校核盤缺陷管理區信息的方法和進行校核的測試設備的製作方法

2023-08-04 05:26:56

專利名稱：校核盤缺陷管理區信息的方法和進行校核的測試設備的製作方法
技術領域：
本發明涉及可以將信息記錄在可記錄可再現盤上和從該可記錄和可再現盤上再現信息的設備，尤其涉及校核盤記錄再現設備正常生成或更新盤缺陷管理區(DMA)信息的方法，和進行校核的測試設備。
可記錄和可再現盤是一種利用諸如雷射束之類的光束將信息記錄在上面和從上面讀取信息的光碟，例如，數字多功能盤隨機存取存儲器(DVD-RAM)。DVD-RAM是一種可重寫盤。根據「關於可重寫盤第1部分物理規範第2.0版本的DVD規範」，DVD-RAM在盤的每一面上包括四個管理其上缺陷的DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA4。
如

圖1所示，DMA1和DMA2位於靠近盤的內徑的導入區，和DMA3和DMA4位於靠近盤的外徑的導出區。每個DMA後面跟隨著一個保留扇區。
在DMA中存儲著盤定義結構(DDS)、主要缺陷列表(PDL)和次要缺陷列表(SDL)。DDS包括關於盤的格式結構的信息，例如，盤認證標誌、DDS/PDL更新計數器和每個區的開始邏輯扇區號。PDL包括關於在盤初始化期間在盤上檢測到的所有有缺陷扇區的信息。SDL包括關於在盤正在使用的同時發生的有缺陷塊(糾錯碼(ECC)塊)中每個第一扇區的扇區號的信息、在用於替換有缺陷塊的備用塊中每個第一扇區的扇區號的信息、和關於備用區的信息。
包括在DMA中的一些信息可以直接讀取和使用。另一方面，DMA包括隨盤上缺陷的位置和數量而改變的信息。另外，一些信息，例如，每條區的開始扇區號的位置信息或邏輯扇區號0的位置信息，可以通過進行根據寄存在DMA中的缺陷信息的算法獲得。
在盤的每一面上存在四個DMA是為了防止由於DMA信息中的錯誤引起的錯誤的缺陷管理。由於這樣的DMA信息與物理數據扇區密切相關，因此，當不正確地寫入或讀取DMA信息時，諸如可移動光碟之類的記錄介質可能與兩種不同的盤記錄和再現設備不兼容。
這是因為，當盤記錄和再現設備(例如，DVD-RAM記錄和再現設備)的記錄和再現結構被劃分成文件系統層，使主計算機與記錄和再現設備相連接的主接口層、用於記錄和再現物理信號的物理盤記錄和再現設備(或盤驅動單元)層、和記錄介質層時，在物理盤記錄和再現設備層和它的下一層進行DMA信息的寫和讀。
在實際的文件系統中，要記錄和再現的用戶信息只根據邏輯扇區號發送到盤記錄和再現設備，盤記錄和再現設備將邏輯扇區號轉換成物理扇區號以記錄或再現用戶信息。在這種情況中，使用DMA信息。這樣，當在給定的盤記錄和再現設備中錯誤地讀取或寫入DMA信息時，就不能在另一臺記錄和再現設備中正確地讀取或寫入數據。
因此，需要一種校核盤記錄和再現設備正確地讀取記錄在盤上的DMA信息和將DMA信息正確地記錄在盤上以生成或更新DMA信息的方法。
為了解決上述問題，本發明的第一個目的是提供一種校核當盤記錄和再現設備進行包括清除缺陷列表在內沒有認證的重新初始化時，正常生成或更新缺陷管理區(DMA)信息的方法。
本發明的第二個目的是提供一種校核當盤記錄和再現設備進行包括清除缺陷列表在內而沒有認證的重新初始化時，是否正常生成或更新利用空白盤和使每種類型的缺陷信息都包括在主要缺陷列表中那樣構成的測試基準DMA鏡像文件，產生的盤的DMA信息的方法。
本發明的第三個目的是提供一種校核當盤記錄和再現設備進行包括清除缺陷列表在內沒有認證的重新初始化時，正常生成或更新缺陷管理區(DMA)信息的測試設備。
本發明的其它目的和優點部分體現在下述的說明書中，部分可以從說明書中明顯看出，或可以從本發明的具體實踐中得知。
為了實現本發明的上述和其它目的，本發明提供了校核將信息記錄在帶有DMA信息的盤上或從帶有DMA信息的盤上再現信息的記錄和再現設備的DMA信息生成和更新功能的方法。該方法包括在利用含有測試基準信息的測試盤的記錄和再現設備中進行包括清除存在於測試盤上的DMA中的預定缺陷列表在內的重新初始化，從重新初始化後生成的缺陷管理區信息中生成測試信息，並將從測試基準信息中預期的基準信息與測試信息進行比較和提供關於測試信息的校核結果。
為了實現本發明的上述和其它目的，本發明還提供了測試將信息記錄在帶有DMA信息的盤上或從帶有DMA信息的盤上再現信息的記錄和再現設備的DMA信息生成和更新功能的設備。該設備包括測試盤，含有測試基準信息；基準驅動器，利用測試盤從記錄和再現設備進行包括清除存在於測試盤上的DMA中的預定缺陷列表在內的重新初始化之後測試盤的DMA上生成測試信息；和校核器，將從測試基準信息中預期的基準信息與測試信息進行比較並提供校核測試信息的結果。
通過結合附圖對本發明的優選實施例進行詳細描述，本發明的上述目的和優點將更加清楚。在附圖中圖1顯示了可重寫盤的示意性結構；圖2是顯示根據本發明的測試設備的功能的方塊圖；圖3顯示C-2盤的缺陷結構的示例；圖4A至4D是圖2的校核器進行校核的詳細校驗列表的示例；圖5是顯示在重新初始化之前C-2盤的缺陷管理區(DMA)中主要缺陷列表(PDL)和次要缺陷列表(SDL)分別與在重新初始化之後C-2盤的DMA中PDL和SDL之間的相互關係的方塊圖；圖6是根據本發明的校核方法的流程圖；和圖7是圖2所示的待測試驅動器的方塊圖。
現在開始詳細說明本發明的優選實施例，這些示例顯示在附圖中，其中自始至終相同的標號表示相同的部件。下面參照附圖描述這些實施例以便說明本發明。
參照圖2，測試設備包括C-1盤201、缺陷管理區(DMA)鏡像文件提供器203、基準驅動器205、C-2盤207、待測試驅動器209、C-2′盤211、C-2′盤DMA鏡像文件213和校核器215。
C-1盤201是測試盤，為了測試可以將信息記錄在諸如數字多功能盤隨機存取存儲器(DVD-RAM)之類的可寫盤上或從中再現信息的盤驅動器，有意在測試盤上製成一些物理缺陷，並且這樣的測試盤基本上是沒有記錄在上面的空白盤。只要在C-1盤201上沒有記錄「信息」，和只存在「有意缺陷」，就可以認為C-1盤201是空白的。因此，當測試盤驅動器時，C-1盤201上的物理缺陷用作已知信息。另外，將C-1盤設計成滿足相變記錄DVD-RAM的條件，在「可重寫盤第2.0版本的DVD規範」中規定這種DVD-RAM具有4.7千兆字節(GB)的容量。
DMA鏡像文件提供器203提供DMA鏡像文件，該DMA鏡像文件是包括如圖1所示的盤定義結構(DDS)信息、主要缺陷列表(PDL)信息和次要缺陷列表(SDL)信息，並滿足輔助備用區(SSA)沒有填滿這個條件的測試基準信息。
具體地說，DMA鏡像文件提供器203提供使所有類型的缺陷包括在PDL中那樣構成的測試基準DMA鏡像文件。換言之，測試基準DMA鏡像文件包括PDL，該PDL包括含有在由盤製造商確定的缺陷扇區的信息的P-列表、含有在盤的認證期間檢測到的缺陷扇區的信息的G1-列表、和含有沒有認證移到SDL的缺陷扇區的信息的G2-列表。SSA是用於線性替換在盤正在使用中的同時發生的缺陷的備用區。SSA是在初始化期間或之後另外分配的。
為了提高測試效率，當待測試驅動器209進行重新初始化時提供測試基準DMA鏡像文件，它包括關於位於最有可能發生錯誤的特定位置上的缺陷的信息。換言之，為了滿足由「關於可重寫盤第1部分物理規範第2.0版本的DVD規範」建議的、一種算法的所有情況，將測試基準DMA鏡像文件構造成包括關於集中在位於假定第一邏輯扇區所處位置上的物理扇區附近的缺陷的信息，如圖3所示。
此外，測試基準DMA鏡像文件的特徵在於，將每個區的第一和最後扇區當作有錯誤的扇區來對待，並將有缺陷的扇區設置成使每個區中的可用扇區總數不是16的倍數。鏡像文件含有與實際文件相同的內容，但位於與實際文件的物理位置不同的位置上。
基準驅動器205是修改的測試驅動器，用於測試能夠將信息記錄在盤上或從盤上再現信息的設備。當將C-1盤201裝載到基準驅動器205中和DMA鏡像文件提供器203提供測試基準DMA鏡像文件時，基準驅動器205將測試基準DMA鏡像文件記錄在C-1盤201上以形成C-2盤207。將測試基準DMA鏡像文件與C-1盤201上的物理缺陷無關地記錄到C-1盤201上。這樣，C-2盤207包括在關於測試的基準缺陷狀態與C-1盤201上的物理缺陷無關的假設下作出的測試基準DMA信息，因此，記錄在C-2盤207上的DMA信息是用戶已知的信息。C-2盤被設計成滿足相變記錄DVD-RAM的條件，在「可重寫盤第2.0版本的DVD規範」中規定這種DVD-RAM具有4.7千兆字節(GB)的容量。
當包括清除G2-列表和SDL在內而沒有認證地重新初始化的C-2′盤211被裝載到基準驅動器205中時，基準驅動器205直接讀取記錄在C-2′盤211上的DMA信息，並根據作為測試信息的DMA信息輸出C-2′盤DMA鏡像文件213。測試信息可以是C-2′盤DMA鏡像文件213的一部分。例如，這部分可以是與圖4A所示的那一部分相對應的信息。
待測試驅動器209是可以將信息記錄在可重寫盤上或從可重寫盤上再現信息的盤記錄和再現設備。當將C-2盤207裝載到待測試驅動器209中時，待測試驅動器209進行包括清除在DMA的PDL中的G2-列表和SDL中的缺陷信息在內而沒有認證的重新初始化。
當待測試驅動器209正常地進行重新初始化時，生成或更新C-2′盤211上的DMA以便從C-2盤207上的DMA擦除G2-列表和SDL。C-2′盤211通過在待測試驅動器209中對C-2盤207進行重新初始化生成，並被設計成滿足相變記錄DVD-RAM的條件，在「可重寫盤第2.0版本的DVD規範」中規定這種DVD-RAM具有4.7千兆字節(GB)的容量。將C-2′盤211裝載到基準驅動器205中，因此，測試信息按如上所述那樣輸出。
將來自基準驅動器205的測試信息提供給校核器215。在提供測試信息時，基準驅動器205可以直接將測試信息提供給校核器215。
校核器215利用待測試驅動器209正常進行包括清除G2-列表和SDL在內而沒有認證的重新初始化時所得的關於DMA的預期基準信息(預期值)，校核C-2′盤DMA鏡像文件213。預期基準信息可以由校核器215根據DMA鏡像文件提供器提供的測試基準DMA鏡像文件和包含在預先提供的C-1盤201中的物理缺陷信息來設置。或者，如圖4A至4D所示，可以預先準備好並使用DMA信息表。
圖4A顯示用於DMA校核的校核器215可以包括的校驗列表。該列表的校驗項包括DMA1至DMA4的錯誤狀況、在DDS1至DDS4中和在SDL1至SDL4中的DDS/PDL更新計數器和在SDL1至SDL4中的SDL更新計數器、和DMA1至DMA4的內容。
DMA的錯誤狀況項是關於校驗錯誤是否存在於DMA中的，其中的兩個位於導入區中和其中的兩個位於導出區中。不可糾正的錯誤一定不能存在於DMA1、DMA2、DMA3和DMA4四個DMA的任何一個中。如果在DMA的任何一個中檢測到任何不可糾正的錯誤，則輸出測試結果以通知用戶待測試驅動器209在生成或更新C-2盤207的DMA時失敗了。當DMA的生成和更新以失敗告終時，用戶需要利用另一個測試盤從頭重新開始測試。
為了根據重新初始化校核DDS/PDL和SDL更新計數器，因為當更新或重寫DDS/PDL時每個DDS/PDL更新計數器的值都遞增1，所以要校驗值「 M+k」以找出值「M」是否是以前的值和值「k」是否是「1」，值「M+k」表示在四個DDS，即DDS1、DDS2、DDS3和DDS4中和在四個SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中DDS/PDL更新計數器的值。「以前的值」是指待測試驅動器209進行包括清除缺陷列表在內不進行認證的重新初始化之前「M」的值。還要校驗在四個DMA，即DMA1、DMA2、DMA3和DMA4中的八個DDS/PDL更新計數器的值是否相同。
因為當更新或重寫SDL時每個SDL更新計數器的值都遞增1，所以要校驗值「N+k」以找出值「N」是否是以前的值和值「k」是否是「1」，值「N+k」表示在四個SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中SDL更新計數器的值。「以前的值」是指待測試驅動器209進行清除缺陷列表在內不進行認證的重新初始化之前「N」的值。還要校驗四個SDL更新計數器的值是否相同。
另外，還要校驗四個DMA，即DMA1、DMA2、DMA3和DMA4的內容是否相同。
圖4B顯示用於DDS校核的校核器215可以包括的校驗列表。該列表的校驗項包括DDS標識符、盤認證標誌、DDS/PDL更新計數器、組數、區數、主要備用區的位置、第一邏輯扇區號(LSN0)的位置、和關於每個區的開始LSN等。
校驗DDS標識符是否是「0A0Ah」。校驗在盤認證標誌的一個字節中的、表示正在進行中/沒有正在進行中的位位置b7的值是否是「0b」。如果位位置b7的值是「0b」，那麼這表示已經完成格式化。如果位位置b7的值是「1b」，那麼這表示正在進行格式化。因此，當位位置b7的值是「1b」時，校核器215確定格式化已經失敗(fail)了。另外，要校驗在盤認證標誌中保留的位位置b6至b2是否都是「0b」，和校驗表示用戶認證標誌的位位置b1的值是否是「1b」。還要校驗表示盤製造商認證標誌的位位置b0的值是否是「1b」。
為了校核相應的DDS/PDL更新計數器，校驗表示DDS/PDL更新計數器值的值M是否是以前的值，和校驗表示代表測試之前和之後DDS/PDL更新計數器「M」中的差值的DDS/PDL更新計數器增量的值k是否是「1」。還要校驗組數的值是否是表示組數是1的「0001h」，和區數的值是否是表示區數是35的「0023h」。
並且，校驗在主要備用區中的第一扇區號是否是「031000h」，和校驗在主要備用區中的最後扇區號是否是「0341FFh」。校驗LSN0的位置和關於每個區開始LSN，即第2區Zone1至第35區Zone34的開始LSN是否是根據寄存在PDL中的缺陷數確定的。寄存在PDL中的缺陷涵蓋了C-1盤201上的物理缺陷和寄存在DMA鏡像文件提供器203提供的測試基準DMA鏡像文件的PDL中的缺陷。
校驗DDS結構中其餘保留區(字節位置396至2047)是否都是「00h」。
如圖4C所示，用於校核PDL結構的校驗項包括PDL標識符、PDL中的入口數、PDL入口的完整性和未用區。
校驗PDL標識符是否是「0001h」。PDL中的入口數是C-1盤201上的物理缺陷數和寄存在DMA鏡像文件提供器203提供的測試基準DMA鏡像文件的PDL中的缺陷數之和。對於每個PDL入口的完整性校核，要校驗入口的類型和缺陷扇區號。校驗PDL入口類型是否含有表示存在於C-2盤207上的已知P-列表的「00b」和表示在用戶認證期間檢測的缺陷扇區的G1-列表的「10b」。校核PDL入口類型不含有表示由於SDL轉換生成的G2-列表的「11b」。
按如上所述校驗PDL中的入口類型是因為，如圖5所示，C-2′盤211上新PDL530中的P_列表531和G1_列表533保持了C-2盤207上舊PDL510中的P_列表511和G1_列表513，但包含在舊PDL510中的G2_列表515中的缺陷信息被處理掉了。
另外，校驗PDL中的缺陷區號是否按升序寫入，和校驗PDL中的未用區是否被設置成「FFh」。
如圖4D所示，用於校核SDL結構的校驗項包括SDL標識符、SDL更新計數器、次要備用區(SSA)的開始扇區號、總邏輯扇區數、DDS/PDL更新計數器、備用區填滿標誌、SDL中的入口數、SDL入口的完整性、未用區、和保留區等。
校驗SDL標識符是否是「0002h」。為了校核相應SDL更新計數器，先校驗表示SDL更新計數器值的值N是否是以前的值，和校驗表示SDL更新計數器增量的值k是否是「1」。為了校核相應DDS/PDL更新計數器的項，先校驗表示DDS/PDL更新計數器值的值M是否是以前的值，和校驗表示DDS/PDL更新計數器增量的值k是否是「1」。
校驗備用區填滿標誌是否表示次要備用區沒有填滿，和校驗SDL中的入口數是否被設置成「00h」,「00h」是通常表示什麼也沒有的值。並且，因為SDL的總使用區是已知的，所以如果SDL中的入口數得到了校驗，那麼就可以確定SDL的未用區的大小。因此，校驗C-2′盤DMA鏡像文件213的未用區的大小是否等於SDL的未用區的大小，根據SDL中的入口數，此SDL的未用區的大小是已知的，還要校驗未用區是否被設置成「FFh」。此外，校驗所有保留區的預期值是否是「00h」。這是因為當待測試驅動器209正常進行包括清除SDL在內不進行認證的重新初始化時，寄存在C-2盤207上的舊SDL520中的缺陷信息全部處理掉了，如圖5所示。
校核器215校核通過將如圖4A至4D所示那樣設置的基準信息與包含在C-2′盤DMA鏡像文件213中的信息相比較，校核待測試驅動器209在進行包括清除SDL在內而沒有認證的重新初始化期間是否正常生成或更新C-2盤207的DMA。
輸出校核的結果作為在進行包括清除G2-列表和SDL在內不進行認證的重新初始化的模式中測試待測試驅動器209的結果。G2-列表包括在沒有認證的重新初始化期間從SDL轉移的信息，而SDL包括在沒有認證的重新初始化期間為SDL生成的缺陷信息。可以將校核的結果顯示出來供用戶觀看。為此，本發明可以包括顯示單元。因此，可以通知用戶待測試驅動器209是否從盤中正常讀取DMA信息和在進行包括清除G2-列表和SDL沒有認證的重新初始化的模式中生成或更新DMA。
圖6是根據本發明的校核方法的流程圖。在步驟601，通過將具有圖2所述條件的測試基準DMA鏡像文件記錄在具有圖2所述條件的空白C-1盤201上生成C-2盤207。
接著，在步驟602，將C-2盤207裝載到待測試驅動器209中，並在C-2盤207上進行重新初始化。在重新初始化期間，缺陷列表被處理掉，和C-2盤207沒有被充分認證。處理掉的缺陷列表是包含在PDL中的G2-列表和SDL。
在步驟603，從C-2′盤211中讀取DMA信息文件，並根據該DMA信息生成C-2′盤DMA鏡像文件213。在步驟604校核C-2′盤DMA鏡像文件213。校核是以與圖2所述的校核器215所進行的相同的方式，利用預期基準信息(或預期值)進行的。換句話來說，校核寄存在PDL的G2-列表中的缺陷信息和寄存在PDL的SDL中的缺陷信息是否全部處理掉。在完成校核之後，在步驟605輸出校核的結果以便用戶能夠以上述的重新初始化模式估計待測試驅動器209的DMA生成或更新功能。
圖7顯示了待測試驅動器110含有發光的光源22、將來自光源的光聚焦在盤D上的聚焦部件24、和控制光源22的控制器26。如上所述的校核處理試圖校核控制器26的適當操作。
如上所述，本發明在給定的盤記錄和再現設備中，對利用沒有信息記錄在上面的空白盤和適合於包括所有類型的缺陷信息的測試環境的測試基準DMA鏡像文件生成的C-2盤，進行包括清除諸如G2-列表和SDL之類的缺陷列表沒有認證的重新初始化。此後，對盤上的DMA加以校核以測試相應的盤記錄和再現設備，從而使用戶在短的時間間隔內校核盤記錄和再現設備的DMA生成或更新功能。另外，根據本發明，用戶可以利用測試基準DMA鏡像文件和空白盤自己生產包括所有類型的缺陷信息的C-2盤，從而不需要製造商生產和提供用於如上所述的測試的C-2盤，降低了成本。用戶可以利用基準驅動器205、DMA鏡像文件203、和C-1盤201生產C-2盤。
儘管已經對本發明的幾個優選實施例作了圖示和描述，但本領域普通技術人員應該明白，可以對這些實施例加以改動而不偏離本發明的原理和精神，本發明的範圍由所附權利要求和它們的等效物來限定。
權利要求
1．一種校核將信息記錄在帶有DMA信息的盤上或從帶有DMA信息的盤上再現信息的記錄和再現設備的DMA信息生成和更新功能的方法，該方法包括在利用含有測試基準信息的測試盤的記錄和再現設備中進行包括清除存在於測試盤上的DMA中的預定缺陷列表在內的重新初始化，並從重新初始化後生成的DMA信息中生成測試信息；和將從測試基準信息中預期的基準信息與測試信息進行比較以提供測試信息的校核結果。
2．根據權利要求1所述的方法，其中，進行重新初始化包括對測試盤進行沒有認證的重新初始化。
3．根據權利要求1所述的方法，其中，在進行重新初始化過程中的測試基準信息是鏡像文件。
4．根據權利要求1所述的方法，其中，在進行重新初始化過程中的測試基準信息是使數個缺陷包括在主要缺陷列表(PDL)中那樣構成的DMA鏡像文件。
5．根據權利要求4所述的方法，其中，進行重新初始化包括執行具有從測試盤上的DMA清除預定缺陷表包括消除G2-列表和次要缺陷列表(SDL)的重新初始化。
6．根據權利要求5所述的方法，其中，測試信息是鏡像文件。
7．根據權利要求6所述的方法，其中，相比較包括校驗G2-列表和SDL是否存在於測試信息中。
8．根據權利要求7所述的方法，其中，相比較包括檢驗在測試信息中是否保持包括在測試基準信息中的P-列表和G1-列表。
9．根據權利要求6所述的方法，其中，相比較包括校核測試信息中DMA的結構；校核測試信息的盤定義結構(DDS)；校核測試信息的主要缺陷列表(PDL)；和校核測試信息的次要缺陷列表(SDL)。
10．根據權利要求9所述的方法，其中，校核DMA結構包括校驗DMA錯誤狀況、DDS/PDL和SDL更新計數器和DMA的內容。
11．根據權利要求10所述的方法，其中校驗DMA的錯誤狀況包括校驗錯誤是否存在於四個DMA的任何一個中，這四個DMA是寫入測試盤上的四個位置中的DMA，其中的兩個位於測試盤上的導入區中和其中的兩個位於測試盤上的導出區中；校驗DDS/PDL更新計數器包括校驗在四個DDS中和在四個SDL中的DDS/PDL更新計數器的值是否是「以前的值」，校驗代表進行包括清除存在於測試盤上的DMA中的預定缺陷列表在內的重新初始化之前和之後在DDS/PDL更新計數器中的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否是「1」，和校驗DDS/PDL更新計數器的值是否相同；校驗SDL更新計數器包括校驗在四個SDL中的SDL更新計數器的值是否是「以前的值」，校驗代表進行包括清除存在於測試盤上的DMA中的預定缺陷列表在內的重新初始化之前和之後在SDL更新計數器中的差值的SDL更新計數器增量是否是「1」，和校驗SDL更新計數器的值是否相同；和校驗DMA的內容包括校驗四個DMA的內容是否相同。
12．根據權利要求9所述的方法，其中，校驗DDS包括校驗DDS標識符、盤認證標誌、DDS/PDL更新計數器、組數、區數、主要備用區的位置、第一邏輯扇區號的位置、和關於每個區的開始邏輯扇區號。
13．根據權利要求12所述的方法，其中校驗DDS標識符包括校驗DDS標識符是否是預定值；校驗盤認證標誌包括校驗在盤認證標誌中表示正在進行中的位的值是否是「0b」，和校驗表示盤製造商認證的位的值和表示用戶認證的位的值是否是「1b」；校驗DDS/PDL更新計數器包括校驗DDS/PDL更新計數器值是否是「以前的值」，和校驗代表進行包括清除存在於測試盤上的DMA中的預定缺陷列表在內的重新初始化之前和之後在DDS/PDL更新計數器中的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否是「1」；校驗組數包括校驗組數是否是預定數；校驗區數包括校驗區數是否是預定數；校驗第一邏輯扇區號包括校驗主要備用區的第一和最後扇區號是否分別是預定扇區號；校驗第一邏輯扇區號包括校驗第一邏輯扇區號的位置是否是根據寄存在PDL中的缺陷數確定的；和校驗開始邏輯扇區號包括校驗關於每個區的開始邏輯扇區號是否是根據寄存在PDL中的缺陷數確定的。
14．根據權利要求9所述的方法，其中，校驗PDL結構包括校驗PDL標識符、PDL中入口數、和PDL入口的完整性。
15．根據權利要求14所述的方法，其中校驗PDL標識符包括校驗PDL標識符是否是預定值；校驗入口數包括校驗PDL中的入口數是否與寄存在PDL中的缺陷數相同；和校驗PDL入口的完整性包括校驗PDL入口的完整性是否包括P-列表和G1-列表而不包括G2-列表。
16．根據權利要求9所述的方法，其中校驗SDL結構包括校驗SDL標識符、SDL更新計數器、次要備用區(SSA)的開始扇區號、總邏輯扇區數、DDL/PDL更新計數器、備用區填滿標誌、SDL中的入口數、SDL入口的完整性、未用區、和保留區。
17．根據權利要求16所述的方法，其中校驗SDL標識符包括校驗SDL標識符是否是預定值；校驗SDL更新計數器包括校驗SDL更新計數器值是否是「以前的值」，和校驗代表進行包括清除存在於測試盤上的DMA中的預定缺陷列表在內的重新初始化之前和之後在SDL更新計數器中的差值的SDL更新計數器增量是否是「1」；校驗DDS/PDL更新計數器包括校驗DDS/PDL更新計數器值是否是「以前的值」，和校驗代表進行包括清除存在於測試盤上的DMA中的預定缺陷列表在內的重新初始化之前和之後在DDS/PDL更新計數器中的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否是「1」；校驗SSA中的開始扇區號和總邏輯扇區數包括校驗SSA的開始扇區號和總邏輯扇區數是否是根據由用戶指定的SSA的大小適當設置的；校驗備用區填滿標誌、SDL中的入口數、和SDL入口的完整性包括校驗備用區填滿標誌是否表示SSA不是填滿的，SDL中的入口數是否被設置成表示沒有入口存在的「00h」，和在SDL入口上是否沒有信息存在；和校驗未用區和保留區包括校驗SDL的未用區的大小和未用區是否是預定值，和保留區是否是預定值。
18．根據權利要求1所述的方法，其中，測試盤包括關於滿足進行重新初始化時容易發生錯誤的條件的位置的缺陷信息。
19．根據權利要求18所述的方法，其中，測試盤是使每個區的第一和最後扇區被作為有錯誤扇區對待和在每個區中的總可用扇區數不是16的倍數那樣構成的。
20．根據權利要求1所述的方法，進一步包括將測試基準信息記錄在空白盤上以生成測試盤。
21．根據權利要求20所述的方法，其中，測試基準信息與空白盤的物理條件無關地記錄在空白盤上。
22．一種測試將信息記錄在帶有DMA信息的盤上或從帶有DMA信息的盤上再現信息的記錄和再現設備的DMA信息生成和更新功能的設備，該設備包括基準驅動器，從在記錄和再現設備進行包括清除存在於測試盤上的DMA中的預定缺陷列表在內的重新初始化之後，含有測試基準信息和物理缺陷的測試盤的DMA中生成測試信息；和校核器，將從測試基準信息中預期的基準信息與測試信息進行比較以提供校核測試信息的結果。
23．根據權利要求22所述的設備，其中，基準驅動器從對其進行沒有認證的重新初始化的測試盤中生成測試信息。
24．根據權利要求22所述的設備，其中，測試基準信息是鏡像文件。
25．根據權利要求22所述的設備，其中，測試基準信息是包括數種類型缺陷列表的DMA鏡像文件。
26．根據權利要求25所述的設備，其中，記錄和再現設備進行包括清除預定缺陷列表在內的重新初始化，由記錄和再現設備清除的預定缺陷列表包括G2-列表和次要缺陷列表(SDL)。
27．根據權利要求26所述的設備，其中，測試信息是鏡像文件。
28．根據權利要求27所述的設備，其中，校核器校驗G2-列表和SDL是否存在於測試信息中。
29．根據權利要求28所述的設備，其中，校核器校驗在測試信息中是否保持包括在測試基準信息中的P-列表和G1-列表。
30．根據權利要求27所述的設備，其中，校核器校核均在測試信息中的DMA結構、盤定義結構(DDS)、主要缺陷列表(PDL)結構和次要缺陷列表(SDL)結構。
31．根據權利要求30所述的設備，其中，校核器通過校驗DMA錯誤狀況、DDS/PDL和SDL更新計數器和DMA的內容校核DMA結構。
32．根據權利要求31所述的設備，其中，校核器校驗錯誤是否存在於四個DMA的任何一個中，這四個DMA是寫入測試盤上的四個位置中的DMA，其中的兩個位於測試盤上的導入區中和其中的兩個位於測試盤上的導出區中，在四個DDS中和在四個SDL中的DDS/PDL更新計數器的值是否是「以前的值」，代表進行包括清除存在於測試盤上的DMA中的預定缺陷列表在內的重新初始化之前和之後在DDS/PDL更新計數器中的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否是「1」,DDS/PDL更新計數器的值是否相同，在四個SDL中的SDL更新計數器的值是否是「以前的值」，代表進行包括清除存在於測試盤上的DMA中的預定缺陷列表在內的重新初始化之前和之後在SDL更新計數器中的差值的SDL更新計數器增量是否是「1」,SDL更新計數器的值是否相同，和四個DMA的內容是否相同。
33．根據權利要求30所述的設備，其中，校核器通過校驗DDS標識符、盤認證標誌、DDS/PDL更新計數器、組數、區數、主要備用區的位置、第一邏輯扇區號的位置、和關於每個區的開始邏輯扇區號校核DDS。
34．根據權利要求33所述的設備，其中，校核器校驗DDS標識符是否是預定值，校驗在盤認證標誌中表示正在進行中的位的值是否是「0b」，表示盤製造商認證的位的值和表示用戶認證的位的值是否是「1b」,DDS/PDL更新計數器值是否是「以前的值」和代表進行包括清除存在於測試盤上的DMA中的預定缺陷列表在內的重新初始化之前和之後在DDS/PDL更新計數器中的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否是「1」，校驗組數、區數、和主要備用區的第一和最後扇區號，和校驗第一邏輯扇區號的位置是否是根據寄存在PDL中的缺陷數確定的和校驗關於每個區的開始邏輯扇區號是否是根據寄存在PDL中的缺陷數確定的。
35．根據權利要求30所述的設備，其中，校核器通過校驗PDL標識符、PDL中入口數、和PDL入口的完整性校驗PDL結構。
36．根據權利要求35所述的設備，其中，校核器校驗PDL標識符和校驗PDL中的入口數是否與寄存在PDL中的缺陷數相同和校驗PDL入口的完整性是否包括P-列表和G1-列表而不包括G2-列表。
37．根據權利要求30所述的設備，其中，校核器通過校驗SDL標識符、SDL更新計數器、次要備用區(SSA)的開始扇區號、總邏輯扇區數、DDL/PDL更新計數器、備用區填滿標誌、SDL中的入口數、SDL入口的完整性、未用區、和保留區校驗SDL結構。
38．根據權利要求37所述的設備，其中，校核器校驗SDL標識符和校驗SDL更新計數器值是否是「以前的值」，SDL更新計數器的增量是否是「1」，DDS/PDL更新計數器值是否是「以前的值」，代表進行包括清除存在於測試盤上的DMA中的預定缺陷列表在內的重新初始化之前和之後在DDS/PDL更新計數器中的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否是「1」,SSA的開始扇區號和總邏輯扇區數是否是根據由用戶指定的SSA的大小適當設置的，備用區填滿標誌是否表示SSA不是填滿的，SDL中的入口數是否被設置成表示沒有入口存在的「00h」，在SDL入口上是否沒有信息存在，SDL的未用區的大小和未用區是否是預定值，和保留區是否是預定值。
39．根據權利要求22所述的設備，其中，測試盤包括關於滿足進行重新初始化時容易發生錯誤的條件的位置的缺陷信息。
40．根據權利要求22所述的設備，其中，基準驅動器將測試基準信息記錄在空白盤上以生成測試盤。
41．根據權利要求40所述的設備，其中，基準驅動器將測試基準信息與空白盤的物理條件無關地記錄在空白盤上。
42．一種校核在將信息記錄在帶有DMA信息的光碟上或從帶有DMA信息的光碟上再現信息的記錄和再現設備中是否適當地生成和更新缺陷管理區(DMA)信息的方法，該方法包括根據包括清除存在於測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化設置測試基準根據包括清除存在於測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化，從由記錄和再現設備生成或更新的DMA信息生成測試信息；和執行利用測試基準校核測試信息的測試。
43．根據權利要求42所述的方法，其中，測試信息是DMA鏡像文件。
44．根據權利要求42所述的方法，其中，測試信息是直接從測試盤上的DMA區中讀取的。
45．根據權利要求42所述的方法，其中，生成測試信息包括記錄DMA的預定內容和選擇其中輔助備用區沒有填滿的DMA鏡像文件。
46．根據權利要求45所述的方法，進一步包括通過在空白盤上製作已知物理缺陷獲得第一測試盤；和通過在第一測試盤中記錄DMA的預定內容，和在第一測試盤中記錄表示輔助備用區沒有填滿的DMA鏡像文件獲得第二測試盤，和在生成測試信息的過程中使用第二測試盤。
47．根據權利要求46所述的方法，其中執行測試包括進行帶有清除缺陷列表的重新初始化，校驗第二測試盤的DMA信息是否遵從預定的DMA結構，校驗是否保持P-列表和G1-列表，校驗是否清除了G2-列表和次要缺陷列表(SDL)，和校驗第二測試盤的每個區的開始邏輯扇區號。
48．一種校核在將信息記錄在帶有DMA信息的光碟上或從帶有DMA信息的光碟上再現信息的記錄和再現設備中是否適當地生成和更新缺陷管理區(DMA)信息的方法，該方法包括根據包括清除存在於測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化的測試模式，從由記錄和再現設備生成或更新的DMA信息生成測試信息；和利用用於校核DMA信息的測試基準校核測試信息。
49．根據權利要求42所述的方法，其中，測試信息是DMA鏡像文件。
50．一種測試將信息記錄在帶有缺陷管理區(DMA)信息可記錄和可再現光碟上或從該光碟上再現信息的記錄和再現設備以校驗是否適當地生成和更新缺陷管理區(DMA)信息的設備，該設備包括修改的驅動器單元，從記錄和再現設備進行與包括清除存在於測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化相對應的、包括清除存在於含有DMA鏡像文件的測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化之後獲得的測試盤的生成或更新的DMA信息中生成測試信息；和校核器，將測試信息與對應於包括清除存在於測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化的預定測試信息相比較以校核測試結果。
51．根據權利要求50所述的設備，其中，測試信息是DMA鏡像文件。
52．根據權利要求50所述的設備，其中，修改的驅動器單元從測試盤上的DMA區讀取測試信息並將測試信息提供給校核器。
53．根據權利要求52所述的設備，其中，測試盤是將DMA的預定內容記錄在在空白盤上形成已知物理缺陷和輔助備用區沒有填滿的DMA鏡像文件記錄在上面的第一測試盤中獲得的第二測試盤。
54．根據權利要求53所述的設備，其中，記錄和再現設備進行包括清除存在於測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化，和校核器校驗第二測試盤的DMA信息是否遵從預定的DMA結構，校驗是否保持P-列表和G1-列表，校驗是否清除了G2-列表和次要缺陷列表(SDL)，和校驗第二測試盤的每個區的開始邏輯扇區號。
55．一種校核記錄和再現設備是否適當地讀取和處理缺陷管理區(DMA)信息的方法，該方法包括利用記錄和再現設備進行包括清除存在於包含預定缺陷信息的測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化以生成測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較以確定記錄和再現設備的校核。
56．根據權利要求55所述的方法，進一步包括在空白盤中的預定位置上製作已知物理缺陷，以產生第一測試盤；通過將DMA的預定內容記錄在第一測試盤中，和將表示輔助備用區沒有填滿的鏡像文件記錄在第一測試盤中獲得第二測試盤；讓記錄和再現設備進行包括清除存在於第二測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化，以生成帶有DMA信息的第二測試盤；和利用基準驅動器從帶有DMA信息的第二測試盤中只讀取DMA信息，產生測試DMA鏡像文件作為測試信息；其中，基準測試信息是基準DMA鏡像文件。
57．根據權利要求56所述的方法，其中，相比較包括校驗第二測試盤的DMA信息是否遵從預定的DMA結構，校驗是否保持P-列表和G1-列表，校驗是否清除了G2-列表和次要缺陷列表(SDL)，和校驗第二測試盤的每個區的開始邏輯扇區號。
58．一種校核記錄和再現設備是否適當地解譯和處理缺陷信息的方法，該方法包括準備含有已知物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤；根據讓記錄和再現設備進行包括清除存在於測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化生成測試信息；和根據測試信息實施校核測試。
59．根據權利要求58所述的方法，其中，測試基準DMA鏡像文件包括關於集中在第一邏輯扇區應該在的位置處的物理扇區附近的缺陷的信息。
60．根據權利要求59所述的方法，其中，測試基準DMA鏡像文件包括被作為有錯誤扇區對待的每個區的第一和最後扇區，和有缺陷扇區是使每個區中可用扇區總數不是16的倍數那樣設置的。
61．一種校核記錄和再現設備是否適當地讀取和處理缺陷管理區(DMA)信息的方法，該方法包括利用記錄和再現設備進行包括清除存在於含有已知物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化以生成DMA信息；從生成的DMA信息中生成測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較以確定記錄和再現設備的校核。
62．根據權利要求61所述的方法，其中，測試基準DMA鏡像文件包括關於集中在第一邏輯扇區應該在的位置處的物理扇區附近的缺陷的信息。
63．根據權利要求62所述的方法，其中，測試基準DMA鏡像文件包括被作為有錯誤扇區對待的每個區的第一和最後扇區，和有缺陷扇區是使每個區中可用扇區總數不是16的倍數那樣設置的。
64．根據權利要求59所述的方法，其中，相比較包括校驗構成測試信息的DMA的結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)結構和次要缺陷列表(SDL)結構。
65．由記錄和再現設備利用下列過程適當生成的DMA信息利用記錄和再現設備進行包括清除存在於含有已知物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化以生成DMA信息；從生成的DMA信息中生成測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較以確定記錄和再現設備的校核。
66．根據權利要求65所述的DMA信息，其中，測試基準DMA鏡像文件包括關於集中在第一邏輯扇區應該在的位置處的物理扇區附近的缺陷的信息。
67．根據權利要求66所述的DMA信息，其中，測試基準DMA鏡像文件包括被作為有錯誤扇區對待的每個區的第一和最後扇區，和有缺陷扇區是使每個區中可用扇區總數不是16的倍數那樣設置的。
68．根據權利要求65所述的DMA信息，其中，相比較包括校驗構成測試信息的DMA的結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)結構和次要缺陷列表(SDL)結構。
69．一種根據下列過程校核的記錄和再現設備利用該記錄和再現設備進行包括清除存在於含有已知物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化以生成DMA信息；從生成的DMA信息中生成測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較以確定記錄和再現設備的校核。
70．根據權利要求69所述的記錄和再現設備，其中，測試基準DMA鏡像文件包括關於集中在第一邏輯扇區應該在的位置處的物理扇區附近的缺陷的信息。
71．根據權利要求70所述的記錄和再現設備，其中，測試基準DMA鏡像文件包括被作為有錯誤扇區對待的每個區的第一和最後扇區，和有缺陷扇區是使每個區中可用扇區總數不是16的倍數那樣設置的。
72．根據權利要求69所述的記錄和再現設備，其中，相比較包括校驗構成測試信息的DMA的結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)結構和次要缺陷列表(SDL)結構。
73．一種根據下列過程校核的記錄和再現設備利用該記錄和再現設備進行包括清除存在於含有已知物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化以生成DMA信息；和將測試信息與基準測試信息相比較以確定記錄和再現設備的校核。
74．根據權利要求73所述的記錄和再現設備，其中，測試基準DMA鏡像文件包括關於集中在第一邏輯扇區應該在的位置處的物理扇區附近的缺陷的信息。
75．根據權利要求74所述的記錄和再現設備，其中，測試基準DMA鏡像文件包括被作為有錯誤扇區對待的每個區的第一和最後扇區，和有缺陷扇區是使每個區中可用扇區總數不是16的倍數那樣設置的。
76．根據權利要求73所述的記錄和再現設備，其中，相比較包括校驗構成測試信息的DMA的結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)結構和次要缺陷列表(SDL)結構。
77．一種測試將信息記錄在帶有缺陷管理區信息的可記錄可再現光碟上或從帶有缺陷管理區信息的可記錄可再現光碟上再現信息的記錄和再現設備以校驗是否適當地生成DMA信息的設備，該設備包括修改的驅動器，根據由再現裝置利用記錄和再現設備進行包括清除存在於含有已知物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化以生成DMA信息生成的測試盤的DMA信息，生成測試信息；和校核器，將測試信息與基準測試信息相比較以確定記錄和再現設備的校核。
78．根據權利要求77所述的設備，其中，修改的驅動器從帶有DMA信息的測試盤中只讀取DMA信息，生成DMA鏡像文件作為測試信息；其中，基準測試信息是基準DMA鏡像文件。
79．根據權利要求77所述的設備，其中，修改的驅動器通過將DMA的預定內容記錄在含有已知物理缺陷的第一測試盤上，和將表示輔助備用區沒有填滿的測試基準DMA鏡像文件記錄在該第一測試盤中生成第二測試盤；記錄和再現設備進行包括清除存在於第二測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化，生成帶有DMA信息的第二測試盤；和修改的驅動器從帶有DMA信息的第二測試盤中只讀取DMA信息，生成測試DMA鏡像文件作為測試信息；其中，基準測試信息是基準DMA鏡像文件。
80．根據權利要求79所述的設備，其中，記錄和再現設備進行包括清除存在於第二測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化，和校核器校驗第二測試盤的DMA信息是否遵從預定的DMA結構，校驗是否保持P-列表和G1-列表，校驗是否清除了G2-列表和次要缺陷列表(SDL)，和校驗第二測試盤的每個區的開始邏輯扇區號。
81．根據權利要求77所述的設備，其中，校核器通過校驗構成測試信息的DMA的結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)結構和次要缺陷列表(SDL)結構比較測試信息和基準測試信息。
82．根據權利要求77所述的設備，其中，測試基準DMA鏡像文件包括關於集中在第一邏輯扇區應該在的位置處的物理扇區附近的缺陷的信息。
83．根據權利要求82所述的設備，其中，測試基準DMA鏡像文件包括被作為有錯誤扇區對待的每個區的第一和最後扇區，和有缺陷扇區是使每個區中可用扇區總數不是16的倍數那樣設置的。
84．根據權利要求50所述的設備，進一步包括DMA鏡像文件提供器，用於將基準文件提供給校核器使其比較測試信息和基準測試信息。
85．根據權利要求68所述的設備，進一步包括DMA鏡像文件提供器，用於將基準測試信息提供給校核器使其比較DMA鏡像文件和基準DMA鏡像文件。
86．一種製造順從性記錄和再現設備的方法，該方法包括製造更新和生成缺陷管理區(DMA)信息的不認證記錄和再現設備；和校核不認證記錄和再現設備是否遵從一種標準，所述校核包括利用記錄和再現設備進行包括清除存在於包含預定缺陷信息和測試基準DMA信息的測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化以生成測試信息，和將測試信息與基準測試信息相比較以確定記錄和再現設備的校核，和表示不認證記錄和再現設備遵從該標準的校核。
87．根據權利要求86所述的方法，其中，相比較包括校驗構成測試信息的DMA的結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)結構和次要缺陷列表(SDL)結構。
88．一種用於針對光碟記錄和再現信息的盤記錄和再現設備，該設備包括發射光的光源；將光聚焦在光碟上以記錄和再現信息的聚焦部件；和控制所述光源的控制器，所述控制器通過下列過程得到校核以更新和生成缺陷管理區(DMA)信息利用記錄和再現設備進行包括清除存在於包含預定缺陷信息和測試基準DMA信息的測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化以生成測試信息，和將測試信息與基準測試信息相比較以確定記錄和再現設備的校核。
89．根據權利要求88所述的盤記錄和再現設備，其中，相比較包括校驗構成測試信息的DMA的結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)結構和次要缺陷列表(SDL)結構。
90．一種用於針對光碟記錄和再現信息的盤記錄和再現設備，該設備包括發射光的光源；將光聚焦在光碟上以記錄和再現信息的聚焦部件；和控制所述光源的控制器，在進行包括對光碟予以認證在內的重新初始化之後更新和生成缺陷管理區信息，以便該缺陷管理區信息遵從一種標準。
91．根據權利要求90所述的盤記錄和再現設備，其中，控制器校驗構成測試信息的DMA的結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)結構和次要缺陷列表(SDL)結構。
92．根據權利要求13所述的方法，其中校核DDS進一步包括校核其餘的保留區是否具有預定值。
93．根據權利要求15所述的方法，其中校核PDL進一步包括校核未用區是否具有預定值。
94．根據權利要求50所述的設備，其中，DMA鏡像文件包括帶有關於盤製造商定義的有缺陷扇區的信息的P-列表、帶有關於在測試盤認證期間檢測到的有缺陷扇區的信息的G1-列表、和帶有關於沒有認證移到SDL的有缺陷扇區的信息的G2-列表。
95．根據權利要求58所述的方法，其中，測試基準DMA鏡像文件包括帶有關於盤製造商定義的有缺陷扇區的信息的P-列表、帶有關於在測試盤認證期間檢測到的有缺陷扇區的信息的G1-列表、和帶有關於沒有認證移到SDL的有缺陷扇區的信息的G2-列表。
96．根據權利要求65所述的DMA信息，其中，測試基準DMA鏡像文件包括帶有關於盤製造商定義的有缺陷扇區的信息的P-列表、帶有關於在測試盤認證期間檢測到的有缺陷扇區的信息的G1-列表、和帶有關於沒有認證移到SDL的有缺陷扇區的信息的G2-列表。
97．根據權利要求69所述的記錄和再現設備，其中，測試基準DMA鏡像文件包括帶有關於盤製造商定義的有缺陷扇區的信息的P-列表、帶有關於在測試盤認證期間檢測到的有缺陷扇區的信息的G1-列表、和帶有關於沒有認證地移到SDL的有缺陷扇區的信息的G2-列表。
98．根據權利要求73所述的記錄和再現設備，其中，測試基準DMA鏡像文件包括帶有關於盤製造商定義的有缺陷扇區的信息的P-列表、帶有關於在測試盤認證期間檢測到的有缺陷扇區的信息的G1-列表、和帶有關於沒有認證移到SDL的有缺陷扇區的信息的G2-列表。
99．根據權利要求77所述的設備，其中，測試基準DMA鏡像文件包括帶有關於盤製造商定義的有缺陷扇區的信息的P-列表、帶有關於在測試盤認證期間檢測到的有缺陷扇區的信息的G1-列表、和帶有關於沒有認證地移到SDL的有缺陷扇區的信息的G2-列表。
100．根據權利要求42所述的方法，其中生成測試信息包括根據包括清除存在於測試盤上的缺陷列表在內的重新初始化生成測試信息；和校核包括校核寄存在主要缺陷列表(PDL)的G2-列表中的缺陷信息和寄存在次要缺陷列表(SDL)中的缺陷信息是否在包括清除缺陷列表在內的重新初始化之後被處理掉。
101．根據權利要求50所述的記錄和再現設備，其中，記錄和再現設備進行包括清除缺陷列表在內的重新初始化，和校核器校核寄存在主要缺陷列表(PDL)的G2-列表中的缺陷信息和寄存在次要缺陷列表(SDL)中的缺陷信息是否在包括清除缺陷列表在內的重新初始化之後被處理掉了。
102．根據權利要求65所述的DMA信息，其中進行重新初始化包括進行包括清除缺陷列表在內的重新初始化；和校核包括校核寄存在主要缺陷列表(PDL)的G2-列表中的缺陷信息和寄存在次要缺陷列表(SDL)中的缺陷信息是否在包括清除缺陷列表在內的重新初始化之後被處理掉了。
103．根據權利要求86所述的信息，其中進行重新初始化包括進行包括清除缺陷列表在內的重新初始化；和校核包括校核寄存在主要缺陷列表(PDL)的G2-列表中的缺陷信息和寄存在次要缺陷列表(SDL)中的缺陷信息是否在包括清除缺陷列表在內的重新初始化之後被處理掉了。
104．根據權利要求42所述的方法，其中，包括清除缺陷列表在內的重新初始化是沒有認證地進行的。
105．根據權利要求50所述的記錄和再現設備，其中，包括清除缺陷列表在內的重新初始化是沒有認證地進行的。
106．根據權利要求65所述的DMA信息，其中，包括清除缺陷列表在內的重新初始化是沒有認證地進行的。
107．根據權利要求86所述的方法，其中，包括清除缺陷列表在內的重新初始化是沒有認證地進行的。
全文摘要
一種校核當盤記錄和再現設備進行清除存在於測試盤上的缺陷管理區中的預定缺陷列表而沒有認證的重新初始化時正常生成或更新DMA信息的方法測試設備。包括:在利用含有測試基準信息的測試盤的記錄和再現設備中進行清除存在於測試盤上的DMA中的預定缺陷列表的重初始化,並從重初始化後生成的DMA信息生成測試信息;將從測試基準信息中預期的基準信息與測試信息比較提供測試信息校核結果。因此用戶可短時間內校核給定盤記錄和再現設備在重初始化模式中正確生成或更新DMA信息。
文檔編號G11B20/10GK1321976SQ01116269
公開日2001年11月14日 申請日期2001年4月9日 優先權日2000年4月8日
發明者高禎完, 鄭鉉權 申請人:三星電子株式會社