Djh成像分析儀的製作方法
2023-07-06 03:57:51
專利名稱:Djh成像分析儀的製作方法
技術領域:
本實用新型涉及塗料領域的成像分析技術,尤其是DJH成像分析儀。
背景技術:
在塗料行業,對於塗膜表面狀況的分析是至關重要的。有效的分析手段將幫助塗料技術人員對塗膜表面狀況如紋理、缺陷等產生的機理或原因進行正確的分析。但這種紋理或缺陷僅僅通過肉眼分辨是遠遠不夠的,所以我們常常藉助於微觀成像設備對其進行放大處理,真正的觀察到它們的微觀形狀。DJH膜厚測試儀是通過對鑽孔破壞的塗膜成像後分析而測定其厚度的,通過電腦可以進一步分析和顯示,其微觀成像設備就為我們觀察塗膜表面的紋理或缺陷提供了方便。DJH膜厚測試儀採用環型光源,其目的就是利用各個角度輻射來的光線能充分照亮鑽孔部位塗層的結構。但是,對於常常遇到的象縮孔和氣泡這樣的不同機理產生的缺陷, 由於環型光源各角度射入的光線能透過薄薄的氣泡漆膜,成像後都是一個凹坑,成像失真而無法將其分辨開來,對缺陷狀況的分析陷入了困境。
發明內容本實用新型的目的是要提供一種可分辨不同機理產生的缺陷的DJH成像分析儀。本實用新型是這樣實現的DJH成像分析儀,包括電腦,成像儀和光源,其特徵在於所述光源為柱狀的直線光源。本實用新型採用柱狀的直線光源,變換光源的角度和明亮度,通過其不同角度成像後產生的陰影來判定塗膜表面是否有突起,從而將凹坑和氣泡等缺陷區分開來。柱狀直線光源的亮度可以通過調節電壓來調整,以達到電腦中成像所需要的合適的明亮度;製作一個可移動的光源支架,光源支架的角度和高度可調節,以便調整其成像角度。綜上所述,本實用新型為觀察塗膜表面的紋理或缺陷提供了方便,可分辨不同機理產生的缺陷。
圖1是現有技術的環型光源測試儀示意圖;圖2是本實用新型的柱狀直線光源示意圖;圖中1.電腦2.成像儀3.環形光源4.柱狀直線光源5,光源支架6,塗層塗膜具體實施方式
以下結合附圖和典型實施例對本實用新型作進一步說明。在圖1中,現有技術採用環型光源3,其目的就是利用各個角度輻射來的光線能充分照亮鑽孔部位塗層塗膜6的結構。[0014]在圖2中,本實用新型包括電腦1,成像儀2和光源,所述光源為柱狀的直線光源4。本實用新型採用柱狀的直線光源4,變換光源的角度和明亮度,通過其不同角度成像後產生的陰影來判定塗層塗膜6表面是否有突起,從而將凹坑和氣泡等缺陷區分開來。 柱狀直線光源4的亮度可以通過調節電壓來調整,以達到電腦中成像所需要的合適的明亮度;製作一個可移動的光源支架5,光源支架5的角度和高度可調節,以便調整其成像角度。
權利要求1.DJH成像分析儀,包括電腦,成像儀和光源,其特徵在於所述光源為柱狀的直線光源。
2.如權利要求1所述的DJH成像分析儀,其特徵在於所述光源還包括一個光源支架。
專利摘要本實用新型的目的是要提供一種可分辨不同機理產生的缺陷的DJH成像分析儀,包括電腦,成像儀和光源,所述光源為柱狀的直線光源。變換光源的角度和明亮度,通過其不同角度成像後產生的陰影來判定塗膜表面是否有突起,從而將凹坑和氣泡等缺陷區分開來。柱狀直線光源的亮度可以通過調節電壓來調整,以達到電腦中成像所需要的合適的明亮度;本實用新型為觀察塗膜表面的紋理或缺陷提供了方便,可分辨不同機理產生的缺陷。
文檔編號G01N21/88GK202177585SQ201120324500
公開日2012年3月28日 申請日期2011年8月31日 優先權日2011年8月31日
發明者李永貴 申請人:貝科工業塗料(上海)有限公司