陰極射線管用玻璃漏鬥的製作方法
2023-08-10 08:33:56 2
專利名稱：陰極射線管用玻璃漏鬥的製作方法
技術領域：
本發明涉及陰極射線管用玻璃漏鬥，特別涉及對該漏鬥封接端面的周邊狀態的改進技術。
背景技術：
眾所周知，彩色電視接收機等顯示裝置用的陰極射線管，主要作為玻璃部件，具備可以放出圖像的陰極射線管用玻璃面板(以下也簡稱面板)和大體漏鬥狀的陰極射線管用玻璃漏鬥(以下也簡稱漏鬥)。這種情況下，面板具有帶有顯示圖像有效畫面的大體矩形的面部，和藉助於配合(blend)R部與該面部連接的四個邊部，由這些邊部構成筒部，同時在該筒部的開口端形成與漏鬥封接用的封接端面。
另一方面如圖5所示，上述漏鬥1沿著管軸Z方向的一端與另一端，分別形成具有用於與面板之封接的大體呈矩形的封接端面2的大開口端3，和與頸部的熔敷中所用的大體圓形的小開口端4，以管軸Z為中心線的漏鬥1的側壁部5大體呈漏鬥狀。詳細講，這種漏鬥1的側壁部5具有從大開口端3至小開口端4側預定位置的主體部6，和與其小開口端4側相連的軛部7；主體部6的大開口端3中的封接端面2，藉助於釉料(frit)與面板開口端的封接端面封接在一起。
這種漏鬥1，可以在加壓成形工序中，通過向由底模(底部模具)和側模(殼部模具)構成的受模(凹模)中供給被稱為的熔融剝離塊料，用壓模(柱塞模具)對其加壓成形。因此，在漏鬥1的側壁部5(主體部6)的外側面上，形成由底部模具與殼部模具組合而成的最大外形線(鑄模匹配線)8，同時從封接端面2至最大外形線8的壁部形成漏鬥1的筒部9。而且在漏鬥1側壁部的外側面上，分別在預定位置上形成有與面板和頸部進行高精度封接用的凸狀位置定為基準部15a、15b和15c。
然而，按照下述專利文獻1的公開，將漏鬥1的封接端面2製成由平均大小為5～25微米、平均深度為10～25微米、平均個數為15萬～400萬個/平方釐米的多個微細孔狀凹部構成的粗面。採用這種方法，當將漏鬥1與面板封接時釉料的形狀良好，在製造工序中能夠避免陰極射線管破壞。
而且根據下述專利文獻2公開了一種結構，其中對漏鬥成形用底部模具的表面進行氮化處理，通過使其表面粗造度(Rz)達到15～35微米，能夠將與其相同的凹凸從底部模具轉印到漏鬥1的主體部6上。採用這種方法，可以改善玻璃的脫模性、擠壓成形的操作性和模具的壽命。
此外根據下述專利文獻3公開了這樣一種方案，其中在漏鬥1側壁5的內面上，在與封接端面2接近的上端部和與頸部相鄰的下部形成粗面，使其表面粗造度(Rz)達到15～40微米。根據這種方法，能夠減小模具與玻璃之間的摩擦，將鑄模的壽命延長兩倍以上。
專利文獻1特公平7-95431號公報專利文獻2特開平9-255349號公報專利文獻3特開平4-294036號公報然而上述專利文獻1～3中僅僅公開了將漏鬥1的封接端面2製成粗面和將漏鬥1的側壁部5的內外側面製成粗面。但是，在這種漏鬥1的封接端面2的內周側和外周側卻往往進行倒角，即斜面的形成。儘管如此，實際情況是不僅上述專利文獻1～3，而且即使其他專利文獻和非專利文獻中，都沒有關於這種斜面形狀的任何記載。
因此，關於上述斜面的形狀，雖然有人考慮過將其製成鏡面或接近於鏡面的大體鏡面，或者相反將其製成粗面，但是作為現狀而明確的事實是，鑑於汙物除去的容易性等受到重視，所以通常將斜面製成鏡面或大體鏡面。換句話說，現狀是尚未發現將斜面製成粗面的明確優點，所以這是將斜面製成鏡面和大體鏡面的原因之一。
一旦這樣將斜面製成鏡面或大體鏡面，在斜面形成後對漏鬥進行各種操作時，輸送時和處理時等，特別是在外周側的斜面上容易帶有許多傷痕，一旦帶有這種傷痕，在與面板封接時的降溫過程中就往往會因受到強的拉伸應力作用而招致產生裂紋等不利情況出現。
同樣在對漏鬥進行處理時等，由鏡面或大體鏡面構成的外周側的斜面上一旦帶有多個傷痕，釉料就不會完全充填在該傷痕的內部，就會殘留釉料與斜面不接觸的部位，因斜面與釉料間密接強度降低而使面板與漏鬥的密封強度降低。
而且，倒角部像上述那樣是鏡面或大體鏡面時，也會招致以下問題。也就是說，在面板與漏鬥1的封接工序中，在其初始階段，在使釉料存在的狀態下將封接端朝下的面板放置在漏鬥1的封接端面2上，釉料將會受到該面板封接端面的擠壓。這樣一來，釉料就會向內外兩側滲出，同時會沿著漏鬥1封接端面2的內周側和外周側的斜面流動。
這種情況下，一旦將上述斜面製成鏡面或大體鏡面，由於其流過阻力小，所以流過斜面的釉料量就會增多，在這種釉料變成低溫而固化之前的期間內，釉料將處於不當地向下方流動的狀態。於是，釉料的形狀一旦這樣不適當，升溫時和降溫時因熱變形等會使該不適當部分產生應力集中，從而出現產生破壞的問題。
而且尤其是像已敘述那樣在外周側斜面上形成多個傷痕的情況下，釉料的流動狀態在封接端面2的內周側和外周側就會不同，於是因在內周側和外周側釉料形狀不同，所以由此引發部分應力集中以及起因於它的破壞問題產生。而且特別在釉料的外周側，由於延續兩次產生應力，所以這種外周側的釉料形狀一旦不當，破壞問題就會變得越發顯著。
另外，雖然考慮到將斜面製成粗面，但是僅將斜面製成粗面當然不能適當解決上述問題，在漏鬥的製造過程中由於誘發在斜面上附著的汙物等難於脫落等新的問題，所以目前存在尋找出哪種對策最佳的課題。
發明內容
本發明正是鑑於上述情況而提出的，其技術課題是提供一種在封接端面、特別是在外周側的斜面上難於帶傷和附著汙物，而且可以形成適當形狀熔合剝離的陰極射線管用剝離漏鬥。
用以解決上述技術課題的本發明，涉及一種陰極射線管用玻璃漏鬥，其特徵在於，在具備與陰極射線管用玻璃漏鬥封合所用的大體矩形的封接端面的大開口端和大體圓形的小開口端，並且大體呈漏鬥狀的陰極射線管用玻璃漏鬥中，將沿著所述封接斷面外周的斜面，製成使表面的十點平均粗造度Rz和表面凹凸的平均間隔Sm滿足0.014≤[Rz/Sm]≤0.075關係的特定粗面。此外上述Rz和Sm的測定是按照JIS B06011982進行的。
採用這種構成，在漏鬥封接端面的外周側形成的斜面，由於是不屬於鏡面或大體鏡面的特定粗面，而且這種特定粗面處於上述數值範圍內，所以外周面的斜面上很難帶傷，可以減少與面板封接熱處理時裂紋產生的概率，同時可以抑制釉料的不當下垂，進而使汙物等附著殘存現象難於產生。
也就是說，假如[Rz/Sm]＜0.014，則與凹凸的平均間隔相比因該凹凸的深度相對過小，所以處於比較接近鏡面的狀態下，對漏鬥進行處理時等外周側斜面上的帶傷的概率增高，在與面板封接工序中降溫時，將會產生裂紋。而且這樣在外周側的斜面上帶傷的情況下，釉料在該傷的內部不能完全充填，由於斜面與釉料間的密接強度降低，所以有使面板與漏鬥間封接強度降低的缺點。此外，一旦斜面處於與鏡面比較接近的狀態下，由於其流過的阻力減小，所以釉料就會處於不當地下垂的狀態。考慮到這些問題，決定使[Rz/Sm]≥0.014。
與其相比，一旦使[Rz/Sm]＞0.075，則與凹凸的平均間隔相比因該凹凸的深度相對過大，所以在將面板與漏鬥封接工序中升溫過程中的升溫時，在凹部與凸部之間的溫度分布就會產生波動。與外周側的斜面接觸的釉料的軟化流動速度，由於上述原因而在凹部與凸部之間就會出現不同，因而很難在斜面上於均勻條件下使釉料浸透和使其反應，不能獲得良好的釉料形狀。而且對於凹部而言在凹部內釉料的充填變難，因而會在凹部內殘存空氣，使斜面與釉料的密接強度降低，熔敷強度降低。一旦這樣使凹部相對過窄，在漏鬥的製造工序中由於斜面上附著的汙物等難於脫落，所以會導致在凹部殘存汙物等的狀態下製造玻璃殼的事態發生。鑑於這些問題，決定使[Rz/Sm]≤0.075是具有意義的。此外，關於封接端面雖然也可以是鏡面或者大體鏡面，但是優選製成與上述同樣的特定粗面。
在上述構成中，優選將從沿著封接端面外周的斜面至最大外形線的外側面的一部或者全部製成與上述同樣的特定粗面。
如果這樣，不僅外周側的斜面，而且從外周側的斜面至最大外形線(模具匹配線)的外側面，都能享受到與已述事項同樣的優點。也就是說，若著眼於釉料的形狀，如已述的那樣由外周的側斜面阻止了適當流下的釉料，進而經過外周側流下的情況下，通過使其外側面處於0.014≤[Rz/Sm]≤0.075，將會在適當位置阻止釉料流下並使其固化的過程將確實地進行。而且若考慮到阻止釉料從斜面至最大外形線的途中位置上流下並使其固化得最佳，將此外側面製成上述特定粗面的作用就會極大。此外，將此外側面製成上述特定粗面的區域，既可以是從外周側的斜面至最大外形線的全部區域，也可以是至其中途位置的部分區域。
在上述構成中，優選將遍及所述封接端面外周側的全周製成上述的特定粗面。
換句話說，關於斜面優選遍及封接端面外周側的全周製成特定粗面，而且關於從斜面至最大外形線的外側面，優選將遍及其全周製成特定粗面。如果這樣，可以在遍及封接端面外周側的全周獲得均勻的釉料形狀。此外，特別著眼於與面板封接時的降溫過程中容易產生應力集中處傷痕的對策，也可以僅將各邊部中央與其周邊(例如距離長軸或短軸50毫米以上150毫米以下的區域)，或者與定位基準部形成區域對應的封接端面外周側的範圍製成上述特定粗面。而且關於外周側斜面本身，雖然優選遍及封接端面全周形成，但是也可以僅將各邊中央部及其周邊(例如距離長軸或短軸50毫米以上150毫米以下的區域)，或者與定位基準部形成區域對應的封接端面外周側的範圍製成上述特定粗面。
上述構成中，優選將沿著封接端面的內周製成與上述同樣的特定粗面。
如果這樣，關於封接端面內周側的斜面，也能享受到關於與已述的外周側斜面的事項同樣的優點。而且關於釉料的形狀，可以使內周側與外周側製成同一或大體同一的，以壁厚方向的中心作為基準，形成內外對稱的形狀，得到適當的釉料。此外為了獲得這種優點，有關內周側的斜面與外周側的斜面二者，都製成處於上述特定粗面的數值範圍內具有互相相同或大體相同數值構成的粗面。
上述構成中，優選將沿著封接端面內周的斜面至與最大外形線對應部位的內側面的一部或者全部製成與上述同樣的特定粗面。
如果這樣，不僅內周側的斜面，而且就從內周側的斜面至與最大外形線對應部位(與存在最大外形線的管軸方向的位置相同或大體相同的位置)的內側面而言，都能享受到與已述事項同樣的優點。也就是說，與上述情況同樣，若著眼於釉料的形狀，如已述的那樣被內周側的斜面阻止了適當流下的釉料，進而經過內側面流下的情況下，在適當位置阻止釉料玻璃(frit glass)流下並使其固化，將變得更加確實地進行。此外，將這種內側面製成上述特定粗面的區域，既可以是從內周側的斜面至與最大外形線對應部位的全部區域，也可以是至其中途位置的部分區域。
上述構成中，優選將遍及封接端面內周側的全周製成上述的特定粗面。
換句話說，關於斜面優選沿著遍及封接端面內周側的全周製成特定粗面，而且關於從斜面至與最大外形線對應部位的內側面，優選沿著遍及其全周製成特定粗面。如果這樣，可以沿著遍及封接端面內周側的全周獲得均勻的釉料形狀，而且若特別著眼於與面板封接時的降溫過程中容易產生應力集中處傷痕的對策，也可以僅將各邊部中央及其周邊(例如距離長軸或短軸50毫米以上150毫米以下的區域)，或者與定位基準部形成區域對應的封接端面內周側的範圍製成上述特定粗面。而且關於內周側的斜面本身，雖然優選遍及封接端面的全周形成，但是也可以僅將各邊中央部及其周邊(例如距離長軸或短軸50毫米以上150毫米以下的區域)，或者與定位基準部形成區域對應的封接端面的內周側範圍形成斜面。
在上述構成中，優選使上述特定粗面中表面的十點平均粗造度Rz滿足5微米≤Rz≤15微米的關係。
也就是說，假如一旦使Rz≤5微米，則由於凹凸的深度絕對值過小，所以使釉料處於其間將面板與漏鬥封接時，由於流過內外斜面和內外側面而不能充分控制釉料過度下流，固化後釉料將處於不當地下流的狀態下，難於獲得良好的封接形狀。與此相比，假如一旦使Rz≥15微米，則由於凹凸的深度絕對值過大，在將面板與漏鬥封接過程中的升溫時，在凹部與凸部之間的溫度分布就會產生波動，釉料玻璃的軟化流動的速度由於在凹部與凸部有很大差別，所以在內外斜面和內外側面上與均勻條件下使釉料玻璃浸透及使其反應將會變難，這種情況下也很難獲得良好的封接狀態。因此，為了避免這種不利情況，使Rz處於上述範圍內將變得有利。
這種情況下，上述特定粗面中的表面凹凸的平均間隔Sm優選為100～400微米。也就是說，假定一旦Sm＜100微米，則由於凹部過窄釉料玻璃就會變成具有粘性的漿狀，釉料玻璃因而難於充填在凹部內，因特定粗面與釉料玻璃間的密接強度降低而使熔敷強度降低。而且凹部一旦這樣過窄，由於在漏鬥製造工序中附著在特定粗面上的汙物等難於落下，所以就會招致在凹部殘存了汙物等的狀態下製作玻璃殼的事態發生。與此相比，假如一旦Sm＞400微米，由於凹部過寬而使全體變成光滑的表面，不能確實抑制劃傷，同時在將漏鬥與面板封接時就不能充分抑制釉料玻璃沿著特定粗面朝下流動，因而難於獲得良好的封接狀態。而且一旦這樣全體處於光滑狀態下，特定粗面與釉料玻璃間的接觸面積就會減小，有招致封接強度降低之虞。因此，為了迴避這種不利情況，使Sm處於上述數值範圍內是有利的。鑑於以上事項，特定粗面中的表面凹凸的平均間隔Sm，更優選處於220～320微米範圍內。
因此按照本發明涉及的陰極射線管用玻璃漏鬥，在封接斷面的外周側形成的斜面，由於不是鏡面或大體鏡面的特定粗面，而且這種特定粗面滿足0.014≤[Rz/Sm]≤0.075的關係，所以在外周側的斜面上很難帶傷，可以降低與面板封接熱處理時等中產生裂紋的概率，同時可以抑制釉料玻璃的不當的下落，能獲得良好的釉料形狀，進而能夠阻止因汙物等的殘存附著而產生弊端。
圖1是表示本發明實施方式涉及的陰極射線管用玻璃漏鬥的立體圖。
圖2是表示將本發明實施方式涉及的陰極射線管用玻璃漏鬥與陰極射線管用玻璃面板用釉料玻璃封接而成的陰極射線管用玻璃殼體的縱剖面圖。
圖3是表示採用已有的陰極射線管用玻璃漏鬥製作的陰極射線管用玻璃殼體存在問題的縱剖面圖。
圖4是表示採用已有的陰極射線管用玻璃漏鬥製作的陰極射線管用玻璃殼體存在問題的縱剖面圖。
圖5是表示已有陰極射線管用玻璃漏鬥的立體圖。
圖中
1…漏鬥(陰極射線管用玻璃漏鬥)，2…封接端面，3…大開口端，4…小開口端，5…側壁部，8…最大外形線(模具匹配線)，9…圓筒部10…內周側的斜面，11…外周側的斜面，12…外側面，13…內側面，14…釉料玻璃，20…面板(陰極射線管用玻璃面板)具體實施方式
以下參照
本發明的實施方式。圖1是表示本發明實施方式涉及的陰極射線管用玻璃漏鬥的立體圖，其基本構成要素由於圖5所示的已有漏鬥相同，所以就這二者共同的基本構成要素將賦予相同符號，其說明省略。
如圖1所示，本發明的實施方式涉及的漏鬥1，具有沿著封接端面2的外周的斜面10，和沿著內周的斜面11，在此實施方式中內外兩個斜面10、11均遍及封接端面2的全周形成。而且這兩個斜面10、11的全部區域均被製成表面的十點平均粗造度Rz和表面凹凸的平均間隔Sm滿足0.014≤[Rz/Sm]≤0.075關係的特定粗面。
而且關於外周側的斜面10至最大外形線(模具匹配線)8的外側面12的全部區域，以及從內周側的斜面11至與最大外形線對應部位的內側面13的全部區域，也製成滿足與上述同樣的0.014≤[Rz/Sm]≤0.075的關係的特定粗面。此外，在此實施方式中，關於封接端面2的全部區域，也製成滿足與上述同樣的0.014≤[Rz/Sm]≤0.075關係的特定粗面。
進而，上述特定粗面中表面的十點平均粗造度Rz，規定為5微米≤Rz≤15微米。而且上述特定粗面中表面凹凸的平均間隔Sm，規定為100～400微米(優選220～320微米)。
被規定為上述特定粗面的漏鬥1的外周側的斜面10以及與此相連的外側面12(本實施方式中也包括封接端面2)，是將殼模的成形面製成與上述同等的特定粗面，藉助於加壓成形將這種殼模的成形面轉印到漏鬥1上的。同樣，被規定為上述特定粗面的漏鬥1的內周側的斜面11以及與此相連的外側面13，也是將與鑄模的成形面相應的部位製成與上述同等的特定粗面，藉助於加壓成形將這種鑄模的成形面轉印到漏鬥1上的。而且，漏鬥1的特定粗面定為未拋光面。此外，對於成形方法並無特別限制，可以採用拋光法在漏鬥1上形成特定粗面。
這種情況下，上述漏鬥1的特定粗面一旦以[Rz/Sm]＜0.014的情況，例如Rz≤5微米的情況為例，則如圖3所示，在將面板20與漏鬥1的封接時釉料玻璃14將會變得容易流動，或者會使釉料玻璃14相對於漏鬥1的外側面12及內側面13的接觸端部的角度變小，或者會使漏鬥1最大外形線8的周邊部產生釉料的貯留，在陰極射線管降溫時與應力集中和陰極射線管的破壞有關的可能性增大。
與此相反，當以[Rz/Sm]＞0.075的情況，例如Rz≥15微米的情況為例，則如圖4所示，在將面板20與漏鬥1封接時釉料玻璃14的流動由於不當地被阻礙，使釉料玻璃14相對於漏鬥1的外側面12及內側面13的接觸端部的角度過度增大，這種情況下在降溫時也會使陰極射線管破壞的可能性增大。
與此相比，當上述的特定粗面處於0.014≤[Rz/Sm]≤0.075的情況下，如圖2所示，在將面板20與漏鬥1封接時釉料玻璃14不會過度流動，而且其流動時的不當阻礙也會消失，由於斷面形狀變成接近圓形，所以釉料玻璃14相對於漏鬥1的外側面12及內側面13的接觸端部的角度變得適當，使降溫時陰極射線管破壞的可能性減小。
實施例作為實施例1～5，製作了外周側的斜面10以及由此斜面10至最大外形線8的外側面12的Rz/Sm為0.014、0.019、0.040、0.065和0.075的漏鬥1，作為比較例同樣製作了Rz/Sm為0.010和0.080的漏鬥1。此外，這些漏鬥1的內周側的斜面11以及由此斜面11至與最大外形線8對應部位的內側面13和封接端面2的Rz/Sm均為0.060。而且將藉助於釉料玻璃14將這些漏鬥1與面板20封接了的情況下的釉料形狀區分為外側面和內側面，並利用目視法對其測量，同時檢查了降溫時陰極射線管是否破損。其結果示於下表1。其中「○○」表示極為良好，「○」表示良好，「×」表示不良。
表1
根據上述表1，實施例1～5由於全部外周側、內周側和封接端面的Rz/Sm均處於上述的特定粗面數值範圍內，所以外面側及內面側的釉料形狀都良好，而且能夠確認以釉料為起因在降溫時陰極射線管的破損均未產生。與此相比，就比較例1而言由於與上述特定粗面中Rz/Sm的數值範圍相比外周側小，所以外周側的釉料形狀不良，而且以釉料為起因的降溫時陰極射線管產生了破損；而且關於比較例2，由於與上述特定粗面中Rz/Sm的數值範圍相比外周側大，所以外周側的釉料形狀不良，而且以釉料為起因的降溫時陰極射線管產生了破損。
以下作為本發明的實施例6～10，製作了外周側的斜面10以及由此斜面10至最大外形線8的外側面12的Rz/Sm，以及內周側的斜面11以及由此斜面11至與最大外形線8對應部位的內側面13和封接端面2的Rz/Sm均為0.014、0.019、0.040、0.065和0.075的漏鬥1，作為比較例同樣製作了Rz/Sm為0.010和0.080的漏鬥1。而且將藉助於釉料玻璃14將這些漏鬥1與面板20封接下的釉料形狀區分為外側面和內側面，並利用目視法對其測量，同時檢查了降溫時陰極射線管是否破損。其結果示於下表2。其中在下述表2中，「○○」、「○」和「×」的含義與上述事項相同。
根據下述表2，實施例6～10由於全部外周側及內周側和封接端面的Rz/Sm均處於上述的特定粗面數值範圍內，所以外面側及內面側的釉料形狀都良好，而且能夠確認以釉料為起因在降溫時陰極射線管都沒有產生的破損。與此相比，就比較例3而言由於與上述特定粗面中Rz/Sm的數值範圍相比外周側小，所以外面側和內面側二者的釉料形狀都不良，而且以釉料為起因在降溫時陰極射線管產生了破損；而且關於比較例4，由於外周側和內周側及封接端面的Rz/Sm均比上述特定粗面中的數值範圍大，所以外面側和內面側二者的釉料形狀都不良，而且以釉料為起因在降溫時陰極射線管產生了破損。
表2
此外作為實施例11～17，將外周側及內周側和封接端面的Rz/Sm均設定為0.220～0.060的情況下，製作了3微米、5微米、8微米、10微米、12微米、15微米和17微米的漏鬥。而且將這些漏鬥1與面板20藉助於釉料玻璃14進行封接的情況下的釉料形狀區分為內面側和外面側，並利用目視法進行了觀測，同時檢查了降溫時陰極射線管是否破損。其結果示於下表3。其中在下述表中，「○○」、「○」和「×」的含義與上述事項相同。
表3
根據上述表3可以確認，關於實施例12～17除了均獲得良好的結果以外，當Rz為5～15微米的情況下得到了更好的結果，而且當Rz為8～12微米的情況下，可以獲得最好的結果。
權利要求
1.一種陰極射線管用玻璃漏鬥，是在具備用於與陰極射線管用玻璃面板之封合的具有大體矩形的封接端面的大開口端，和大體圓形的小開口端，並且大體呈漏鬥狀的陰極射線管用玻璃漏鬥中，其特徵在於將沿著所述封接斷面外周的斜面，製成使表面的十點平均粗造度Rz和表面凹凸的平均間隔Sm滿足0.014≤[Rz/Sm]≤0.075關係的特定粗面。
2.根據權利要求1所述的陰極射線管用玻璃漏鬥，其特徵在於將沿著所述封接端面外周的斜面至最大外形線的外側面的一部或者全部製成所述特定粗面。
3.根據權利要求1或2所述的陰極射線管用玻璃漏鬥，其特徵在於將遍及所述封接端面外周側全周製成所述特定粗面。
4.根據權利要求1～3的任何一項中所述的陰極射線管用玻璃漏鬥，其特徵在於將沿著所述封接端面的內周製成所述特定粗面。
5.根據權利要求4所述的陰極射線管用玻璃漏鬥，其特徵在於將沿著所述封接端面內周的斜面至與最大外形線對應部位的內側面的一部或者全部製成所述特定粗面。
6.根據權利要求4或5所述的陰極射線管用玻璃漏鬥，其特徵在於將遍及所述封接端面內周側全周製成所述特定粗面。
7.根據權利要求1～6的任何一項中所述的陰極射線管用玻璃漏鬥，其特徵在於其中使所述特定粗面中表面的十點平均粗造度Rz滿足5微米≤Rz≤15微米的關係。
全文摘要
提供一種在封接端面的尤其外周側的斜面上難於產生傷痕和附著汙物，而且可以形成適當形狀的釉料的陰極射線管用玻璃漏鬥。將沿著漏鬥(1)的封接端面(2)外周的斜面(10)，製成使表面的十點平均粗造度Rz和表面凹凸的平均間隔Sm滿足0.014≤[Rz/Sm]≤0.075關係的特定粗面。優選將沿著封接端面(2)外周的斜面(10)至最大外形線(8)的外側面(12)的一部區域或全部區域製成上述粗面，而且將遍及封接斷面(2)的外周側全周製成上述特定粗面。此外，將沿著封接端面(2)的內周的斜面(11)，以及由此斜面(11)至最大外形線(8)對應部位的內側面(13)的一部區域或全部區域製成上述特定粗面。
文檔編號H01J29/86GK1728325SQ200510083388
公開日2006年2月1日 申請日期2005年7月14日 優先權日2004年7月29日
發明者藤堂義春, 越中修 申請人:日本電氣硝子株式會社