自動測試系統的製作方法
2023-04-29 21:13:26
專利名稱：自動測試系統的製作方法
技術領域：
本發明是有關於一種測試系統，特別是提出一種能完成自動化測試電源供應器的測試系統。
背景技術：
在現行的測試過程中，要測試一臺電源供應器時，要先將該待測的電源供應器與測試電源線連接好後，再輸入交流電，並用目視法判斷輸出電壓以判斷測試結果，每組待測的電源供應器的輸出電壓都要檢查過電壓保護功能、過電流保護功能及短路保護功能，因其測試方法為人工測試，所以在做某一項測試時需一個一個按鍵進行測試，並同時觀察待測的電源供應器所有的輸出電壓，以判斷測試結果，而在進行每一項測試時，需重新啟動該待測的電源供應器，這樣反覆循環按某些按鍵進行測試，直到所有的測試項目測試完畢。此種以人工進行測試的方式，有一定的誤測率存在，因而影響了測試的精確度，且使用這種測試方式所需的測試時間也較長，並且測試方法也較繁瑣，需要反覆循環按某些按鍵。
發明內容
有鑑於此，本發明的主要目的在於提出一種測試系統，其使用自動化的方式完成電源供應器的測試，以滅少誤測率，進而提高測試精確度，且因其不需要繁瑣的按鍵工作，因此能滅少測試時間，進而提高生產效率。
本發明提供一種自動測試系統，其包括取樣轉換裝置、微處理器、可程序化輸入裝置控制電路、解析驅動電路以及可程序化顯示裝置控制電路。取樣轉換裝置用以擷取待測裝置的複數電性參數並且將上述電性參數轉換成複數數位訊號，其包括取樣裝置以及數字模擬轉換器，取樣裝置用以擷取待測裝置的複數電性參數，數字模擬轉換器用以將該取樣裝置所擷取的電性參數轉換成複數數位訊號。微處理器用以接收上述數位訊號以分別完成複數不同的短路保護測試、複數不同的過電流保護測試及複數不同的過電壓保護測試。可程序化輸入裝置控制電路由輸入裝置接收複數不同的控制訊號，每個控制訊號經由該微處理器改變該待測裝置，以使該取樣轉換裝置擷取到不同的電性參數。解析驅動電路用以解析上述控制訊號以轉變上述控制訊號成為該待測裝置可辨識的訊號，以改變該待測裝置輸出的電性參數，其包括解碼電路及驅動電路，解碼電路用以解析上述控制訊號以轉變上述控制訊號成為該待測裝置可辨識的訊號，驅動電路用以放大該解碼電路解析後的控制訊號，以改變該待測裝置輸出的電性參數。可程序化顯示裝置控制電路耦接至該微處理器以將上述短路保護測試、過電流保護測試及過電壓保護測試的測試結果顯示於顯示裝置中。其中該微處理器依特定順序完成上述短路保護測試、上述過電流保護測試以及上述過電壓保護測試。
此外，該微處理器至少包括一可消除程序化只讀存儲器(ErasableProgrammable Read-Only Memory，EPROM)，用以儲存一程序以完成上述短路保護測試、過電流保護測試及過電壓保護測試。
圖1表示本發明實施例的測試系統的系統架構圖；圖2表示本發明實施例的微處理器的方塊圖；
圖3表示本發明實施例的數字模擬轉換器的方塊圖；圖4表示本發明實施例的可程序化輸入裝置控制電路及可程序化顯示裝置控制電路的方塊圖；圖5表示本發明實施例的驅動電路的電路圖；圖6表示本發明實施例的測試系統測試待測裝置的流程圖。
圖號說明100-自動測試系統； 101-取樣轉換裝置；102-取樣裝置； 104-數字模擬轉換器；106-微處理器；108-可程序化顯示裝置控制電路；110-可程序化輸入裝置控制電路；111-解析驅動電路； 112-驅動電路；114-解碼電路； 107-微控制器；200-電源供應器；210-4k字符的可消除程序化只讀存儲器；212-128字符隨機存取存儲器；214-32根I/O線；216-2個16位元定時器/計數器；218-中斷系統；220-外中斷結構； 222-全雙工串行埠；224-時鐘電路； 226-中央處理器；310-8信道多路開關；312-比較器；314-開關網絡； 316-控制邏輯；318-8位逐次逼近數字寄存器；320-8位三態輸出鎖存器；410-鍵盤； 420-顯示器；
SL0-SL4-掃描信號； RL0-RL7-信號線；0-9-數字鍵； ST-開始鍵；TN-換信道鍵； +/--輔助鍵；OK-確定鍵；ESC-取消鍵；502-光耦合器； R1、R2-電阻器；D1、D2-二極體；Q1-電晶體；504-繼電器； S1-開關。
具體實施例方式
圖1表示本發明實施例的測試系統的系統架構圖。如圖所示，自動測試系統100包括取樣轉換裝置101、微處理器106、可程序化輸入裝置控制電路110、解析驅動電路111以及可程序化顯示裝置控制電路108。取樣轉換裝置101用以擷取待測裝置在此為電源供應器200的複數電壓或電流值等電性參數，並且將上述電性參數轉換成複數數位訊號，取樣轉換裝置101包括取樣裝置102以及數字模擬轉換器104，取樣裝置102用以擷取電源供應器200的電性參數，數字模擬轉換器104用以將取樣裝置102所擷取的電性參數轉換成複數數位訊號。微處理器106用以接收上述數位訊號以進行複數不同的短路保護測試(Short)、複數不同的過電流保護測試(Over CurrentProtect)及複數不同的過電壓保護(Over Voltage Protect)測試。可程序化輸入裝置控制電路110由鍵盤等輸入裝置(參考圖4)接收複數不同的控制訊號，每個控制訊號經由微處理器106改變電源供應器200輸出的電性參數，以使取樣轉換裝置102擷取到不同的電性參數。解析驅動電路111用以解析上述控制訊號以轉變上述控制訊號成為電源供應器200可辨識的訊號，以改變電源供應器200輸出的電性參數，解析驅動電路111包括解碼電路112及驅動電路114，解碼電路112用以解析上述控制訊號以轉變上述控制訊號成為待測裝置200可辨識的訊號，驅動電路114用以放大解碼電路112解析後的控制訊號，以改變電源供應器200輸出的電性參數，由於微處理器106所發出的信號微弱，因此其和電源供應器200相接時，需經過此驅動電路114。可程序化顯示裝置控制電路108耦接至微處理器106以將上述短路保護測試、過電流保護測試及過電壓保護測試的測試結果顯示於顯示裝置(參考圖4)中。微處理器106依特定順序完成上述短路保護測試、上述過電流保護測試以及上述過電壓保護測試，在此實施例中微處理器106依短路保護測試、過電流保護測試及過電壓保護測試的特定順序為例進行說明，即微處理器106於完成上述短路保護測試後，再開始上述過電流保護測試，並於完成上述過電流保護測試後，再開始上述過電壓保護測試。
此外，本發明的測試系統可包括電子可移除式可程序化只讀存儲器(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory，E2PROM)(未顯示在圖2中)，用以儲存一程序以供微處理器106存取以完成上述短路保護測試、過電流保護測試及過電壓保護測試，測試人員可根據不同的待測裝置的測試內容，編寫儲存於電子可移除式可程序化只讀存儲器內的程序的內容以控制各個不同的待測裝置的測試項目。
另外，可程序化顯示裝置控制電路108及可程序化輸入裝置控制電路110可實施於同一裝置或者利用微控制器(例如IC8279)107來實施，參考圖4的詳細說明。
圖2表示本發明實施例的微處理器的方塊圖。在本發明實施例中的微處理器106為一種至少包括可消除程序化只讀存儲器(Erasable ProgrammableRead-Only Memory，EPROM)的習知的微處理器，該可消除程序化只讀存儲器用以儲存一程序以完成上述短路保護測試、過電流保護測試及過電壓保護測試，測試人員可根據不同的待測裝置的測試內容，編寫儲存於可消除程序化只讀存儲器內的程序的內容以控制各個不同的待測裝置的測試項目，在本實施例中的微處理器106以Intel公司所生產的MCS-51系列的AT89C51晶片為例，其具有4k字符的可消除程序化只讀存儲器210、128字符隨機存取存儲器212、32根I/O線214、2個16位定時器/計數器216、中斷系統218、外中斷結構220、全雙工串行埠222、時鐘電路224以及中央處理器226，其不具有靜態邏輯，因此可以在低至零頻率的條件下工作，此內部結構的詳細動作說明請參考Intel公司所生產的MCS-51系列的AT89C51晶片的產品說明書。
圖3表示本發明實施例的數字模擬轉換器的方塊圖。如圖所示，在本實施例中的數字模擬轉換器104以逐次逼近比較型轉換器的ADC0809晶片為例進行說明，數字模擬轉換器104用以將輸入的電性參數(模擬信號)轉換成數位訊號，其利用8信道多路開關310接收輸入的模擬信號，每個信道能轉換成8位數字並將轉換後的數位訊號送入高阻抗的截波比較器312，比較器312同時接收由256個電阻分壓器組成的樹狀開關網絡314輸出的信號，比較器312將輸出的信號經由控制邏輯316後送入8位逐次逼近數字寄存器318中，8位逐次逼近數字寄存器318輸出的信號會回授回樹狀開關網絡314，8位逐次逼近數字寄存器318輸出的信號再經由8位三態輸出鎖存器320後輸出。
在此實施例中的數字模擬轉換器104以逐次逼近比較型轉換器的ADC0809晶片為例，但本發明並不限於此類型的數字模擬轉換器。
圖4表示本發明實施例的可程序化輸入裝置控制電路、可程序化顯示裝置控制電路及外接鍵盤的方塊圖。可程序化顯示裝置控制電路108及可程序化輸入裝置控制電路110利用IC8279這顆微控制器107來實施，微控制器107本身可提供掃描信號SL0-SL4，因此可代替微處理器106完成輸入裝置和顯示裝置的控制，微控制器107外接2×8鍵盤410做為輸入裝置以及5位顯示器420做為顯示裝置，微處理器106由掃描信號SL0及SL1控制鍵盤410。鍵盤410包括9個數字鍵(0-9)、1個開始鍵(ST)、1個換信道鍵(TN)、2個輔助鍵(+/-)、1個確定鍵(OK)及1個取消鍵(ESC)，使用者輸入的按鍵信號經由信號線RL0-RL7送入微處理器106，配合本發明的測試系統，使用者只需按單鍵即開始鍵就可完成所有的測試項目，因此可結省測試時間。顯示器420包括1位的顯示信道及4位的顯示電壓值並可分別顯示每項測試的測試結果，以利使用者判斷。
圖5表示本發明實施例的驅動電路的電路圖。驅動電路114用以放大解碼電路112解析後的控制訊號，以改變電源供應器200輸出的電性參數，由於微處理器106所發出的信號微弱，因此其和電源供應器200相接時，需經過此驅動電路114。如圖所示，在本實施例中的驅動電路114採用光耦合器502進行隔離，驅動電路114還包括電阻器R1及R2、二極體D1及D2、電晶體Q1及繼電器504，來自解碼電路112的信號經由電阻器R1進入光耦合器502，當光耦合器502導通後，電流會經由電壓供應源Vcc經由電阻器R2、光耦合器502、二極體D1及電晶體Q1後流到地，因為電晶體Q1導通，所以繼電器504開始動作，繼電器504內的開關S1就會被導通，反之，當光耦合器502未導通時，繼電器504內的開關S1也不會被導通。
圖6表示本發明實施例的測試系統測試待測裝置的流程圖。首先，檢測待測裝置(即電源供應器)是否已備妥待接受測試(步驟S601)。當電源供應器未備妥時，則結束此測試流程(步驟S602)。當電源供應器備妥後，利用測試系統擷取電源供應器的一組電性參數以進行一項短路保護測試(步驟S603)。判斷是否通過此項短路保護測試(步驟S604)。於測試系統判斷不能通過此項測試時結束此測試流程(步驟S602)。接著，測試系統會再判斷是否需擷取另一組電性參數以進行另一項短路保護測試(步驟S605)，如欲進行另一項短路保護測試，則重複步驟S603-S605。
於完成所有的短路保護測試後，則開始過電流保護測試，利用測試系統擷取電源供應器的一組電性參數以進行一項過電流保護測試(步驟S606)。判斷是否通過此項過電流保護測試(步驟S607)。於測試系統判斷不能通過此項測試時結束此測試流程(步驟S602)。接著，測試系統會再判斷是否需擷取另一組電性參數以進行另一項過電流保護測試(步驟S608)，如欲進行另一項過電流保護測試，則重複步驟S606-S608。
於完成所有的過電流保護測試後，則開始過電壓保護測試，利用測試系統擷取電源供應器的一組電性參數以進行一項過電壓保護測試(步驟S609)。判斷是否通過此項過電壓保護測試(步驟S410)。於測試系統判斷不能通過此項測試時結束此測試流程(步驟S602)。接著，測試系統會再判斷是否需擷取另一組電性參數以進行另一項過電壓保護測試(步驟S411)，如欲進行另一項過電壓保護測試，則重複步驟S609-S411。
最後，於完成所有的過電壓保護測試後，完成了所有的測試流程(步驟S412)。
根本以上所述，本發明的種測試系統，其使用自動化的方式完成電源供應器的測試，因此能達到滅少誤測率以及提高測試精確度的目的，且因其不需要繁瑣的按鍵工作，因此能達到滅少測試時間以及提高生產效率的目的。
權利要求
1.一種自動測試系統，其包括一取樣轉換裝置，用以擷取一待測裝置的複數電性參數並且將上述電性參數轉換成複數數位訊號；以及一微處理器，用以接收上述數位訊號以分別完成複數不同的短路保護測試(Short)、複數不同的過電流保護測試(Over Current Protect)及複數不同的過電壓保護(Over Voltage Protect)測試；其中該微處理器依一特定順序完成上述短路保護測試、上述過電流保護測試以及上述過電壓保護測試。
2.根據權利要求1所述的自動測試系統，更包括一可程序化輸入裝置控制電路，其由一輸入裝置接收複數不同的控制訊號，每個控制訊號經由該微處理器改變該待測裝置，以使該取樣轉換裝置擷取到不同的電性參數；一解析驅動電路，用以解析上述控制訊號以轉變上述控制訊號成為該待測裝置可辨識的訊號，以改變該待測裝置輸出的電性參數；以及一可程序化顯示裝置控制電路，耦接至該微處理器以將上述短路保護測試、過電流保護測試及過電壓保護測試的測試結果顯示於一顯示裝置中。
3.根據權利要求2所述的自動測試系統，其中該解析驅動電路包括一解碼電路，用以解析上述控制訊號以轉變上述控制訊號成為該待測裝置可辨識的訊號；一驅動電路，用以放大該解碼電路解析後的控制訊號，以該待測裝置輸出的電性參數。
4.根據權利要求2所述的自動測試系統，其中該取樣轉換裝置包括一取樣裝置，用以擷取該待測裝置的電性參數；以及一數字模擬轉換器，用以將該取樣裝置所擷取的電性參數轉換成複數數位訊號。
5.根據權利要求2所述的自動測試系統，其中該微處理器至少包括一可消除程序化只讀存儲器(Erasable Programmable Read-Only Memory，EPROM)，用以儲存一程序以完成上述短路保護測試、過電流保護測試及過電壓保護測試。
6.根據權利要求2所述的自動測試系統，其中該可程序化輸入裝置控制電路以及該可程序化顯示裝置控制電路利用同一裝置實施。
7.根據權利要求6所述的自動測試系統，其中該裝置為一微控制器。
8.根據權利要求1所述的自動測試系統，更包括一電子可移除式可程序化只讀存儲器(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory，E2PROM)，用以儲存一程序以供該微處理器存取以完成上述短路保護測試、過電流保護測試及過電壓保護測試。
9.根據權利要求1所述的自動測試系統，其中該待測裝置為一電壓供應器。
10.根據權利要求1所述的自動測試系統，其中該微處理器依該特定順序於完成上述短路保護測試後，再開始上述過電流保護測試，並於完成上述過電流保護測試後，再開始上述過電壓保護測試。
11.一種自動測試系統，其包括一取樣裝置，用以擷取一待測裝置的複數電性參數；一數字模擬轉換器，用以將該取樣裝置所擷取的電性參數轉換成複數數位訊號一微處理器，用以接收上述數位訊號以分別完成複數不同的短路保護測試、複數不同的過電流保護測試及複數不同的過電壓保護測試；一可程序化輸入裝置控制電路，其由一輸入裝置接收複數不同的控制訊號，每個控制訊號經由該微處理器改變該待測裝置，以使該取樣轉換裝置擷取到不同的電性參數；一解碼電路，用以解析上述控制訊號以轉變上述控制訊號成為該待測裝置可辨識的訊號；一驅動電路，用以放大該解碼電路解析後的控制訊號，以該待測裝置輸出的電性參數；以及一可程序化顯示裝置控制電路，耦接至該微處理器以將上述短路保護測試、過電流保護測試及過電壓保護測試的測試結果顯示於一顯示裝置中；其中該微處理器依一特定順序完成上述短路保護測試、上述過電流保護測試以及上述過電壓保護測試。
12.根據權利要求11所述的自動測試系統，其中該微處理器至少包括一可消除程序化只讀存儲器(Erasable Programmabl eRead-Only Memory，EPROM)，用以儲存一程序以完成上述短路保護測試、過電流保護測試及過電壓保護測試。
13.根據權利要求11所述的自動測試系統，更包括一電子可移除式可程序化只讀存儲器(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory，E2PROM)，用以儲存一程序以供該微處理器存取以完成上述短路保護測試、過電流保護測試及過電壓保護測試。
14.根據權利要求11所述的自動測試系統，其中該待測裝置為一電壓供應器。
15.根據權利要求11所述的自動測試系統，其中該微處理器依該特定順序於完成上述短路保護測試後，再開始上述過電流保護測試，並於完成上述過電流保護測試後，再開始上述過電壓保護測試。
16.根據權利要求11所述的自動測試系統，其中該可程序化輸入裝置控制電路以及該可程序化顯示裝置控制電路利用同一裝置實施。
17.根據權利要求16所述的自動測試系統，其中該裝置為一微控制器。
全文摘要
一種自動測試系統，其包括取樣轉換裝置及微處理器。取樣轉換裝置用以擷取待測裝置的複數電性參數並且將上述電性參數轉換成複數數位訊號。微處理器用以接收上述數位訊號以分別完成複數不同的短路保護測試、複數不同的過電流保護測試及複數不同的過電壓保護測試。微處理器依特定順序完成上述短路保護測試、上述過電流保護測試以及上述過電壓保護測試。
文檔編號G01R31/00GK1519567SQ0310075
公開日2004年8月11日 申請日期2003年1月21日 優先權日2003年1月21日
發明者劉肯和, 王利平, 毛長根, 張華良 申請人:臺達電子工業股份有限公司