一種控制方法及電子設備與流程
2023-07-12 05:45:16
本發明涉及控制技術，尤其涉及一種控制方法及電子設備。
背景技術：
隨著科技的發展，人們對電子設備性能的極致追求成為了一個研究的重點。對於提高性能的方案中，提高處理器的性能(處理器超頻)是提高電子設備性能的核心方案。
目前，處理器超頻的控制基本上是一種被動的方式，不具有通用性，且這種方式對提高處理器的性能的效果並不明顯。
技術實現要素：
為解決現有存在的技術問題，本發明實施例提供一種控制方法及電子設備。
本發明實施例的技術方案是這樣實現的：
本發明實施例提供了一種控制方法，包括：
檢測電子設備處理器的第一電流；所述第一電流用於所述處理器計算功耗；所述第一電流由電壓發生器為所述處理器提供；所述電壓發生器還用於為所述處理器提供工作電壓；
利用所述第一電流，確定所述處理器的第一狀態；所述第一狀態表徵所述處理器當前的工作狀態；所述工作狀態反映所述處理器當前的負載；
利用確定的第一狀態，控制所述電子設備調節所述處理器的第一電流，以使所述處理器根據所述第一電流確定對應的功耗，並利用確定的功耗調整激活的運算單元的數量。
上述方案中，當所述第一狀態表徵所述處理器的負載超過第一閾值時，所述方法還包括：
偵測所述處理器的第一溫度；所述第一溫度表徵所述處理器當前的溫度；
利用確定的第一狀態並結合所述第一溫度，控制所述電子設備調節所述處理器的第一電流，以使所述處理器根據所述第一電流確定對應的功耗，並利用確定的功耗調整激活的運算單元的數量。
上述方案中，所述利用確定的第一狀態並結合所述第一溫度，控制所述電子設備調節所述處理器的第一電流，包括：
判斷所述第一溫度是否超過預設的第二溫度，得到第一判斷結果；
當所述第一判斷結果表徵所述第一溫度未超過所述第二溫度時，控制所述電子設備降低所述第一電流，以使所述處理器根據所述第一電流增加激活的運算單元的數量。
上述方案中，所述利用確定的第一狀態並結合所述第一溫度，控制所述電子設備調節所述處理器的第一電流，包括：
判斷所述第一溫度是否超過預設的第二溫度，得到第一判斷結果；
當所述第一判斷結果表徵所述第一溫度超過所述第二溫度時，控制所述電子設備增加所述第一電流，以使所述處理器根據所述第一電流減少激活的運算單元的數量。
上述方案中，所述利用確定的第一狀態，控制所述電子設備調節所述處理器的第一電流，包括：
當所述第一狀態表徵所述處理器的負載低於第二閾值時，控制所述電子設備降低所述第一電流，以使所述處理器根據所述第一電流增加激活的運算單元。
上述方案中，所述檢測電子設備處理器的第一電流，包括：
基於負反饋方式檢測所述第一電流。
上述方案中，基於負反饋方式檢測所述第一電流，包括：
通過與所述電壓發生器連接的第一電阻，檢測第一電壓；所述第一電壓表徵所述電阻對地的電壓；
利用所述第一電壓及所述第一電阻的阻值，確定所述第一電流；
所述利用確定的第一狀態，控制所述電子設備調節所述處理器的第一電流，包括：
利用所述確定的第一狀態，控制所述電子設備調整所述第一電阻的阻值，以使所述電子設備調節所述第一電流。
本發明實施例還提供了一種電子設備，包括：
處理器；
控制電路，用於檢測電子設備處理器的第一電流；所述第一電流用於所述處理器計算功耗；所述第一電流由電壓發生器為所述處理器提供；所述電壓發生器還用於為所述處理器提供工作電壓；利用所述第一電流，確定所述處理器的第一狀態；所述第一狀態表徵所述處理器當前的工作狀態；所述工作狀態反映所述處理器當前的負載；以及利用確定的第一狀態，控制所述電子設備調節所述處理器的第一電流，以使所述處理器根據所述第一電流確定對應的功耗，並利用確定的功耗調整激活的運算單元的數量。
上述方案中，所述控制電路，還用於當所述第一狀態表徵所述處理器的負載超過第一閾值時，偵測所述處理器的第一溫度；所述第一溫度表徵所述處理器當前的溫度；以及利用確定的第一狀態並結合所述第一溫度，控制所述電子設備調節所述處理器的第一電流，以使所述處理器根據所述第一電流確定對應的功耗，並利用確定的功耗調整激活的運算單元的數量。
上述方案中，所述控制電路，具體用於：
基於負反饋方式檢測所述第一電流。
本發明實施例提供的控制方法及電子設備，通過檢測電壓發生器為處理器提供的電流來確定處理器當前的工作狀態，然後再動態調節電壓發生器為處理器提供的電流，以便處理器根據調節的電流對應的功耗，來最終調整激活的運算單元的數量，即參與計算的運算單元的數量，如此，能夠根據處理器的實時狀況實現動態調節處理器的性能，調節更有效、精細。
附圖說明
在附圖(其不一定是按比例繪製的)中，相似的附圖標記可在不同的視圖中描述相似的部件。具有不同字母後綴的相似附圖標記可表示相似部件的不同示例。附圖以示例而非限制的方式大體示出了本文中所討論的各個實施例。
圖1a為處理器運行頻率與處理器核心電壓的關係示意圖；
圖1b為傳統被動超頻方式下各狀態下的功耗、溫度隨時間的變化示意圖；
圖2為本發明實施例一控制的方法流程示意圖；
圖3為本發明實施例電流偏置與第一電流之間的關係示意圖；
圖4為本發明實施例第一電流與處理器性能之間的關係示意圖；
圖5為本發明實施例二控制的方法流程示意圖；
圖6為本發明實施例一種集成電路結構示意圖；
圖7為本發明實施例三控制的方法流程示意圖；
圖8為本發明實施例四控制的方法流程示意圖；
圖9為本發明實施例五電子設備結構示意圖；
圖10為傳統方案與本發明實施例方案處理器性能示意圖。
具體實施方式
下面結合附圖和具體實施例對本發明作進一步詳細說明。
圖1a為中央處理器(cpu)運行頻率與cpu核心電壓的關係示意圖。從圖1可以看出，若要使cpu運行到更高的頻率，需要cpu擁有穩定的核心電壓。所以目前cpu的超頻通常是通過給cpu核心電壓增加一個偏置電壓以保證cpu在較高頻率下能正常穩定運行。
目前，cpu超頻方式多採用被動超頻，即通過調節倍頻(ratio)、電壓(volt)來提升cpu的性能。這種方式實驗繁瑣，且體驗效果不明顯。同時由於cpu單體的差異很難找出一個最優參數來實現cpu的超頻。
另外，由於是被動超頻，所以在輕載模式下，cpu的功耗比較低，cpu無法充分發揮性能，浪費系統資源，如圖1b所示。
基於此，在本發明的各種實施例中：檢測電子設備處理器的第一電流；所述第一電流用於所述處理器計算功耗；所述第一電流由電壓發生器為所述處理器提供；所述電壓發生器還用於為所述處理器提供工作電壓；利用所述第一電流，確定所述處理器的第一狀態；所述第一狀態表徵所述處理器當前的工作狀態；所述工作狀態反映所述處理器當前的負載；利用確定的第一狀態，控制所述電子設備調節所述第一電流，以使所述處理器根據所述第一電流確定對應的功耗，並利用確定的功耗調整激活的運算單元的數量。
本發明實施例提供的方案，通過檢測電壓發生器為處理器提供的電流來確定處理器當前的工作狀態，然後再動態調節電壓發生器為處理器提供的電流，以便處理器根據調節的電流對應的功耗，來最終調整激活的運算單元的數量，即參與計算的運算單元的數量，如此，能夠根據處理器的實時狀況實現動態調節處理器的性能，調節更有效、精細。
實施例一
本發明實施例提供一種控制方法，所述方法應用於電子設備中。
其中，所述電子設備可以是筆記本、平板電腦(pad)等。
圖2為本發明實施例一控制方法的實現流程示意圖，如圖2所示，該方法包括以下步驟：
步驟201：檢測電子設備處理器的第一電流；
這裡，所述第一電流用於所述處理器計算功耗；且所述第一電流由電壓發生器(也可以稱為電壓調節器(vr))為所述處理器提供。
同時，所述電壓發生器還用於為所述處理器提供工作電壓。
實際應用時，所述處理器可以為cpu等。所述第一電流也可以稱為所述電壓發生器的負載電流。
步驟202：利用所述第一電流，確定所述處理器的第一狀態；
這裡，所述第一狀態表徵所述處理器當前的工作狀態。
其中，所述工作狀態反映所述處理器當前的負載。
根據負載的多少，所述工作狀態(也可以理解為工作模式)可以是：空閒(idle)、輕載(lightloading)、或者重載(heavyloading)等。
實際應用時，可以根據負載的多少來設置不同的工作狀態。
實際應用時，可以設置第一電流大小與處理器工作狀態的對應關係，據此，來確定處理器當前的工作狀態。
步驟203：利用確定的第一狀態，控制所述電子設備調節所述處理器的第一電流，以使所述處理器根據所述第一電流確定對應的功耗，並利用確定的功耗調整激活的運算單元的數量。
也就是說，通過調整激活的運算單元的數量來實現處理器性能的控制。
這裡，所述激活的運算單元是指：當前參與計算的運算單元。
所述利用確定的第一狀態，控制所述電子設備調節所述處理器的第一電流，也就是指：利用所述第一狀態，控制所述電壓發生器調節所述第一電流。
調節所述處理器的第一電流，從另外一個角度來說，在固定電流的基礎上，給所述處理器施加了一個電流偏置。
圖3為電流偏置與第一電流之間的關係示意圖。圖4為第一電流與處理器性能之間的關係示意圖。結合圖3和圖4可以看出，當電流偏置小於零，即調節後第一電流小於所述固定電流(under-reporting)時，處理器會增加激活的運算單元的數量，提升處理器性能，以增加自身的功耗。當電流偏置大於零，即調節後第一電流大於所述固定電流(over-reporting)時，處理器會減少激活的運算單元的數量，降低處理器性能，以減少自身的功耗。也就是說，處理器的性能隨著第一電流的增加而降低。
實際應用時，所述處理器根據所述第一電流確定對應的功耗時，會有一個基準電流(稱為抽載電流，即負載抽取的電流)，當所述第一電流超過所述抽載電流時，處理器會減少激活的運算單元的數量；當所述第一電流未超過所述抽載電流時，處理器會增加激活的運算單元的數量。
從上面的描述可以看出，本發明實施例提供的方案，通過檢測電壓發生器為處理器提供的電流來確定處理器當前的工作狀態，然後再動態調節電壓發生器為處理器提供的電流，以便處理器根據調節的電流對應的功耗，來最終調整激活的運算單元的數量，即參與計算的運算單元的數量，如此，能夠根據處理器的實時狀況實現動態調節處理器的性能，調節更有效、精細。
實施例二
本發明實施例提供一種控制方法，所述方法應用於電子設備中。
其中，所述電子設備可以是筆記本、pad等。
圖5為本發明實施例二控制方法的實現流程示意圖，如圖5所示，該方法包括以下步驟：
步驟501：基於負反饋的方式檢測電子設備處理器的第一電流；
這裡，所述第一電流用於所述處理器計算功耗；且所述第一電流由電壓發生器(也可以稱為vr)為所述處理器提供。
同時，所述電壓發生器還用於為所述處理器提供工作電壓。
實際應用時，所述處理器可以為cpu等。所述第一電流也可以稱為所述電壓發生器的負載電流。
實際應用時，負反饋最常用的是通過電阻來實現負反饋。
基於此，本步驟的具體實現可以包括：
通過與所述電壓發生器連接的第一電阻，檢測第一電壓；所述第一電壓表徵所述電阻對地的電壓；
利用所述第一電壓及所述第一電阻的阻值，確定所述第一電流。
步驟502：利用所述第一電流，確定所述處理器的第一狀態；
這裡，所述第一狀態表徵所述處理器當前的工作狀態。
其中，所述工作狀態反映所述處理器當前的負載。
根據負載的多少，所述工作狀態(也可以理解為工作模式)可以是：idle、lightloading、或者heavyloading等。
實際應用時，可以根據負載的多少來設置不同的工作狀態。
實際應用時，可以設置第一電流大小與處理器工作狀態的對應關係，據此，來確定處理器當前的工作狀態。
步驟503：利用確定的第一狀態，控制所述電子設備調節所述處理器的第一電流，以使所述處理器根據所述第一電流確定對應的功耗，並利用確定的功耗調整激活的運算單元的數量。
也就是說，通過調整激活的運算單元的數量來實現處理器性能的控制。
這裡，所述激活的運算單元是指：當前參與計算的運算單元。
所述利用確定的第一狀態，控制所述電子設備調節所述處理器的第一電流，也就是指：利用所述第一狀態，控制所述電壓發生器調節所述第一電流。
所述利用確定的第一狀態，控制所述電子設備調節所述處理器的第一電流，包括：
利用所述確定的第一狀態，控制所述電子設備調整所述第一電阻的阻值，以使所述電子設備調節所述第一電流。
為了自動實現第一電阻阻值的調整，所述第一電阻可以為一個可變電阻。
那麼，實際應用時，電壓調節器上報給處理器的第一電流大小用公式表達可以為：
vriout＝dec[vsense/2]*ff；vsense＝isrc_vr*rvar。
其中，vriout表示電壓發生器上報給處理器的第一電流；vsense表示電壓發生器偵測到的處理器電流模擬電壓；dec為二進位符號；ff為二進位11111111；isrc_vr表示電壓發生器用於模擬處理器電流計算的內部電流源；rvar表示第一電阻的阻值。
調節所述處理器的第一電流，從另外一個角度來說，在固定電流的基礎上，給所述處理器施加了一個電流偏置。
圖3為電流偏置與第一電流之間的關係示意圖。圖4為第一電流與處理器性能之間的關係示意圖。結合圖3和圖4可以看出，當電流偏置小於零，即調節後第一電流小於所述固定電流時，處理器會增加激活的運算單元的數量，提升處理器性能，以增加自身的功耗。當電流偏置大於零，即調節後第一電流大於所述固定電流時，處理器會減少激活的運算單元的數量，降低處理器性能，以減少自身的功耗。也就是說，處理器的性能隨著第一電流的增加而降低。
實際應用時，所述處理器根據所述第一電流確定對應的功耗時，會有一個基準電流(稱為抽載電流，即負載抽取的電流)，當所述第一電流超過所述抽載電流時，處理器會減少激活的運算單元的數量；當所述第一電流未超過所述抽載電流時，處理器會增加激活的運算單元的數量。
圖6為實現本發明實施例方案的一種集成電路(ic)結構示意圖。實際應用時可以根據需要設置不同結構的ic來實施本發明實施例的方案。從圖6可以看出，ic(也可以稱為超頻引擎(ocengine))通過掛在電壓發生器上的第一電阻的對地電壓計算出當前的第一電流值vriout,得知當前cpu的工作狀況(idle、lightloading或者heavyloading)，然後決定是否要通過調節第一電阻的阻值來添加電流偏置，以進行cpu超頻。也就是說，電壓發生器會根據第一電阻的不同的阻值計算得到不同的第一電流值，最終通過svidbus線上報給cpu，以便cpu確定是否超頻(增加激活的運算單元的數量)。
從上面的描述可以看出，本發明實施例提供的方案，通過基於負反饋方式檢測電壓發生器為處理器提供的電流來確定處理器當前的工作狀態，然後再動態調節電壓發生器為處理器提供的電流，以便處理器根據調節的電流對應的功耗，來最終調整激活的運算單元的數量，即參與計算的運算單元的數量，如此，能夠根據處理器的實時狀況實現動態調節處理器的性能，調節更有效、精細。而且，基於負反饋方式檢測第一電流，閉環負反饋系統的穩定性比較高，在發揮處理器性能的同時還能保證系統的穩定性。同時也能補償處理器個體差異性，避免被動超頻方式的繁瑣的參數試驗。
另外，通過與所述電壓發生器連接的第一電阻，檢測第一電壓；所述第一電壓表徵所述電阻對地的電壓；利用所述第一電壓及所述第一電阻的阻值，確定所述第一電流，通過控制所述電子設備調整所述第一電阻的阻值，以使所述電子設備調節所述第一電流，如此，能夠簡單、有效地實現電流的調節。
實施例三
本發明實施例提供一種控制方法，所述方法應用於電子設備中。
其中，所述電子設備可以是筆記本、pad等。
圖7為本發明實施例三控制方法的實現流程示意圖，如圖7所示，該方法包括以下步驟：
步驟701：檢測電子設備處理器的第一電流；並偵測所述處理器的第一溫度；
這裡，所述第一電流用於所述處理器計算功耗；且所述第一電流由電壓發生器(也可以稱為vr)為所述處理器提供。
同時，所述電壓發生器還用於為所述處理器提供工作電壓。
所述第一溫度表徵所述處理器當前的溫度。
實際應用時，所述處理器可以為cpu等。所述第一電流也可以稱為所述電壓發生器的負載電流。
步驟702：利用所述第一電流，確定所述處理器的第一狀態；
這裡，所述第一狀態表徵所述處理器當前的工作狀態。
其中，所述工作狀態反映所述處理器當前的負載。
根據負載的多少，所述工作狀態(也可以理解為工作模式)可以是：idle、lightloading、或者heavyloading等。
實際應用時，可以根據負載的多少來設置不同的工作狀態。
實際應用時，可以設置第一電流大小與處理器工作狀態的對應關係，據此，來確定處理器當前的工作狀態。
實際應用時，偵測所述處理器的第一溫度的操作還可以在第一表徵所述處理器的負載超過第一閾值時執行，即在處理器重載的情況下去執行。
步驟703：利用確定的第一狀態並結合所述第一溫度，控制所述電子設備調節所述處理器的第一電流，以使所述處理器根據所述第一電流確定對應的功耗，並利用確定的功耗調整激活的運算單元的數量。
也就是說，通過調整激活的運算單元的數量來實現處理器性能的控制。
這裡，所述激活的運算單元是指：當前參與計算的運算單元。
所述利用確定的第一狀態，控制所述電子設備調節所述處理器的第一電流，也就是指：利用所述第一狀態並結合所述第一溫度，控制所述電壓發生器調節所述第一電流。
在一實施例中，步驟703的具體實現可以包括：
判斷所述第一溫度是否超過預設的第二溫度，得到第一判斷結果；
當所述第一判斷結果表徵所述第一溫度未超過所述第二溫度時，控制所述電子設備降低所述第一電流，以使所述處理器根據所述第一電流增加激活的運算單元的數量。
其中，當所述第一判斷結果表徵所述第一溫度超過所述第二溫度時，控制所述電子設備增加所述第一電流，以使所述處理器根據所述第一電流減少激活的運算單元的數量。
調節所述處理器的第一電流，從另外一個角度來說，在固定電流的基礎上，給所述處理器施加了一個電流偏置。
圖3為電流偏置與第一電流之間的關係示意圖。圖4為第一電流與處理器性能之間的關係示意圖。結合圖3和圖4可以看出，當電流偏置小於零，即調節後第一電流小於所述固定電流時，處理器會增加激活的運算單元的數量，提升處理器性能，以增加自身的功耗。當電流偏置大於零，即調節後第一電流大於所述固定電流時，處理器會減少激活的運算單元的數量，降低處理器性能，以減少自身的功耗。也就是說，處理器的性能隨著第一電流的增加而降低。
實際應用時，所述處理器根據所述第一電流確定對應的功耗時，會有一個基準電流(稱為抽載電流，即負載抽取的電流)，當所述第一電流超過所述抽載電流時，處理器會減少激活的運算單元的數量；當所述第一電流未超過所述抽載電流時，處理器會增加激活的運算單元的數量。
可以採用圖6所示的ic來實現本發明實施例的方案。結合圖6，通過smbus線實時獲取cpu當前溫度以及通過偵測掛在電壓發生器上的第一電阻對地電壓計算出當前的第一電流值vriout,根據第一電流值vriout得知當前cpu的狀況(idle/lightloading/heavyloading)。如果cpu當前處於heavyloading狀態下，再判斷cpu當前溫度，如果當前溫度沒有超過系統散熱設計額定值，然後將第一電阻的阻值變小，使電壓發生器通過svid總線反饋到cpu端的第一電流值變小，進而使得cpu增加激活的運算單元，提高cpu性能；反之，噹噹前溫度超過系統散熱設計額定值，則增大第一電阻的阻值,使電壓發生器通過svid總線反饋到cpu端的第一電流值變大，進而使得cpu減少激活的運算單元，降低性能，以降低散熱、功耗。
從上面的描述可以看出，本發明實施例提供的方案，通過檢測電壓發生器為處理器提供的電流來確定處理器當前的工作狀態，然後再動態調節電壓發生器為處理器提供的電流，以便處理器根據調節的電流對應的功耗，來最終調整激活的運算單元的數量，即參與計算的運算單元的數量，如此，能夠根據處理器的實時狀況實現動態調節處理器的性能，調節更有效、精細。
另外，在調節第一電流時，利用工作狀態並結合當前的溫度來動態調節第一電流，充分考慮了處理器的資源，如此，能更好地獲得處理器器的性能。
實施例四
本發明實施例提供一種控制方法，所述方法應用於電子設備中。
其中，所述電子設備可以是筆記本、pad等。
圖8為本發明實施例四控制方法的實現流程示意圖，如圖8所示，該方法包括以下步驟：
步驟801：檢測電子設備處理器的第一電流；
這裡，所述第一電流用於所述處理器計算功耗；且所述第一電流由電壓發生器(也可以稱為vr)為所述處理器提供。
同時，所述電壓發生器還用於為所述處理器提供工作電壓。
實際應用時，所述處理器可以為cpu等。所述第一電流也可以稱為所述電壓發生器的負載電流。
步驟802：利用所述第一電流，確定所述處理器的第一狀態；
這裡，所述第一狀態表徵所述處理器當前的工作狀態。
其中，所述工作狀態反映所述處理器當前的負載。
根據負載的多少，所述工作狀態(也可以理解為工作模式)可以是：idle、lightloading、或者heavyloading等。
實際應用時，可以根據負載的多少來設置不同的工作狀態。
實際應用時，可以設置第一電流大小與處理器工作狀態的對應關係，據此，來確定處理器當前的工作狀態。
步驟803：當所述第一狀態表徵所述處理器的負載低於第二閾值時，控制所述電子設備降低所述第一電流，以使所述處理器根據所述第一電流確定對應的功耗，並利用確定的功耗增加激活的運算單元的數量。
也就是說，通過調整激活的運算單元的數量來實現處理器性能的控制。
這裡，所述激活的運算單元是指：當前參與計算的運算單元。
所述利用確定的第一狀態，控制所述電子設備降低所述處理器的第一電流，也就是指：利用所述第一狀態，控制所述電壓發生器降低所述第一電流。
降低所述處理器的第一電流，從另外一個角度來說，在固定電流的基礎上，給所述處理器施加了一個電流偏置，且這個電流偏置是小於零的。
圖3為電流偏置與第一電流之間的關係示意圖。圖4為第一電流與處理器性能之間的關係示意圖。結合圖3和圖4可以看出，當電流偏置小於零，即調節後第一電流小於所述固定電流時，處理器會增加激活的運算單元的數量，提升處理器性能，以增加自身的功耗。當電流偏置大於零，即調節後第一電流大於所述固定電流時，處理器會減少激活的運算單元的數量，降低處理器性能，以減少自身的功耗。也就是說，處理器的性能隨著第一電流的增加而降低。
實際應用時，所述處理器根據所述第一電流確定對應的功耗時，會有一個基準電流(稱為抽載電流，即負載抽取的電流)，當所述第一電流超過所述抽載電流時，處理器會減少激活的運算單元的數量；當所述第一電流未超過所述抽載電流時，處理器會增加激活的運算單元的數量。
當所述第一狀態表徵所述處理器的負載低於第二閾值時，說明所述處理器處於lightloading狀態，此時可以提高處理器的性能。
可以採用圖6所示的ic來實現本發明實施例的方案。結合圖6，通過偵測掛在電壓發生器上的第一電阻對地電壓計算出當前的第一電流值vriout,根據第一電流值vriout得知當前cpu的狀況(idle/lightloading/heavyloading)。如果cpu處於lightloading模式下，將第一電阻的阻值變小，使電壓發生器通過svid總線反饋到cpu端的第一電流值變小，進而使得cpu增加激活的運算單元，提高cpu性能。
從上面的描述可以看出，本發明實施例提供的方案，通過檢測電壓發生器為處理器提供的電流來確定處理器當前的工作狀態，然後再動態調節電壓發生器為處理器提供的電流，以便處理器根據調節的電流對應的功耗，來最終調整激活的運算單元的數量，即參與計算的運算單元的數量，如此，能夠根據處理器的實時狀況實現動態調節處理器的性能，調節更有效、精細。
實施例五
基於前述控制方法，本實施例提供一種電子設備，如圖9所示，該電子設備包括：
處理器91；
控制電路92，用於檢測電子設備處理器91的第一電流；所述第一電流用於所述處理器計算功耗；所述第一電流由電壓發生器為所述處理器91提供；所述電壓發生器還用於為所述處理器提供工作電壓；利用所述第一電流，確定所述處理器91的第一狀態；所述第一狀態表徵所述處理器91當前的工作狀態；所述工作狀態反映所述處理器91當前的負載；以及利用確定的第一狀態，控制所述電子設備調節所述處理器91的第一電流，以使所述處理器91根據所述第一電流確定對應的功耗，並利用確定的功耗調整激活的運算單元的數量。
在一實施例中，所述控制電路92，還用於當所述第一狀態表徵所述處理器的負載超過第一閾值時，偵測所述處理器91的第一溫度；所述第一溫度表徵所述處理器91當前的溫度；以及利用確定的第一狀態並結合所述第一溫度，控制所述電子設備調節所述處理器91的第一電流，以使所述處理器91根據所述第一電流確定對應的功耗，並利用確定的功耗調整激活的運算單元的數量。
其中，所述控制電路92，具體用於：
判斷所述第一溫度是否超過預設的第二溫度，得到第一判斷結果；
當所述第一判斷結果表徵所述第一溫度未超過所述第二溫度時，控制所述電子設備降低所述第一電流，以使所述處理器91根據所述第一電流增加激活的運算單元的數量。
其中，當所述第一判斷結果表徵所述第一溫度超過所述第二溫度時，所述控制電路92控制所述電子設備增加所述第一電流，以使所述處理器91根據所述第一電流減少激活的運算單元的數量。
在一實施例中，所述控制電路92，具體用於：
基於負反饋方式檢測所述第一電流。
更具體地，所述控制電路92通過與所述電壓發生器連接的第一電阻，檢測第一電壓；所述第一電壓表徵所述電阻對地的電壓；並利用所述第一電壓及所述第一電阻的阻值，確定所述第一電流；
相應地，所述控制電路92利用所述確定的第一狀態，控制所述電子設備調整所述第一電阻的阻值，以使所述電子設備調節所述第一電流。
本領域技術人員應當理解，圖9所示的電子設備中的各部件的實現功能可參照前述顯示控制方法的相關描述而理解。
為了更好地說明本發明實施例的方案，對於四核的處理器，採用傳統被動超頻方式和採用本發明實施例方案的四核處理器的性能進行了實驗。圖10為二者的性能示意圖。從圖10中可以看出，與傳統超頻方式下處理器的性能相比，採用本發明實施例的方案後，處理器的性能提高了10％。進一步說明了本發明實施例方案後調節更有效、精細。
應理解，說明書通篇中提到的「一個實施例」或「一實施例」意味著與實施例有關的特定特徵、結構或特性包括在本發明的至少一個實施例中。因此，在整個說明書各處出現的「在一個實施例中」或「在一實施例中」未必一定指相同的實施例。此外，這些特定的特徵、結構或特性可以任意適合的方式結合在一個或多個實施例中。應理解，在本發明的各種實施例中，上述各過程的序號的大小並不意味著執行順序的先後，各過程的執行順序應以其功能和內在邏輯確定，而不應對本發明實施例的實施過程構成任何限定。上述本發明實施例序號僅僅為了描述，不代表實施例的優劣。
需要說明的是，在本文中，術語「包括」、「包含」或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者裝置不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者裝置所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句「包括一個……」限定的要素，並不排除在包括該要素的過程、方法、物品或者裝置中還存在另外的相同要素。
在本申請所提供的幾個實施例中，應該理解到，所揭露的設備和方法，可以通過其它的方式實現。以上所描述的設備實施例僅僅是示意性的，例如，所述單元的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實際實現時可以有另外的劃分方式，如：多個單元或組件可以結合，或可以集成到另一個系統，或一些特徵可以忽略，或不執行。另外，所顯示或討論的各組成部分相互之間的耦合、或直接耦合、或通信連接可以是通過一些接口，設備或單元的間接耦合或通信連接，可以是電性的、機械的或其它形式的。
上述作為分離部件說明的單元可以是、或也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是、或也可以不是物理單元；既可以位於一個地方，也可以分布到多個網絡單元上；可以根據實際的需要選擇其中的部分或全部單元來實現本實施例方案的目的。
另外，在本發明各實施例中的各功能單元可以全部集成在一個處理單元中，也可以是各單元分別單獨作為一個單元，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中；上述集成的單元既可以採用硬體的形式實現，也可以採用硬體加軟體功能單元的形式實現。
本領域普通技術人員可以理解：實現上述方法實施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關的硬體來完成，前述的程序可以存儲於計算機可讀取存儲介質中，該程序在執行時，執行包括上述方法實施例的步驟；而前述的存儲介質包括：移動存儲設備、只讀存儲器(rom，readonlymemory)、磁碟或者光碟等各種可以存儲程序代碼的介質。
或者，本發明上述集成的單元如果以軟體功能模塊的形式實現並作為獨立的產品銷售或使用時，也可以存儲在一個計算機可讀取存儲介質中。基於這樣的理解，本發明實施例的技術方案本質上或者說對現有技術做出貢獻的部分可以以軟體產品的形式體現出來，該計算機軟體產品存儲在一個存儲介質中，包括若干指令用以使得一臺計算機設備(可以是個人計算機、伺服器、或者網絡設備等)執行本發明各個實施例所述方法的全部或部分。而前述的存儲介質包括：移動存儲設備、rom、磁碟或者光碟等各種可以存儲程序代碼的介質。
以上所述，僅為本發明的具體實施方式，但本發明的保護範圍並不局限於此，任何熟悉本技術領域的技術人員在本發明揭露的技術範圍內，可輕易想到變化或替換，都應涵蓋在本發明的保護範圍之內。因此，本發明的保護範圍應以所述權利要求的保護範圍為準。