剔卡檢測裝置的製作方法
2023-05-07 11:52:06
專利名稱：剔卡檢測裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及智能IC卡檢測技術領域，特別涉及一種可以將檢測有缺陷的智慧卡從檢測流水線上分離收集的剔卡檢測裝置。
背景技術：
隨著信息化管理技術的應用發展，越來越多的行業應用IC卡或智慧卡對用戶的身份進行管理，由於該智慧卡內置的晶片記錄的信息可以通過專用設置和軟體配合進行修改，可以及時更新數據，便用集中管理，其應用越來越廣泛。
現有的智慧卡在其卡體內設置晶片和RF天線，通過該RF天線可以讀取晶片內的信息。為了確保智慧卡的質量，在生產製造過程每個工藝完後都需要進行檢測，在包裝前還需要出廠檢測，主要檢測其電信號是否導通，避免不良產品流入市場。目前多個智慧卡在檢測時主要有兩個方式進行檢測是，一是採用人工的方式逐個進行檢測，其檢測系統較低；二是採用自動化檢測機構進行檢測是，雖然檢測的效率相比人工而言效率較高，但在檢測過程中即使檢測至不合格，還需要由人工將不合格的產品從檢測流水線上取出，其效率也受到一定的影響。發明內容
本發明主要解決的技術問題是提供一種新型剔卡檢測裝置，該新型剔卡檢測裝置可以避免採用人工的方式從檢測流水線上將不合格的智慧卡分離，提高檢測的效率，降低生產成本，同時其結構簡單緊湊。
為了解決上述問題，本發明提供一種新型剔卡檢測裝置。該剔卡檢測裝置包括:輸送機構、檢測機構以及協調輸送機構和檢測機構工作的控制模塊，還包括受控制模塊控制的剔卡機構，該剔卡機構包括設於輸送機構一側的氣壓通道和位置檢測裝置，設有電動開關的氣壓通道與高壓氣源連接，在氣壓通道一側的輸送架上設有一與智慧卡長度相當的脫離開口，當檢測機構檢測到智慧卡為壞卡後，壞卡移動至氣壓通道位置時，氣壓通道處於打開狀態。
進一步地說，所述氣壓通道包括兩個出口，兩齣口所在的直線與智慧卡移動的方向平行。
進一步地說，所述輸送機構包括由電機驅動的傳輸帶，在該傳輸帶兩側分別設有兩個限位架，所述傳輸帶的高出限位架底部稍許。
進一步地說，所述限位架設有的外側設有與底部連接的檔邊，形成臺階結構。
進一步地說，所述限位架的外設有限位導槽，位於脫離開口相對的一限位架設有導槽開口。
本發明剔卡檢測裝置，包括輸送機構、檢測機構以及協調輸送機構和檢測機構工作的控制模塊，還包括受控制模塊控制的剔卡機構，該剔卡機構包括設於輸送機構一側的氣壓通道和位置檢測裝置，設有電動開關的氣壓通道與高壓氣源連接，在氣壓通道一側的輸送架上設有一與智慧卡長度相當的脫離開口。當檢測機構檢測到智慧卡為壞卡後，壞卡移動至氣壓通道位置時，氣壓通道根據壞卡位置信號處於打開狀態，高壓氣流將壞卡一側下壓，該壞卡可以從位於輸送架該的脫離開口掉落，離開輸送機構。剔卡檢測裝置可以自動將檢測到的壞智慧卡進行分類，提高檢測效率，降低生產成本；同時結構簡單，工作可靠。
為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單介紹，顯而易見地，而描述中的附圖是本發明的一些實施例，對於本領域普通技術人員來說，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他附圖。
圖1是本發明剔卡檢測裝置實施例結構示意圖。
圖2是本發明剔卡檢測裝置實施例另一狀態結構示意圖。
圖3是圖1中B-B方向剖視結構示意圖。
圖4是本發明剔卡檢測裝置另一實施例結構示意圖。
圖5是圖4中的C部分結構放大示意圖。
圖6是圖4中的D-D方向剖視結構示意圖。
下面結合實施例，並參照附圖，對本發明目的的實現、功能特點及優點作進一步說明。
具體實施方式
為了使發明的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬於本發明保護的範圍。
如圖1、圖2和圖3所示，本發明提供一種剔卡檢測裝置實施例。
該剔卡檢測裝置包括:輸送機構、檢測機構(附圖示標示)以及協調輸送機構和檢測機構工作的控制模塊(附圖示標示)，該輸送機構包括電機驅動的傳輸帶2，在該傳輸帶2兩側分別設有兩個平行設置的限位架1，所述傳輸帶2的高出限位架底部10稍許，所述剔卡檢測裝置還包括受控制模塊控制的剔卡機構，該剔卡機構包括設於輸送機構一側的氣壓通道3和位置檢測裝置4，設有電動開關的氣壓通道3與高壓氣源連接，在氣壓通道3 —側的輸送架I上設有一與智慧卡A長度相當的脫離開口 11，當檢測機構檢測到智慧卡A為壞卡後，壞卡移動至氣壓通3道位置時，氣壓通道3處於打開狀態，所述壞卡在高壓氣體的作用出現側傾，並從脫離開口 11離開輸送機構，實現好卡與壞卡分離。所述電動開關包括電磁電關。
所述氣壓通道3包括兩個出口，兩齣口所在的直線與智慧卡A移動的方向平行，由於兩上出氣口可以保證向有脫離開口 11的一側側翻，避免出現壞卡不能分離的情形出現。
所述限位架I設有的外側設有與底部10連接的檔邊，該檔邊與底部10形成臺階結構12，該結構的限位架I可以保正智慧卡在移動時平整，不會出現不同的角度，更好方便氣吹時脫離輸送機構。該底部10與檔邊可以是一體工或分離裝配。
工作時，當檢測機構檢測到智慧卡為壞卡後，壞卡移動至氣壓通道位置時，氣壓通道根據壞卡位置信號處於打開狀態，高壓氣流將壞卡一側下壓，該壞卡可以從位於輸送架該的脫離開口掉落，離開輸送機構。剔卡檢測裝置可以自動將檢測到的壞智慧卡進行分類，提高檢測效率，降低生產成本；同時結構簡單，工作可靠。
如圖4、圖5和圖6所示，所述限位架I上設有限位導槽14，位於脫離開口 11相對的一限位架I設有導槽開口 13。由於在脫離開口 11相對位置的另一限位架I也設有導槽開口 13，當壞的智慧卡在氣壓通道3的高壓氣流的作用下側翻，壞的智慧卡另一側也能從另一限位架I的導槽開口 13處脫離，實現分離。該限位架I上設有限位導槽14可以避免在檢測輸送時智慧卡掉落現象發生。其工作過程與上述實施例相同，不再贅述。
以上實施例僅用以說明本發明的技術方案，而非對其限制；儘管參照前述實施例對本發明進行了詳細的說明，本領域的普通技術人員應當理解:其依然可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特徵進行等同替換，而這些修改或替換，並不使相應技術方案的本質脫離本發明各實施例技術方案的精神和範圍。
權利要求
1.新型剔卡檢測裝置，其特徵在於: 包括用於輸送智慧卡的輸送機構、用於檢測智慧卡好壞的檢測機構以及協調輸送機構和檢測機構工作的控制模塊，還包括受控制模塊控制的剔卡機構，該剔卡機構包括設於輸送機構一側的氣壓通道和位置檢測裝置，設有電動開關的氣壓通道與高壓氣源連接，在氣壓通道一側的輸送架上設有一與智慧卡長度相當的脫離開口，當檢測機構檢測到智慧卡為壞卡後，壞卡移動至位置檢測裝置時，氣壓通道處於打開狀態。
2.根據權利要求1所述的新型剔卡檢測裝置，其特徵在於: 所述氣壓通道包括兩個出口，兩齣口所在的直線與智慧卡移動的方向平行。
3.根據權利要求1或2所述的新型剔卡檢測裝置，其特徵在於: 所述輸送機構包括由電機驅動的傳輸帶，在該傳輸帶兩側分別設有兩個限位架，所述傳輸帶的高出限位架底部稍許。
4.根據權利要求3所述的新型剔卡檢測裝置，其特徵在於: 所述限位架設有的外側設有與底部連接的檔邊，形成臺階結構。
5.根據權利要求3所述的新型剔卡檢測裝置，其特徵在於: 所述限位架的外設有限 位導槽，位於脫離開口相對的一限位架設有導槽開口。
全文摘要
本發明剔卡檢測裝置，包括輸送機構、檢測機構以及協調輸送機構和檢測機構工作的控制模塊，還包括受控制模塊控制的剔卡機構，該剔卡機構包括設於輸送機構一側的氣壓通道和位置檢測裝置，設有電動開關的氣壓通道與高壓氣源連接，在氣壓通道一側的輸送架上設有一與智慧卡長度相當的脫離開口。當檢測機構檢測到智慧卡為壞卡後，壞卡移動至氣壓通道位置時，氣壓通道根據壞卡位置信號處於打開狀態，高壓氣流將壞卡一側下壓，該壞卡可以從位於輸送架該的脫離開口掉落，離開輸送機構。剔卡檢測裝置可以自動將檢測到的壞智慧卡進行分類，提高檢測效率，降低生產成本；同時結構簡單，工作可靠。
文檔編號B07C5/00GK103212537SQ20131008193
公開日2013年7月24日 申請日期2013年3月11日 優先權日2013年3月11日
發明者蘭榮 申請人:蘭榮