粘有保護膜的偏光板的缺陷檢查方法
2023-08-07 20:00:11
專利名稱：粘有保護膜的偏光板的缺陷檢查方法
技術領域：
本發明涉及在偏光板上粘有保護膜的、粘有保護膜的偏光板的缺陷檢查方法。
背景技術：
偏光板被用作構成液晶顯示器的光學部件。偏光板通常在在其兩面上用粘接劑貼有保護膜的情況下被用在液晶顯示器中。為防止偏光板受傷等，在偏光板的兩面上還貼有保護膜，從而對粘有保護膜的偏光板進行檢查、輸送、保管等。該保護膜在偏光板被組裝到液晶顯示器中時從偏光板上被剝下來並被丟掉。另一方面，塗在偏光板的一面或兩面上的粘著層被用於將偏光板粘到液晶元件上並大多仍被組裝到液晶顯示器中。
如果這種粘有保護膜的偏光板具有由異物等造成的缺陷，則導致了液晶顯示器顯示的缺陷，因此，必須裝運出廠等時進行檢查。這種檢查是如此進行的，例如使待檢查的粘有保護膜的偏光板相對檢查用偏光板尼科爾正交，就是說，待檢查的粘有保護膜的偏光板被布置成這些偏光軸方向彼此正交，光源發射出光，用眼睛或攝象機觀察透光的畫面。由於這些偏光板是尼科爾正交的，所以，透過待檢查的粘有保護膜的偏光板的光被檢查用偏光板完全遮擋住，而如果在待檢查偏光板的檢查用偏光板側有異物等缺陷，則能夠作為明亮部分地看到這種缺陷，由此就能夠檢查出缺陷。相反側的缺陷能夠通過將偏光板翻過來並進行同樣的檢查來進行(例如專利文獻1及專利文獻2)。專利文獻1是特開2000-206327公報(第2段)，專利文獻2是特開2001-349839公報(第12和13段)。
發明內容
如專利文獻1、2所述的方法是優秀的方法，但儘管能檢查出在待檢查的粘有保護膜的偏光板的偏光膜和檢查用偏光板之間有缺陷，但卻不能判斷出缺陷是在粘著層中，還是在保護膜中。結果，儘管檢查出了缺陷，但查明缺陷的起因相當費時間，而且即便是保護膜有缺陷，這也被排除在使用之外，因而，它被不必要地判斷為次品。
本發明的目的是提供一種能夠容易地判斷出是否是保護膜的缺陷的粘有保護膜的偏光板的缺陷檢查方法。
為完成上述課題，本發明人對粘有保護膜的偏光板的缺陷檢查方法進行了刻苦研究，結果發現，在黑暗圖象中被周期性或連續地檢查出來的明亮部分是由保護膜缺陷引起的，由此完成了本發明。即，本發明的提供一種粘有保護膜的偏光板的缺陷檢查方法，其中在偏光板的兩面上粘有保護膜的粘有保護膜的偏光板與檢查用偏光板被布置在光源和攝象機之間，通過在攝象機所拍攝到的黑暗圖象中是否有明亮部分來進行上述缺陷檢查，該方法的特點是，在黑暗圖象中被周期性或連續地檢查出來的明亮部分被判定為是由保護膜缺陷引起的。
根據本發明的方法，能夠容易地判定是否有保護膜缺陷並且能夠縮短缺陷起因查明時間並能夠防止不必要的出現次品。
圖1是表示粘有保護膜的偏光板的一個例子的截面示意圖。
圖2是表示粘有保護膜的偏光板的缺陷檢查方法的示意圖。
圖3是是缺陷檢查圖象的示意圖。
圖4是另一個缺陷檢查圖象的示意圖。
具體實施例方式
圖1是表示粘有保護膜的偏光板的一個例子的截面示意圖。在偏光板1的偏光膜11的兩面上，通過粘接劑13粘有保護膜12。作為偏光膜11，例如使用用碘素或雙色染料被染色的聚乙烯醇(PVA)等的乙烯醇系樹脂膜，偏光膜厚度一般為10-30微米左右。作為保護膜12，例如使用三乙醯纖維素(TAC)、雙乙醯纖維素(DAC)等纖維素系樹脂、丙烯系樹脂、聚對苯二甲酸乙二酯(PET)等酯系樹脂，保護膜的厚度通常約為10-180微米。作為粘接偏光膜與保護膜的粘接劑，例如使用聚乙烯醇系粘接劑等。
保護膜2、3通過粘著層4、5粘在偏光板1的兩面上。作為保護膜的材質，例如包括象聚對苯二甲酸乙二酯(PET)這樣的酯系樹脂、象聚乙烯(PE)和聚丙烯(PP等)這樣的聚烯烴系樹脂、丙烯系樹脂以及纖維素系樹脂如TAC和DAC。此外，保護膜的厚度通常為10-100微米，最好是30-50微米。如果保護膜是單軸延伸的膜，則使延伸軸方向與偏光膜11的偏光軸方向一致地粘貼保護膜。
保護膜2也被稱為隔膜，在用於液晶顯示器等中時，它被剝下來並被丟掉。此時，粘著層4通常殘留在偏光板1的表面上並被用於偏光板同液晶元件等的粘接。因此，如果粘著層4上有碎屑、塵埃等異物，則降低了液晶顯示器的性能。
構成粘著層4的粘接劑可以是透明的各向同性的粘接劑，儘管對該粘接劑沒有特殊限制，但從便於組裝到液晶顯示器中的觀點出發，通常使用壓敏型粘接劑。這樣的壓敏型粘接劑例如包括丙烯系壓敏型粘接劑、氨基甲酸乙酯系粘合劑等。
保護膜3也被稱為護膜，在被用到液晶顯示器等中時，它被剝下來並被丟掉。如果使用了對保護膜的粘著性很強的粘著層5，則在剝下保護膜時，粘著層不留在偏光板上，而是粘在保護膜上地被剝下來並被丟掉。在保護膜3本身有粘性的情況下，保護膜不通過粘著層5而直接粘在偏光板1上。
通常，保護膜2、3被粘在經過預檢查而無缺陷的偏光板1上。因此，即便粘有保護膜的偏光板6被檢查出了缺陷，如上所述，除粘著層4外，保護膜2、3和粘著層5最終被剝離並丟掉，所以它們當中存在的缺陷不是致命缺陷。
圖2是表示粘有保護膜的偏光板的缺陷檢查方法的示意圖。在(A)中，在光源22和攝象機23之間，使保護膜2位於攝象機側地布置粘有保護膜的偏光板1，在保護膜2和攝象機23之間設有檢查用偏光板21。因此，粘有保護膜的偏光板1的偏光膜11與檢查用偏光板21被布置成是尼科爾正交的，即它們的偏光軸方向相互垂直。來自攝象機的圖象信號在圖象處理裝置24中進行處理並進行缺陷檢查，檢查結果被輸送給監視器。在圖2中，省掉了在粘有保護膜的偏光板1中的粘接劑層13和粘著層5。
來自光源22的光有選擇地透過偏光膜11的在偏光軸方向上的偏光成分，如果在偏光膜11和檢查用偏光板21之間沒有瑕疵和異物等缺陷，則透過粘有保護膜的偏光板的光被檢查用偏光板阻擋住並且攝象機的拍攝圖象顯示出暗色。如果在偏光膜11和檢查用偏光板21之間有缺陷，則這部分的偏光方向改變了並且穿過了檢查用偏光板，在黑暗拍攝圖象中就顯現出明亮部分。根據檢查到所述明亮部分，就檢查出在粘有保護膜的偏光板的偏光膜11和保護膜2之間的缺陷。而如果把粘有保護膜的偏光板翻過來，則能夠檢查出在偏光膜11與保護膜3之間的缺陷。
在圖2的(B)中，在光源22和攝象機23之間，保護膜3位於攝象機側地設有粘有保護膜的偏光板1，在保護膜2和光源22之間設置檢查用偏光板21。因此，與(A)的場合一樣地，粘有保護膜的偏光板1的偏光膜11與檢查用偏光板21被布置成尼科爾正交的狀態。在這種場合下，與(A)的場合一樣地檢查缺陷。
作為攝象機，通常使用CCD攝象機，拍攝得到的圖象信號在圖象處理裝置並藉助計算機系統進行圖象處理，由此來檢查缺陷。圖3、4是缺陷檢查圖象的示意圖。在圖3中，拔白箭頭表示檢查時的膜行進方向，白色圓圈表示缺陷，圖3例如示出了在從膜側邊起的W1的位置按照長度為L的間隔出現缺陷的情況。此外，在圖4中示出了在用拔白箭頭表示的檢查時的膜行進方向上出現成帶狀的連續缺陷。這樣的缺陷是由保護膜缺陷引起的，它們可能是在保護膜的粘貼過程等中出現在保護膜上的。粘著層缺陷是由碎屑和塵埃等引起的，通常，這樣的周期性缺陷或連續的缺陷在粘著層上是看不到的。除此之外，不定期顯現的缺陷可以在粘著層上或保護膜上看到。
通常，為每個像素或像素群求出經過圖象信號處理而得到的輝度，因此在設定閾值的情況下，超過設定閾值的輝度被判定為缺陷。如此檢查是否有周期性缺陷或連續缺陷。首先，使預檢查膜直行，用尼科爾稜鏡等進行自動檢查，如果在垂直於膜行進方向(長度方向)的方向(寬度方向)上的缺陷位置是相同的，則發現在長度方向上有周期性的缺陷。目測檢查所發現的缺陷，在該缺陷位於保護膜上的場合下，該周期被定為缺陷周期長度。通常，缺陷周期長度與在粘貼過程等中使用的輥的圓周長度相等。接著，在本發明的檢查中獲得的圖象在膜的長度方向和寬度方向上被分別劃分成一定大小的格子。在膜行進方向上設定出由一些格子連續構成的框。該框的長度被定為上述確定的缺陷周期長度。如果在框內的格子上檢查出缺陷並且連續地在下個框的相同位置的格子上檢查出缺陷，則被確定為周期性缺陷或連續缺陷。通常，如果在3-7個框中連續檢查出缺陷，因此，該缺陷可以被判斷為保護膜的缺陷並且粘有保護膜的偏光板可被判斷為次品並由此被剔除。
以下，儘管通過實施例來詳細說明本發明，但本發明不局限於這些實施例。
實施例1在一面有粘著層4的偏光板(TAC膜/碘素染色的PVA膜/TAC膜)1的粘著層上，粘有保護膜2(隔膜)，在與設有粘著層的那側相反的那面上貼有保護膜3，對這樣的粘有保護膜的偏光板6(圖1)進行缺陷檢查。
在光源22和攝象機23之間，使保護膜2位於攝象機側地布置粘有保護膜的偏光板1，在保護膜2和攝象機23之間設有檢查用偏光板21，所述粘有保護膜的偏光板1的偏光膜11與該檢查用偏光板21被布置成尼科爾正交的狀態。由攝象機23拍攝到的圖象信號在圖象處理裝置中經過處理並由此檢查缺陷。在圖象檢查時的膜行進方向上，設定出其長度等於在保護膜粘貼過程中使用的輥的圓周(502毫米)的框，對1250毫米寬的膜進行20米的檢查。如果原封不動地檢查出所有缺陷，則在5個框中連續檢查到缺陷後，求出除該缺陷外的檢查時缺陷率。
所有缺陷檢查2.26個/平方米除周期性缺陷外0.47個/平方米在用顯微鏡觀察該粘有保護膜的偏光板之後，在保護膜2上檢查出長502毫米的周期性瑕疵。
附圖標記一覽表1-偏光板；2、3-保護膜(隔膜)；4、5-粘著層；11-偏光膜；12-保護膜；13-粘接劑層；21-檢查用偏光板；22-光源；23-攝象機；24-圖象處理裝置；
權利要求
1.一種粘有保護膜的偏光板的缺陷檢查方法，其中在偏光板的兩面上粘有保護膜的粘有保護膜的偏光板與檢查用偏光板被布置在光源和攝象機之間，通過在攝象機所拍攝到的黑暗圖象中是否有明亮部分來進行上述缺陷檢查，其特徵在於，在黑暗圖象中被周期性或連續地檢查出來的明亮部分被判定為是由保護膜缺陷引起的。
2.如權利要求1所述的缺陷檢查方法，其特徵在於，在檢查圖象時的膜行進方向和與之垂直的方向上將圖象劃分成各有一定尺寸的格子，在膜行進方向上由多個格子構成框，所述框對應於預確定的缺陷周期長度，如果在下個框的相同位置的格子上連續檢查出缺陷，則判斷為周期性缺陷或連續缺陷。
3.如權利要求2所述的缺陷檢查方法，其特徵在於，由多個格子構成的框的長度是粘貼保護膜時所用的輥的圓周長度。
全文摘要
本發明提供一種能夠容易地判斷出缺陷是否是保護膜的缺陷的粘有保護膜的偏光板的缺陷檢查方法。在一種粘有保護膜的偏光板的缺陷檢查方法中，在偏光板的兩面上粘有保護膜的粘有保護膜的偏光板與檢查用偏光板被布置在光源和攝象機之間，通過在攝象機所拍攝到的黑暗圖象中是否有明亮部分來進行上述缺陷檢查，其中在黑暗圖象中被周期性或連續地檢查出來的明亮部分被判定為是由保護膜缺陷引起的。
文檔編號G01N21/88GK1508536SQ20031012060
公開日2004年6月30日 申請日期2003年12月15日 優先權日2002年12月17日
發明者鈴木孝志, 筱塚淳彥, 彥 申請人:住友化學工業株式會社