寫遺漏檢測器、寫遺漏檢測方法和計算機產品的製作方法

2023-08-10 20:44:41 1

專利名稱：寫遺漏檢測器、寫遺漏檢測方法和計算機產品的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種用於對在被劃分為多個塊的存儲介質中發生的寫遺 漏進行檢測的技術。
背景技術：
在被劃分為多個塊的通常使用的存儲介質(例如盤)中，寫遺漏的 發生妨礙了對存儲在各塊中的數據的更新，並導致過時的數據仍保留在 該塊中。具體地參照圖ll解釋了寫遺漏的發生原因。如果讀寫頭執行寫 入處理以將更新後的數據寫入到其中存儲了過時數據的塊中時，該讀寫 頭遇到了灰塵顆粒等，則數據未被寫入到該塊中，從而導致過時數據保 留在該塊中。遇到灰塵顆粒的讀寫頭產生振動。於是，不可讀的數據(換 言之，不可恢復的讀取錯誤)被寫入到鄰近塊中。
考慮到這樣的寫遺漏，要執行一種寫遺漏檢測方法來檢測寫遺漏。
例如，在日本專利特開申請2006-252530號中公開了一種常規的寫遺漏檢 測方法。在該常規的寫遺漏檢測方法中，在盤上包括有針對各塊的、其 中存儲了更新數據的歷史塊。當向盤寫入更新數據時，在該歷史塊中存 儲新的更新狀態，還在中央處理單元(CPU)的存儲器中存儲該新的更 新狀態。基於在歷史塊中存儲的更新狀態與在存儲器中存儲的更新狀態 的比較，來檢測寫遺漏。
但是，在該常規技術中，因為在執行寫入處理之後執行檢測寫遺漏 的處理，所以在執行寫入處理時，要檢測所有塊中的寫遺漏，這佔用了 非常多的時間，劣化了處理性能。

發明內容
本發明的目的是至少部分地解決在常規技術中的問題。
根據本發明的一方面，提供了一種寫遺漏檢測器，其對被劃分為多 個塊的存儲介質中的寫遺漏進行檢測，該寫遺漏檢測器包括塊檢測單 元，其檢測錯誤塊，該錯誤塊是包括讀取錯誤的塊；以及寫遺漏檢測單 元，其基於在自所述錯誤塊起的預定範圍內的塊中的數據與在冗餘存儲 介質內部的塊中的數據的比較，來檢測寫遺漏塊。
根據本發明的另一方面，提供了一種寫遺漏檢測方法，對被劃分為 多個塊的存儲介質中的寫遺漏進行檢測，該方法包括第一檢測步驟， 其包括對錯誤塊進行檢測，該錯誤塊是包括讀取錯誤的塊；以及第二檢 測步驟，其包括基於在自所述錯誤塊起的預定範圍內的塊中的數據與在 冗餘存儲介質內部的塊中的數據的比較而檢測寫遺漏塊。
根據本發明的又一方面，提供了一種計算機可讀記錄介質，在該計 算機可讀記錄介質中存儲電腦程式，該電腦程式使計算機來實現上 述方法。
當結合附圖考慮時，通過閱讀以下對當前優選的本發明實施方式的 詳細描述，將更好地理解本發明的上述和其他目的、特性、優點以及技 術和產業意義。


圖1是用於說明根據本發明第一實施方式的裝置適配器的概觀和特 徵的示意圖2是根據該第一實施方式的RAID裝置的框圖3是根據該第一實施方式的裝置適配器的框圖4是用於說明錯誤內容的示例的示意圖5是用於說明寫遺漏檢測處理的示意圖6是用於說明在寫遺漏檢測處理中的診斷跳過的示意圖7是用於說明恢復處理的示意圖8是由根據該第一實施方式的裝置適配器執行的處理操作的流程
圖9是由根據該第一實施方式的裝置適配器執行的寫遺漏檢測處理
操作的流程圖IO是執行寫遺漏檢測程序的計算機的框圖；以及 圖11是用於說明寫遺漏現象的示意圖。
具體實施例方式
下面參照附圖詳細地說明本發明的示例性實施方式。下面說明本發 明併入在裝置適配器中的實施例。
在下面的實施方式中，順序地說明根據本發明第一實施方式的裝置 適配器的概觀、特徵、結構和處理流程，並在最後說明第一實施方式的 效果。如圖1至圖11所示，將裝置適配器稱為DA。
首先，參照圖1說明根據第一實施方式的裝置適配器的概觀和特徵。
使用裝置適配器IO作為根據第一實施方式的寫遺漏檢測器。裝置適
配器10檢測在被劃分為多個塊的盤30中的寫遺漏，該寫遺漏妨礙了對
在各塊中存儲的數據的更新並導致過時數據保留在該塊中。裝置適配器
10可防止在檢測寫遺漏時處理性能劣化。具有冗餘結構的廉價盤冗餘陣 列(RAID)裝置1包括裝置適配器10以及盤30a和30b。
裝置適配器10對包括了被劃分為塊的存儲區的盤30進行控制，並 檢測包括有讀取錯誤的塊(參見圖1的(l))。參照圖l進行說明，在從 盤30b讀取數據時的盤應答過程中，裝置適配器10檢測包括不可恢復讀 取錯誤的塊，該不可恢復讀取錯誤表示該塊為不可讀取的塊。如圖1所 示，包括該含有檢測出的不可恢復讀取錯誤的塊的盤30b被稱為"可疑 盤"，作為可能包括寫遺漏的盤。
接著，裝置適配器IO對在自該包括檢測出的讀取錯誤的塊起的預定 範圍內的塊中的寫遺漏進行檢測(參見圖l的(2))。具體來說，裝置適 配器10讀取這樣的塊中的數據，這些塊位於可疑盤30b中的該包括不可 恢復讀取錯誤的塊的附近。接著，裝置適配器10從冗餘盤30a讀取與包 括不可恢復讀取錯誤的塊對應的塊(在圖1中示出的實施例中的塊"B") 的數據，將讀取的數據與從可疑盤30b讀取的數據進行比較，以檢測寫 遺漏。換言之，如果冗餘盤30a的數據與可疑盤30b的數據不同，則裝
置適配器IO確定該存儲了數據的塊包括寫遺漏，並執行恢復處理。
因而，當執行寫入處理時，裝置適配器io不必檢測所有塊中的寫遺
漏就可檢測出寫遺漏。因此，與前面提到的主要特徵類似，裝置適配器 10可以防止在檢測寫遺漏時處理性能劣化。
下面參照圖2來說明使用在圖1中示出的DA 10的RAID裝置1的 硬體結構的實施例。如圖2所示，RAID裝置1連接到伺服器2。
RAID裝置1包括DA 10、對到路由器(RT) 40的數據傳送執行控 制的控制器模塊(CM) 20、在其中存儲數據的盤30、中繼數據的RT40、 以及對RAID裝置1與伺服器2之間的連接進行控制的通道適配器(CA) 50。該DA 10包括CPU 110、執行串行傳送的光纖通道(FC) 120、以及 其中臨時存儲數據的緩衝器130。 CM20包括CPU210、以及其中存儲讀 取數據和寫入數據的高速緩衝存儲器220。
在從伺服器2接收讀取請求或寫入請求時，RAID裝置1經由RT 40 在CM 20的高速緩衝存儲器220中存儲讀取數據或寫入數據。基於所存 儲的讀取數據或寫入數據，DA 10執行對盤30的讀取或寫入。
參照圖3來說明在圖1中示出的裝置適配器10的結構。如圖3所示， 裝置適配器10包括CM控制接口 11、盤控制接口 12、控制器13和存儲 單元14。裝置適配器10連接到CM20和盤30。下面說明各部件的處理。
CM控制接口 11對在裝置適配器10與連接的CM 20之間進行的、 與各類數據相關的通信進行控制。具體來說，CM控制接口 11從CM20 的高速緩衝存儲器220接收寫入數據、讀取數據或稍後解釋的冗餘數據。
盤控制接口 12對在裝置適配器10與連接的盤30之間進行的、與各 類數據相關的通信進行控制。具體來說，盤控制接口 12進行裝置適配器 10與盤30之間的、與讀取或寫入有關的數據收發。
存儲單元14在其中存儲控制器13執行各種處理所必需的數據和程 序。存儲單元14特別地包括與本發明關係密切的緩衝器14a。緩衝器14a 臨時存儲從盤30讀取的數據。
控制器13包括用於存儲程序和必要數據的內部存儲器，所述程序管 制各種處理順序。控制器13使用這些程序和數據來執行這些處理。控制 器13尤其包括錯誤檢測單元13a、寫遺漏檢測單元13b和恢復單元13c， 這些單元是與本發明密切相關的。錯誤檢測單元13a對應於權利要求中 所描述的"塊檢測單元"，而寫遺漏檢測單元13b對應於權利要求中所描 述的"寫遺漏檢測單元"。
錯誤檢測單元13a檢測包括讀取錯誤的塊。具體來說，如果在從盤 30讀取數據時的盤應答過程中出現錯誤，則錯誤檢測單元13a確定該錯 誤是否為不可恢復的讀取錯誤。如果該錯誤為不可恢復的讀取錯誤，則 錯誤檢測單元13a通知後文中描述的寫遺漏檢測單元13b來在包括該不 可恢復的讀取錯誤的塊的外圍內執行寫遺漏檢測處理。如果該錯誤不是 不可恢復的讀取錯誤，則錯誤檢測單元13a通知後文中描述的恢復單元 13c來根據錯誤內容執行恢復處理。
參照圖4詳細地說明錯誤檢測處理。如圖4所示，在出現諸如在圖 4的(a)中表示的錯誤之類的錯誤時，錯誤檢測單元13a確定該錯誤不 是不可恢復的讀取錯誤。在出現諸如在圖4的(b)中表示的錯誤之類的 錯誤時，錯誤檢測單元13a確定該錯誤是不可恢復的讀取錯誤。換言之， 錯誤檢測單元13a對於錯誤是否是由於這樣的原因而發生進行確定該 原因很可能導致發生寫遺漏(例如，在盤內部浮動的灰塵等)。
返回圖3，寫遺漏檢測單元13b對這樣的塊中的寫遺漏進行檢測， 所述塊為距包括所檢測到的不可恢復的讀取錯誤的塊在由未示出的輸入 單元所設定的預定範圍內的塊。具體來說，在從錯誤檢測單元13a接收 到執行寫遺漏檢測處理的通知時，寫遺漏檢測單元13b檢索CM 20的高 速緩衝存儲器220。接著，寫遺漏檢測單元13b確定前面的塊是否已被診 斷過。
如果前面的塊未被診斷過，則寫遺漏檢測單元13b從高速緩衝存儲 器220讀取在冗餘盤30a中的與可疑盤30b中的前面的塊對應的塊中的 數據，並從緩衝器14a讀取在可疑盤30b中的前面的塊中的數據。如果 前面的塊已被診斷過，則寫遺漏檢測單元13b從高速緩衝存儲器220讀 取冗餘盤30a中的與可疑盤30b中的後續塊對應的塊中的數據，並從緩 衝器14a讀取在可疑盤30b中的後續塊中的數據。
接著，寫遺漏檢測單元13b確定冗餘盤30a的讀取數據是否與可疑 盤30b的讀取數據匹配。如果冗餘盤30a的數據與可疑盤30b的數據不 匹配，則寫遺漏檢測單元13b向稍後描述的恢復單元13c通知該塊包括 寫遺漏。如果冗餘盤30a的數據與可疑盤30b的數據匹配，則寫遺漏檢 測單元13b向恢復單元13c通知該塊不包括寫遺漏。
下面參照圖5和圖6，以具體實施例來說明寫遺漏檢測處理。如圖5 所示，寫遺漏檢測單元13b從CM 20的高速緩衝存儲器220讀取在冗餘 盤30a中的與前面的塊對應的塊中的數據(在圖5中示出的實施例中的 數據"B")，並從DA 10的緩衝器14a讀取前面的塊中的數據(在圖5 中示出的實施例中的數據"Old")。接著，寫遺漏檢測單元13b確定冗餘 盤30a的讀取數據是否與可疑盤30b的讀取數據匹配。如果冗餘盤30a 的讀取數據與可疑盤30b的讀取數據不匹配，則寫遺漏檢測單元13b確 定該塊存儲了包括寫遺漏的數據。
如圖6所示，如果由於讀取錯誤不能讀取在診斷範圍內的塊(在圖 6中示出的實施例中的塊"D")，則寫遺漏檢測單元13b執行診斷跳過， 以從檢測目標中去除該塊，而無需確定冗餘盤30a的數據與可疑盤30b 的數據是否匹配。如果盤30處於退化的狀態(degenerate state)並且不 存在冗餘盤30a，則因為不能執行寫遺漏檢測處理，所以在具有不可恢復 的讀取錯誤的塊的附近中的多個塊中可能包括過時的數據。因而，響應 於對這些塊的讀取請求而返回錯誤應答。
回到圖3，恢復單元13c執行數據的恢復並恢復常態。具體來說，在 從錯誤檢測單元13a接收了根據不可恢復的讀取錯誤之外的錯誤的錯誤 內容來執行恢復處理的通知時，恢復單元13c根據該錯誤內容來執行恢 復處理。此外，在接收了該塊包括寫遺漏的通知時，恢復單元13c將在 可疑盤30b中的包括寫遺漏的塊更新為冗餘盤30a的相應塊。
在更新了包括寫遺漏的塊之後或在接收了該塊不包括寫遺漏的通知 之後，恢復單元13c確定後續塊是否己被診斷。如果後續塊未被診斷， 則恢復單元13c通知並指示寫遺漏檢測單元13b來執行對該後續塊的診 斷。如果後續塊己被診斷過，則恢復單元13c執行對錯誤邏輯塊地址
(LBA)的恢復處理，該錯誤邏輯塊地址表示該塊包括不可恢復的讀取錯誤。
參照圖7，通過具體實施例來說明恢復處理。如圖7所示，如果由 於寫遺漏而在可疑盤30b中的前面的塊"B"的數據是"過時(old)"的， 則恢復單元13c讀取在冗餘盤30a中的前面的塊的數據"B"，並更新作 為可疑盤30b的前面的塊的數據的讀取數據"B"。在執行恢復的方法中， 因為存在冗餘盤30a，而可以將可疑盤30b處理為故障盤，從而失去了冗 餘性並造成退化的狀態。
參照圖8來說明根據第一實施方式的裝置適配器10所執行的處理。 圖8是根據第一實施方式的裝置適配器IO所執行的處理操作的流程圖。
如圖8所示，在從盤30讀取數據時的盤應答過程中出現錯誤時(在 步驟S101為是)，裝置適配器10的錯誤檢測單元13a確定該錯誤是否為 不可恢復的讀取錯誤(步驟S102)。如果該錯誤是不可恢復的讀取錯誤(在 步驟S102為是)，則錯誤檢測單元13a通知寫遺漏檢測單元13b來在該 包括不可恢復的讀取錯誤的塊的周圍執行寫遺漏檢測處理。
如果該錯誤不是不可恢復的讀取錯誤(在步驟S102為否)，則錯誤 檢測單元13a通知寫遺漏檢測單元13b來在該包括不可恢復的讀取錯誤 的塊的周圍執行寫遺漏檢測處理，並指示恢復單元13c來執行稍後描述 的恢復處理(步驟S103)。在從錯誤檢測單元13a接收了根據不可恢復的 讀取錯誤之外的錯誤的錯誤內容來執行恢復處理的通知時，恢復單元13c 根據該錯誤內容來執行恢復處理(步驟S104)。
下面參照圖9來說明根據第一實施方式的裝置適配器IO所執行的寫 遺漏檢測處理。圖9是根據第一實施方式的裝置適配器10所執行的寫遺 漏檢測處理操作的流程圖。
如圖9所示，在從錯誤檢測單元13a接收了執行寫遺漏檢測處理的 通知時，裝置適配器10的寫遺漏檢測單元13b檢索CM 20的高速緩衝存 儲器220 (步驟S201)。接著，寫遺漏檢測單元13b確定前面的塊是否已 被診斷(步驟S202)。如果前面的塊未被診斷(在步驟S202為否)，則寫 遺漏檢測單元13b從高速緩衝存儲器220讀取在冗餘盤30a中的與可疑
盤30b的前面的塊相對應的塊的數據(步驟S203),並從緩衝器14a讀取 可疑盤30b的前面的塊的數據(步驟S204)。
如果前面的塊己被診斷(在步驟S202為是)，則寫遺漏檢測單元13b 從高速緩衝存儲器220讀取冗餘盤30a中的與可疑盤30b中的後續塊對 應的塊的數據(步驟S205)，並從緩衝器14a讀取在可疑盤30b中的後續 塊中的數據(步驟S206)。接著，寫遺漏檢測單元13b確定冗餘盤30a 的讀取數據與可疑盤30b的讀取數據是否匹配(步驟S207)。如果冗餘盤 30a的讀取數據與可疑盤30b的讀取數據不匹配(在步驟S207為否)，則 寫遺漏檢測單元13b向稍後描述的恢復單元13c通知該塊包括寫遺漏。
在從寫遺漏檢測單元13b接收了該塊包括寫遺漏的通知時，恢復單 元13c將可疑盤30b中的包括寫遺漏的塊更新為冗餘盤30a的對應塊(步 驟S208)。此外，如果冗餘盤30a的讀取數據與可疑盤30b的讀取數據相 匹配(在步驟S207為是)，則寫遺漏檢測單元13b向恢復單元13c通知 該塊不包括寫遺漏。
在更新了包括寫遺漏的塊(步驟S208)後或在接收了該塊不包括寫 遺漏的通知(在步驟S207為是)後，恢復單元13c確定後續塊是否己被 診斷(步驟S209)。如果後續塊未被診斷(在步驟S209為否)，則恢復單 元13c通知並指示寫遺漏檢測單元13b來執行對該後續塊的診斷，並且 寫遺漏檢測處理進行到步驟S202。如果後續塊已被診斷(在步驟S209 為是)，則恢復單元13c執行對錯誤LBA的恢復處理，該錯誤LBA表示 該塊包括不可恢復的讀取錯誤(步驟S210)。
裝置適配器10檢測包括讀取錯誤的塊並檢測自該檢測出的塊起預 定範圍內的塊中的寫遺漏。因此，當執行寫入處理時，不必在全部塊中 檢測寫遺漏地進行寫遺漏的檢測。因此，可以防止在檢測寫遺漏時處理 性能劣化。
根據第一實施方式，接收預定的範圍，設置預定的範圍，並對在設 置的預定範圍內的塊中的寫遺漏進行檢測。結果，隨機地設置預定範圍， 不必有動態地改變預定範圍所造成的處理負荷，而可以更容易地檢測寫遺漏。 根據第一實施方式，如果預定範圍內的塊不可讀，則該塊被從檢測 目標中去除。因此，通過只檢測預定範圍內的塊，可以更容易地檢測到 寫遺漏。
根據第一實施方式，檢測到的包括寫遺漏的塊的數據被更新為在冗 餘盤中的對應塊的數據。因此，可以使包括寫遺漏的塊的數據正常化。
已說明了本發明的該實施方式。但是，除了此處示出並描述的具體 細節和代表性實施方式之外，可以進行各種變型。下面作為本發明的第 二實施方式來說明本發明包括的其他實施方式。
(1) 寫遺漏檢測範圍 在第一實施方式中解釋了寫遺漏的預先設置的檢測範圍。但是，本
發明並不因此而受到限制，並且可以動態地改變寫遺漏的檢測範圍。
具體來說，裝置適配器10根據執行讀/寫的讀寫頭的數量、讀寫頭
的旋轉速度、盤的賣主和盤的類型中的任意一個或更多個來確定寫遺漏 的檢測範圍(換言之，表示用於檢測讀取錯誤的自包括不可恢復的讀取
錯誤的塊起的多個塊的範圍)。當執行寫遺漏檢測處理時，裝置適配器IO
在所確定的檢測範圍內檢測寫遺漏。
因此，預定的範圍是根據執行讀/寫的讀寫頭的數量、讀寫頭的旋轉 速度、盤的賣主和盤的類型中的任意一個或更多個而確定的，並在預定 範圍內的塊中檢測寫遺漏。因此，動態地改變預定範圍而不使預定範圍 固定，這使得可以更適當地檢測寫遺漏。
(2) 診斷跳過
在第一實施方式中，如果由於讀取錯誤而不能讀取診斷範圍內的塊， 則從寫遺漏檢測目標中去除該塊。但是，如果由於讀取錯誤而不能讀取 診斷範圍內的塊，則還可以檢測在該塊的鄰近的塊中的寫遺漏。例如， 如果裝置適配器10檢測到包括了不可恢復的讀取錯誤的塊並且不能讀取 包括了該不可恢復的讀取錯誤的該塊的後續塊，則裝置適配器IO將更後 面的塊視為寫遺漏檢測目標，並檢測寫遺漏。
因此，如果在預定範圍內的塊不能被讀取，則檢測在該塊的鄰近塊 中的寫遺漏。因而，除了預定範圍內的塊，還可以檢測在該預定範圍之
外但很可能包括寫遺漏的塊中的寫遺漏，從而使得能夠更準確地檢測寫
遺漏o
(3) 系統結構等
例示的裝置的構成元件只是概念性的，而不必物理地裝配圖中示出 的這些結構。例如，裝置不是必須具有例示的結構。根據負荷或如何使 用該裝置，裝置總體上或部分地在功能上或者物理上可以是拆開的或一 體的。例如，錯誤檢測單元13a和寫遺漏檢測單元13b可以是一體的。 此外，裝置所執行的處理功能全部或部分地由CPU或CPU所執行的程 序或使用布線邏輯的硬體來實現。
在本實施方式中說明的全部自動處理可以全部或部分地人工執行。 同樣地，在本實施方式中說明的所有人工處理可以全部或部分地由公知 方法自動執行。除非另外指明，處理的順序、控制的順序、具體的名稱 和包括各種參數的數據可以隨著需要而改變。
(4) 電腦程式
在實施方式中解釋的各處理可以通過在計算機上執行預先設計的計 算機程序而實現。下面說明該計算機的一實施例，該計算機執行包括了 與前面所述的實施方式相類似的功能的電腦程式。圖io是執行寫遺漏 檢測程序的計算機的框圖。
如圖10所示，計算機600作為寫遺漏檢測程序而包括通過總線650 連接的CM控制接口 610、盤控制接口 620、只讀存儲器(ROM) 630、 CPU640和隨機存取存儲器(RAM) 660。
如圖IO所示，ROM 630在其中預先存儲裝置適配器，該裝置適配 器展現出與前面提到的實施方式所說明的功能類似的功能，換言之，錯 誤檢測程序631、寫遺漏檢測程序632和恢復程序633。類似於在圖3中 示出的裝置適配器10的各部件，錯誤檢測程序631、寫遺漏檢測程序632 和恢復程序633可以適當地是一體的或分開的。
CPU 640從ROM 630讀取並執行錯誤檢測程序631 、寫遺漏檢測程 序632和恢復程序633，從而使錯誤檢測程序631、寫遺漏檢測程序632 和恢復程序633分別充當錯誤檢測處理641、寫遺漏檢測處理642和恢復
處理643。錯誤檢測處理641、寫遺漏檢測處理642和恢復處理643分別 對應於圖3中示出的錯誤檢測單元13a、寫遺漏檢測單元13b和恢復單元 13c。
CPU640從未示出的盤讀取數據，在RAM 660的緩衝器661中存儲 讀取的數據，並基於存儲在RAM660中的數據來執行各種處理。
根據本發明的實施方式，當執行寫入處理時，因為不用在全部塊中 檢測寫遺漏就能檢測出寫遺漏，所以可以防止在檢測寫遺漏時處理性能 劣化。
根據本發明的實施方式，可以更容易地和更準確地檢測寫遺漏。另 外，可以使包括寫遺漏的塊的數據正常化。
儘管為了完全和清楚地進行公開而參照具體實施方式
描述了本發 明，但所附的權利要求並不因此而受到限制，而是應被解釋為包括了本 領域技術人員可能做出的、完全落入這裡所解釋的基本教導之內的所有 變型例和另選構造。
權利要求
1、一種寫遺漏檢測器，對被劃分為多個塊的存儲介質中的寫遺漏進行檢測，該寫遺漏檢測器包括塊檢測單元，其檢測錯誤塊，所述錯誤塊是包括讀取錯誤的塊；以及寫遺漏檢測單元，其基於在自所述錯誤塊起的預定範圍內的塊中的數據與在冗餘存儲介質內部的塊中的數據的比較，來檢測寫遺漏塊。
2、 根據權利要求1所述的寫遺漏檢測器，該寫遺漏檢測器還包括設置單元，該設置單元基於輸入值設置所述預定範圍。
3、 根據權利要求1所述的寫遺漏檢測器，該寫遺漏檢測器還包括確 定單元，該確定單元根據執行讀與寫的讀寫頭的數量、讀寫頭的旋轉速 度、存儲介質的賣主和存儲介質的類型中任意一個或更多個來確定所述 預定範圍。
4、 根據權利要求1所述的寫遺漏檢測器，該寫遺漏檢測器還包括不 可讀取塊確定單元，該不可讀取塊確定單元確定在所述預定範圍中是否 存在不可讀取塊，其中所述寫遺漏檢測單元在執行所述比較時排除所述不可讀取塊。
5、 根據權利要求4所述的寫遺漏檢測器，其中，所述寫遺漏檢測單 元針對所述不可讀取塊的鄰近塊來執行所述比較。
6、 根據權利要求1所述的寫遺漏檢測器，該寫遺漏檢測器還包括更 新單元，該更新單元將所述寫遺漏塊的數據更新為所述冗餘存儲介質中 的對應塊的數據。
7、 一種寫遺漏檢測方法，對被劃分為多個塊的存儲介質中的寫遺漏 進行檢測，該寫遺漏檢測方法包括第一檢測步驟，其包括對錯誤塊進行檢測，該錯誤塊是包括讀取錯 誤的塊；以及第二檢測步驟，其包括基於在自所述錯誤塊起的預定範圍內的塊中 的數據與在冗餘存儲介質內部的塊中的數據的比較來檢測寫遺漏塊。
8、 根據權利要求7所述的寫遺漏檢測方法，該寫遺漏檢測方法還包 括基於輸入值設置所述預定範圍的步驟。
9、 根據權利要求7所述的寫遺漏檢測方法，該寫遺漏檢測方法還包括根據執行讀與寫的讀寫頭的數量、讀寫頭的旋轉速度、存儲介質的賣 主和存儲介質的類型中的任意一個或更多個來確定所述預定範圍。
10、 根據權利要求7所述的寫遺漏檢測方法，該寫遺漏檢測方法還 包括確定在所述預定範圍中是否存在不可讀取的塊，其中所述第二檢測步驟包括在執行所述比較時排除所述不可讀取的塊。
11、 根據權利要求10所述的寫遺漏檢測方法，其中所述第二檢測步 驟包括針對所述不可讀取的塊的鄰近塊來執行所述比較。
12、 根據權利要求7所述的寫遺漏檢測方法，該寫遺漏檢測方法還 包括將所述寫遺漏塊的數據更新為在所述冗餘存儲介質中的對應塊的數 據。
13、 一種計算機可讀記錄介質，該計算機可讀記錄介質在其中存儲 電腦程式，該電腦程式使計算機對被劃分為多個塊的存儲介質中的寫遺漏進行檢測，所述電腦程式使所述計算機執行檢測錯誤塊，所述錯誤塊是包括讀取錯誤的塊；以及基於在自所述錯誤塊起的預定範圍內的塊中的數據與在冗餘存儲介質內部的塊中的數據的比較，來檢測寫遺漏塊。
全文摘要
本發明提供寫遺漏檢測器、寫遺漏檢測方法和計算機產品。裝置適配器對存儲區域被劃分為多個塊的盤進行控制，對包括讀取錯誤的塊進行檢測。然後，裝置適配器對自包括所述讀取錯誤的塊起預定範圍內的塊中的寫遺漏進行檢測。具體來說，裝置適配器從在可疑盤中的包括不可恢復讀取錯誤的塊的附近的塊中讀取數據。接著，裝置適配器從冗餘盤讀取與包括不可恢復的讀取錯誤的塊相對應的塊的數據(在圖1中示出的實施例中的塊「B」的數據)，並將讀取的該數據與從可疑盤讀取的數據進行比較以檢測寫遺漏。
文檔編號G11B20/18GK101206896SQ20071016273
公開日2008年6月25日 申請日期2007年10月8日 優先權日2006年12月21日
發明者久保田典秀, 伊藤實希夫, 大黑谷秀治郎, 池內和彥, 紺田與志仁, 高橋秀夫 申請人:富士通株式會社