一種對pogopin電氣性能進行測試的方法及裝置製造方法

2023-07-25 02:28:46

一種對pogo pin電氣性能進行測試的方法及裝置製造方法
【專利摘要】本發明公開了一種對pogo?pin電氣性能進行測試的方法及裝置，本發明的裝置包括上PCB夾板、下PCB夾板、pogopin、測試設備以及用於消除上PCB夾板和下PCB夾板影響的PCB校驗板，所述上PCB夾板通過pogopin與下PCB夾板連接，所述上PCB夾板和下PCB夾板均還與測試設備連接。本發明的裝置解決了現有技術無法準確對pogopin進行電氣性能測試的問題，可以很方便地對pogopin的電氣性能參數進行測試，使我們更加準確和快速地知道pogopin本身的電氣性能，從而能使pogopin更好應用於IC的測試。本發明可廣泛應用於集成電路測試領域。
【專利說明】—種對pogo pin電氣性能進行測試的方法及裝置
【技術領域】
[0001]本發明涉及集成電路測試領域，尤其是一種對pogo pin電氣性能進行測試的方法
及裝置。
【背景技術】
[0002]pogo pin (探針式連接器)是一種應用於手機等電子產品中的精密連接器，廣泛應用於半導體設備中，起連接作用。
[0003]隨著電子行業的發展，各種電路都趨於採用集成化的方式，IC的封裝也越來越小。在集成電路行業，經常需要進行IC電氣性能的測試，以判斷IC的好壞，這時為了測試方便就會用到pogo pin。然而,pogo pin的性能在一定程度上會影響到IC測試結果的正確性，因此在測試前需要清楚而準確地知道pogo pin本身的性能參數(包括結構、使用性能和電氣性能參數)。目前，業內僅能對pogo pin進行結構和使用性能方面進行測試，而無法對pogo pin進行電氣性能測試(因為pogo pin的體積小,很少有電氣測試設備能直接接到pogo pin的針腳上)。因此,在對IC進行電氣性能測試時,有時候可能是由於pogo pin的電氣性能不好而導致測試結果不準確，使好的IC測試出來的電性能卻是不好的。
[0004]綜上所述，業界亟需一種能準確對pogo pin進行電氣性能測試的方法及裝置。

【發明內容】

[0005]為了解決上述技術問題，本發明的目的是:提供一種準確、方便和快速的，對pogopin電氣性能進行測試的方法。
[0006]本發明的另一目的是:提供一種準確、方便和快速的，對pogo pin電氣性能進行測試的裝置。
[0007]本發明解決其技術問題所採用的技術方案是:一種對pogo pin電氣性能進行測試的方法，包括:
A、設計與上PCB夾板和下PCB夾板相對應的PCB校驗板；
B、對PCB校驗板進行TRL校準，從而將上PCB夾板和下PCB夾板的電氣性能參數歸零；
C、對由pogopin、上PCB夾板和下PCB夾板組成的待測試模塊進行電氣性能測試，從而得到pogo pin的電氣性能參數,所述上PCB夾板通過pogo pin與下PCB夾板連接。
[0008]進一步，所述步驟B,其具體為:
通過網絡分析儀的TRL設置對PCB校驗板的每一項電氣性能參數進行校驗，從而將上PCB夾板和下PCB夾板的電氣性能參數歸零。
[0009]進一步，所述電氣性能參數包括頻率、相位、阻抗、時延和損耗。
[0010]本發明解決其技術問題所採用的另一技術方案是:
一種對pogo pin電氣性能進行測試的裝置,包括上PCB夾板、下PCB夾板、pogo pin、測試設備以及用於消除上PCB夾板和下PCB夾板影響的PCB校驗板，所述上PCB夾板通過pogo pin與下PCB夾板連接，所述上PCB夾板和下PCB夾板均還與測試設備連接。[0011]進一步，所述上PCB夾板和下PCB夾板均設置有與測試設備連接的SAM頭。
[0012]進一步，所述PCB校驗板還連接有用於進行TRL校驗設置的網絡分析儀。
[0013]進一步,所述PCB校驗板上設置有一根Thru線、兩根Load線、四跟match線和一根Open線。
[0014]本發明的方法的有益效果是:基於高精度的TRL去嵌技術，解決了現有技術無法準確對pogo pin進行電氣性能測試的問題,可以很方便地對pogo pin的電氣性能參數進行測試，使我們更加準確和快速地知道pogo pin本身的電氣性能,從而能使pogo pin更好應用於IC的測試。
[0015]本發明的裝置的有益效果是:包括上PCB夾板、下PCB夾板、pogo pin、測試設備以及用於消除上PCB夾板和下PCB夾板影響的PCB校驗板，解決了現有技術無法準確對pogopin進行電氣性能測試的問題，可以很方便地對pogo pin的電氣性能參數進行測試，使我們更加準確和快速地知道pogo pin本身的電氣性能,從而能使pogo pin更好應用於IC的測試。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]下面結合附圖和實施例對本發明作進一步說明。
[0017]圖1為本發明一種對pogo pin電氣性能進行測試的方法的步驟流程圖；
圖2為本發明一種對pogo pin電氣性能進行測試的裝置的結構示意圖。
[0018]附圖標記:1、上PCB 夾板；2、下 PCB 夾板；3、pogo pin ;4、SAM 頭。
【具體實施方式】
[0019]參照圖1, 一種對pogo pin電氣性能進行測試的方法,包括:
A、設計與上PCB夾板和下PCB夾板相對應的PCB校驗板；
B、對PCB校驗板進行TRL校準，從而將上PCB夾板和下PCB夾板的電氣性能參數歸零；
C、對由pogopin、上PCB夾板和下PCB夾板組成的待測試模塊進行電氣性能測試，從而得到pogo pin的電氣性能參數,所述上PCB夾板通過pogo pin與下PCB夾板連接。
[0020]本發明將現有的高精度TRL去嵌技術應用到pogo pin的電氣性能測試參數上,通過對PCB校驗板進行TRL校驗，將上PCB夾板和下PCB夾板的電氣性能參數歸零。TRL校驗校準後，再通過測試設備對測試待測模塊進行電氣性能參數進行測試，就相當於直接從pogo pin的位置開始算起，此時，測試設備得到的值即為pogo pin的電氣性能參數(因上PCB夾板和下PCB夾板的電氣性能參數已歸零)。
[0021]進一步作為優選的實施方式，所述步驟B，其具體為:
通過網絡分析儀的TRL設置對PCB校驗板的每一項電氣性能參數進行校驗，從而將上PCB夾板和下PCB夾板的電氣性能參數歸零。
[0022]參照圖2，進一步作為優選的實施方式，所述步驟C，其包括:
Cl、採用網絡分析儀對PCB校驗板進行TRL校準，從而得到上PCB夾板和下PCB夾板的電氣性能測試參數以及測量誤差；
C2、根據上PCB夾板和下PCB夾板的電氣性能測試參數、測量誤差與待測模塊的電氣性能測試結果計算出pogo pin的電氣性能參數。[0023]其中，網絡分析儀，用於對PCB校驗板進行TRL設置，從而對PCB校驗板的每一項參數進行TRL校驗。而PCB校驗板是根據上PCB夾板和下PCB夾板而設計的，因此，TRL校準完成後，PCB校驗板的每一項參數歸零即上PCB夾板和下PCB夾板的電氣性能參數歸零。
[0024]進一步作為優選的實施方式,所述電氣性能參數包括頻率、相位、阻抗、時延和損耗。
[0025]參照圖2，一種對pogo pin電氣性能進行測試的裝置，包括上PCB夾板1、下PCB夾板2、pogo pin 3、測試設備以及用於消除上PCB夾板I和下PCB夾板2影響的PCB校驗板，所述上PCB夾板I通過pogo pin3與下PCB夾板2連接，所述上PCB夾板I和下PCB夾板2均還與測試設備連接。
[0026]其中，上PCB夾板和下PCB夾板，用於將pogo pin夾在塊夾板的中間。
[0027]測試設備，用於對由上PCB夾板、pogo pin和下PCB夾板構成的待測試模塊的電氣性能進行測試，從而得到待測試模塊的電氣性能參數。
[0028]經過PCB校驗板消除上PCB夾板和下PCB夾板影響(即對上PCB夾板和下PCB夾板的電氣性能參數進行歸零)後，再通過測試設備對待測試模塊進行測試，測試得到的結果即為pogo pin的電氣性能參數。
[0029]參照圖2，進一步作為優選的實施方式，所述上PCB夾板I和下PCB夾板2均設置有與測試設備連接的SAM頭4。
[0030]參照圖2，進一步作為優選的實施方式，所述PCB校驗板還連接有用於進行TRL校驗設置的網絡分析儀。
[0031]其中，網絡分析儀，用於通過其上的TRL設置按鈕對PCB校驗板進行TRL設置，對PCB校驗板的每一項參數進行TRL校驗，從而上PCB夾板和下PCB夾板的電氣性能參數進行歸零。
[0032]進一步作為優選的實施方式，所述PCB校驗板上設置有一根Thru線、兩根Load線、四跟match線和一根Open線。
[0033]其中，PCB校驗板會經過TRL校準而把測試的誤差項(即上PCB夾板和下PCB夾板的電氣性能參數)計算掉，TRL校準的過程中會測算三組數據，THRU、REFLECT和Match。THRU就是Thru線的數據，REFLECT指的是open線的數據，Match指的是load、IineU line2和line3線的數據。load針對的是低頻段的校驗,而高頻段則用Iinel、line2、line3來校驗，只需保證每一段的最高頻率與最低頻率之比小於8即可。具體的TRL校準處理過程為:通過網絡分析儀中的TRL校驗設置按鈕，對PCB校驗板上的每一項進行測試校驗。因為PCB校驗板是按照上PCB夾板和下PCB夾板進行設計的，所以通過對校驗板的每項參數的校驗之後，再通過測試設備測試待測模塊時，就相當於測試設備的測試探頭直接連接在pogo pin上，這樣得到的值就是pogo pin的電氣性能參數。
[0034]本發明與現有技術相比，通過採用高精度的TRL去嵌技術和PCB校驗板，消除上PCB夾板和下PCB夾板影響，從而能準確、快速和方便地得到pogo pin的電氣性能參數，解決了現有技術無法準確對pogo pin進行電氣性能測試的問題,更方便了 pogo pin在IC電氣性能測試上的應用。使用本發明的測試裝置和測試方法後，相關工作人員能夠很方便、快速、準確和直觀地得到pogo pin本身的電氣性能參數。
[0035]以上是對本發明的較佳實施進行了具體說明，但本發明創造並不限於所述實施例，熟悉本領域的技術人員在不違背本發明精神的前提下還可做作出種種的等同變形或替換，這些等同的變形或替換均包含在本申請權利要求所限定的範圍內。
【權利要求】
1.一種對pogo pin電氣性能進行測試的方法,其特徵在於:包括: A、設計與上PCB夾板和下PCB夾板相對應的PCB校驗板； B、對PCB校驗板進行TRL校準，從而將上PCB夾板和下PCB夾板的電氣性能參數歸零； C、對由pogopin、上PCB夾板和下PCB夾板組成的待測試模塊進行電氣性能測試，從而得到pogo pin的電氣性能參數,所述上PCB夾板通過pogo pin與下PCB夾板連接。
2.根據權利要求1所述的一種對pogopin電氣性能進行測試的方法，其特徵在於:所述步驟B，其具體為: 通過網絡分析儀的TRL設置對PCB校驗板的每一項電氣性能參數進行校驗，從而將上PCB夾板和下PCB夾板的電氣性能參數歸零。
3.根據權利要求1或2所述的一種對pogopin電氣性能進行測試的方法，其特徵在於:所述電氣性能參數包括頻率、相位、阻抗、時延和損耗。
4.一種對pogo pin電氣性能進行測試的裝置，其特徵在於:包括上PCB夾板(I)、下PCB夾板(2)、pogo pin (3)、測試設備以及用於消除上PCB夾板(I)和下PCB夾板(2)影響的PCB校驗板，所述上PCB夾板(I)通過pogo pin (3)與下PCB夾板(2)連接，所述上PCB夾板(I)和下PCB夾板(2)均還與測試設備連接。
5.根據權利要求4所述的一種對pogopin電氣性能進行測試的裝置，其特徵在於:所述上PCB夾板(I)和下PCB夾板(2)均設置有與測試設備連接的SAM頭(4)。
6.根據權利要求4所述的一種對pogopin電氣性能進行測試的裝置，其特徵在於:所述PCB校驗板還連接有用於進行TRL校驗設置的網絡分析儀。
7.根據權利要求4-6任一項所述的一種對pogopin電氣性能進行測試的裝置，其特徵在於:所述PCB校驗板上設置有一根Thru線、兩根Load線、四跟match線和一根Open線。
【文檔編號】G01R31/00GK103954854SQ201410038669
【公開日】2014年7月30日 申請日期:2014年1月26日 優先權日:2014年1月26日
【發明者】蔣修國, 談炯堯, 鄧寶明 申請人:深圳市興森快捷電路科技股份有限公司, 廣州興森快捷電路科技有限公司, 宜興矽谷電子科技有限公司