觸控螢幕功能片的測試裝置製造方法
2023-07-19 01:02:41 1
觸控螢幕功能片的測試裝置製造方法
【專利摘要】本實用新型提供一種觸控螢幕功能片的測試裝置，包括測試臺、主控制器、放料平臺、校準裝置、取樣裝置以及下料裝置。主控制器的取樣信號輸出端與取樣裝置電連接，主控制器的與下料裝置連接，主控制器的校準信號輸出端與校準裝置連接；主控制器根據用戶輸入的指令發送取樣信號至取樣裝置；取樣裝置接收取樣信號並將處於放料平臺上的功能片傳送至校準裝置；校準裝置將功能片調整至預設的位置並發送就緒信號至下料裝置；下料裝置根據接收到就緒信號將校準後的功能片傳送至測試臺上，並根據測試結果將功能片輸送至相應的位置上。本實用新型不僅能夠減小測試誤差，而且能夠提高功能片的測試效率，降低人工成本的觸控螢幕功能片的測試裝置。
【專利說明】觸控螢幕功能片的測試裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型自動化測試【技術領域】，尤其是涉及一種觸控螢幕功能片的測試裝置。
【背景技術】
[0002]在觸控螢幕的生產過程中，需要對功能片的開路和短路進行測試，即對其ITO導通率作測試。測試原理:主要依靠測試機上的頂針與功能片的焊盤區域的金手指解除，主板晶片程序返回功能篇的開路、短路信號，顯示與電腦上。目前，對於觸控螢幕功能片開、短路的測試大多都是通過手工操作完成的。這樣的缺點在於:手工操作不但會導致測試誤差大，而且測試效率低下，提高人工成本。
實用新型內容
[0003]本實用新型解決的主要目的在於:提供一種不僅能夠減小測試誤差，而且能夠提高功能片的測試效率，降低人工成本的觸控螢幕功能片的測試裝置。
[0004]本實用新型解決上述技術問題的技術方案是，提供一種觸控螢幕功能片的測試裝置，包括用於檢測觸控螢幕功能片開路和短路的測試臺，主控制器，用於放置待測試的功能片的放料平臺，用於校正所述待測試的功能片的位置的校準裝置，用於將所述待測試的功能片傳送至所述校準裝置的取樣裝置，用於將校準後的功能片傳送至所述測試臺並將測試後的功能片傳送至對應位置的下料裝置；其中，
[0005]所述主控制器的取樣信號輸出端與所述取樣裝置電連接，所述主控制器的與所述下料裝置連接，所述主控制器的校準信號輸出端與所述校準裝置連接；
[0006]所述主控制器根據用戶輸入的指令發送取樣信號至所述取樣裝置；所述取樣裝置接收所述取樣信號並將處於放料平臺上的功能片傳送至所述校準裝置；所述校準裝置將所述功能片調整至預設的位置並發送就緒信號至所述下料裝置；所述下料裝置根據接收到所述就緒信號將校準後的功能片傳送至所述測試臺上，並根據測試結果將所述功能片輸送至相應的位置上。
[0007]優選地，所述取樣裝置還包括用於測試取樣裝置所獲取功能片透光率的光纖感應器，所述光纖感應器與所述主控制器電連接，所述光纖感應器設置在所述取樣裝置上。
[0008]優選地，所述校準裝置包括用於檢測功能片位置並輸出校準結果的校準單元，和根據所述校準結果調整功能片位置的調整單元，所述功能片放置在所述調整單元上，所述校準單元設置於所述調整單元上方。
[0009]優選地，放料平臺設置至少兩個，放料平臺與主控制器連接，並將功能片存放信息反饋至主控制器。
[0010]本實用新型提供的觸控螢幕功能片的測試裝置，該裝置增設了主控制器、取料裝置和下料裝置，通過取料裝置將待測試的功能片放置於與校準裝置上，並通過下料裝置將測試後的功能片傳送至相應的區域內存儲。相對於現有技術中的人工上料和下料，本實用新型有效地減小了人力成本，提高智能控制程度。另外，在功能片開路和短路測試之前，校準裝置對待測試功能片進行位置校準，使得功能片與測試臺中的測試電路位置吻合，從而提高了功能片與測試電路接觸的精度，從一定程度上提高了功能片的測試精度。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0011]圖1為本實用新型觸控螢幕功能片的測試裝置的主視圖；
[0012]圖2為本實用新型觸控螢幕功能片的測試裝置的模塊結構示意圖；
[0013]圖3為本實用新型觸控螢幕功能片的測試裝置局部結構示意圖。
[0014]本實用新型目的的實現、功能特點及優點將結合實施例，參照附圖做進一步說明。
【具體實施方式】
[0015]下面通過【具體實施方式】結合附圖對本實用新型作進一步詳細說明。
[0016]本實用新型提供一種觸控螢幕功能片的測試裝置。
[0017]參考圖1至3，圖1為本實用新型觸控螢幕功能片的測試裝置的主視圖；圖2為本實用新型觸控螢幕功能片的測試裝置的模塊結構示意圖；圖3為本實用新型觸控螢幕功能片的測試裝置局部結構示意圖。本實用新型一實施例提供一種觸控螢幕功能片的測試裝置，包括用於檢測觸控螢幕功能片I開路和短路的測試臺2，主控制器3，用於放置待測試的功能片I的放料平臺4，用於校正待測試的功能片I的位置的校準裝置5，用於將待測試的功能片I傳送至校準裝置5的取樣裝置6，用於將校準後的功能片I傳送至測試臺2並將測試後的功能片I傳送至對應位置的下料裝置7。其中，主控制器3的取樣信號輸出端與取樣裝置6電連接，主控制器3的與下料裝置7連接，主控制器3的校準信號輸出端與校準裝置5連接。主控制器3根據用戶輸入的指令發送取樣信號至取樣裝置6。取樣裝置6接收取樣信號並將處於放料平臺4上的功能片I傳送至校準裝置5。校準裝置5將功能片I調整至預設的位置並發送就緒信號至下料裝置7。下料裝置7根據接收到就緒信號將校準後的功能片I傳送至測試臺2上，並根據測試結果將功能片I輸送至相應的位置上。
[0018]在本實施例中，將待測試的觸控螢幕功能片I放置在放料平臺4上。當需要對功能片I進行測試時，輸入指令至主控制器3。主控制器3接收到輸入指令時，輸出取樣信號至取樣裝置6，以控制取樣裝置6從放料平臺4上獲取功能片1，並將功能片I傳送至校準裝置5。校準裝置5根據測試臺2中測試電路的位置來調整功能片I的位置，從而使得功能片I能夠準確地與測試電路電連接。校準裝置5校準完畢後，發送就緒信號至主控制器3，主控制器3根據就緒信號控制下料裝置7動作。若測試通過，則下料裝置7將功能片I傳送至通過存儲區域。若測試沒有通過，則下料裝置7將功能片I傳送至沒有通過存儲區域。若在校準階段，功能片I與測試電路沒有準確對準，則下料裝置7將功能片I傳送至沒有對準存儲區域。
[0019]本實用新型提供的觸控螢幕功能片I的測試裝置，該裝置增設了主控制器3、取料裝置6和下料裝置7，通過取料裝置6將待測試的功能片I放置於與校準裝置5上，並通過下料裝置7將測試後的功能片I傳送至相應的區域內存儲。相對於現有技術中的人工上料和下料，本實用新型有效地減小了人力成本，提高智能控制程度。另外，在功能片I開路和短路測試之前，校準裝置5對待測試功能片I進行位置校準，使得功能片I與測試臺2中的測試電路位置吻合，從而提高了功能片I與測試電路接觸的精度，從一定程度上提高了功能片I的測試精度。
[0020]進一步地，取樣裝置6還包括用於測試取樣裝置6所獲取功能片I透光率的光纖感應器，光纖感應器與主控制器3電連接，光纖感應器設置在取樣裝置6上。
[0021]應當說明的是，觸控螢幕功能片I的測試裝置對功能片I進行逐片的開路和短路測試。在本實施例中，取樣裝置6設置有一光纖感應器，光纖感應器對取樣裝置6獲取的功能片I進行透光率的測試。當測試到的透光率小於預設的值時，則證明取樣裝置6獲取的功能片I大於一片。此時，主控制器3控制取樣裝置6將獲取的功能片I放回放料平臺4，重新獲取，直至取到一片功能片I為止，從而減小了測試的誤差，提高了功能片I測試的精確度。
[0022]進一步地，校準裝置5包括用於檢測功能片I位置並輸出校準結果的校準單元51，和根據校準結果調整功能片I位置的調整單元52，功能片I放置在調整單元52上，校準單元51設置於調整單元52上方。
[0023]在本實施例中，取樣裝置6將待測試的功能片I傳送至調整單元52上。校準單元51獲取處於調整單元52上的功能片I的位置信息，並將獲取到的位置信息反饋至主控制器3。主控制器3根據獲取到的位置信息和預設的位置相比較，控制調整單元52動作，以使得功能片I與預設的位置位置相吻合，從而減小了測試誤差，提高了測試精度。
[0024]進一步地，放料平臺4設置至少兩個，放料平臺4與主控制器3連接，並將功能片I存放信息反饋至主控制器3。
[0025]為了提高測試效率，放料平臺4可設置至少兩個。在本實施例中，放料平臺4設置為兩個，且兩個放料平臺4均與主控制器3連接。放料平臺將功能片I存放信息(放料平臺上是否有功能片I)反饋至主控制器3。主控制器3根據接收到放料平臺反饋的信息控制取料裝置6取料。當第一放料平臺41中沒有待測試的功能片I時，取料裝置6則從第二放料平臺42中取料。當第二放料平臺42沒有待測試的功能片I時，取料裝置6則從第一放料平臺41中取料。因此，設置至少兩個放料平臺4，可在一定程度上提高測試效率。
[0026]以上內容是結合具體的實施方式對本實用新型所作的進一步詳細說明，不能認定本實用新型的具體實施只局限於這些說明。對於本實用新型所屬【技術領域】的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型構思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換。
【權利要求】
1.一種觸控螢幕功能片的測試裝置，包括用於檢測觸控螢幕功能片開路和短路的測試臺，其特徵在於，還包括主控制器，用於放置待測試的功能片的放料平臺，用於校正所述待測試的功能片的位置的校準裝置，用於將所述待測試的功能片傳送至所述校準裝置的取樣裝置，用於將校準後的功能片傳送至所述測試臺並將測試後的功能片傳送至對應位置的下料裝置；其中， 所述主控制器的取樣信號輸出端與所述取樣裝置電連接，所述主控制器的與所述下料裝置連接，所述主控制器的校準信號輸出端與所述校準裝置連接； 所述主控制器根據用戶輸入的指令發送取樣信號至所述取樣裝置；所述取樣裝置接收所述取樣信號並將處於放料平臺上的功能片傳送至所述校準裝置；所述校準裝置將所述功能片調整至預設的位置並發送就緒信號至所述下料裝置；所述下料裝置根據接收到所述就緒信號將校準後的功能片傳送至所述測試臺上，並根據測試結果將所述功能片輸送至相應的位置上。
2.如權利要求1所述的觸控螢幕功能片的測試裝置，其特徵在於，所述取樣裝置還包括用於測試取樣裝置所獲取功能片透光率的光纖感應器，所述光纖感應器與所述主控制器電連接，所述光纖感應器設置在所述取樣裝置上。
3.如權利要求1所述的觸控螢幕功能片的測試裝置，其特徵在於，所述校準裝置包括用於檢測功能片位置並輸出校準結果的校準單元，和根據所述校準結果調整功能片位置的調整單元，所述功能片放置在所述調整單元上，所述校準單元設置於所述調整單元上方。
4.如權利要求1所述的觸控螢幕功能片的測試裝置，其特徵在於，所述放料平臺設置至少兩個，放料平臺與主控制器連接，並將功能片存放信息反饋至主控制器。
【文檔編號】G01R31/02GK204214984SQ201420719033
【公開日】2015年3月18日 申請日期:2014年11月26日 優先權日:2014年11月26日
【發明者】許立峰 申請人:深圳市諾峰光電設備有限公司