時鐘抖動和電源噪聲分析的製作方法

2023-07-08 17:44:01 2

時鐘抖動和電源噪聲分析的製作方法
【專利摘要】所公開的是實施時鐘抖動和電源噪聲分析的方法、系統和/或裝置。在一個實施例中，方法可以包括接收可以是時鐘信號的第一信號，之後基於第一信號生成第二信號。方法可以進一步包括將第二信號延遲基延遲和/或一系列精細延遲。方法還可以包括對經延遲的第二信號進行測量並且將那些測量與對如果第一信號無噪聲的話原本將發生的第二信號的理論測量相比較。方法可以進一步包括基於測量和其比較確定是否存在噪聲、噪聲是否是高頻噪聲或低頻噪聲以及噪聲是否起因於時鐘抖動和/或電源偏差。
【專利說明】時鐘抖動和電源噪聲分析

【技術領域】
[0001] 本公開總地涉及數據處理設備，並且更具體地，涉及檢測並分析噪聲標誌 (signature)的方法、設備和/或系統。

【背景技術】
[0002] 信號處理的應用是廣泛的並且不斷增加。信號處理應用的示例包括行動裝置對消 息的發射和接收、語音識別和用來為CPU和GPU的內部操作定時的時鐘信號。
[0003] 信號可以包括多個頻率。組成信號的一部分的最低頻率已知為信號的基頻。信號 還可以包括不需要的分量，稱為噪聲。信號中的噪聲的存在可降低應用中的信號性能。噪 聲信號可傳送錯誤的或不完整的信息。噪聲可具有可被認為是標誌的特定特性。例如，噪 聲可被表徵為低頻或高頻。低頻噪聲可以是以低於信號的基頻的頻率出現的噪聲。高頻噪 聲則可以是除低頻噪聲之外的所有噪聲。檢測並分析噪聲標誌可使得噪聲的來源能夠被確 定、消除和/或降低。


【發明內容】

[0004] 所公開的是檢測並分析噪聲標誌的方法、設備和/或系統。
[0005] 在一個方面，公開檢測並分析噪聲標誌的方法。在該方面，方法包括由噪聲分析器 接收第一信號。此外，方法可以涉及通過噪聲分析器基於第一信號生成第二信號以及通過 基延遲將第二信號時間移位（displace) -基延遲時間。在一個方面，方法可以進一步涉及 通過比較器將經時間移位的第二信號的實際測量與第三理論信號的理論測量相比較，其中 第三理論信號是如果第一信號無高頻噪聲和低頻噪聲這二者的話原本將從第一信號生成 的第二信號的版本。
[0006] 在另一方面，公開檢測並分析噪聲標誌的系統。在該方面，系統包括信號發生器， 其配置為接收第一信號並且基於第一信號生成第二信號。在一個方面，系統可以進一步包 括基延遲元件，其配置為將第二信號時間移位第一時間延遲；多個精細延遲元件，其配置為 將第二信號進一步時間移位至少一個精細時間延遲；以及比較器，其配置為將經時間移位 的第二信號的實際測量與第三理論信號的理論測量相比較，其中第三理論信號是如果第一 信號無高頻噪聲和低頻噪聲這二者的話原本將從第一信號生成的第二信號的版本。
[0007] 在另一方面，公開檢測並分析噪聲標誌的噪聲分析器。在一個方面，噪聲分析器可 以包括信號發生器，其配置為接收第一信號並且基於第一信號生成第二信號。在一個方面， 系統可以進一步包括基延遲元件，其配置為將第二信號時間移位第一時間延遲；以及比較 器，其配置為將經時間移位的第二信號的實際測量與第三理論信號的理論測量相比較，其 中第三理論信號是如果第一信號無高頻噪聲和低頻噪聲這二者的話原本將從第一信號生 成的第二信號的版本。
[0008] 本文所公開的方法和系統可以以任何手段加以實現以達成各種方面，並且可以以 將指令集具體化的非暫時性機器可讀介質的形式加以執行，該指令集當由機器執行時使機 器實施本文所公開的任何操作。其他特徵將從附圖和跟隨的詳細描述中顯而易見。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0009] 本發明的實施例通過示例而非限制的方式示出在附圖的各圖中，在附圖中類似的 參考指代相似的元件，在附圖中：
[0010] 圖1示出根據一個或多個實施例的噪聲分析器的框圖。
[0011] 圖2是根據一個或多個實施例的、示出無噪聲模擬信號的波形，並且其示出沿著 波形的、噪聲分析器可以在此處對信號進行測量的點。
[0012] 圖3A是根據一個或多個實施例的、示出與無噪聲模擬信號相比的高頻噪聲的波 形。
[0013] 圖3B是根據一個或多個實施例的、示出與無噪聲模擬信號相比的低頻噪聲的波 形。
[0014] 圖3C是根據一個或多個實施例的、示出信號和高頻噪聲的組合的波形。
[0015] 圖3D是根據一個或多個實施例的、示出信號和低頻噪聲的組合的波形。
[0016] 圖3E是根據一個或多個實施例的、示出信號與低頻噪聲和高頻噪聲的組合的波 形，並且示出可由噪聲分析器進行的測量的位置。
[0017] 圖4A是根據一個或多個實施例的、示出可表示無噪聲數字時鐘信號的方波的波 形。
[0018] 圖4B是根據一個或多個實施例的、示出從圖4A的方波所生成的信號的波形。 [0019] 圖4C是根據一個或多個實施例的、示出被移位基延遲的圖4B的信號以及可由噪 聲分析器進行的測量的位置的波形。
[0020] 圖4D是根據一個或多個實施例的一系列波形；波形"s"可以表示初始信號，波形 "mts"可以表示元信號（metasignal)，其可被創建自包含在初始信號中的信息，並且波形 D1到D8可以表示mts的經延遲版本。
[0021] 圖4E是根據一個或多個實施例的、來自圖4D的D1波形的一段的放大細節。
[0022] 圖4F是根據一個或多個實施例的、可由噪聲分析器進行的測量的位置的放大細 節。
[0023] 圖5A是根據一個或多個實施例的、示出可表示無噪聲數字時鐘信號的方波的波 形。
[0024] 圖5B是根據一個或多個實施例的、示出可表示包含高頻抖動的時鐘信號的、包含 高頻噪聲的方波的波形。
[0025] 圖5C是根據一個或多個實施例的、示出表示從圖5B的波形所生成的信號的方波 的波形。
[0026] 圖?是根據一個或多個實施例的、示出被移位基延遲的圖5C的方波的波形，並且 還示出可對波形進行的測量的值。
[0027] 圖5E是示出噪聲分析器可如何在基延遲和一系列精細延遲之後進行測量的一系 列波形。
[0028] 圖6A是根據一個或多個實施例的、示出可表示無噪聲數字時鐘信號的方波的波 形。
[0029] 圖6B是根據一個或多個實施例的、示出表示從圖6A的波形所生成的信號的方波 的波形。
[0030] 圖6C是根據一個或多個實施例的、示出圖6B的波形的、已經被移位可表示高頻供 電噪聲的延遲的部分的波形，並且還經由虛線示出如果不存在噪聲的話可能已經由波形所 佔據的位置。
[0031] 圖6D是根據一個或多個實施例的、示出圖6B的波形的、已經被移位可表示高頻供 電噪聲的延遲的部分的波形，並且還示出可對波形進行的測量的值。
[0032] 圖7A是根據一個或多個實施例的、示出可表示無噪聲數字時鐘信號的方波的波 形。
[0033] 圖7B是根據一個或多個實施例的、示出可表示包含低頻抖動的時鐘信號的、包含 低頻噪聲的方波的波形。
[0034] 圖7C是根據一個或多個實施例的、示出表示從圖7B的波形所生成的信號的方波 的波形。
[0035] 圖7D是根據一個或多個實施例的、示出被移位基延遲的圖7C的方波的波形，並且 還示出可對波形進行的測量的值。
[0036] 圖8A是根據一個或多個實施例的、示出可表示無噪聲數字時鐘信號的方波的波 形。
[0037] 圖8B是根據一個或多個實施例的、示出表示從圖8A的波形所生成的信號的方波 的波形。
[0038] 圖8C是根據一個或多個實施例的、示出圖8B的波形的、已經被移位可表示低頻供 電噪聲的延遲的部分的波形，並且還經由虛線示出如果不存在噪聲的話可能已經由波形所 佔據的位置。
[0039] 圖8D是根據一個或多個實施例的、示出圖8B的波形的、已經被移位可表示低頻供 電噪聲的延遲的部分的波形，並且還示出可對波形進行的測量的值。
[0040] 圖9是根據一個或多個實施例的噪聲分析器的框圖。
[0041] 圖10是根據一個或多個實施例的、示出可由噪聲分析器使用的步驟的流程圖。
[0042] 圖11是根據一個或多個實施例的、示出連接到鍾控邏輯元件的噪聲分析器的框 圖。
[0043] 圖12是根據一個或多個實施例的噪聲分析器的過程流程圖。
[0044] 本文實施例的其他特徵將從附圖和跟隨的詳細描述中顯而易見。

【具體實施方式】
[0045] 如以下所描述的，可以使用示範性實施例來提供分析信號內的噪聲的方法、系統 和/或設備。示範性實施例可以檢測並分析包含在信號內的噪聲的獨特特性，該獨特特性 用來確定特定類型的噪聲的標誌。示範性實施例可以通過對信號、和/或可使用包含在信 號中的信息生成的元信號、和/或噪聲、和/或前述的多個和/或理論版本進行測量來檢測 前述特性。如本文所使用的術語"測量"可以是術語"採樣"的同義詞。
[0046] 圖1示出根據一個或多個實施例的、包括噪聲分析器120的系統的框圖。在該實 施例或其他實施例中，在噪聲分析器120處所接收的信號102可以是沒有噪聲的，其中噪聲 構成電信號的不需要的特性。信號102可以是模擬或數位訊號。信號102可以由波形表 示，其波形包括一個或多個頻率，波形的最低頻率是基頻。低頻噪聲106包括可以以低於信 號102的基頻的頻率出現的噪聲。高頻噪聲104可以是以大於低頻噪聲106頻率的頻率出 現的噪聲。低頻噪聲106和/或高頻噪聲104可以在位置108處與信號102相結合。位置 108可以是物理位置、時間位置或這二者的組合。前述的低頻噪聲106和/或高頻噪聲104 可以被無意地生成並與信號102相結合和/或被有意地生成並與信號102相結合。在一個 或多個實施例中，信號102可以是由噪聲分析器120所接收的實際信號和/或可由噪聲分 析器120生成以表示無噪聲信號的理論信號。
[0047] 在一個或多個實施例中，信號102和/或信號和噪聲110可以由噪聲分析器120 實時接收、在一個或多個延遲之後接收、和/或由另一設備或系統記錄、之後由噪聲分析器 120訪問。噪聲分析器120可以之後對信號和噪聲110實施將信號和噪聲110與無噪聲信 號102相比較的操作，由噪聲分析器120所實施的操作可以將信號和噪聲110與無噪聲信 號102相比較，以確定包含在信號和噪聲110內的噪聲的獨特特性。前述的獨特特性可以 用來確定包含在信號和噪聲110內的噪聲的來源。
[0048] 在一個或多個實施例中，由噪聲分析器120所實施的操作可以包括基於信號和噪 聲110生成第一新信號、涉及信號102來時間移位該新信號、基於信號102生成第二新信 號、測量經時間轉移的第一新信號、測量第二新信號以及比較前述測量，以確定包含在信號 和噪聲110中的噪聲的獨特特性。在一個或多個實施例中，噪聲分析器120還可以時間轉 移第二新信號。
[0049] 在一個示例中，信號102可以是計算系統的時鐘信號。計算系統可以包含存儲器、 時鐘和處理器（處理器可以是CPU、GPU、ASIC、FPGA、模擬系統或實施計算操作的其他裝 置）。時鐘信號102可以由方波表示，該方波具有用於周期性重複一定周期的高值，其可表 示為1，以及用於周期性重複一定周期的低值，其可表示為0。時鐘信號102的循環可以包 括單個高周期與單個低周期相結合。時鐘信號102的高值可以表示一（1)並且低值可以表 示零（0)。時鐘信號102可以用來使計算系統內的操作同步。在一個示例中，時鐘信號102 的周期可能遭受隨機變化。在小於時鐘循環的時間周期中發生的隨機變化可以是高頻噪聲 104,並且持續得長於單個時鐘循環的隨機變化可以是低頻噪聲106。前述的影響時鐘信號 102的低頻噪聲和/或高頻噪聲可以是低頻抖動和/或高頻抖動。
[0050] 在一個示例中，計算系統內的處理器的處理速度可受到電源的電平的影響。例如， 如果計算系統的電源供應比設計功率電平高的功率電平，則處理器可以以比其設計速度快 的速度進行操作，並且以比設計速率快的速率完成操作。相反，如果由電源所供應的功率小 於設計功率電平，則處理器可以以比其設計速度慢的速度進行操作，並且以比設計速率慢 的速率完成操作。電源電壓的隨機變化可以是電源噪聲。持續小於時鐘循環的時間周期的 電源噪聲可以是高頻噪聲104。持續大於或等於時鐘循環的時間周期的電源噪聲可以是低 頻噪聲106。
[0051] 圖2示出根據一個或多個實施例的、由正弦波所表示的信號102的無噪聲模擬版 本。可以由噪聲分析器120將基延遲202應用到信號102。噪聲分析器120可以在基延遲 202之後以及隨後在精細延遲204之後對信號102進行測量210。雖然圖中示出為信號102， 但是正弦波還可以表示由噪聲分析器120基於信號102和/或信號和噪聲110所生成的信 號，並且可以被相移與基延遲202相對應的量和/或被相移可與精細延遲204相對應的其 他量和/或其他量。
[0052] 圖3A示出根據一個或多個實施例的、與信號102相比較的高頻噪聲104的模擬示 例。
[0053] 圖3B示出根據一個或多個實施例的、與信號102相比較的低頻噪聲106的模擬示 例。
[0054] 圖3C示出根據一個或多個實施例的、模擬的高頻噪聲104與信號102相結合以創 建信號和噪聲110的不例。
[0055] 圖3D示出根據一個或多個實施例的、模擬的低頻噪聲106與信號102相結合以創 建信號和噪聲110的不例。
[0056] 圖3E示出根據一個或多個實施例的、模擬的高頻噪聲104和模擬的低頻噪聲106 這二者與信號102相結合以創建信號和噪聲110的示例。圖3E還示出可由噪聲分析器120 進行的一系列測量210,其中實線和閉環端點可以表示原本將對無噪聲信號102進行的測 量，並且虛線和開環端點可以表示將對信號和噪聲110進行的測量。噪聲分析器120可以 比較先前所提及的測量以確定噪聲標誌；也就是說，噪聲是否是高頻、低頻和/或噪聲的潛 在來源和/或來源。由噪聲分析器120所實施的前述比較可以例如包括從將對信號和噪聲 110進行的測量中減去將對無噪聲信號102進行的測量，之後確定理想的無噪聲信號102 與信號和噪聲110之間是否存在差異；並且進一步確定在其期間測量差異可能存在的時間 中貞。例如，噪聲分析器120可以確定無噪聲信號102與信號和噪聲110之間存在差異，其存 在於小於信號102的基頻的周期，這些差異可以表示高頻噪聲104。可替代地，噪聲分析器 120可以確定無噪聲信號102與信號和噪聲110之間存在差異，其存在於大於信號102的 基頻的周期，這些差異可以表示低頻噪聲106。在另一個示例中，噪聲分析器可以確定信號 102與信號和噪聲110之間存在這兩種類型的前述的差異，其可以指示高頻噪聲104和低頻 噪聲106這二者的存在。噪聲分析器120可以對信號102以及信號和噪聲110進行多組測 量，這些測量可以在一定時間被重複，測量之間的定時與信號102的頻率相關。
[0057] 在一個或多個實施例中，噪聲分析器120可以基於信號102和/或信號和噪聲110 生成元信號。在一個或多個實施例中，元信號可以包含關於在元信號的頻率、周期、振幅和/ 或可變性方面所基於的信號的信息。在一個或多個實施例中，噪聲分析器120可以時間轉 移前述元信號中的一個或多個、對元信號中的一個或多個進行一系列測量210並且將那些 測量210與一個或多個其他元信號和/或信號102和/或信號和噪聲110的等價測量相比 較，以確定可構成噪聲標誌的信號和噪聲110的獨特特性。
[0058] 可以通過將離散值指派到以特定採樣速率對如圖2-3E所示的模擬波形所進行的 測量來將模擬波形轉換為數字波形。在簡單示例中，可以將一個值指派到在某電平之上的 波形的一部分，並且將另一值指派到波形的剩餘部分。例如，在水平軸之上的模擬波形的值 可以被視為高或一（1)，並且在水平軸之下或處於水平軸的剩餘值可以被視為低或零（〇); 反之亦然。高值和低值之間的分界線還可以設置在與水平軸不同的電平處。將數字波形轉 換為模擬波形的逆過程也可以例如通過插值數字波形的離散值以創建對應的模擬波形來 完成。因此，本文所描述的對模擬信號進行操作的實施例可以應用到數位訊號，反之亦然。
[0059] 圖4A示出根據一個或多個實施例的、可以是無噪聲數位訊號的方波，其轉而可以 表不無噪聲時鐘信號。
[0060] 圖4B不出根據一個或多個實施例的、可由噪聲分析器120從圖4A的時鐘信號生 成的新信號。圖4B的新信號可以是在圖4A的時鐘循環的一個周期具有高值、之後在圖4A 的時鐘循環的下一個周期具有低值的方波，圖4B的新信號的高值和低值隨著圖4A中所示 的時鐘循環而交替。圖4B的新波形可以是元信號，因為其可以是包含基於圖4A的第一信 號的信息的新信號。
[0061] 圖4C不出根據一個或多個實施例的、來自圖4B的信號被時間偏移基延遲202。圖 4C進一步示出一系列精細延遲元件450。一系列精細延遲元件450可以指示噪聲分析器 120可以對信號102、信號和噪聲110和/或由噪聲分析器120基於信號102和/或信號和 噪聲110所創建的新信號進行測量的時間位置。在另一個實施例中，精細延遲元件450可 以指示可應用到信號102、信號和噪聲110和/或由噪聲分析器120基於信號102和/或信 號噪聲110所創建的新信號的延遲集。為了簡潔，一系列精細延遲元件450的放大細節在 圖4F中示出。
[0062] 圖4A-4E中以及在包含波形的其他所包括的圖中的垂直虛線表示所描繪的波形 的共同時間位置，並且其由參考號T5、T10、T15等標明。時間位置之間的時間周期由參考號 ?5、？10、？15等標明。每個時間周期（?5、？10、？15等）的中途點是所標明的冊、!110、!115 等。
[0063] 在圖4C中，根據一個或多個實施例，設置基延遲202和一系列精細延遲元件450， 以使得在初始時間周期期間在圖4Β中所生成的信號的一部分在隨後的時間周期或稍後的 時間周期中恰好傳播經過該系列精細延遲元件450的中途。在一個示例中，可由噪聲分析 器120在時間周期Ρ5期間所生成的圖4Β的元信號的一部分可在隨後的時間周期Ρ10期 間傳播到中途點Η10,恰好是Τ10和Τ15之間的中途；在時間周期Ρ10期間所生成的元信號 的一部分可以在時間周期Ρ15期間傳播到中途點Η15,以此類推。在一個或多個實施例中， 前述在一個時間周期中所生成的圖4C的元信號在隨後的時間周期中到恰好中途點的傳播 可以是有選擇地設置基延遲202和一系列精細延遲元件450以使得達成恰好中途傳播的結 果。根據一個或多個實施例，作為結果的恰好中途傳播可以是對如由圖4所例示的無噪聲 初始信號的指示。
[0064] 圖4D示出根據一個或多個實施例的一系列波形，其中波形"s"可以表示初始信 號，波形"mts"可以表示元信號，其可由噪聲分析器120從包含在初始信號s中的信息創建， 並且波形D1到D8可以表示mts的經延遲版本。在一個實施例中，波形s可以類似於圖4A 中所示的波形，並且可以表示無噪聲時鐘信號。在一個實施例中，波形mts可以類似於圖4B 中所示的波形，並且可以表示包含描述波形s的信息的元信號。在一個示例中，可以通過在 信號s的連續周期將mts的值在低值和高值之間交替來由噪聲分析器120從s生成mts， 例如通過在s的一個周期將mts的值設置為高（或1)，之後在s的下一個周期將mts的值 設置為低（或〇)、在s的隨後周期將mts設置為低，以此類推。波形D1可以表示被延遲基 延遲202的mts信號。波形D2可以表示被延遲基延遲202和一系列精細延遲450之一這 -者的mts。波形D3可以表不被延遲基延遲202和一系列精細延遲450中的兩個的mts。 波形D4可以表示被延遲基延遲202和一系列精細延遲450中的三個的mts。波形D5可以 表示被延遲基延遲202和一系列精細延遲450中的四個的mts, D6可以表示被延遲基延遲 202加上精細延遲450中的五個的mts，D7 ;基延遲202加上六個精細延遲450 ;以及，最終， D8可以表示被延遲基延遲202加上一系列精細延遲450中的七個的mts。圖4D中的垂直 虛線可以表示前述延遲的連續周期。雖然在圖4中將一系列精細延遲450示出為分為相等 的時間周期，但是它們可以包括不同的時間周期。例如，一系列精細延遲450中的第二精細 延遲可以是一系列精細延遲450中的第一精細延遲的倍數。在一個實施例中，元信號mts 可以首先在時間T5處開始以高值生成，之後在時間T10處切換為低值，T5和T10之間的時 間是周期P5。在一個實施例中，元信號mts可以之後被延遲基延遲202和一系列精細延遲 450,以使得在周期P5期間所生成的mts值被傳播使得在時間T15處，恰好它們的一半在時 間T15的一邊，並且另一半在時間T15的另一邊。在可以與可由信號s表不的時鐘信號的 上升沿相對應的時間T15處，噪聲分析器120可以進行測量（404、406、408、410、412、414、 416、418)。前述測量如果在圖4D中的時間T15處進行，則將具有如以下表1所示的值。 [0065]

【權利要求】
1. 一種方法，包括： 由噪聲分析器接收第一信號； 通過所述噪聲分析器基於所述第一信號生成第二信號； 通過基延遲元件將所述第二信號時間移位一基延遲時間；以及 通過比較器將經時間移位的第二信號的實際測量與第三理論信號的理論測量相比較， 其中所述第三理論信號是如果第一信號無高頻噪聲和低頻噪聲的話原本將從所述第一信 號生成的所述第二信號的一版本。
2. 如權利要求1所述的方法，進一步包括： 通過至少一個精細延遲元件將所述第二信號時間移位一精細延遲時間。
3. 如權利要求2所述的方法，進一步包括： 通過所述比較器將對所述經時間移位的第二信號所進行的精細測量與對所述第三理 論信號所進行的理論精細測量相比較，其中所述精細測量和所述理論精細測量在時間上與 由所述至少一個精細延遲所提供的時間移位相對應。
4. 如權利要求1所述的方法，其中所述第一信號是周期性信號，所述第二信號是第二 周期性信號，並且所述第二信號的周期是所述第一信號的周期的倍數。
5. 如權利要求1所述的方法，其中所述第一信號包括數字時鐘信號的周期性方波並且 所述第二信號包括由所述噪聲分析器所生成的方波，所述第二信號的周期是所述第一周期 性方波信號的周期的倍數。
6. 如權利要求5所述的方法，其中所述基延遲時間等於所述第一信號的所述周期。
7. 如權利要求1所述的方法，其中所述第一信號包括低頻噪聲和高頻噪聲中的至少一 個。
8. -種噪聲分析器系統，包括： 信號發生器，其配置為接收第一信號並且基於所述第一信號生成第二信號， 基延遲元件，其配置為將所述第二信號時間移位第一時間延遲， 多個精細延遲元件，其配置為將所述第二信號進一步時間移位至少一個精細時間延 遲；以及 比較器，其配置為將經時間移位的第二信號的實際測量與第三理論信號的理論測量相 比較，其中所述第三理論信號是如果所述第一信號無高頻噪聲和低頻噪聲這二者的話原本 將從所述第一信號生成的所述第二信號的一版本。
9. 如權利要求8所述的系統，其中所述比較器進一步配置為將對所述經時間移位的第 二信號所進行的精細測量與對所述第三理論信號所進行的理論精細測量相比較。
10. 如權利要求9所述的系統，其中所述精細測量和所述理論精細測量在時間上與由 所述多個精細延遲元件中的至少一個所提供的時間移位相對應。
11. 如權利要求8所述的系統，其中所述第一信號是周期性信號，所述第二信號是第二 周期性信號，並且所述第二信號的周期是所述第一信號的周期的倍數。
12. 如權利要求8所述的系統，其中所述第一信號包括數字時鐘信號的周期性方波並 且所述第二信號包括由所述信號發生器所生成的方波，所述第二信號的周期是所述第一周 期性方波信號的周期的倍數。
13. 如權利要求12所述的系統，其中所述第一時間延遲等於所述第一信號的所述周 期。
14. 如權利要求8所述的系統，其中所述第一信號包括低頻噪聲和高頻噪聲中的至少 一個。
15. -種噪聲分析器，包括： 信號發生器，其配置為接收第一信號並且基於所述第一信號生成第二信號， 基延遲元件，其配置為將所述第二信號時間移位第一時間延遲；以及 比較器，其配置為將經時間移位的第二信號的實際測量與第三理論信號的理論測量相 比較，其中所述第三理論信號是如果所述第一信號無高頻噪聲和低頻噪聲這二者的話原本 將從所述第一信號生成的所述第二信號的一版本。
16. 如權利要求15所述的噪聲分析器，進一步包括多個精細延遲元件，所述多個精細 延遲元件配置為將所述第二信號進一步移位多個時間延遲。
17. 如權利要求15所述的噪聲分析器，其中所述比較器進一步配置為將對所述經時間 移位的第二信號所進行的精細測量與對所述第三理論信號所進行的理論精細測量相比較， 其中所述精細測量和所述理論精細測量在時間上與由所述多個精細延遲元件中的至少一 個所提供的時間移位相對應。
18. 如權利要求15所述的噪聲分析器，其中所述第一信號是周期性信號，所述第二信 號是第二周期性信號，並且所述第二信號的周期是所述第一信號的周期的倍數。
19. 如權利要求18所述的噪聲分析器，其中所述第一信號包括數字時鐘信號的周期性 方波並且所述第二信號包括由所述信號發生器所生成的方波，所述第二信號的周期是所述 第一周期性方波信號的周期的倍數。
20. 如權利要求19所述的噪聲分析器，其中所述第一時間延遲等於所述第一信號的所 述周期。
【文檔編號】H03K5/26GK104283531SQ201410318344
【公開日】2015年1月14日 申請日期:2014年7月4日 優先權日:2013年7月4日
【發明者】瓦吉斯·喬治, 魯貝爾·艾哈邁迪, 傑西·M·格斯 申請人:輝達公司