於樣品截面積，樣品每次固定的位置一致，使光路通過樣品的面積保持一致，使固體樣品更換快速，樣品的分析精度高。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0006]圖1為本發明的結構示意圖。[0007]圖2為本發明的頂蓋結構示意圖。
[0008]圖3為本發明的頂板結構示意圖。
[0009]圖4為本發明的滑塊結構示意圖。
[0010]圖5為本發明的底板結構示意圖。
[0011]圖6、圖7為本發明的使用示意圖。
[0012]圖1圖7中:1.頂蓋2.頂板3.滑塊4.底板5.彈簧6.方槽7.通孔A
8.方孔9.螺紋孔A 10.凸臺11.滑道12.凹槽13.圓槽14.螺紋孔B 15.通孔B 16.二個螺紋孔C 17.通孔C 18.淺方槽19.底座。
【具體實施方式】
[0013]下面結合附圖舉實施例對本發明作進一步說明。
[0014]先將各部件按實際所需一一加工好，再將各部件先後安裝即為一分光光度計的固體樣品支架。
[0015]如圖2所示，在頂蓋I的一面開一方槽6，在本實施例中其尺寸為12mmX5mm，深為3mm。方槽6正好可壓住滑塊3，固定在滑塊3上，用於壓住滑塊3以更換樣品。
[0016]如圖3所示，設置在頂板2上的凸臺10與頂板2是一次壓製成型的，在凸臺10的中部鑽有通孔A7，在凸臺10的兩側開有滑道11，與滑塊3上開有的凹槽12是相匹配的(如圖4所示)，是作為滑塊3的滑道。在凸臺10的下邊緣處還鑽有一方孔8，大小為8mmX 10mm，用於放置取出和更換樣品的窗口。在頂板2的底端還鑽一螺紋孔A9，且與通孔C17相匹配(如圖5所示)，用螺釘通過該兩孔就能將頂板2和底板4固定安裝在一起。在本實施例中滑塊3是加工成一半框形結構，在半框的兩側分別切割有凹槽12，在底框的底部居中處開有兩個圓槽13 (如圖4所示)，凹槽12與頂板2上的凸臺10的兩側滑道11是相匹配的，這樣能使滑塊3可以在頂板2上滑動，圓槽13是用於固定彈簧5的一端。
[0017]如圖5所示，底板4上的底座19是與底板4 一次壓製成型的，在底板4的上部中心處鑽有一螺紋孔B14，該孔與頂板2上的通孔A7相匹配(如圖1所示)，通過該兩孔用螺釘將頂板2和底板4固定安裝在一起。在底板4的中部開有一 6mmX6mm,深0.5mm的淺方槽18，用於固定樣品的位置，在淺方槽18的中心位置開有一通孔B15，其是供光路通過，並能保證通光面積一致。在底座19的底部中間處開有一通孔C17與螺紋孔A 9相匹配，兩孔用於固定頂板2和底板4。在底座19的上沿長度方向開有兩個螺紋孔C16，其大小與彈簧5的表面積相匹配，以能放入彈簧5即可，將彈簧5置入後用堵頭螺釘穿入該孔即能固定好彈簧5的另一端。
[0018]如圖1所示，將上述各部件頂蓋1、頂板2、滑塊3、底板4、彈簧5 (為市售的)按所需要求一一加工好後，將滑塊3穿過頂板2的凸臺10的兩側滑道11上，將頂蓋I蓋卡在滑塊3的凹槽12內，再將滑塊3推到底後，這時滑塊3與頂板2組合在一起，然後將其放置在底板4上，頂板2與底板4分別通過通孔A7與螺紋孔B14及通孔C17與螺紋孔A9用螺紋釘將其固定安裝在一起。將彈簧5放置在底板4的底座19上的兩個螺紋孔C 16中，用堵頭螺釘堵住螺紋孔C 16，彈簧5的另一端就在滑塊3底部的圓槽13中，此至一個完整的固體樣品支架就裝配好了。
[0019]圖6、圖7為本發明的使用示意圖。[0020]如圖6所示，通過摁壓頂蓋I推動滑塊3向下移動，壓緊彈簧5，滑塊3底框與頂板2上的凸臺10的下邊緣處間距增大，可更換樣品。
[0021]如圖7所示，鬆開頂蓋1，這時頂蓋I上的壓力就消除，彈簧5推動滑塊3，滑塊3的底框與頂板2上的凸臺10的下邊緣共同夾緊樣品，並保證樣品放置穩固。
[0022]由於在底板4上與樣品相對應區域開有淺方槽18，更換樣品時該淺方槽18可使樣品位置保持一致。同時，在底板4上與樣品位置相對應的區域開有通孔B 15，通孔B 15的截面積小於樣品截面積，使光路通過樣品的面積保持一致，故本發明的固體樣品支架能達到所期望的分析精度。
【權利要求】
1.一種分光光度計固體樣品支架，包括頂蓋(I)、頂板(2)、底板(4)，其特徵在於還包括滑塊(3)、彈簧(5)、方槽(6)、通孔A (7)、方孔(8)、螺紋孔A (9)、凸臺(10)、滑道(11)、凹槽(12)、圓槽(13)、螺紋孔B (14)、通孔B (15)、二個螺紋孔C (16)、通孔C (17)、淺方槽(18)、底座(19)，其中所述的方槽(6)是設置在所述的頂蓋(I)上；所述的通孔A (7)、方孔(8)、螺紋孔A (9)、凸臺(10)、滑道(11)都分別設置在所述頂板(2)上；所述的凹槽(12)、圓槽(13)分別設置在所述的滑塊(3)上的；所述的螺紋孔B (14)、通孔B (15)、二個螺紋孔C (16)、通孔C (17)、淺方槽(18)、底座(19)都分別設置在所述的底板(4)上的；所述彈簧(5 )是設置在所述滑塊(3 )與所述底板(4 )之間，所述滑塊(3 )是緊壓在設置在所述頂蓋(O的所述方槽(6)內，設置在所述滑塊(3)上的凹槽(12)嵌入所述頂板(2)上設置的滑道(11)內，所述頂板(2)與所述底板(4)是通過所述的通孔A (7)、螺紋孔A (9)、螺紋孔B(14)、通孔C (17)用螺釘將兩者固定安裝在一起的，所述二個螺紋孔C (16)是設置在所述底板(4)的底座(19)上的，所述的淺方槽(18)是設置在所述的底板(4)的中部，所述的通孔B (15)是設置在所述的淺方槽(18)的中心位置。
【文檔編號】G01N21/01GK103439259SQ201310425943
【公開日】2013年12月11日 申請日期:2013年9月17日 優先權日:2013年9月17日
【發明者】徐偉, 李玉鳴, 烏曉燕, 鍾志民 申請人:國核電站運行服務技術有限公司