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N型雙面電池的雙面擴散方法

2023-07-20 05:29:41

專利名稱:N型雙面電池的雙面擴散方法
技術領域:
本發明涉及一種N型雙面電池的雙面擴散方法。
背景技術:
N型雙面電池需要對矽襯底進行雙面摻雜,目前太陽能電池生產中主要利用氣態磷源、硼源作為摻雜源,在n型矽襯底的兩面分別形成n+層、p+層,其中摻P或摻B的先後順序因具體工藝路線而有所不同。以先摻B為例,在完成單面摻雜形成p+層後,現有工藝主要採用熱氧化生長的Si02薄膜作為摻P面的擴散阻擋層。但是這一方法涉及高溫過程, 熱氧化的溫度高達1000°C以上,同時氧化時間應不少於30min以形成厚度約IOOnm的Si02 薄膜。此高溫過程易導致P+層的擴散曲線發生改變,如表面摻雜濃度的降低,結深的增加, 導致電池的串聯電阻增加,電接觸性能下降;同時高溫過程易導致矽襯底的雜質濃度增加, 電池的體複合隨之加劇,最終表現為開路電壓和整體效率的下降。

發明內容
本發明所要解決的技術問題是提供一種N型雙面電池的雙面擴散方法,避免傳統工藝中採用熱氧化Si02薄膜作為擴散阻擋層時所經歷的高溫過程,保證一次擴散曲線及矽襯底的雜質濃度不變。本發明解決其技術問題所採用的技術方案是一種N型雙面電池的雙面擴散方法,N型矽襯底的兩面通過兩次擴散,在N型矽襯底的兩面分別形成n+層和p+層,在N型矽襯底的上表面通過第一次擴散工藝在N型矽襯底的一面形成n+層或p+層後,通過LPCVD雙面沉積SiN薄膜;接著在已經形成擴散層的上表面通過PECVD的方法單面沉積Si02薄膜; 之後利用熱磷酸對SiN、Si02進行薄膜選擇性刻蝕,去除下表面的SiN薄膜;接著對矽片進行清洗後完成對下表面的擴散。進一步限定,利用LPCVD雙面沉積一層厚度範圍為20-30nm的SiN薄膜,沉積溫度為 700-800°C,反應壓強為 0. 2-0. 5mtorr,時間為 5-lOmin。進一步限定,通過PECVD的方法沉積一層厚度為15-20nm的Si02薄膜,沉積溫度為 300-400°C,反應壓強為 0. 15-0. 20mbar,功率為 1000_1200w。進一步限定,通過將娃片浸泡於155_165°C左右的熱磷酸中5_15min,去除下表面的SiN薄膜。進一步限定,N型矽襯底先進行B擴散時,具體步驟為I)首先通過氣態B源高溫擴散工藝實現p+層的摻雜,並通過溼法刻蝕的方法去除表面的硼矽玻璃、背面p-n結,同時完成刻邊,至此完成了 N型電池的第一次擴散;2)隨後利用LPCVD雙面沉積一層厚度範圍為20-30nm的SiN薄膜,沉積溫度為 700-800°C,反應壓強為 0. 2-0. 5mtorr,時間為 5-lOmin ; 3)接著在擴B面通過PECVD的方法沉積一層厚度為15-20nm的Si02薄膜,沉積溫度為 300-400°C,反應壓強為 0. 15-0. 20mbar,功率為 1000_1200w ;
4)之後利用熱磷酸對SiN、Si02薄膜進行選擇性刻蝕,將矽片浸泡於160°C的熱磷酸中5-15min,去除下表面的SiN薄膜;5)對矽片進行RCA清洗後完成對下表面的P擴散,形成n+層;6)通過HF溶液浸泡去除下表面磷矽玻璃及正表面的Si02薄膜,HF溶液濃度為 5%,浸泡時間為5-10min ;7)最後同樣採用熱磷酸浸泡的方法去除正表面的SiN薄膜,N型矽襯底的兩面分別形成n+層、p+層,完成N型雙面電池的擴散工藝。本發明的有益效果是本發明利用高緻密度的LPCVD SiN作為擴散阻擋層實現N 型電池的雙面擴散,避免了傳統工藝中採用熱氧化Si02薄膜作為擴散阻擋層時所經歷的高溫過程,保證一次擴散曲線及矽襯底的雜質濃度不變,實現了 N型雙面電池良好的電接觸性能,並有效降低電池的體複合速率,表現為電池開路電壓的提升(5-10mV),同時串聯電阻降低5% -10%,最終電池效率提升0. 5% -1.0%。




下面結合附圖和實施例對本發明進一步說明。
圖I是本發明的工藝流程圖2是本發明的N型矽襯底完成第一次擴散後的示意圖3是本發明的N型矽襯底完成LPCVD雙面沉積及PECVD單面沉積後的示意圖; 圖4是本發明的N型矽襯底完成兩次擴散後的示意圖中,I. n+層,2. p+層,3. N型矽襯底,4. SiN薄膜,5. Si02薄膜。
具體實施例方式如圖I所示,一種N型雙面電池的雙面擴散方法,首先在N型矽襯底3的上表面通過第一次擴散工藝在N型矽襯底3的一面形成n+層I或p+層2後,通過LPCVD雙面沉積一層厚度範圍為20-30nm的SiN薄膜4,沉積溫度為700_800°C,反應壓強為0. 2-0. 5mtorr,時間為5-10min ;接著在已經形成擴散層的上表面通過PECVD的方法沉積一層厚度為15_20nm 的Si02薄膜5,沉積溫度為300-400°C,反應壓強為0. 15-0. 20mbar,功率為1000-1200w ;之後利用熱磷酸對SiN、Si02進行薄膜選擇性刻蝕,通過將矽片浸泡於155-165°C左右的熱磷酸中5-15min,去除下表面的SiN薄膜4 ;接著對矽片進行RCA清洗後完成對下表面的擴散。LPCVD (Low Pressure Chemical Vapor Deposition)方法沉積的 SiN 薄膜 4 具有高緻密度,低針孔率的特點,厚度為20-30nm的LPCVD SiN已經能夠阻擋方阻為50-70ohm/ sq範圍的雜質擴散。利用這一特性將其應用於N型雙面電池第二次擴散的阻擋層,能夠有效避免熱氧化高溫過程對電池接觸性能及開路電壓的影響。如圖2、3、4所示,以先進行B擴散為例,具體步驟為I)首先通過氣態B源高溫擴散工藝實現p+層2的摻雜,並通過溼法刻蝕的方法去除表面的硼矽玻璃、背面P-n結,同時完成刻邊,至此完成了 N型電池的第一次擴散;2)隨後利用LPCVD雙面沉積一層厚度範圍為20_30nm的SiN薄膜4,沉積溫度為 700-800°C,反應壓強為 0. 2-0. 5mtorr,時間為 5-lOmin ;3)接著在擴B面通過PECVD的方法沉積一層厚度為15_20nm的Si02薄膜5,沉積溫度為 300-400°C,反應壓強為 0. 15-0. 20mbar,功率為 1000-1200w ;4)之後利用熱磷酸對SiN薄膜4、Si02薄膜5進行選擇性刻蝕,將矽片浸泡於 160°C的熱磷酸中5-15min,去除下表面的SiN薄膜4 ;5)對矽片進行RCA清洗後完成對下表面的P擴散,形成n+層I ;6)通過HF溶液浸泡去除下表面磷矽玻璃及正表面的Si02薄膜5,HF溶液濃度為 5%,浸泡時間為5-10min ;7)最後同樣採用熱磷酸浸泡的方法去除正表面的SiN薄膜4,N型矽襯底3的兩面分別形成n+層I、p+層2,完成N型雙面電池的擴散工藝。
權利要求
1.一種N型雙面電池的雙面擴散方法,N型娃襯底的兩面通過兩次擴散,在N型娃襯底的兩面分別形成n+層和p+層,其特徵是在N型矽襯底的上表面通過第一次擴散工藝在N 型矽襯底的一面形成n+層或p+層後,通過LPCVD雙面沉積SiN薄膜;接著在已經形成擴散層的上表面通過PECVD的方法單面沉積Si02薄膜;之後利用熱磷酸對SiN、Si02進行薄膜選擇性刻蝕,去除下表面的SiN薄膜;接著對矽片進行清洗後完成對下表面的擴散。
2.根據權利要求I所述的N型雙面電池的雙面擴散方法,其特徵是利用LPCVD 雙面沉積一層厚度範圍為20-30nm的SiN薄膜,沉積溫度為700-800°C,反應壓強為 0. 2-0. 5mtorr,時間為 5-lOmin。
3.根據權利要求I所述的N型雙面電池的雙面擴散方法,其特徵是通過PECVD 的方法沉積一層厚度為15-20nm的Si02薄膜,沉積溫度為300-400 V,反應壓強為 0. 15-0. 20mbar,功率為 1000_1200w。
4.根據權利要求I所述的N型雙面電池的雙面擴散方法,其特徵是通過將矽片浸泡於155-165°C左右的熱磷酸中5-15min,去除下表面的SiN薄膜。
5.根據權利要求I所述的N型雙面電池的雙面擴散方法,其特徵是N型矽襯底先進行 B擴散時,具體步驟為1)首先通過氣態B源高溫擴散工藝實現p+層的摻雜,並通過溼法刻蝕的方法去除表面的硼矽玻璃、背面P_n結,同時完成刻邊,至此完成了 N型電池的第一次擴散;2)隨後利用LPCVD雙面沉積一層厚度範圍為20-30nm的SiN薄膜,沉積溫度為 700-800°C,反應壓強為 0. 2-0. 5mtorr,時間為 5-lOmin ;3)接著在擴B面通過PECVD的方法沉積一層厚度為15-20nm的Si02薄膜,沉積溫度為 300-400°C,反應壓強為 0. 15-0. 20mbar,功率為 1000_1200w ;4)之後利用熱磷酸對SiN、Si02薄膜進行選擇性刻蝕,將矽片浸泡於160°C的熱磷酸中 5-15min,去除下表面的SiN薄膜;5)對矽片進行RCA清洗後完成對下表面的P擴散,形成n+層;6)通過HF溶液浸泡去除下表面磷矽玻璃及正表面的Si02薄膜,HF溶液濃度為5%, 浸泡時間為5-10min ;7)最後同樣採用熱磷酸浸泡的方法去除正表面的SiN薄膜,N型矽襯底的兩面分別形成n+層、p+層,完成N型雙面電池的擴散工藝。
全文摘要
本發明涉及一種N型雙面電池的雙面擴散方法,該方法首先在N型矽襯底的上表面通過第一次擴散工藝在N型矽襯底的一面形成n+層或p+層後,然後通過LPCVD雙面沉積SiN薄膜;接著在已經形成擴散層的上表面通過PECVD的方法單面沉積SiO2薄膜;之後利用熱磷酸去除下表面的SiN薄膜;接著對矽片進行清洗後完成對下表面的擴散。本發明利用高緻密度的LPCVD SiN作為擴散阻擋層實現N型電池的雙面擴散,避免了傳統工藝中採用熱氧化SiO2薄膜作為擴散阻擋層時所經歷的高溫過程,保證一次擴散曲線及矽襯底的雜質濃度不變,實現了N型雙面電池良好的電接觸性能,並有效降低電池的體複合速率。
文檔編號H01L31/18GK102544236SQ20121004331
公開日2012年7月4日 申請日期2012年2月24日 優先權日2012年2月24日
發明者蔡文浩 申請人:常州天合光能有限公司

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