標準介質懸浮體、光學顆粒測量儀器、以及用於光學顆粒測量儀器的檢定方法

2023-07-22 06:58:51

專利名稱：：標準介質懸浮體、光學顆粒測量儀器、以及用於光學顆粒測量儀器的檢定方法
技術領域：
：本發明涉及光學顆粒測量儀器領域，具體而言，涉及標準介質懸浮體、光學顆粒測量儀器以及用於光學顆粒測量儀器的檢定方法。
背景技術：
：濁度計或比濁計是用於測量或研究懸浮介質中的顆粒的儀器。比濁計一般指的是用於檢測和/或測量液體或氣態膠體中的懸浮顆粒的光學儀器。與此相對照，濁度計一般指的是用於檢測和/或測量水中的顆粒物質的光學儀器。因此，所述懸浮介質可以包括水。將懸浮介質放置在樣本室中並將光投射通過懸浮介質，作為進入到懸浮介質中的入射光束或入射光錐。懸浮體內的顆粒通過反射、衍射以及折射的複雜的相互作用來散射所述入射光。從顆粒散射的光的一部分被儀器的檢測器接收。檢測器通常被設置在相對於入射光源和所得到的照明光軸約九十度處。為了量化懸浮介質內的顆粒量，必須比較接收到的散射光與使用已知顆粒濃度的類似懸浮介質獲得的散射光水平。然後可以使用被調整或校準以讀取與已知懸浮體的值相同的值的儀器來確定未知的顆粒濃度。可以將未知的顆粒濃度與已知的校準值相比較且可以通過校準值的估計或外推來確定該未知的顆粒濃度。圖1示出現有技術的濁度計/比濁計。光源沿著照明軸發射光，且將光發射到包含在樣本室內的懸浮體中。來自該光源的光可以不受阻礙地傳播通過懸浮體且另外可以通過撞擊懸浮體內的顆粒而與懸浮體相互作用。撞擊在顆粒上的光可以潛在地沿著包括後向散射射線路徑、前向散射射線路徑的多個射線路徑之一散射，並且可以沿著與入射光束基本上成九十度的射線路徑散射。以直角散射的光撞擊到光接收器上且被光接收器量化。光接收器藉助於光電效應將光子能轉換成電信號。可以對通常在信號強度方面很弱或低的電信號進行放大和處理以便確定顆粒濃度。隨後可以將該顆粒濃度輸出到計量器、顯示器、列印輸出、或其它有用的指示器。為了降低不必要的校準的成本，已經發明各種可再用的檢定方法和裝置以檢查濁度計或比濁計的使用的準備狀態和適合性。檢定通常在校準程序之後執行，其中，獲得檢定信息並將其存儲以供將來的檢定使用。隨後將所存儲的檢定信息與現場的儀器讀數相比較，於是，通過將儀器讀數與所存儲的檢定信息相比較來進行關於服務的需要的確定。周期性檢定在諸如藥品製造、食品和飲料生產或飲用水的生產和分配等應用中尤其關鍵。起草了當前對飲用水的機構管理要求，諸如由環境保護局(EPA)發布的規章，以強制和控制濁度的測試。執行此測試以便保證配水系統中的顆粒材料、病原體或寄生蟲的量低於預定值或閾值。一般地，管理要求規定顆粒不超過約一個比濁法濁度單位(NTU)，這大大地降低了對總人口的健康風險。因此，在使用濁度測量設備來確定水的質量的情況下，必須進行該濁度測量設備的準確度的周期性測試。在由國家、政府和/或州及地方自治市所設定的指導方針下執行測試以確保所報告的濁度值的準確度。確認濁度系統的符合性的現有方法可以利用一級液體標準物，諸如Formazin的懸浮體和/或苯乙烯二乙烯苯聚合物粒(SDB或BaS4)的液體懸浮體。或者，符合性測試可以使用諸如液態膠乳的二級液體標準物或諸如丙烯酸、玻璃或玻璃-陶瓷(諸如SCHOTT『Zerodur(微晶玻璃)』)的固態二級標準物，其與一級標準物相比具有等效值。飲用水配水網的安全的置信度涉及比濁測量系統的準確度和操作準備狀態的確認頻度。一級標準物可以用於如授予Williams的美國專利No.7，180,594中的檢定。然而，此類一級標準物的使用是昂貴的，並且因此對於頻繁或廣泛的檢定而言，一級標準物是不理想的。可替換地，如授予Barmerjee的美國專利No.5，912，737中所公開的那樣或授予King的美國專利No.5，059，811中所公開的那樣，已經使用固態標準物來替代液體標準物。然而，此現有技術方法也具有缺點。固態濁度標準物必須相對於照明光束和檢測裝置兩者被準確地對準並定向。另外，固態標準物的使用需要操作比濁系統的服務，包括液體樣本的完全去除和所有表面的清潔。現有技術的檢定裝置和方法一般要求在安裝檢定裝置之前清潔和乾燥儀器樣本室。其它現有技術的檢定裝置和方法要求用包含固定濁度值的腔室或小室(cell)來替換樣本室以針對最後記錄的檢定進行比較。因此，需要濁度或比濁儀器的乾淨且空的測試室，因為在將液體測試流體或固態測試樣品用於檢定過程之前必須維護並調節測試室。雖然在從未使用的比濁裝置上不要求清潔，但根據授予0'Brien的美國專利No.5，757，481，例行地將現場操作比濁系統置於清潔且乾燥的條件確實引起相當大的工作量。不能完全去除樣本可能導致在固態標準物上形成樣本的冷凝物。通過使用放置在乾燥的空樣本室內的標準懸浮體濃度進行校準是耗時且昂貴的。每次使用需要新的標準懸浮體以保證標準物的正確值並使在重複使用標準物的情況下可能發生的標準物汙染減少或最小化。另外，在校準之前，必須在將標準物引入樣本室中之前保證儀器的清潔以便不會由於標準懸浮體的汙染而稀釋或改變結果。在檢定完成時，必須再次維護儀器以便使儀器恢復至操作條件。檢定裝置的恢復或清除過程能夠由於不適當地執行的組裝或恢復而使儀器準備就緒的完善性或準確地讀取的能力改變或者使之無效。不能精確地對準固態標準物並定向或不能使比濁系統進入適當地清潔且乾燥的狀態會影響測量結果的精度。這繼而引起不必要的校準、生產率損失或不能檢測容差之外或不適合使用的比濁系統。不適當或不完整校準或檢定之後的操作可能因此而引起對飲用水分配的完善性的威脅。
發明內容在本發明的某些方面，用於光學顆粒測量儀器的檢定且被配置為至少部分地浸入樣本流體中的標準介質懸浮體包括基本上為固態的三維外表面，其包括沿著照明軸A設置的第一末端和第二末端和在所述第一末端與所述第二末端之間延伸的至少一個外表面，其中，所述第一末端被配置為允許光進入標準介質懸浮體中；8內體積，其中，所述內體積的至少一部分包括被配置為散射預定量的入射光的基本懸浮的光散射材料；以及端蓋，其形成在所述第二末端上並包括光吸收材料，其中，離開所述第二末端的光基本上被所述端蓋吸收。優選地，所述標準介質懸浮體包括與樣本流體折射率基本上匹配的折射率。優選地，所述標準介質懸浮體還包括基本上為固態的懸浮材料體和被所述固態懸浮材料保持為懸浮狀態的光散射材料。優選地，所述標準介質懸浮體還包括基本上為固態的懸浮材料體和所述懸浮材料的至少一部分中的無定形或非無定形分子鍵。優選地，所述標準介質懸浮體還包括基本上為固態的懸浮材料體和遍布於所述懸浮材料的至少一部分的泡。優選地，所述標準介質懸浮體還包括外殼和被保持在所述外殼中的懸浮材料，其中，所述懸浮材料包括懸浮的光散射材料。優選地，所述懸浮材料包括懸浮液體、懸浮凝膠、半固體或包含在所述外殼中的其它可置位(settable)液體。優選地，所述標準介質懸浮體還包括在所述標準介質懸浮體的第一末端處的用於允許入射光進入所述標準介質懸浮體的第一光學表面、在所述第二末端處的用於透射基本上沿著照明軸A基本上傳播通過並離開所述標準介質懸浮體的未散射光的第三光學表面、以及至少部分地在所述第一末端與所述第二末端之間延伸的用於透射基本上垂直於照明軸A地離開所述標準介質懸浮體的散射光的第二光學表面，其中，所述第一末端被拋光而形成第一光學表面，所述第二末端被拋光而形成第三光學表面，所述第一末端和所述第二末端沿著照明軸A設置，且所述第一末端與所述第二末端之間的外表面的至少一部分被拋光而形成所述第二光學表面。在本發明的某些方面，一種光學顆粒測量儀器包括光源，其被布置為沿著照明軸A將光發射到測試室中；光接收器，其至少部分地布置在所述測試室中並被布置為接收沿光散射路徑的光；基本開放的樣本室，其被布置在所述照明軸A與所述光散射路徑的接合點處，其中，所述樣本室被配置為保持樣本流體以供測量；以及標準介質懸浮體，其被至少部分地浸入所述樣本室中的樣本流體中，其中，所述標準介質懸浮體是可去除的且被配置為散射預定量的入射光；其中，所述光學顆粒測量儀器被配置為將光發射到所述標準介質懸浮體中，接收被所述標準介質懸浮體散射且已通過所述樣本液體的至少一部分的散射光，以及使用該散射光來執行所述光學顆粒測量儀器的檢定。優選地，所述光學顆粒測量儀器被配置為將光發射到所述標準介質懸浮體中，接收被所述標準介質懸浮體散射且已通過所述樣本流體的至少一部分的散射光，使用接收到的散射光來確定顆粒濃度值確定所述顆粒濃度值與參考值之間的差，將該差與預定容差範圍相比較，如果該差在預定容差範圍內則生成檢定成功指示，以及如果該差在所述預定容差範圍之外則生成檢定失敗指示。優選地，所述光學顆粒測量儀器還被配置為將光發射到所述標準介質懸浮體中，接收散射光，使用所接收到的散射光確定顆粒濃度值，在沒有所述標準介質懸浮體的情況下將光發射到樣本室中的所述樣本流體中，生成沒有所述標準介質懸浮體的情況下的第二濃度值，確定所述顆粒濃度值與所述第二濃度值之間的差，將該差與預定容差範圍相比較，如果該差在預定容差範圍內則生成檢定成功指示，以及如果該差在所述預定容差範圍之外則生成檢定失敗指示。優選地所述標準介質懸浮體包括基本上為固態的三維外表面和內體積，所述三維外表面包括沿著照明軸A設置的第一末端和第二末端及在所述第一末端與所述第二末端之間延伸的至少一個外表面，其中，所述第一末端被配置為接納入射光，其中，所述內體積的至少一部分包括基本懸浮的光散射材料，該光散射材料被配置為散射從在所述至少一個外表面之外的光源接收到的預定量的入射光。優選地所述標準介質懸浮體包括基本上為固態的三維外表面、內體積以及端蓋，所述三維外表面包括沿著照明軸A設置的第一末端和第二末端及在所述第一末端與所述第二末端之間延伸的至少一個外表面，其中，所述第一末端被配置為接納入射光，其中，所述內體積的至少一部分包括基本懸浮的光散射材料，該光散射材料被配置為散射從在所述至少一個外表面之外的光源接收到的預定量的入射光，所述端蓋形成在所述第二末端上並包括光吸收材料，其中，離開所述第二末端的光基本上被所述端蓋吸收。優選地，懸浮體折射率被選擇為與樣本流體折射率基本上匹配。優選地，所述標準介質懸浮體還包括基本上為固態的懸浮材料體和被所述固態懸浮材料保持為懸浮狀態的光散射材料。優選地，所述標準介質懸浮體還包括基本上為固態的懸浮材料體和所述懸浮材料的至少一部分中的無定形或非無定形分子鍵。優選地，所述標準介質懸浮體還包括基本上為固態的懸浮材料體和遍布於所述懸浮材料的至少一部分的泡。優選地，所述標準介質懸浮體還包括外殼和被保持在所述外殼中的懸浮材料，其中，所述懸浮材料包括懸浮的光散射材料。優選地，所述懸浮材料包括懸浮液體、懸浮凝膠、半固體或包含在所述外殼中的其它可置位液體。優選地，所述標準介質懸浮體還包括在所述標準介質懸浮體的第一末端處的用於允許入射光進入所述標準介質懸浮體的第一光學表面、在第二末端處的用於透射基本上沿著照明軸A基本上傳播通過並離開所述標準介質懸浮體的未散射光的第三光學表面、以及至少部分地在所述第一末端與所述第二末端之間延伸的用於透射基本上垂直於照明軸A地離開所述標準介質懸浮體的散射光的第二光學表面，其中，所述第一末端被拋光而形成第一光學表面，所述第二末端被拋光而形成第三光學表面，所述第一末端和所述第二末端沿著照明軸A設置，且所述第一末端與所述第二末端之間的外表面的至少一部分被拋光而形成所述第二光學表面。一種用於光學顆粒測量儀器的檢定方法包括將光發射到至少部分地浸入樣本流體中的可去除的標準介質懸浮體中，其中，所述樣本流體被保持在所述光學顆粒測量儀器的基本開放的樣本室中，所述標準介質懸浮體被配置為散射預定量的入射光；接收被所述標準介質懸浮體散射且已通過所述樣本流體的至少一部分的散射光；以及使用所述散射光來執行所述光學顆粒測量儀器的檢定。優選地，所述標準介質懸浮體是三維的。優選地，所述標準介質懸浮體基本上被全部浸入樣本流體中。優選地，所述標準介質懸浮體包括與樣本流體折射率基本上匹配的折射率。優選地，執行所述檢定還包括使用接收到的散射光來確定顆粒濃度值，確定所述顆粒濃度值與參考值之間的差，將該差與預定容差範圍相比較，以及如果該差在所述預定容差範圍內則生成檢定成功指示。優選地，還包括如果所述差在所述預定容差範圍之外則生成檢定失敗指示。一種用於光學顆粒測量儀器的檢定方法包括將光發射到至少部分地浸入樣本流體中的可去除的標準介質懸浮體中，其中，所述樣本流體被保持在所述光學顆粒測量儀器的基本開放的樣本室中，所述標準介質懸浮體被配置為散射預定量的入射光。接收被所述標準介質懸浮體散射且已通過所述樣本流體的至少一部分的散射光；使用接收到的散射光來確定顆粒濃度值；確定所述顆粒濃度值與參考值之間的差；將所述差與預定容差範圍相比較；以及如果所述差在所述預定容差範圍內，則生成檢定成功指示。優選地，所述標準介質懸浮體是三維的。優選地，所述標準介質懸浮體基本上被全部浸入樣本流體中。優選地，所述標準介質懸浮體包括與樣本流體折射率基本上匹配的折射率。優選地，所述方法還包括如果所述差在所述預定容差範圍之外則生成檢定失敗指7J\o一種用於光學顆粒測量儀器的檢定方法，包括將光發射到至少部分地浸入樣本流體中的標準介質懸浮體中，其中所述樣本流體被保持在所述光學顆粒測量儀器的樣本室中，所述標準介質懸浮體被配置為散射預定量的入射光；接收被所述標準介質懸浮體散射且已通過所述樣本流體的至少一部分的散射光；使用接收到的散射光來確定顆粒濃度值；在沒有所述標準介質懸浮體的情況下將光發射到所述樣本室中的樣本流體中；生成沒有所述標準介質懸浮體的情況下的第二濃度值；確定所述顆粒濃度值與所述第二濃度值之間的差；將該差與預定容差範圍相比較；以及如果所述差在所述預定容差範圍內，則生成檢定成功指示。優選地，所述方法還包括如果所述差在所述預定容差範圍之外則生成檢定失敗指優選地，所述標準介質懸浮體是三維的。優選地，所述標準介質懸浮體基本上被全部浸入樣本流體中。優選地，所述標準介質懸浮體包括與樣本流體折射率基本上匹配的折射率。—種用於光學顆粒測量儀器的檢定方法包括將光發射到至少部分地浸入樣本流體中的第一標準介質懸浮體中，其中，所述樣本流體被保持在所述光學顆粒測量儀器的樣本室中，所述標準介質懸浮體被配置為散射預定量的第一入射光；使用被所述第一標準介質懸浮體散射且已通過所述樣本流體的至少一部分的第一散射光來確定第一顆粒濃度值；將光發射到至少部分地浸入樣本流體中且同樣被配置為散射預定量的第二入射光的第二標準介質懸浮體中，其中，所述第二標準介質懸浮體包括在第二末端上形成的端蓋，並且其中，離開所述第二末端的第二光基本上被所述端蓋吸收；使用被所述第二標準介質懸浮體散射且已通過所述樣本流體的至少一部分的第二散射光來確定第二顆粒濃度值；確定所述第一顆粒濃度值與所述第二顆粒濃度值之間的差，其中，所述差與被所述樣本室散射的光有關。優選地，所述方法還包括如果所述差超過預定腔室散射閾值，則生成檢定失敗指7J\ο優選地，所述標準介質懸浮體是三維的。優選地，所述標準介質懸浮體基本上被全部浸入樣本流體中。優選地，所述標準介質懸浮體包括與樣本流體折射率基本上匹配的折射率。在所有圖中相同的附圖標記表示相同的元件。應理解的是附圖不一定是按比例繪製的。圖1示出現有技術的濁度計/比濁計。圖2示出根據本發明的實施例的光學顆粒測量儀器。圖3示出根據本發明的實施例的標準介質懸浮體的細節。圖4示出包括樣本流體的樣本室中的標準介質懸浮體的典型浸入。圖5示出以非最優方式布置在樣本室中的懸浮體。圖6是根據本發明的實施例的用於光學顆粒測量儀器的檢定方法的流程圖。圖7是根據本發明的實施例的用於光學顆粒測量儀器的檢定方法的流程圖。圖8是根據本發明的實施例的用於光學顆粒測量儀器的檢定方法的流程圖。圖9示出被插入樣本室中的第一標準介質懸浮體。圖10示出被插入樣本室中的第二標準介質懸浮體，其中，第二標準介質懸浮體包括端蓋。圖11是根據本發明的實施例的用於光學顆粒測量儀器的檢定方法的流程圖。具體實施例方式圖211及以下說明描繪特定的示例以教授本領域技術人員如何實現和使用本發明的最佳方式。為了講授本發明的原理，已將某些傳統方面簡化或省略。本領域技術人員應認識到落入本發明的範圍內的從這些實施例的變形例。本領域技術人員應認識到可以以各種方式來將下述特徵組合以形成本發明的多種變形例。因此，本發明不限於下述特定示例，而是僅僅受到權利要求及其等同物的限制。圖2示出根據本發明的實施例的光學顆粒測量儀器10。光學顆粒測量儀器10包括光源100、測試室103、光接收器106以及處理系統180。測試室103被配置為保持一定量的樣本流體104。光學顆粒測量儀器10被配置為測量樣本流體104中的顆粒濃度。標準介質懸浮體150被配置為至少部分地安放到樣本室103中且被配置為至少部分地浸入樣本流體104中。在某些實施例中，懸浮體150被配置為完全安放到樣本室103中。在某些實施例中，懸浮體150被配置為基本上完全浸入樣本流體104中。標準介質懸浮體150被配置為用於光學顆粒測量儀器的檢定且被配置為至少部分地浸入樣本流體中。懸浮體150包括基本上為固態的三維外表面，該三維外表面包括沿著照明軸A設置的第一末端151和第二末端152及在第一末端151與第二末端152之間延伸的至少一個外表面153(參見圖3和隨附討論)。第一末端151被配置為接納入射光。懸浮體150還包括內體積，其中該內體積的至少一部分包括被配置為散射預定量的入射光的基本懸浮的光散射材料155。在某些實施例中，懸浮體150還包括形成在所述第二末端上且包括光吸收材料的端蓋156，其中，離開第二末端152的光基本上被端蓋156吸收。光被懸浮且分布在懸浮體150內的顆粒、即被光散射材料155散射。懸浮體150因此能夠導致第一未散射光和第一散射光，該第一未散射光傳播通過懸浮體150且不受光散射材料的影響，該第一散射光被懸浮體150內的光散射材料散射離開第一光路徑。可以由光接收器106來檢測和接收第一散射光的至少一部分。對被光接收器106接收到的第一散射光的測量結果可以用來對光學顆粒測量儀器10執行檢定過程。所述光散射是由於標準體150而發生，但不是由於仍存在於儀器10中的樣本流體104。應理解的是，樣本流體104將對檢定過程具有可忽略的影響，即使散射光可能通過可感知量或距離的樣本流體104。由於樣本流體104中的顆粒物質而引起的任何遮蔽、吸收或二次散射即使在飲用水的最大容許濁度值的情況下也不會對檢定過程的精度有可感知的影響。該影響通常將小於約0.0002NTU,允許儀器10符合使用環境下的預定性能規範和操作準備狀態的檢定。這是比傳統檢定過程更接近地模擬實際使用的簡單、快速且經濟的方法。標準介質懸浮體150可以包括可去除組件並且可以被插入樣本室103中且可以將其從樣本室103去除。然而，標準介質懸浮體150被配置為當被插入樣本室103中時基本上是固定的。當樣本室103是空的和/或乾燥的時，可以將標準介質懸浮體150插入樣本室103中。為此，樣本室103可以是基本上開放的，例如，諸如具有開口或基本開放的頂部。為了執行檢定/校準操作，不需要從光學顆粒測量儀器10去除光源100和光接收器106。標準介質懸浮體150形成供包括未經訓練的操作員在內的操作員執行檢定過程的簡單且有效的方法。可以將標準介質懸浮體150插入樣本室103中且可以將其從樣本室103去除。因此，可以根據需要使用標介質懸浮體150。標準介質懸浮體150可被操作員清潔。標準介質懸浮體150可以用作傳遞(transfer)標準物，其中，可以將標準介質懸浮體150發送到實驗室以進行不依賴於測量儀器10的獨立的比濁檢定。如所示，當樣本室103包含一定量的樣本流體104時，可以將標準介質懸浮體150插入樣本室103中。標準介質懸浮體150可以取代樣本流體104的至少一部分。光學顆粒測量儀器10可以使用標準介質懸浮體150來執行自校準或自檢定程序。樣本流體104可以在樣本室103中基本固定且不流動。或者，樣本流體104可以移動穿過樣本室103。如果移動或流動，則樣本流體104可包括湍流或層流。在某些實施例中，標準介質懸浮體150基本上不可溶解，諸如，在整體的標準介質懸浮體150包括懸浮材料的情況下。或者，在標準介質懸浮體150包括外殼的情況下，懸浮材料可能至少部分地可溶。在某些實施例中，標準介質懸浮體150具有與樣本流體折射率基本上匹配的折射率。因此，折射率相似度基本上消除了來自樣本流體104與標準介質懸浮體150的外表面的界面的光反射和折射。光源100沿著照明軸A(垂直箭頭)發射光。光接收器106被布置為接收基本上沿著光散射路逕行進的散射光(水平和幾乎水平的箭頭)。樣本室103被布置為基本上在照明軸A與通向光接收器106中的光散射路徑的接合點處。因此，由光源100發射的光被導向為通過樣本流體104。當懸浮體150未處於樣本室103中的適當位置時，則被樣本流體104散射的光將被光接收器106接收到。測試室103通常保持樣本流體104以供測量。樣本流體104可以包括顆粒，例如，諸如懸浮顆粒(為明了起見在此圖中未示出)。還可以使測試室103沿著照明軸A基本上對準且以其為中心。測試室103至少部分地由光透射材料構成。因此，來自光源100的第一未散射光可以被允許通過測試室103。另外，被樣本流體中的顆粒散射的第一散射光可以以各種角度、諸如沿著光散射路徑離開測試室103。處理系統180被連接到光接收器106和光源100。處理系統180還被連接到任何形式的用戶接口(未示出)，包括用戶輸入和/或輸出設備。處理系統180可以操作光源100且可以從光接收器106接收光測量結果並確定樣本流體104中的顆粒濃度。處理系統180可以存儲各種值，包括一個或多個檢定值。所述一個或多個檢定值可以包括出廠存儲檢定參考值，諸如通過校準過程獲得的參考值。或者，所述一個或多個檢定值可以包括已經被存儲以用於後續檢定過程的先前的測量和/或檢定值，諸如歷史參考值。光接收器106被布置為在光源100之外並遠離光源100的照明軸A。在某些實施例中，光接收器106與照明軸A基本上成直角。或者，光接收器106可以被布置為從照明軸A傾斜。因此，光接收器106被布置為接收來自測試室103的第一散射光。在某些實施例中，光接收器106被布置為接收以與光源100的照明軸A成約九十度的角度散射的光。光源100組成用於執行光學測量的測量光源。光源100被布置為將第一光發射到測試室103中。第一光可以基本上瞄準、聚焦於或以其他方式被引導朝向測試室103。因此，應理解的是，光學顆粒測量儀器10可以包括位於各種光學部件之間的任何形式的光學裝置。例如，所述光學裝置可包括透鏡、濾光器、光圈、準直器以及反射器。然而，還預期其它光學裝置且其在本說明書和權利要求的範圍內。在樣本流體104的測量期間光被測試室103中的樣本流體中的顆粒散射。測試室103因此可以導致傳播通過測試室103且不受樣本流體104影響的第一未散射光和被樣本室103中的顆粒從第一光路徑散射離開的第一散射光。可以由光接收器106來檢測並接收第一散射光的至少一部分。可以使用對由光接收器106接收到的第一散射光的測量結果來確定樣本流體中的顆粒的量。在正常操作期間，處理系統180被連接到光接收器106並接收來自其的電測量信號。該測量信號與從樣本室103接收到的散射光成比例。處理系統180處理該測量信號以生成樣本測量信號。在某些實施例中，樣本測量值包括樣本流體中的顆粒的量度。在某些實施例中，處理系統180接收用戶輸入並執行測量。這包括開啟和關閉光源100，從光接收器106接收測量信號，以及根據該測量信號來計算顆粒濃度值。例如，處理系統180可以諸如通過生成顯示、輸出、或列印輸出來進一步輸出顆粒濃度值。另外，可以存儲所述顆粒濃度值以供稍後的比較或趨勢分析。圖3示出根據本發明的實施例的標準介質懸浮體150的細節。與其它圖相同的部件共享相同的附圖標記。懸浮體150是三維的且包括基本為固態的外表面，該外表面包括第一末端151、第二末端152以及在第一末端151與第二末端152之間延伸的至少一個外表面153。第一末端151和第二末端152沿著照明軸A布置。懸浮體150還包括內體積，其中該內體積的至少一部分包括被配置為散射沿著照明軸A入射在懸浮體150上的預定量的入射光的基本懸浮的光散射材料155。懸浮體150可以被選擇為具有與樣本流體折射率基本上匹配的折射率。因此，從樣本流體104傳播到懸浮體150中的光將被最低限度地反射且在進入時將基本上不會改變方向。同樣，離開懸浮體150的散射光將不會改變方向。第一末端151可以包括第一光學表面。來自光源的光可以進入第一末端151。第二末端152可以包括第二光學表面。在某些實施例中，第一光學表面和第三光學表面基本上垂直於照明軸A。在某些實施例中，第二光學表面基本上平行於照明軸A。在某些實施例中，基本上傳播通過懸浮體150的光可以從第二末端152離開。所述至少一個外表面153包括第三光學表面。光學表面可以包括例如拋光表面。第三光學表面可以包括所述至少一個外表面153的至少一部分。所述至少一個外表面153/第三光學表面包括位於與第一末端151和照明軸A成約九十度的位置的至少一個透明表面或區域。在懸浮體150內散射的光可以通過例如所述至少一個外表面153/第三光學表面離開。所述至少一個外表面153/第三光學表面可以包括單個表面，例如，諸如具有圓形或卵形橫截面形狀的懸浮體150。或者，所述至少一個外表面153/第三光學表面可以包括多個表面，例如，諸如橫截面為長方形、正方形、六邊形。預期其它橫截面形狀且其在本說明書和權利要求的範圍內。在某些實施例中，懸浮體150包括光吸收端蓋156。在本實施例中，端蓋156吸收傳播通過懸浮體150而未被散射的光。因此，光吸收端蓋156防止該未散射光在光學顆粒測量儀器10內進行內反射並可能入射到光檢測器106上。標準介質懸浮體150可以以各種方式形成且可以包括各種部件。在某些實施例中，標準介質懸浮體150包括基本為固態的懸浮體材料體和被固態懸浮材料保持為懸浮狀態的光散射材料。該光散射材料可以被澆注到或以其他方式形成或沉積在固體中。在某些實施例中，標準介質懸浮體150包括基本上為固態的懸浮材料體和懸浮材料的至少一部分中的無定形或非無定形分子鍵。在某些實施例中，標準介質懸浮體150包括基本上為固態的懸浮材料體和遍布於懸浮材料的至少一部分的泡。在某些實施例中，標準介質懸浮體150包括外殼和被保持在該外殼中的懸浮材料，其中，所述懸浮材料包括懸浮的光散射材料。在某些實施例中，懸浮材料包括懸浮液體、懸浮凝膠、半固體或包含在外殼內的其它可置位液體。第二末端152被設計為完全浸入樣本流體104中。還可以將所述至少一個外表面153的至少一部分浸入。第一末端151也可以被設計為完全浸入樣本流體104中。當將第一末端151至少略微浸入時，有利地，第一末端151可以形成照明表面，從而將入射光傳送到懸浮體150，並消除對懸浮體150的嚴格對準的需要(參見圖45和隨附討論)。懸浮體150通過浸入而被光學地耦合到樣本流體103。懸浮體150的表面上的反射損耗、折射以及表面缺陷和對測量精度的影響由於樣本流體104與懸浮體150之間的折射率的相似度而被大大減輕。有利地，在檢定期間光檢測器106不遭受環境變化，這消除由於樣本流體104的去除而引起的溫度影響。另外，如在現有技術中去除樣本流體104時的情況一樣，懸浮體150可以不利地改變光檢測器106的視野區域(諸如由於折射率變化)。光吸收端蓋156提供另一優點。光吸收端蓋156防止傳播通過懸浮體150的光被內反射並隨後入射在光檢測器106上。有利地，可以在有和沒有光吸收端蓋156的情況下使用懸浮體150。可以使用沒有光吸收端蓋156的懸浮體150來測量由於儀器10內的光散射而引起的信號貢獻。可以進一步在有光吸收端蓋156的情況下使用懸浮體150以便生成儀器10的讀數的差或作為由於懸浮體150而引起的總信號加由於內反射和/或散射而引起的信號貢獻的度量。總測量結果或差測量結果的利用提供用於確定對維護或重新調節光學顆粒測量儀器10的需要。圖4示出包括樣本流體104的樣本室103中的標準介質懸浮體150的典型浸入。懸浮體150被布置為使得照明軸A基本垂直。懸浮體150可以可選地包括光吸收端蓋156(為簡單起見未示出)。如前所述，懸浮體150可以被部分地或完全地浸入。如所示，第一末端151可以被完全浸入，或者可以保持處於樣本流體104之外。在某些實施例中，懸浮體150可以通過任何形式的引導件、保持器或機構置放或保持在樣本室103中。或者，懸浮體150可以具有使得懸浮體150能夠停留在樣本流體104中的適當位置處的比重。或者，在某些實施例中，如所示，懸浮體150可以停留在樣本室103的底部。圖5示出以非最佳方式布置在樣本室103中的懸浮體150。懸浮體150被布置為使得照明軸A偏離垂直線。然而，到樣本液體的入射角仍為約九十度。結果，在偏離不過度的情況下，入射光(上面的箭頭)仍可以進入並基本上行進通過懸浮體150。散射光仍可以離開懸浮體150並朝著光檢測器106行進。被發射到濁度計的現有技術圓柱體的圓柱側面中的光可以引起光折射。一個這樣的體在授予Beers的美國專利No.4，367，187中示出。如果在現有技術圓柱體的材料與樣本流體之間存在顯著差異，則將發生入射光束變形。該變形可引起校準誤差。在現有技術中，這可能限制可以用於校準或調零目的的材料的類型。相反，在根據本發明的標準介質懸浮體150中，入射光束在很大程度上不受樣本流體的折射率的影響，因為入射射束沿著標準介質懸浮體150的軸被引入，其中，在平面光學表面處幾乎不發生折射。圖6是根據本發明的實施例的用於光學顆粒測量儀器的檢定方法的流程圖600。在步驟601中，光被發射到樣本室中和標準介質懸浮體中。懸浮體被至少部分地浸入樣本流體中。在某些實施例中，懸浮體可以被基本上完全浸入。在步驟602中，光檢測器接收在懸浮體內被散射的散射光。懸浮體可以被設計為散射預定量的入射光。例如，在某些實施例中，懸浮體可以被設計為與濁度標準懸浮體基本上匹配。然而，懸浮體可以可替換地包括其它光散射水平。在步驟603中，使用散射光來執行檢定過程。該檢定過程可以提供關於光學顆粒測量儀器10是否正常地運轉或光學顆粒測量儀器10是否需要其他的清潔、校準或者修理或整修的確定。圖7是根據本發明的實施例的光學顆粒測量儀器的檢定方法的流程圖700。在步驟701中，如前所述，光被發射到樣本室和標準介質懸浮體中。在步驟702中，如前所述，光檢測器接收在懸浮體內被散射的散射光。在步驟703中，根據接收到的散射光來確定顆粒濃度值。可以根據接收到的散射光的強度以已知方式來生成顆粒濃度值。可以以已知單位來表示顆粒濃度值，例如，諸如以比濁法濁度單位(NTU)。在步驟704中，確定顆粒濃度值與參考值之間的差。該參考值可以包括例如存儲值。該參考值可以包括例如歷史值。該參考值可以包括先前的測量結果，諸如在出廠校準程序之後或在清潔、修理或整修操作之後獲得的檢定測量結果(即顆粒濃度值)。在步驟705中，將所述差與預定可接受範圍相比較。如果該差不大於預定可接受範圍，則所述方法前進到步驟706。如果所述差大於所述預定可接受範圍，則所述方法進行到步驟707。在步驟706中，生成成功指示。該成功指示指示所述差在所述預定可接受範圍內且所述光學測量儀器已通過檢定過程。因此，所述成功指示還指示所述光學測量儀器可以繼續使用。所述方法退出。在步驟707中，生成失敗指示。該失敗指示指示所述差超過所述預定可接受範圍且所述光學測量儀器未通過檢定過程。因此，所述失敗指示還指示需要或要求儀器的某些方式的校準、清潔或者整修或修理。所述方法退出。圖8是根據本發明的實施例的用於光學顆粒測量儀器的檢定方法的流程圖800。在步驟801中，如前所述，光被發射到樣本室和標準介質懸浮體中。在步驟802中，如前所述，光檢測器接收在懸浮體內被散射的散射光。在步驟803中，如前所述，根據接收到的散射光來確定顆粒濃度值。該顆粒濃度值對應於懸浮體的存在。在步驟804中，光被發射到沒有標準介質懸浮體的樣本流體中。另外，樣本流體未改變。在步驟805中，確定第二濃度值。使用從沒有懸浮體的樣本流體接收到的散射光來確定第二濃度值。該第二濃度值對應於懸浮體的不存在。在步驟806中，如前所述，確定顆粒濃度值與第二濃度值之間的差。在步驟807中，如前所述，將所述差與預定可接受範圍相比較。如果所述差不大於預定可接受範圍，則所述方法進行到步驟808。如果所述差大於所述預定可接受範圍，則所述方法進行到步驟809。在步驟808中，如前所述，生成成功指示。在步驟809中，如前所述，生成失敗指示。圖9示出被插入樣本室103中的第一標準介質懸浮體150。使用第一標準介質懸浮體150，獲得第一光散射測量結果。在此圖中，未被第一標準介質懸浮體150散射的光離開樣本室103(參見圖底部的箭頭)。另外，未被標準介質懸浮體150散射的光還可被樣本室103散射。此散射光可以影響光接收器106的測量結果且可以降低光學顆粒測量儀器10的準確度。可以使用根據本發明的方法來檢測並確定由於樣本室103而引起的光散射(參見圖11和隨附討論)。可以使用兩種不同的標準介質懸浮體來確定樣本室散射。第一標準介質懸浮體可以是如圖9所示的樣本體150。圖10示出被插入樣本室103中的第二標準介質懸浮體150，其中，第二標準介質懸浮體150包括端蓋156。使用第二標準介質懸浮體150，獲得第二光散射測量結果。如果樣本室103不將光散射朝向接收器106，則兩個測量結果應是相同的。然而，如果樣本室103散射不期望的量的光，則第二測量結果應小於第一測量結果，因為端蓋156將防止光被樣本室103散射。因此，可以比較兩個測量結果以便確定被樣本室103散射的光的量。圖11是根據本發明的實施例的用於光學顆粒測量儀器的檢定方法的流程圖1100。在步驟1101中，第一光被發射到樣本室中和第一標準介質懸浮體150中。第一標準介質懸浮體不包括任何端蓋。因此，在第一光離開第一標準介質懸浮體150時，發射的光可能會被樣本室103散射。在步驟1102中，根據接收到的第一散射光來確定第一顆粒濃度值。通過儀器中的光接收器來確定第一顆粒濃度值。該第一顆粒濃度值對應於懸浮體的存在且包括對被懸浮體散射的光的測量結果/量化結果。第一顆粒濃度值還可以包括在第一光離開第一標準介質懸浮體150時被樣本室103散射的光。在步驟1103中，第二光被發射到樣本流體和第二標準介質懸浮體150中。第二標準介質懸浮體150包括基本上吸收入射光的端蓋156。結果，樣本室103不能散射光。在步驟1104中，根據接收到的第二散射光來確定第二顆粒濃度值。所述第二顆粒濃度值對應於第二標準介質懸浮體150的存在且包括對僅僅被第二標準介質懸浮體150散射的光的測量結果/量化結果。第二顆粒濃度值不包括被樣本室散射的光。在步驟1105中，確定第一顆粒濃度值與第二顆粒濃度值之間的差。在步驟1106中，將所述差與預定腔室散射閾值相比較。如果所述差不超過所述預定腔室散射閾值，則所述方法進行到步驟1107。如果所述差大於所述預定腔室散射閾值，則所述方法進行到步驟1108。在步驟1107中，生成成功指示。在某些實施例中，所述成功指示包括樣本室103進行的光散射低於所述閾值的指示。例如，這可以指示樣本室103清潔度是可接受的。在步驟1108中，生成失敗指示。在某些實施例中，所述失敗指示包括樣本室103進行的光散射超過所述預定腔室散射閾值的指示。這可以指示需要維修樣本室103或光學顆粒測量儀器10。可以就地且在不去除樣本流體的情況下使用根據某些實施例的懸浮體、儀器以及方法。還可以在不需要標準物的任何精度對準的情況下採用根據某些實施例的懸浮體、儀器以及方法。可以在不需要檢定之前的預先維修的情況下使用根據某些實施例的懸浮體、儀器以及方法。根據某些實施例的懸浮體、儀器以及方法提供評估濁度計、比濁計或其它光學顆粒測量儀器的操作性能和功能的手段。根據某些實施例的懸浮體、儀器以及方法可以用來提供對讀數精度、性能變化或操作故障的確定，因為執行了最後的標準校準。根據某些實施例的懸浮體、儀器以及方法可以提供檢定能力。根據某些實施例的懸浮體、儀器以及方法可以提供消除對準和定位困難的檢定能力。根據某些實施例的懸浮體、儀器以及方法可以提供不受儀器移動的影響、快速且易於執行且可以在現場執行的檢定能力。權利要求一種適合用於光學顆粒測量儀器的檢定的標準介質懸浮體(150)，其被配置為至少部分地浸入樣本流體中，該標準介質懸浮體(150)包括基本上為固態的三維外表面，其包括沿著照明軸A設置的第一末端(151)和第二末端(152)以及在所述第一末端(151)與所述第二末端(152)之間延伸的至少一個外表面(153)，其中，所述第一末端(151)被配置為允許光進入標準介質懸浮體(150)；內體積，其中，所述內體積的至少一部分包括被配置為散射預定量的入射光的基本懸浮的光散射材料(155)；以及端蓋(156)，其形成在所述第二末端(152)上並包括光吸收材料，其中，離開所述第二末端(152)的光基本上被所述端蓋(156)吸收。2.權利要求1的懸浮體，其中，標準介質懸浮體(150)包括與樣本流體折射率基本上匹配的折射率。3.權利要求1的懸浮體，其中，標準介質懸浮體(150)還包括基本上為固態的懸浮材料體；以及被所述固態懸浮材料保持為懸浮狀態的光散射材料。4.權利要求1的懸浮體，其中，標準介質懸浮體(150)還包括基本為固態的懸浮材料體；以及懸浮材料的至少一部分中的無定形或非無定形分子鍵。5.權利要求1的懸浮體，其中，標準介質懸浮體(150)還包括基本為固態的懸浮材料體；以及遍布於懸浮材料的至少一部分的泡。6.權利要求1的懸浮體，其中，標準介質懸浮體(150)還包括外殼；以及被保持在所述外殼中的懸浮材料，其中，所述懸浮材料包括懸浮的光散射材料。7.權利要求6的懸浮體，其中，所述懸浮材料包括懸浮液體、懸浮凝膠、半固體或包含在所述外殼內的其它可置位液體。8.權利要求1的懸浮體，其中，標準介質懸浮體(150)還包括在所述標準介質懸浮體(150)的第一末端(151)處的用於允許入射光進入所述標準介質懸浮體(150)的第一光學表面；在所述第二末端(152)處的用於透射基本上沿著照明軸A基本上傳播通過並離開所述標準介質懸浮體(150)的未散射光的第三光學表面；以及至少部分地在所述第一末端(151)與所述第二末端(152之間延伸的用於透射基本上垂直於照明軸A地離開所述標準介質懸浮體(150)的散射光的第二光學表面；其中，所述第一末端(151)被拋光而形成第一光學表面，所述第二末端(152)被拋光而形成第三光學表面，其中，所述第一末端(152)和所述第二末端(152)沿著照明軸A設置，且所述第一末端(151)與所述第二末端(152)之間的外表面的至少一部分被拋光而形成所述第二光學表面。9.一種光學顆粒測量儀器(10)，包括光源(100)，其被布置為沿著照明軸A將光發射到測試室中；光接收器(106)，其被至少部分地布置在所述測試室中並被布置為接收沿光散射路徑的光；基本開放的樣本室(103)，其被布置在所述照明軸A與所述光散射路徑的接合點處，其中，所述樣本室(103)被配置為保持樣本流體以供測量；以及標準介質懸浮體(150)，其被至少部分地浸入所述樣本室(103)中的樣本流體中，其中，所述標準介質懸浮體(150)是可去除的且被配置為散射預定量的入射光；其中，所述光學顆粒測量儀器(10)被配置為將光發射到所述標準介質懸浮體(150)中，接收被所述標準介質懸浮體(150)散射且已通過樣本液體的至少一部分的散射光，以及使用該散射光來執行所述光學顆粒測量儀器(10)的檢定。10.權利要求9的儀器，其中，所述光學顆粒測量儀器(10)被配置為將光發射到所述標準介質懸浮體(150)中，接收被所述標準介質懸浮體(150)散射且已通過樣本流體的至少一部分的散射光，使用接收到的散射光來確定顆粒濃度值，確定所述顆粒濃度值與參考值之間的差，將該差與預定容差範圍相比較，如果該差在預定容差範圍內則生成檢定成功指示，以及如果該差在所述預定容差範圍之外則生成檢定失敗指示。11.權利要求9的儀器，其中所述光學顆粒測量儀器(10)還被配置為將光發射到所述標準介質懸浮體中，接收散射光，使用所接收到的散射光確定顆粒濃度值，在沒有所述標準介質懸浮體(150)的情況下將光發射到樣本室(103)中的樣本流體中，生成沒有所述標準介質懸浮體(150)的情況下的第二濃度值，確定所述顆粒濃度值與所述第二濃度值之間的差，將該差與預定容差範圍相比較，如果該差在預定容差範圍內則生成檢定成功指示，以及如果該差在所述預定容差範圍之外則生成檢定失敗指示。12.權利要求9的儀器，其中，標準介質懸浮體(150)包括基本上為固態的三維外表面，其包括沿著照明軸A設置的第一末端(151)和第二末端(152)以及在所述第一末端(151)與所述第二末端(152)之間延伸的至少一個外表面(153)，其中，所述第一末端(151)被配置為接納入射光；以及內體積，其中所述內體積的至少一部分包括基本懸浮的光散射材料(155)，該光散射材料被配置為散射從在所述至少一個外表面(153)之外的光源(100)接收到的預定量的入射光。13.權利要求9的儀器，其中，標準介質懸浮體(150)包括基本上為固態的三維外表面，其包括沿著照明軸A設置的第一末端(151)和第二末端(152)以及在所述第一末端(151)與所述第二末端(152)之間延伸的至少一個外表面(153)，其中，所述第一末端(151)被配置為接納入射光；內體積，其中所述內體積的至少一部分包括基本懸浮的光散射材料(155)，該光散射材料被配置為散射從在所述至少一個外表面(153)之外的光源(100)接收到的預定量的入射光；以及端蓋(156)，其形成在所述第二末端(152)上並包括光吸收材料，其中，離開所述第二末端(152)的光基本上被所述端蓋(156)吸收。14.權利要求9的儀器，其中，所述懸浮體折射率被選擇為與樣本流體折射率基本上匹配。15.權利要求9的儀器，其中，標準介質懸浮體(150)還包括基本為固態的懸浮材料體；以及被所述固態懸浮材料保持為懸浮狀態的光散射材料。16.權利要求9的儀器，其中，標準介質懸浮體(150)還包括基本為固態的懸浮材料體；以及所述懸浮材料的至少一部分中的無定形或非無定形分子鍵。17.權利要求9的儀器，其中，標準介質懸浮體(150)還包括基本為固態的懸浮材料體；以及遍布於所述懸浮材料的至少一部分的泡。18.權利要求9的儀器，其中，標準介質懸浮體(150)還包括外殼；以及被保持在所述外殼中的懸浮材料，其中，所述懸浮材料包括懸浮的光散射材料。19.權利要求18的儀器，其中，所述懸浮材料包括懸浮液體、懸浮凝膠、半固體或包含在所述外殼內的其它可置位液體。20.權利要求9的儀器，其中，標準介質懸浮體(150)還包括在所述標準介質懸浮體(150)的第一末端(151)處的用於允許入射光進入所述標準介質懸浮體(150)的第一光學表面；在所述第二末端(152)處的用於透射基本上沿著照明軸A基本上傳播通過並離開所述標準介質懸浮體(150)的未散射光的第三光學表面；以及至少部分地在所述第一末端(151)與所述第二末端(152之間延伸的用於透射基本上垂直於照明軸A地離開所述標準介質懸浮體(150)的散射光的第二光學表面；其中，所述第一末端(151)被拋光而形成第一光學表面，所述第二末端(152)被拋光而形成第三光學表面，其中所述第一末端(151)和所述第二末端(152)沿著照明軸A設置，且所述第一末端(151)與所述第二末端(152)之間的外表面的至少一部分被拋光而形成所述第二光學表面。21.一種用於光學顆粒測量儀器的檢定方法，包括將光發射到至少部分地浸入樣本流體中的可去除的標準介質懸浮體中，其中，所述樣本流體被保持在所述光學顆粒測量儀器的基本開放的樣本室中，所述標準介質懸浮體被配置為散射預定量的入射光；接收被所述標準介質懸浮體散射且已通過樣本流體的至少一部分的散射光；以及使用所述散射光來執行所述光學顆粒測量儀器的檢定。22.權利要求21的方法，其中，所述標準介質懸浮體是三維的。23.權利要求21的方法，其中，所述標準介質懸浮體被基本上全部浸入樣本流體中。24.權利要求21的方法，其中，所述標準介質懸浮體包括與樣本流體折射率基本上匹配的折射率。25.權利要求21的方法，其中，執行所述檢定還包括使用接收到的散射光確定顆粒濃度值；確定所述顆粒濃度值與參考值之間的差；將所述差與預定容差範圍相比較；以及如果所述差在所述預定容差範圍內，則生成檢定成功指示。26.權利要求25的方法，還包括如果所述差在所述預定容差範圍之外則生成檢定失敗指示。27.一種用於光學顆粒測量儀器的檢定方法，包括將光發射到至少部分地浸入樣本流體中的可去除的標準介質懸浮體中，其中，所述樣本流體被保持在所述光學顆粒測量儀器的基本開放的樣本室中，所述標準介質懸浮體被配置為散射預定量的入射光；接收被所述標準介質懸浮體散射且已通過樣本流體的至少一部分的散射光；使用接收到的散射光來確定顆粒濃度值；確定所述顆粒濃度值與參考值之間的差；將所述差與預定容差範圍相比較；以及如果所述差在所述預定容差範圍內，則生成檢定成功指示。28.權利要求27的方法，其中，所述標準介質懸浮體是三維的。29.權利要求27的方法，其中，所述標準介質懸浮體被基本上全部浸入樣本流體中。30.權利要求27的方法，其中，所述標準介質懸浮體包括與樣本流體折射率基本上匹配的折射率。31.權利要求27的方法，還包括如果所述差在所述預定容差範圍之外則生成檢定失敗指示。32.一種用於光學顆粒測量儀器的檢定方法，包括將光發射到至少部分地浸入樣本流體中的標準介質懸浮體中，其中，所述樣本流體被保持在所述光學顆粒測量儀器的樣本室中，所述標準介質懸浮體被配置為散射預定量的入射光；接收被所述標準介質懸浮體散射且已通過樣本流體的至少一部分的散射光；使用接收到的散射光來確定顆粒濃度值；在沒有所述標準介質懸浮體的情況下將光發射到所述樣本室中的樣本流體中；生成沒有所述標準介質懸浮體的情況下的第二濃度值；確定所述顆粒濃度值與所述第二濃度值之間的差；將所述差與預定容差範圍相比較；以及如果所述差在所述預定容差範圍內，則生成檢定成功指示。33.權利要求32的方法，還包括如果所述差在所述預定容差範圍之外則生成檢定失敗指示。34.權利要求32的方法，其中，所述標準介質懸浮體是三維的。35.權利要求32的方法，其中，所述標準介質懸浮體被基本上全部浸入樣本流體中。36.權利要求32的方法，其中，所述標準介質懸浮體包括與樣本流體折射率基本上匹配的折射率。37.一種用於光學顆粒測量儀器的檢定方法，包括將第一光發射到至少部分地浸入樣本流體中的第一標準介質懸浮體中，其中所述樣本流體被保持在所述光學顆粒測量儀器的樣本室中，所述標準介質懸浮體被配置為散射預定量的第一入射光；使用被所述第一標準介質懸浮體散射且已通過樣本流體的至少一部分的第一散射光來確定第一顆粒濃度值；將第二光發射到至少部分地浸入樣本流體中且同樣被配置為散射預定量的第二入射光的第二標準介質懸浮體中，其中，所述第二標準介質懸浮體包括形成在第二末端上的端蓋，並且其中，離開所述第二末端的第二光基本上被所述端蓋吸收；使用被所述第二標準介質懸浮體散射且已通過樣本流體的至少一部分的第二散射光來確定第二顆粒濃度值；確定所述第一顆粒濃度值與所述第二顆粒濃度值之間的差，其中，所述差與被所述樣本室散射的光有關。38.權利要求37的方法，還包括如果所述差超過預定腔室散射閾值則生成檢定失敗指39.權利要求37的方法，其中，所述標準介質懸浮體是三維的。40.權利要求37的方法，其中，所述標準介質懸浮體被基本上全部浸入樣本流體中。41.權利要求37的方法，其中，所述標準介質懸浮體包括與樣本流體折射率基本上匹配的折射率。全文摘要根據本發明，提供了一種用於光學顆粒測量儀器的檢定和校準且被配置為是被至少部分地浸入樣本流體中的標準介質懸浮體(150)。懸浮體(150)包括基本上為固態的外表面，該外表面包括沿著照明軸A設置的第一末端(151)和第二末端(152)以及至少一個外表面(153)。第一末端(151)被配置為接納入射光。懸浮體還包括內體積。所述內體積的至少一部分包括被配置為散射預定量的入射光的基本懸浮的光散射材料(155)。懸浮體(150)還包括形成在所述第二末端(152)上且包括光吸收材料的端蓋(156)。離開第二末端(152)的光基本上被端蓋(156)吸收。文檔編號G01N21/27GK101809430SQ200880106994公開日2010年8月18日申請日期2008年9月4日優先權日2007年9月12日發明者P·A·帕倫博申請人:哈赫公司