電子元件老化測試裝置的製作方法
2023-07-25 18:43:26
本發明涉及電子元件測試領域，特別是涉及一種電子元件老化測試裝置。
背景技術：
隨著電子科技的發展，對於電子元件的穩定性和可靠性要求也越來越高，尤其是應用在航空航天事業中的產品。電子元件產品通過高溫電老化測試可以使元器件內部電極的缺陷和隱患提前暴露，保證出廠的產品能經得起時間的考驗，對於提高產品的穩定性和可靠性有很重要的意義。目前，老化試驗直接將電子元件焊接在PCB板上，不僅影響了產品外觀，且試驗後的產品只能丟棄，因此只進行抽樣試驗，這樣的測試只能粗略評估該批次產品性能，達不到真正的目的，無法有效杜絕產品缺陷。
技術實現要素：
基於此，有必要針對上述老化測試需要將電子元件焊接在PCB板上導致損傷產品的問題，提供一種無需將電子元件焊接在PCB板上即可進行老化測試不損傷產品的電子元件老化測試裝置。
具體的技術方案如下：
一種電子元件老化測試裝置，包括：
載板，所述載板上設有安裝槽，所述安裝槽的一側設有用於與電子元件端電極電連接的中間導電板，所述安裝槽側壁上開設有通孔；
側導向板，位於所述載板的一側，可相對所述載板移動，所述側導向板上固設有側導電針，所述側導電針的一端可通過所述通孔並伸入所述安裝槽，用於與所述電子元件的另一端電極電連接。
在其中一個實施例中，所述側導電針有多個，並排間隔固設於所述側導向板上。
在其中一個實施例中，所述安裝槽的上方設有可相對所述安裝槽移動的上導向板，所述上導向板上固設有用於與所述電子元件的中間電極電連接的上導電針。
在其中一個實施例中，所述安裝槽為多個，並排間隔設於所述載板上，所述上導電針有多個，並排間隔固設於所述上導向板上。
在其中一個實施例中，所述中間導電板將所述安裝槽分成兩列，所述側導向板的數量為2個，位於所述載板的兩側，所述上導向板的數量為2個，分別位於一列所述安裝槽的上方。
在其中一個實施例中，還包括中間導向板，所述中間導向板與所述上導向板的側面間隔相對設置，所述上導向板上設有第一調節件，用於調節所述上導向板相對所述中間導向板移動。
在其中一個實施例中，所述側導向板與所述載板通過彈性件連接，所述側導向板遠離所述載板一面設有夾具。
在其中一個實施例中，所述側導電針和所述上導電針內設有彈性件。
在其中一個實施例中，還包括下壓組件，所述下壓組件與所述上導向板遠離所述載板的一面抵接，所述下壓組件上設有第二調節件，用於調節所述下壓組件相對所述載板移動，所述上導向板與所述載板彈性連接。
在其中一個實施例中，還包括底板，所述載板設於所述底板上，所述底板遠離所述載板的一面設有緩衝件；所述底板上設有定位柱，所述下壓組件上設有與所述定位柱對應的定位孔。
本發明的有益效果如下：
使用該電子元件老化測試裝置，無需將電子元件焊接在PCB板上進行老化測試，只需將電子元件放置於安裝槽中，通過側導電針和中間導電板分別與電子元件的兩個端電極電連接，用於進行電流測試，上導電針與電子元件的中間電極電連接，用於進行電壓測試，不損傷產品，因此可對所有產品進行測試，有效杜絕產品缺陷，使用方便快捷，穩定準確，可批量化測試，提高工作效率，降低成本。上導向板可調節其相對中間導向板的位置，從而使上導電針與電子元件的中間電極定位準確，提高穩定性。
附圖說明
圖1為一實施例的電子元件老化測試裝置的側面剖視圖；
圖2為一實施例的電子元件老化測試裝置的結構示意圖；
圖3為一實施例的電子元件老化測試裝置的載板的結構示意圖。
具體實施方式
為了便於理解本發明，下面將參照相關附圖對本發明進行更全面的描述。附圖中給出了本發明的較佳實施例。但是，本發明可以以許多不同的形式來實現，並不限於本文所描述的實施例。相反地，提供這些實施例的目的是使對本發明的公開內容的理解更加透徹全面。
需要說明的是，當元件被稱為「安裝於」另一個元件，它可以直接在另一個元件上或者也可以存在居中的元件。當一個元件被認為是「連通」另一個元件，它可以是直接連通到另一個元件或者可能同時存在居中元件。當一個元件被認為是「連接」另一個元件，它可以是直接連接到另一個元件或者可能同時存在居中元件。
除非另有定義，本文所使用的所有的技術和科學術語與屬於本發明的技術領域的技術人員通常理解的含義相同。本文中在本發明的說明書中所使用的術語只是為了描述具體的實施例的目的，不是旨在於限制本發明。本文所使用的術語「和/或」包括一個或多個相關的所列項目的任意的和所有的組合。
一實施例的電子元件老化測試裝置，如圖1和圖2所示，包括載板10和側導向板20。
載板10的一面設有安裝槽11，參閱圖3，用於固定電子元件。安裝槽11的一側設有用於與電子元件端電極電連接的中間導電板12，安裝槽11側壁上開設有通孔13。具體地，中間導電板12上的導電銅片與電子元件的端電極電連接，還設有方便連接外接電源的接口。
側導向板20位於載板10的一側，可相對載板10移動。側導向板20上固設有側導電針21，側導電針21的一端可通過通孔13伸入安裝槽11，用於與電子元件的另一端電極電連接。
使用該電子元件老化測試裝置，無需將電子元件焊接在PCB板上進行老化測試，只需將電子元件放置於安裝槽11中，通過側導電針21和中間導電板12分別與電子元件的兩個端電極電連接，將側導電針21和中間導電板12與外接電源連接即可進行電流老化測試，不損傷產品，因此可對所有產品進行測試，有效杜絕產品缺陷，使用方便快捷。
優選地，側導電針21為多個，並排間隔固設於側導向板20上，從而可同時對多個電子元件進行電流老化測試，提高效率。
優選地，安裝槽11的上方設有可相對安裝槽11移動的上導向板30，上導向板30上固設有用於與電子元件的中間電極電連接的上導電針31。通過上導電針31與中間電極電連接，將上導電針31與外接電源連接，側導電針21或中間導電板12與外接電源連接，即可進行電壓老化測試。同時將上導電針31、側導電針21和中間導電板12與外接電源連接即可同時進行電流老化測試和電壓老化測試。進一步地，上導向板30上設有方便連接外接電源的接口，方便給上導電針31通電。
優選地，安裝槽11為多個，並排間隔設於載板10上，從而便於準確放置電子元件，上導電針31為多個，並排間隔固設於上導向板30上，可同時對多個電子產品進行電壓老化測試。
優選地，中間導電板12將安裝槽11分成兩列，側導向板20的數量為2個，位於載板10的兩側，上導向板30的數量為兩個，分別位於一列安裝槽11的上方。由此進一步增加同時可進行老化測試的電子元件數量，提高測試效率。
優選地，該裝置還包括中間導向板40，中間導向板40與上導向板30的側面間隔相對設置，中間導向板40與上導向板30的延伸方向相同，上導向板30上設有第一調節件32如調節螺絲，用於調節上導向板30相對中間導向板40移動。具體地，每個上導向板30上設有兩個第一調節件32，分別位於上導向板30的兩端。因此通過調節上導向板30相對中間導向板40移動，可微調上導電針31的位置，使上導電針31與電子元件的中間電極準確定位，提高測試的穩定性和準確性。
優選地，側導向板20與載板10通過彈性件連接，側導向板20遠離載板10一面設有夾具22如快速夾。通過夾緊夾具22可以方便的使側導向板20靠近載板10，從而使側導電針21通過通孔13與安裝槽11內的電子元件的端電極電連接，鬆開夾具22時，彈性作用又能使側導向板20遠離載板10，從而使側導電針21與電子元件的端電極斷開連接。具體地，側導向板20與載板10正向對應的一面設有導向槽23，載板10上設有導向柱14，導向柱14伸入導向槽23中，載板10與側導向板20之間通過彈簧24連接，彈簧24套設於導向柱14。進一步地，側導向板20上設有與側導電針21電連接的側導電板25，側導電板25上設有方便連接外接電源的接口。
優選地，側導電針21和上導電針31內設有彈性件如彈簧，從而在彈性作用下使每一根側導電針21、上導電針31分別與對應的電子元件的端電極、中間電極連接更穩定。
優選地，該裝置還包括下壓組件50，下壓組件50與上導向板30遠離載板10的一面抵接，下壓組件50上設有第二調節件51如蝶形螺絲，用於調節下壓組件50相對載板10移動，上導向板30與載板10彈性連接。通過調節下壓組件50向下靠近載板10，從而下壓上導向板30靠近載板10，使上導電針31與安裝槽11內的電子元件的中間電極連接，調節下壓組件50遠離載板10時，彈性作用自然使上導向板30遠離載板10，從而上導電針31與中間電極斷開連接。具體地，下壓組件50包括壓塊52和支撐板53，壓塊52為T型，與上導向板30遠離載板10的一面抵接，支撐板53則與壓塊52遠離上導向板30的一面連接，第二調節件51設於支撐板53上。
優選地，該裝置還包括底板60，載板10設於底板60上，底板60遠離載板載板10的一面設有緩衝件61如腳墊，具體地，緩衝件61為四個。底板60和緩衝件61使該裝置更穩定，不易晃動。
優選地，底板60上設有定位柱62，下壓組件50上設有與定位柱62對應的定位孔54，具體地，定位柱62為4個。定位柱62穿過定位孔54，起導向作用，使下壓組件50相對載板10移動時更平穩。
在使用該電子元件老化測試裝置時，將電子元件放置於安裝槽11中，中間導電板12則與安裝槽11中的電子元件的一個端電極電連接。放置完畢後，夾緊夾具22，推動側導向板20向載板10靠近，使側導電針21與對應安裝槽11中的電子元件的另一個端電極電連接，將中間導電板12與側導電針21連接外接電源，即可進行電流老化測試。根據需要可以通過調節第一調節件32微調上導電針31的位置，使上導電針31對準電子元件的中間電極，可適應不同規格的電子元件。調節第二調節件51使下壓組件50向下靠近載板10，從而下壓上導向板30靠近載板10，使上導電針31與安裝槽11內的電子元件的中間電極連接，將上導電針31與外接電源連接，側導電針21或中間導電板12與外接電源連接，即可進行電壓老化測試。同時將上導電針31、側導電針21和中間導電板12與外接電源連接即可同時進行電流老化測試和電壓老化測試。
以上所述實施例的各技術特徵可以進行任意的組合，為使描述簡潔，未對上述實施例中的各個技術特徵所有可能的組合都進行描述，然而，只要這些技術特徵的組合不存在矛盾，都應當認為是本說明書記載的範圍。
以上所述實施例僅表達了本發明的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但並不能因此而理解為對發明專利範圍的限制。應當指出的是，對於本領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬於本發明的保護範圍。因此，本發明專利的保護範圍應以所附權利要求為準。