一種螢光粉抗真空紫外劣化性能的測試方法及測試裝置的製作方法

2023-05-10 12:33:26 2

專利名稱：：一種螢光粉抗真空紫外劣化性能的測試方法及測試裝置的製作方法
技術領域：
：本發明涉及真空紫外激發領域，尤其涉及等離子顯示屏PDP螢光粉抗真空紫外光劣化情況的測試方法與測試裝置。技術背景目前，等離子顯示屏(PlasmaDisplayPanel)螢光粉抗真空紫外光劣化測試方面，大多是使用標準147nm光源燈在真空系統中直接激發螢光粉，進行抗真空紫外光劣化測試。還有方法是製作一種VUV燈，其原理是仿照氣體放電原理，利用燈管制作工藝，在玻璃放電管內接入兩個對等電極，往管內充入惰性氣體，然後封接，給電極兩端加上電壓，從而使惰性氣體放電，產生短波長的紫外光。在真空系統中直接激發螢光粉，進行抗真空紫外光劣化測試。以上兩種方法都存在很多弊端，第一種方法，由於標準147mn光源比較昂貴，是好多用戶都很難接受，加之長時間的老化，會影響光源燈的壽命。第二種方法，雖然比較經濟容易實現，但是由於從燈管中所產生的短波長紫外光被玻璃所吸收，使其激發在螢光粉表面的紫外光能量很弱，達不到螢光粉的老化要求。
發明內容針對現有技術中用於測試等離子顯示屏螢光粉的抗真空紫外光劣化性能的方法成本高，紫外光被玻璃所吸收的技術問題，本發明提出一種螢光粉抗真空紫外劣化性能的測試裝置，包括，玻璃放電管，一對金屬電極,高頻高壓電源，在帶槽玻璃片的槽中設置有螢光粉，帶槽玻璃片上覆蓋著玻璃片，覆蓋著玻璃片的帶槽玻璃片及其上的螢光粉設置在玻璃放電管中，一對金屬電極相對應設置在玻璃放電管的外壁上，電極的一端連接高頻高壓電源的一端，電極的一端連接高頻高壓電源的另一端，在玻璃放電管的兩端部分別設置有進氣管道與排氣管道。一種等離子顯示屏螢光粉抗真空紫外劣化性能測試方法，包括如下步驟1)將螢光粉壓制在帶槽玻璃片上，在帶槽玻璃片上蓋上另一塊玻璃片，然後然後將覆蓋著另一塊玻璃片的帶槽玻璃片及其上的螢光粉放置在玻璃放電管中；2)將一對金屬電極貼在玻璃放電管外壁相對應的位置上，並加以固定；3)用真空泵對玻璃放電管進行抽真空排氣作業，當玻璃放電管內的真空度達到10'5Pa的壓力後，往玻璃放電管內充入惰性混合氣體到100Torr後密封玻璃放電管；4)將4一15KV的高頻交流電壓加在一對金屬電極上，調整電壓為1一3KV，繼續激發惰性氣體放電，電離出147nm和172nm紫外光，激發螢光粉發光；5)在玻璃放電管內老化24-72小時後，將螢光粉取出放到真空紫外光譜儀上進行老化後進行亮度和光譜測試，將具體測試數據與老化前的亮度和光譜的測試數據進行對比，評價螢光粉的真空紫外劣化性能。所述的玻璃放電管徑在34cm，具體尺寸根據帶槽玻璃片的尺寸大小來決定。所述的電極是銅電極，其寬度至少在lcm，兩電極之間的距離需要根據玻璃放電管大小來調節，電極長度根據被測試樣品數來定。所述步驟3)中的玻璃放電管的兩端可以封閉或者不封閉，玻璃放電管中的真空度達到10-5Pa的壓力。所述步驟3)中的玻璃放電管的真空度用惰性氣體的壓力來衡量，至少在100Torr。本發明的真空紫外激發系統，用於測試PDP螢光粉的抗真空紫外光劣化性能，本發明在玻璃放電管內無電極，電極是貼在玻璃放電管外面對應放置的，在電極上加上高頻高壓電壓，使其激發管內的混合惰性氣體分子產生147nm和172nm紫外輻射，從而激發PDP螢光粉發光。螢光粉在放電管內老化一段時間後，取出放到真空紫外光譜儀上進行老化前和老化後亮度、光譜對比測試，從而就可以評價螢光粉的真空紫外劣化性能。本發明可以簡單快捷地完成對PDP螢光粉的抗真空紫外光劣化性能的測試。圖1為本發明螢光粉抗真空紫外劣化性能的測試裝置示意圖之一。圖2為本發明螢光粉抗真空紫外劣化性能的測試裝置示意圖之二。具體實施方式如圖1所示，本發明的測試裝置包括玻璃放電管l，帶槽玻璃片3，帶槽玻璃片3上設置有一方槽，需檢測的螢光粉4被玻璃片5壓在淺方槽中，覆蓋有玻璃片5的帶槽玻璃片3及其上的螢光粉4被擺放在玻璃放電管1裡面，幾個帶槽玻璃片3依次排開，玻璃放電管1的管徑在34cm，可以根據使用的帶槽玻璃片3的尺寸大小來決定。玻璃放電管1的兩端分別設置有進氣管道9與排氣管道10，進氣管道9與排氣管道10是與玻璃放電管1連通的細玻璃管，用來抽氣和充入惰性氣體。一對呈圓弧形狀的金屬電極6、7設置在玻璃放電管1的外壁上，金屬電極的圓弧形狀與玻璃放電管的圓形相吻合，相向設置，金屬電極6、7分別連接高頻高壓電源8的兩端。寬度至少在lcm，兩電極之間的距離根據玻璃放電管1大小來調節，電極距離不同，放電的氣壓也不同，電極距離越大，氣壓越小，所要求電壓越低，優選數值為100Torr。電極的長度尺寸根據需要測試的樣品數量來確定。本發明的玻璃放電管1不封閉，如圖1所示，圖2是本發明的玻璃放電管1封閉，其使用過程與圖1的使用過程是一樣的。一種等離子顯示屏螢光粉抗真空紫外劣化性能的測試方法，包括如下步驟1)將螢光粉壓制在帶槽玻璃片上,槽的尺寸為20mmX10mmX0.5mm，在帶槽玻璃片上蓋上另一塊玻璃片，然後然後將覆蓋著另一塊玻璃片的帶槽玻璃片及其上的螢光粉放置在玻璃放電管中；2)將一對金屬電極貼在玻璃放電管外壁相對應的位置上，並加以固定；3)用真空泵對玻璃放電管進行抽真空排氣作業，當玻璃放電管內的真空度達到l(T5Pa的壓力後，往玻璃放電管內充入惰性混合氣體到100Torr後密封玻璃放電管；4)將4一15KV的高頻交流電壓加在一對金屬電極上，調整電壓為1一3KV，繼續激發惰性氣體放電，電離出147nm和172nm紫外光，激發螢光粉發光；5)在玻璃放電管內老化24-72小時後，將螢光粉取出放到真空紫外光譜儀上進行老化後進行亮度和光譜測試，將具體測試數據與老化前的亮度和光譜的測試數據進行對比，評價螢光粉的真空紫外劣化性能。把每個樣品測試結果進行計算對比後，就可以得出各個樣品抗真空紫外劣化性能的好壞。對本發明測試裝置對真空度的要求如果玻璃放電管內的氣體是處於一直對流的狀態的，對真空度則沒有具體要求，但如果玻璃放電管是封閉的，則需要將玻璃放電管中的氧氣抽乾淨。實施例中，申請人將螢光粉放在玻璃放電管l中，在4KV啟動，升到-15KV後，惰性氣體開始激發時將電壓調到8KV,激發惰性氣體放電使螢光粉發光後，繼續激發惰性氣體放電，電離出147nm和172nm紫外光，將電壓調低到2KV進行螢光粉老化，老化時間分別為24小時、48小時、72小時,進行計算對比後，得出各個樣品抗真空紫外劣化性能數據。從實驗數據中可以明顯看出，在不同的老化時間段內樣品的亮度衰減比標準品要大，色度X值上升的幅度也比較大，說明樣品的抗真空紫外劣化性能比較差，具體數據見附表K附表2。真空紫外劣化實驗數據-tableseeoriginaldocumentpage9附表2真空紫外劣化分析數據權利要求1.一種螢光粉抗真空紫外劣化性能的測試裝置，包括，玻璃放電管(1)，一對金屬電極(6、7)，高頻高壓電源(8)，其特徵在於在帶槽玻璃片(3)的槽中設置有螢光粉(4)，帶槽玻璃片(3)上覆蓋著玻璃片(5)，覆蓋著玻璃片(5)的帶槽玻璃片(2)及其上的螢光粉(4)設置在玻璃放電管(1)中，一對金屬電極(6、7)相對應設置在玻璃放電管(1)的外壁上，電極(6)的一端連接高頻高壓電源(8)的一端，電極(7)的一端連接高頻高壓電源(8)的另一端，在玻璃放電管(1)的兩端部分別設置有進氣管道(9)與排氣管道(10)。2.—種螢光粉抗真空紫外劣化性能的測試方法,其特徵在於，包括如下步驟1)將螢光粉壓制在帶槽玻璃片上，在帶槽玻璃片上蓋上另一塊玻璃片，然後將覆蓋著另一塊玻璃片的帶槽玻璃片及其上的螢光粉放置在玻璃放電管中；2)將一對金屬電極貼在玻璃放電管外壁相對應的位置上，並加以固定；3)用真空泵對玻璃放電管進行抽真空排氣作業，當玻璃放電管內的真空度達到l(T5Pa的壓力後，往玻璃放電管內充入惰性混合氣體到100Torr後，密封玻璃放電管；4)將4一15KV的高頻交流電壓加在一對金屬電極上，調整電壓為1一3KV，繼續激發惰性氣體放電，電離出147nm和172nm紫外光，激發螢光粉發光；5)在玻璃放電管內老化24-72小時後，將螢光粉取出放到真空紫外光譜儀上老化後進行亮度和光譜的數據測試，將具體測試數據與老化前的亮度和光譜的測試數據進行對比，評價螢光粉的真空紫外劣化性能。3.根據權利要求2所述的螢光粉抗真空紫外劣化性能的測試方法，其特徵在於所述的玻璃放電管徑在3—4cm，具體尺寸根據帶槽玻璃片的尺寸大小來決定。4.根據權利要求2所述的螢光粉抗真空紫外劣化性能的測試方法，其特徵在於所述的電極是銅電極，其寬度至少在lcm，兩個電極之間的距離根據玻璃放電管的直徑大小來調節，電極長度根據被測試樣品在玻璃放電管中的位置來確定。5.根據權利要求2所述的屏螢光粉抗真空紫外劣化性能的測試方法，其特徵在於所述步驟3)中的玻璃放電管的兩端可以封閉或者不封閉，則玻璃放電管中的真空度達到10—spa的壓力。6.根據權利要求2所述的螢光粉抗真空紫外劣化性能的測試方法，其特徵在於所述步驟3)中的玻璃放電管的真空度用惰性氣體的壓力來衡量，電壓越低，至少在100Torr。全文摘要本發明涉及真空紫外激發領域，尤其涉及等離子顯示屏螢光粉抗真空紫外光性能的測試方法，步驟如下1)將螢光粉壓在帶槽玻璃片上，放置在玻璃放電管中；2)金屬電極貼在玻璃放電管外壁上；3)對玻璃放電管抽真空，充入惰性氣體後密封；4)將高頻交流電壓加在金屬電極上，調整電壓激發惰性氣體放電，激發螢光粉發光；5)在玻璃放電管內老化。測試裝置，包括，玻璃放電管，金屬電極，高頻高壓電源，在帶槽玻璃片的槽中設置有螢光粉，放置在玻璃放電管中，金屬電極設置在玻璃放電管的外壁上，電極連接高頻高壓電源，在玻璃放電管的兩端部分別設置有進氣管道與排氣管道。本發明可以簡單快捷地完成對PDP螢光粉的抗真空紫外光劣化性能的測試。文檔編號G01N17/00GK101592586SQ200910023160公開日2009年12月2日申請日期2009年7月1日優先權日2009年7月1日發明者翔趙,濤郭申請人:彩虹集團電子股份有限公司