攝影數據校正方法和裝置,和輻射層析成象方法和裝置的製作方法
2023-08-01 13:25:41 1
專利名稱：攝影數據校正方法和裝置,和輻射層析成象方法和裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及投影數據校正方法和裝置及輻射斷層分析成象方法和裝置，並且更具體地涉及用於逐一校正由穿透輻射構成待成象的物體投影的數據的方法和裝置，以及使用這種投影數據校正方法的輻射斷層分析成象方法和包含投影數據校正裝置的輻射斷層分析成象裝置。
在使用X射線的輻射斷層分析成象裝置，即X射線CT(計算機化斷層分析造影術)裝置中，具有包含待成象範圍寬度並具有在垂直於寬度方向上某一厚度的X射線束從X射線發射器被發射。X射線束的厚度能通過調節X射線通過的瞄準儀孔徑的開放程度被變更，並且用於成象的切片厚度因而被調整。
X射線檢測裝置包含多通道X射線檢測器以檢測X射線，而檢測器具有在X射線寬度方向被排列成陣列的繁多的(例如，1000的數量級)X射線檢測器元件。
X射線發射／檢測器圍繞待成象的物體被旋轉(或掃描)以在物體周圍多個觀察方向生成物體的X射線投影數據，並且斷層分析圖象根據投影數據由計算機生成(或重建)。
投影數據的信噪比(SNR)隨穿透X射線的「計數」而變化，而且較低的計數引起較低的SNR。
如果待成象的物體取決於觀察方向提供顯著不同的計數，即投影數據顯著不同的SNRs，則因為在保持不良的SNR方向上噪聲圖案的作用，重建的圖象受到假的線性圖象，或所謂的條紋贗象(streakingartifact)之害。
因而，當胸腔和腹部隨著雙臂放在身體兩側被成象時，例如，條紋贗象不可避免地出現在連接兩臂的方向上，導致具有優質圖象不能被獲得的問題。
本發明是針對解決上述問題的，而本發明的目的是提供在保持穿透輻射的低計數方向防上贗象生成的投影數據校正方法和裝置，以及使用這種投影數據校正方法的輻射斷層分析成象方法和包含投影數據校正裝置的輻射斷層分析成象裝置。
(1)按照本旭有解決上述問題的第一個方面，提供有投影數據校正方法，它包含步驟逐一計算數據的平均值及其近似數據，該數據構成用穿透輻射待成象物體的投影；通過將數據乘以對應於數據由之得出的穿透輻射計數的第一個權重因數計算第一乘積；通過將平均值乘以第一個權重因數相對於1的補數的第二個權重因數計算第二個乘積；以及將第一個和第二個乘積相加。
(2)按照本發明解決上述問題的第二個方面，提供有投影數據校正裝置，它包含用於逐一計算數據平均值及其近似數據的平均值計算裝置，該數據構成用穿透輻射待成象物體的投影；用於通過將該數據乘以對應於數據由之得出的穿透輻射計數的第一個權重因數計算第一個乘積的第一個乘積計算裝置；用於通過將該平均值乘以該第一個權重因數相對於1的補數的第二個權重因數計算第二個乘積的第二個乘積計算裝置；以及用於將第一個和第二個乘積相加的加法器裝置。
(3)按照本發明解決上述問題的第三個方面，提供有輻射斷層分析成象裝置，它包含用於沿多個觀察方向朝著待成象物體發射輻射並檢測穿透輻射的輻射發射／檢測裝置，及用於使用基於該輻射發射／檢測裝置所檢測信號的投影來生成圖象用的圖象生成裝置，其中該圖象生成裝置包括用於逐一計算數據的平均值及其近似數據的平均值計算裝置，該數據構成該投影；用於通過將該數據乘以對應於該數據由之得出的穿透輻射計數的第一個權重因數計算第一個乘積的第一個乘積計算裝置；用於通過將該平均值乘以該第一個權重因數相對於1的補數的第二個權重因數計算第二個乘積的第二個乘積計算裝置；用於將該第一個和第二個乘積相加的加法器裝置；以及用於使用由該求和得出數據組成的投影來重建圖象的圖象重建裝置。
(4)按照本發明解決上述問題的第四個方面，提供有如(3)中所描述的輻射斷層分析成象裝置，其中X射線作為輻射被使用。
(5)按照本發明解決上述問題的第五個方面，提供有以上描述的投影數據校正方法，其中隨著對應的計數變小，第一個權重因素降低。
(6)按照本發明解決上述問題的第六個方面，提供有以上描述的投影數據校正方法，它包含使用由探測掃描所得的數據或由軸向掃描的視圖數據去確定第一個權重因數隨著對應的計數變小而降低的變化率。
(7)按照本發明解決上述問題的第七個方面，提供有以上描述的投影數據校正裝置，它包含供確定第一個權重因數以使第一個權重因數隨著對應的計數變小而降低用的第一個權重因數確定裝置。
(8)按照本發明解決上述問題的第八個方面，提供有以上描述的投影數據校正裝置，其中第一個權重因數確定裝置使用由探測掃描所獲得的數據或由軸向掃描的視圖數據去確定第一個權重因數隨著對應的計數變小而降低的變化率。
(9)按照本發明解決上述問題的第九個方面，提供有上面描述的輻射斷層分析成象裝置，它包含供確定第一個權重因素以使第一個權重因數隨著對應的計數變小而降低的第一個權重因數確定裝置。
(10)按照本發明解決上述問題的第十個方面，提供有以上描述的輻射斷層分析成象裝置，其中第一個權重因數確定裝置使用由探測掃描所獲得的數據或由軸向掃描的視圖數據去確定第一個權重因數隨著對應的計數變小而降低的變化率。
在(1)至(10)的任一個中，最好是第一個權重因數可以用下式表示第一個權重因素=1-exp{-C／α}，在贗象實際上被制止的情況中，其中C由之得出數據的穿透輻射計數，而
α由投影面積確定的常數。
最好是常數α使用由探測掃描所獲得的數據或由軸向掃描的開始視圖的數據被確定，並藉助方程式或表格從那個數據的投影面積求出常數α的值。
按照本發明，投影數據藉助加權的加法指令用含有近似數據的平均值被逐一校正。數據的權重被做成對應於由之得出數據的穿透輻射的計數。因而，有較低計數的數據具有那個數據較小的權重及平均值的較大的權重，它能補償對SNR的降低。
另外，按照本發明，當隨著計數變小，數據的權重降低而平均值的權重提高時，隨著計數變小的數據權重降低的變化率和平均值權重提高的變化率使用由探測掃描所獲得的數據或由軸向掃描的視圖數據被確定。因而，當待成象物體的尺寸大而條紋贗象相應地被避免時(即當在投影數據的SNR方面的差別對觀察方向的依賴較小時，校正能通過降低變化率被相對減弱；而當待成象物體的尺寸小而條紋贗象相應地趨於呈現時(即當在投影數據的SNR方面的差別對觀察方向的依賴較大時)，校正能通過提高變化率被相對增強。於是，適合的校正能被做成而無論待成象物體的尺寸為多少。
因而，本發明能提供防止在保持穿透輻射的低計數方向贗象生成的投影數據校正方法和裝置，以及包含這種投影數據校正裝置的輻射斷層分析成象裝置。
本發明另外的目的和優點從如在附圖中所說明的本發明的優選實施例的以下描述將會明顯看到。
圖1是按照本發明一種實施例的裝置的方框圖。
圖2是示出圖1所示裝置中檢測器陣列的示意圖。
圖3和圖4是示出圖1所示X射線發射／檢測裝置的示意圖。
圖5是關於投影數據校正函數的中央處理裝置的方框圖。
圖6用圖解說明待成象物體的投影概念。
圖7是說明穿透X射線的計數與權重因數之間關係的圖示。
圖8是關於投影數據校正函數的中央處理裝置的方框圖。
圖9和圖10是圖1所示裝置的運轉的操作程序圖。
發明詳述本發明的幾種實施例現在將參照附圖被更詳細地描述。圖1示出X射線CT裝置的方框圖，它是本發明的一種實施例。裝置的構造代表按照本發明的裝置的一種實施例，而裝置的運轉代表按照本發明的方法的一種實施例。
如圖1所示，裝置包含掃描臺架2，成象臺4和操作人員控制臺6。掃描臺架2是本發明的輻射發射／檢測裝置的一種實施例。掃描臺架2具有X射線管20。從X射線管20發射的X射線(未示出)被瞄準器22構成，例如，扇形的X射線束，即扇束，並投射在檢測器陣列24上。檢測器陣列24具有沿扇形X射線束展開的方向被排列在一排的多個X射線檢測器元件。檢測器陣列24的結構將在後面被描述。
X射線管20，瞄準儀22和檢測器陣列24一起構成X射線發射／檢測裝置，它將在後面被描述。檢測器陣列24與用於獲取被檢測器陣24中單個的X射線檢測器元件所檢測數據的數據採集部件26連接。
從X射線管20出來的X射線發射由X射線控制器28控制。X射線管20與X射線控制器28之間的連接關係在附圖中被略去。瞄準儀22被瞄準儀控制器30控制。瞄準儀22與瞄準儀控制器30之間的連接關係在附圖中被略去。
以上描述的組件從X射線管20直到瞄準儀控制器30被支承在掃描臺架2的轉動部件34上。轉動部件34的旋轉被旋轉控制器36控制。轉動部件34與旋轉控制器36之間的連接關係在附圖中被略去。
成象臺4用以運載待成象的物體(在圖1中未示出)進入掃描臺架中的X射線輻射區間以及從中出來。待成象物體與X射線輻射區間之間的關係在後面將被描述。
操作人員控制臺6具有中央處理器60，它包含，例如，計算機。中央處理器60與控制接口62連接，後者本身又與掃描臺架2及成象臺4連接。中央處理器60通過控制接口62控制掃描臺架2及成象臺4。
掃描臺架2中的數據採集部件26，X射線控制器28，瞄準儀控制器30和旋轉控制器36通過控制接口62被控制。這些部件與控制接口62之間分別的連接在附圖中被略去。
中央處理器60還與數據採集緩存器64連接，後者本身又與掃描臺架2中的數據採集部件26連接。在數據採集部件26所獲取的數據被輸入到數據採集緩存器64，而緩存器64臨時地存儲輸入數據。
中央處理器60執行用於通過數據採集緩存器64所獲取的多個視圖投影的數據校正，並使用被校正的投影數據進行圖象重建。中央處理器60是圖象生成裝置的一種實施例，並且也是本發明的圖象重建裝置的一種實施例。圖象重建，例如，使用已篩選的反向投影技術被實現。
中央處理器60還與用於存儲若干數據，重建圖象，程序等等的存儲器件66相連接。而且中央處理器60與用於顯示被重建的圖象及從中央處理器60輸出的其他信息的顯示器件68以及被操作者操縱以傳送一些指令和信息給中央處理器60的操縱器件70連接。
圖2示意說明檢測器陣列24的構造。檢測器陣列24是具有大量排列成一排的X射線檢測器元件24(i)的多通道X射線檢測器。繁多的X射線檢測器元件24(i)的多通道X射線檢測器。我的X射線檢測器元件24(i)一起形成被彎曲成圓筒形凹面的X射線照射面。參考代號「i」表示通道係數，而「i」=1-1，000，例如。
每個X射線檢測元件24(i)由閃爍器和光電二極體的組合構成，例如，很容易被認識到X射線檢測器元件24(i)不被限制在那裡而可以是，例如，使用碲化鎘(CdTe)等的半導體X射線檢測器元件，或使用氙(Xe)氣的電離室X射線檢測元件。
圖3圖解說明X射線發射／檢測裝置在X射線管20，瞄準儀22和檢測器陣列24之間的關係。圖3(a)是從掃描臺架2正面的視圖而(b)是從掃描臺架2側面的視圖。如所示，以X射線管20發射的X射線被瞄準儀22構成扇形X射線束400，並投射在檢測器陣列24上。
在圖3(a)中，扇形X射線束400的擴展，即X射線束400的寬度被圖解說明。X射線束400的寬度的方向與檢測器陣列24中通道行的方向相同。在圖3(b)中，X射線束400的厚度被圖解。
如在圖4中示範性地示出，待成象的物體8擱置在成象臺4上，並且被運載進入X射線輻射區間以物體的身軸橫斷X射線束400的扇面。掃描臺架2具有在其中包含X射線發射／檢測裝置的圓筒形結構。
X射線輻射區間被形成在掃描臺架2的圓筒形結構的內表面中。被X射線束400切開的待成象物體8的圖象被投影在檢測器陣列24上，並且檢測器陣列24檢測穿過物體8後的X射線。投射在待成象物體8上X射線束部分的厚度『th』被瞄準儀22的孔徑的開放程度調節。
圖5示出中央處理器60關於投影數據校正的方框圖。示於圖5的每個方框各自的功能由，例如，電腦程式執行。示於圖5的中央處理器60是本發明的投影數據校正裝置的一種實施例。裝置的構造代表按照本發明的裝置的一種實施例，而且裝置的運轉代表按照本發明的方法的一種實施例。
如所示，中央處理器60具有一個移動求平均值單元602，它是本發明的平均值計算裝置的一種實施例。移動求平均值單元602逐一計算用於構成如示範性地示於圖6的待成象物體8投影的投影數據Proj_ij(其中『i』=通道指標而『j』=視圖指標)在通道『i』方向的移動平均值。供移動求平均值用的數據，例如，近似為7個通道。
投影數據Proj_ij在乘法器被乘以第一個權重因數SGij。乘法器604是本發明的第一個乘積計算裝置的一種實施例。第一個權重因數SGij可以用下式表示SGij=1-exp{-Cij},(1)]]>其中Cij是投影數據Proj_ij由之得出的穿透X射線的計數。α是投影面積『s』的函數，它可以用下式表示α=f(s)。(2)特別是，α能從，例如，下式被得到α=A／s，(2』)其中A是一個適當的係數。
應當注意，投影面積『s』與常數α之間的對應可以事先列成表格。
依據式(1)的計數Cij與因數SGij之間的關係被用曲線示於圖7。
某些具有小計數Cij的範圍給出近似正比於Cij的第一個權重因數SGij。另外，α被約定作為投影面積『s』的函數，且隨投影面積變化。因而，適合於待成象物體的橫截面積的第一個權重因數SGij能被獲得。
投影數據Proj_ij的移動平均值在乘法器606中被乘以第二個權重因數(1-SGij)。乘法器606是本第二個乘積計算裝置的一種實施例。
加法器608計算來自乘法器604和606的輸出數據之和。加法器608是本發明的求和裝置的一種實施例。
總的來說，示於圖5的裝置完成如下的計算Proj′ij=SGij·Proj_ij+(1-SGij)ave7{Proj_ij}，(3)其中ave7{Proj_ij}代表七個通道的近似於投影數據Proj_ij的數據的移動求平均值。
式(3)能被重寫如下Proj′ij=ave7{Proj_ij}+SGij(Proj_ij-ave7{Proj_ij})，(4)用於完成由式(4)所給出計算的裝置的方框圖示於圖8。
在圖8中，類似於那些示於圖5的部件用相同的符號表示，並且其描述以下將被省略。
減法器612計算投影數據Proj_ij與其移動平均值ave7{Proj_ij}之間的差值。差值在乘法器被乘以第一個權重因數SGij。加法器616計算來自乘法器614的輸出數據與來自移動求平均值單元602的輸出數據，即移動平均值ave7{Proj_ij}，之和。
式(3)和式(4)都表明加權相加對投影數據並對包含近似數據的移動平均值被逐一完成。在相加結果中投影數據的權重隨著由之得出投影數據的穿透X射線計數的變小而降低。
反之，移動平均值的權重被補償地提高。因此，移動平均值的權重隨著計數變小而提高。因而，儘管基於小計數的投影數據具有不良的SNR，SNR的降低能被提高對那個投影數據的移動平均值的權重補償如上。
現在該裝置的運轉將被描述。圖9示出該裝置的操作的程序圖。如所示，在步驟912操作者通過操作器件70輸入掃描計劃。掃描計劃包括X射線被發射的條件，切片厚度，切片位置等等。據此，該裝置由操作者在操作的控制下運轉，並且中央處理器60遵循輸入的掃描計劃。
在步驟914，掃描的定位被完成。明確地講，操作者操縱操作器件70以移動成象臺4並用X射線發射／檢測器的轉動中心對準物體8待成象位置的中心(即，同中心)。
在步驟916，掃描被完成。具體地講，X射線發射／檢測器圍繞待成象的物體8旋轉並收集投影，例如，每一轉有1000個視圖，進入數據採集緩存器64。
在步驟917，校正的強度依賴於待成象物體的尺寸被確定以使當待成象物體的尺寸小時強的校正被施加，而當待成象的尺寸大時弱的校正被施加。特別是，常數α通過式(2)或(2』)由掃描的初始視圖(或探測掃描的數據)的投影面積被計算，或者常數α從投影面積『s』與被確定的常數α之間的對應表格中得出。當投影面積『s』小時常數α變大，因而強的校正被施加。反之，當投影面積『s』大時，常數α變小，因而弱的校正被施加。
在步驟918和920，數據校正和圖象重建分別在掃描之後或與掃描同時被完成。
在步驟918，交正的詳細流程圖被示於圖10中。如所示，在步驟932在掃描數據上偏移校正被完成，它用於校正被附加到穿透X射線計數的偏移。
下一步，在步驟934基準校正被作出，它用於藉助在基準通道測得的X射線計數除以穿透的X射線計數來校正X射線強度。
然後，在步驟936，第一個權重因數SGij被計算。第一個權重因數SGij由式(1)使用偏移校正的和基準校準的計數Cij被計算，並被存儲在存儲器件66中。
下一步，在步驟938，計數Cij的負對數被計算。
下一步，在步驟940，執行靈敏度校正。
然後，在步驟942，射線束硬化校正被完成以生成投影數據Proj_ij。
在步驟944，在投影數據Proj_ij上投影數據校正根據式(3)或(4)被完成。用於校正計算的第一個權重因數SGij從存儲器件66被讀取供使用。
回到圖9，在步驟920的圖象重建是使用作為由這樣被校正過的數據組成的多個視圖的投影，藉助，例如，已過濾的反向投影技術被完成。
在步驟922，重建的斷層分析圖象被顯示在顯示器件68上。顯示圖象是具有良好質量不含有條紋贗象等的斷層分析圖象。具體地講，因為在圖1-中步驟944投影數據校正了在具有低計數的部分中SNR的降低，定向噪聲圖案甚至當兩臂放在身體兩側而胸腔或腹部被成象時也不會出現，例如，因此防止包含在重建圖象中諸如條紋贗象的假圖象。
儘管以前的描述是按X射線作為輻射被使用的情況做出的，輻射不限於X射線而可以是其他類型的輻射比如γ射線。然而，X射線在目前是較佳的，因為供X射線的生成，檢測，控制等用的實際裝置是改進得最好的。
本發明許多相差懸殊的實施例可被成形而不違反本發明精神和範圍。應當理解，本限縣城評述中所描述的具體的實施例，除了在附加的權利要求中被確定的以外。
權利要求
1．投影數據校正方法包含步驟逐一計算數據的平均值及其近似數據，該數據構成待用穿透輻射成象物體的投影；通過將該數據乘以對應於數據由之得出的穿透輻射計數的第一個權重因數計算第一個乘積；通過將該平均值乘以該第一個權重因數相對於1的補數的第二個權重因數計算第二個乘積；將該第一個和第二個乘積相加。
2．投影數據校正方法包含步驟逐一計算數據的平均值及其近似數據，該數據構成待用穿透輻射成象物體的投影；通過將該數據乘以大致與該數據在低於計數的預定值範圍內由之得出的穿透輻射的計數成正比的第一個權重因數計算第一個乘積；通過將該平均值乘以該第一個權重因數相對於1的補數的第二個權重因數計算第二個乘積；將該第一個和第二個乘積相加。
3．根據權利要求1或2的投影數據校正方法，其中該第一個權重因數可以用以下式表示1-e(-C／α)，其中c由之得出該數據的穿透輻射計數，而α由該投影面積確定的常數。
4．投影數據校正裝置包含用於逐一計算數據的平均值及其近似數據的平均值計算裝置，該數據構成待用穿透輻射成象物體的投影；用於通過將該數據乘以對應於該數據由之得出的穿透輻射計數的第一個權重因數計算第一個乘積的第一個乘積計算裝置；用於通過將該平均值乘以該第一個權重因數相對於1的補數的第二個權重因數計算第二個乘積的第二個乘積計算裝置；以及用於將該第一個和第二個乘積相加的加法器裝置。
5．投影數據校正裝置包含用於逐一計算數據的平均值及其近似數據的平均值計算裝置，該數據構成待用穿透輻射成象物體的投影；用於通過將該數據乘以大致與該數據在低於計數的預定值範圍內由之得出的穿透輻射計數成正比的第一個權重因數計算第一個乘積的第一個乘積計算裝置；用於通過將該平均值乘以該第一個權重因數相對於1的補數的第二個權重因數計算第二個乘積的第二個乘積計算裝置；以及用於將該第一個和第二個乘積相加的加法器裝置。
6．根據權利要求4或5的投影數據校正裝置，其中該第一個權重因數可以用下式表示1-e(-C／α)其中C由之得出該數據的穿透輻射計數，而α由該投影面積確定的常數。
7．用於沿多個觀察方向朝著待成象物體發射輻射並檢測穿透輻射，以及使用根據該發射／檢測輻射的步驟所檢測信號的投影生成圖象的輻射斷層分析成象方法，其中該生成圖象的步驟通過下列步驟來執行逐一計算數據的平均值及其近似數據，該數據構成該投影；通過將該數據乘以對應於該數據由之得出的穿透輻射計數的第一個權重因數計算第一個乘積；通過將該平均值乘以該第一個權重因數相對於1的補數的第二個權重因數計算第二個乘積；將該第一個和第二個乘積相加；以及使用包含該加法指令所得出數據的投影來重建圖象。
8．根據權利要求7的輻射斷層分析成象方法，其中X射線作為該輻射被使用。
9．用於沿多個觀察方向朝著待成象物體發射輻射並檢測穿透輻射，以及使用根據該發射／檢測輻射的所檢測信號的投影生成圖象的斷層分析成象方法，其中該生成圖象的步驟通過下列步驟來執行逐一計算數據的平均值及其近似數據，該數據構成該投影；通過將該數據乘以大致與該數據在低於計數的預定值範圍內由之得出的穿透輻射計數成正比的第一個權重因數計算第一個乘積；通過將該平均值乘以該第一個權重因數相對於1的補數的第二個權重因素計算第二個乘積；將該第一個和第二個乘積相加；以及使用包括該加法指令所得出數據的投影重建圖象。
10．根據權利要求9的輻射斷層分析成象方法，其中X射線作為輻射被使用。
11．根據權利要求7，8，9或10的輻射斷層分析成象方法，其中該第一個權重因數可以用下式表示1-e(-C／α)其中C該數據由之得出的穿透輻射計數，而α由該投影面積確定的常數。
12．輻射斷層分析成象裝置包含用於沿多個觀察方向朝著待成象物體發射輻射並檢測穿透輻射的輻射發射／檢測裝置，以及用於使用根據被該輻射發射／檢測裝置所檢測信號的投影生成圖象用的圖象生成裝置，其中該圖象生成裝置包含用於逐一計算數據的平均值及其近似數據的平均值計算裝置，該數據構成該投影；用於通過將該數據乘以對應於該數據由之得出的穿透輻射計數的第一個權重因數計算第一個乘積的第一個乘積計算裝置；用於通過將該平均值乘以該第一個權重因數相對於1的補數的第二個權重因數計算第二個乘積的第二個乘積計算裝置；用於將該第一個和第二個乘積相加的加法器裝置；以及用於使用由該加法指令所得出數據組成的投影重建圖象的圖象重建裝置。
13．根據權利要求12的輻射斷層分析成象裝置，其中X射線作為該輻射被使用。
14．輻射斷層分析成象裝置包含用於沿多個觀察方向朝著待成象物體發射輻射並檢測穿透輻射的輻射發射／檢測裝置，以及用於使用根據該輻射發射／檢測裝置所檢測信號的投影生成圖象的圖象生成裝置，其中該圖象生成裝置包含用於逐一計算數據的平均值及其近似數據的平均值計算裝置，該數據構成該投影；用於通過將該數據乘以大致與該數據在低於計數的預定值範圍內由之得出的穿透輻射計數成正比的第一個權重因數計算第一個乘積的第一個乘積計算裝置；用於通過將該平均值乘以該第一個權重因數相對於1的補數的第二個權重因數計算第二個乘積的第二個乘積計算裝置；用於將該第一個和第二個乘積相加的加法器裝置；以及用於使用由該加法指令所得出數據組成的投影重建圖象的圖象重建裝置。
15．根據權利要求14的輻射斷層分析成象裝置，其中X射線作為該輻射被使用。
16．根據權利要求12，13，14或15的輻射斷層分析成象裝置，其中該第一個權重因數可以用下式表示1-e(-C／α)其中C該數據由之得出的穿透輻射計數，而α由該投影面積確定的常數。
17．根據權利要求1的投影數據校正方法，其中該第一個權重因數隨著相應的計數變小而降低。
18．根據權利要求17的投影數據校正方法，包含通過探測掃描所得的數據或軸向掃描的視圖的數據以確定第一個權重因數隨著相應的計數變小而降低的變化率。
19．根據權利要求4的投影數據校正裝置，包含用於確定第一個權重因數以使該第一個權重因數隨著相應的計數變小而降低的第一個權重因數確定裝置。
20．根據權利要求19的投影數據校正裝置，其中該第一個權重因數確定裝置使用通過探測掃描所得的數據或軸向掃描的視圖數據以確定在第一個權重因數隨著相應的計數變小而降低的變化率。
21．根據權利要求12的輻射斷層分析成象裝置，包含用於確定該第一個權重因數以使該第一個權重因數隨著相應的計數變小而降低的第一個權重因數確定裝置。
22．根據權利要求21的輻射斷層分析成象裝置，其中該第一個權重因數確定裝置使用通過探測掃描所得的數據或軸向掃描的視圖數據以確定第一個權重因數隨著相應的計數變小而降低的變化率。
全文摘要
為了提供在保持穿透輻射的低計數方向防止贗象生成的投影數據校正方法和裝置,及使用這種投影數據校正方法的輻射斷層分析成象方法以及包含投影數據校正裝置的輻射斷層分析成象裝置,投影數據Proj__ij是用具有包含近似數據平均值(602)的加權加法指令(604,606,608)被逐一校正的。隨著由之得出投影數據的穿透輻射的計數變小,投影數據的權重SGij降低。
文檔編號A61B6/03GK1292497SQ00122649
公開日2001年4月25日 申請日期2000年8月10日 優先權日1999年8月10日
發明者堀內哲也 申請人:通用電器橫河醫療系統株式會社